JB/T 5580-1991 半导体集成电路 机电仪专用数字电路测试方法 JB/T5580-1991

本部分为GB/T19403的一部分，等同采用国际电工委员会标准IEC60748-11-1：1992《半导体器件集成电路第11部分：第1节：半导体集成电路内部目检》。 GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路) GB/T1

本标准等同采用国际电工委员会(IEC)标准IEC 748-4-2：1993《半导体器件 集成电路 第4部分：接口集成电路 第二篇：线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细标准》，以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。本标准可作为编制线性ADC详细规范的依据。IEC电子器件质量评定体系遵循IEC

IEC电子器件质量评定体系遵循IEC的章程并在IEC授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子器件无需进一步试验而为其所有参加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列IEC标准一起使用。IEC 747-10/QC

IEC电子器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 GB/T 9424-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000

本标准规定了半导体集成电路TTL电路系列54/74F系列品种的名称、逻辑符号、引出端排列、逻辑图、逻辑表达式(或功能表)以及它们的主要电参数。 GB/T 12084-1989 半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74F系列的品种 GB/T12084-1989

本标准规定了半导体集成电路电压／频率和频率／电压转换器的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。 GB/T 12845-1991 半导体集成电路非线性电路系列和品种 电压频率和频率/电压转换器的品种 GB/T12845-1

本标准规定了半导体集成电路采样／保持放大器的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。 GB/T 12844-1991 半导体集成电路非线性电路系列和品种采样/保持放大器的品种 GB/T12844-1991

本标准规定了半导体集成电路TTL电路PAL系列的品种的名称、引出端排列、功能框图、逻辑图和主要特性(包括输入、输出特性和主要电参数)。器件的质量评定应符合器件有关详细规范的规定。生产(研制)或选用器件时，应符合本标准的规定。若无特殊说明，本标准涉及的逻辑均为正逻辑。 GB/T 14129-1993

本规范规定了编制半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器详细规范的基本原则。本规范是半导体集成电路一系列空白详细规范中的一个，它应与GB 4589.1《半导体器件 分立器件和集成电路总规范》和GB 12750《半导体集成电路分规范》一起使用。 GB/T 14119-1993 半导体集成电路双极熔丝式