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- GB/T 7507-1987 半导体集成微型计算机电路cμ8080 A型8位微处理器功能验证方法
 
			【国家标准(GB)】 半导体集成微型计算机电路cμ8080 A型8位微处理器功能验证方法
本网站 发布时间:
				2024-07-16 21:55:58
				
				
			- GB/T7507-1987
- 已作废
- 点击下载此标准
- 标准号: - GB/T 7507-1987
- 标准名称: - 半导体集成微型计算机电路cμ8080 A型8位微处理器功能验证方法
- 标准类别: - 国家标准(GB)
- 标准状态: 已作废
- 
          	发布日期: 1987-03-25
- 
		 实施日期: 1987-11-01
- 出版语种: 简体中文
- 下载格式: .rar.pdf
- 下载大小: 78.04 KB
- 中标分类号: 电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
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	      GB/T 7507-1987 半导体集成微型计算机电路cμ8080 A型8位微处理器功能验证方法 GB/T7507-1987
 标准内容
标准内容部分标准内容:
					
					中华人民共和国国家标准
半导体集成微型计算机电路Cμ8080A型8位微处理器功能验证方法
Method of functlon erlficationof CpsoeoA BBit mlcroprocessor forsemiconductor integrated circlt microcompaterUDC 621.*8
.049.774
GB 7507-67
本标准规定了半导体巢成微型计算机电路Cu8080A型8位微处理器(以下简称器件)功能验证的方法。
总的要求
若无特殊说明,验证期间,电源电压应在规定值的土1%以内。1.1
1.2若无特殊说明,被验器件的环境温度应在规定值的±2 ℃以内。1.$计算机辅助测试系统应满足下列基本要求:9.
工作频率不低于10MHz
可测的器件引出端数等于或大于40个,驱动器电平等于或大于+5V
比较器电平等于或大于±5V:
时钟相数多于B 相;
选通等于或多于2个,
数据缓存容量等于或大于 2 K位。应规定的条件bzxZ.net
验证期间,下列条件应符合器件详细规范的规定:母
环境温度;
电源电压的数值及顺序,
基本的输人时序关系
输人电平数值;
输人向量模式,
其它引出端的条件,
基本的输出时序关系。
验证步票
$.1方法A-
大启动法
3.1.1:在规定的环境温度下,将被验器件接人测试系统中。国家标准局1987-03-25批准
1987- 11- 01试行
8.2方法B
一小启动法
GB 1507-87
检测器件所有的微操作功能
3.2.1在规定的环境温度下,将被验器件接人测试系统中。3.2.2检测传送类指令
检测MOVM,R,MOVR,M指令
检测SPHLPUSHpPOP指令
检测LXIp指令
检测LDAX,LDA,STA指令
检测STAX SHLD,LHLD指含
检测CMA,STC,CMC,POPpPUSHpw指令检测XCHGXTHL指令
GB7507-87
检测MoV Ri,R2指令
检测寄存器堆数据干扰故障
3.2.3检测算术逻辑类指令
检测ANI ORI;XRI;CPI ADI,SUI,ACI,SBI指令
检测ANA R,ORA R,XRA R, CMP RADD RI ADC RISUB R ; SBB R
ANA M,ORA M, XRA M;CMP M
ADD M,ADC M;SUB MI SBB M指Q
检测DCR R.INR R.DCR M'INR M指令+
检测DAA指令
检测RRC’RAR,RLC,RAL指令
捡测INX R,DCX R指令
检测DADrp指令
8,2.4检测输入,输出类指令
检测INppr!
OUT指令
3.2.5检测中断类指令
3.2.6检测转移类指令
Cb t407—87
检测RST N指令
检测EI,DI指令,检测INTERRUPT功能+
检测PCHL, JMP, CALL
C.,RET,R.指令
.2.1检测外部控制信号
外部控制信号是在指令检测过程中插人的。东
检测准备(READY)功能
检测保持(HOLD)功能
检测复位(RESET)功能
检测暂停(HLT)功能
附加说明:
本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国集成电路标准化分技术委员会微机工作组起革。
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
	 
	        
	      半导体集成微型计算机电路Cμ8080A型8位微处理器功能验证方法
Method of functlon erlficationof CpsoeoA BBit mlcroprocessor forsemiconductor integrated circlt microcompaterUDC 621.*8
.049.774
GB 7507-67
本标准规定了半导体巢成微型计算机电路Cu8080A型8位微处理器(以下简称器件)功能验证的方法。
总的要求
若无特殊说明,验证期间,电源电压应在规定值的土1%以内。1.1
1.2若无特殊说明,被验器件的环境温度应在规定值的±2 ℃以内。1.$计算机辅助测试系统应满足下列基本要求:9.
工作频率不低于10MHz
可测的器件引出端数等于或大于40个,驱动器电平等于或大于+5V
比较器电平等于或大于±5V:
时钟相数多于B 相;
选通等于或多于2个,
数据缓存容量等于或大于 2 K位。应规定的条件bzxZ.net
验证期间,下列条件应符合器件详细规范的规定:母
环境温度;
电源电压的数值及顺序,
基本的输人时序关系
输人电平数值;
输人向量模式,
其它引出端的条件,
基本的输出时序关系。
验证步票
$.1方法A-
大启动法
3.1.1:在规定的环境温度下,将被验器件接人测试系统中。国家标准局1987-03-25批准
1987- 11- 01试行
8.2方法B
一小启动法
GB 1507-87
检测器件所有的微操作功能
3.2.1在规定的环境温度下,将被验器件接人测试系统中。3.2.2检测传送类指令
检测MOVM,R,MOVR,M指令
检测SPHLPUSHpPOP指令
检测LXIp指令
检测LDAX,LDA,STA指令
检测STAX SHLD,LHLD指含
检测CMA,STC,CMC,POPpPUSHpw指令检测XCHGXTHL指令
GB7507-87
检测MoV Ri,R2指令
检测寄存器堆数据干扰故障
3.2.3检测算术逻辑类指令
检测ANI ORI;XRI;CPI ADI,SUI,ACI,SBI指令
检测ANA R,ORA R,XRA R, CMP RADD RI ADC RISUB R ; SBB R
ANA M,ORA M, XRA M;CMP M
ADD M,ADC M;SUB MI SBB M指Q
检测DCR R.INR R.DCR M'INR M指令+
检测DAA指令
检测RRC’RAR,RLC,RAL指令
捡测INX R,DCX R指令
检测DADrp指令
8,2.4检测输入,输出类指令
检测INppr!
OUT指令
3.2.5检测中断类指令
3.2.6检测转移类指令
Cb t407—87
检测RST N指令
检测EI,DI指令,检测INTERRUPT功能+
检测PCHL, JMP, CALL
C.,RET,R.指令
.2.1检测外部控制信号
外部控制信号是在指令检测过程中插人的。东
检测准备(READY)功能
检测保持(HOLD)功能
检测复位(RESET)功能
检测暂停(HLT)功能
附加说明:
本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国集成电路标准化分技术委员会微机工作组起革。
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