GB/T 35009-2018 串行NAND型快闪存储器接口规范 GB/T35009-2018

GB/T 35008-2018 串行NOR型快闪存储器接口规范 GB/T35008-2018

GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 GB/T35007-2018

GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法 GB/T35006-2018

GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 GB/T35003-2018

GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法 GB/T14028-2018

本规范规定了硅单片集成电路JW1083/JW1084/JW1085/JW1086型三端可调正输出低压差电压调整器(以下简称器件)的详细要求。 SJ 50597/61-2005 半导体集成电路JW1083/JW1084/JW1085/JW1086型三端可调正输出低压差电压调整器详细规范 SJ50597

本规范规定了半导体集成电路JF124、JF124A型四运算放大器的详细要求。 SJ 50597/63-2006 半导体集成电路JF124、JF124A型四运算放大器详细规范 SJ50597/63-2006

本部分为第5部分，等同采用IEC 60748-5：1997《半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路》，本部分规定了集成电路(IC)分类体系树中有关半定制集成电路子类的标准。 GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路 GB/T20515-2006

本标准规定了半导体集成电路MSO存储器(以下简称器件)各系列和品种的逻辑功能、外引线排列和主要电参数。 GB 3437-1982 半导体集成电路MOS存储器系列和品种 GB3437-1982