- 您的位置:
- 标准下载网 >>
- 标准分类 >>
- 电子行业标准(SJ) >>
- SJ/T 1145-1993 电容器用有机薄膜电性能试验方法
标准号:
SJ/T 1145-1993
标准名称:
电容器用有机薄膜电性能试验方法
标准类别:
电子行业标准(SJ)
英文名称:
Test methods for electrical performances of organic film for use in capacitors标准状态:
现行-
发布日期:
1993-12-17 -
实施日期:
1994-06-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
53.38 KB
手机扫码下载更方便
替代情况:
SJ 1145-77
部分标准内容:
中华人民共和国电子行业标准
S.I/T 1145~-114893
电容器用有机薄膜电性能
试验方法
Test methods tor eleclrical perforrancesnf nrgani: film for use in capacitors1993-12-17 发布
1994-06-01实施
中华人民共和国电子工业部发布中华人民共和国电子行业标准
电容器用有机薄膜电性能
试验方法通则
General rules or test methods For elecirical performancesel nrgnfe rilm for use In capacllors1主题内容与适用范围
1.1生题内容
$.I.T 1145 -93
代格[:45
本标准规定了电容用有机博服电性警试验方法中的试样费求,试冷条件,厚性测定利试验记录的一般规则。
1.2道用范串
标准适用十电容器用有机博膜电性能的创试。2试样要求
2.1取伴时治薄嵌播向职所需数量,外表至少去试层。2.2取样环境必须保持清洁,取样、剪裁试样或试验时,不危许产点接旁触试样設测试系。2.3试拌必期平账,均驾无伤浪、折,孔洞等战率,表面不充许有其污例,2. 4所收试样应在3.1条环境条件下倾处理2h;被测试膜忙存环境与3.1案发求--时,前不进行预处理。
3试验奈性
3.除非与有规定.试验应在下划境条件下进汀:温度bzxz.net
行化:设
级,即为的就,不个每方
3.2高以试验兼件(禁变)由产品标准规定,当适到试装品度时变入试,在现定温度一,保成[0mm质点u进行试验,试腔益度误差不超过主2T4厚险测试要求
4.:注组然议的上测量面应是充甜的平面.主德量是率中为1mr的送.的中华人民共和国电子工业部1993-12-17批准1916实旅
S.I/T 1145-93
测量面都应选光,上测量杆的直轻不得小干5mm,携触压力2575P,4.2送度测年夜的量小分度镇对原室小惑等m的为0.2m人于5m而小=m的为.5m大下1(m的为1m
5检验记录
试验说系感位括下对实内客:
试样名称、型号、规势.作号和生产单位、出厂口期,试验质甘名称及试验定法标准编号!试整时的环境柔件及预处课措况,试验低器:
法样的尺寸和数耳;
试股结梁及计算值:
试片纳利试验员
耐加说明:
本标山电子工业部标满化研究所制口。本标循由钥龄市博膜电穿器总预研起草。本标准主要起草人章晓红,叶立新,周案。木标准于1377年G月萨次发布,×××年×月第一次燃订。
S.I/T 1145~-114893
电容器用有机薄膜电性能
试验方法
Test methods tor eleclrical perforrancesnf nrgani: film for use in capacitors1993-12-17 发布
1994-06-01实施
中华人民共和国电子工业部发布中华人民共和国电子行业标准
电容器用有机薄膜电性能
试验方法通则
General rules or test methods For elecirical performancesel nrgnfe rilm for use In capacllors1主题内容与适用范围
1.1生题内容
$.I.T 1145 -93
代格[:45
本标准规定了电容用有机博服电性警试验方法中的试样费求,试冷条件,厚性测定利试验记录的一般规则。
1.2道用范串
标准适用十电容器用有机博膜电性能的创试。2试样要求
2.1取伴时治薄嵌播向职所需数量,外表至少去试层。2.2取样环境必须保持清洁,取样、剪裁试样或试验时,不危许产点接旁触试样設测试系。2.3试拌必期平账,均驾无伤浪、折,孔洞等战率,表面不充许有其污例,2. 4所收试样应在3.1条环境条件下倾处理2h;被测试膜忙存环境与3.1案发求--时,前不进行预处理。
3试验奈性
3.除非与有规定.试验应在下划境条件下进汀:温度bzxz.net
行化:设
级,即为的就,不个每方
3.2高以试验兼件(禁变)由产品标准规定,当适到试装品度时变入试,在现定温度一,保成[0mm质点u进行试验,试腔益度误差不超过主2T4厚险测试要求
4.:注组然议的上测量面应是充甜的平面.主德量是率中为1mr的送.的中华人民共和国电子工业部1993-12-17批准1916实旅
S.I/T 1145-93
测量面都应选光,上测量杆的直轻不得小干5mm,携触压力2575P,4.2送度测年夜的量小分度镇对原室小惑等m的为0.2m人于5m而小=m的为.5m大下1(m的为1m
5检验记录
试验说系感位括下对实内客:
试样名称、型号、规势.作号和生产单位、出厂口期,试验质甘名称及试验定法标准编号!试整时的环境柔件及预处课措况,试验低器:
法样的尺寸和数耳;
试股结梁及计算值:
试片纳利试验员
耐加说明:
本标山电子工业部标满化研究所制口。本标循由钥龄市博膜电穿器总预研起草。本标准主要起草人章晓红,叶立新,周案。木标准于1377年G月萨次发布,×××年×月第一次燃订。
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
标准图片预览:



- 热门标准
- 电子行业标准(SJ)
- SJ/T31450-1994 氧气输送管道完好要求和检查评定方法
- SJ/T11376-2007 数字电视接收设备条件接受接口规范 第2-1部分:通用传送接口(UTI)技术规范
- SJ/T31449-1994 供油管道完好要求和检查评定方法
- SJ/T11138-1997 电缆分配系统用物理发泡聚乙烯绝缘同轴电缆
- SJ/T10148.1-1991 电气简图的编制方法 术语、分类和编制原则
- SJ/T11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
- SJ/T11403-2009 通信用激光二极管模块可靠性评定方法
- SJ/Z610-73 场致发光荧光粉的试验方法
- SJ/T11377-2007 数字电视接收设备条件接受接口规范 第2-2部分:通用传送接口(UTI)测试规范
- SJ50033.129-1997 半导体分立器件 3DD155型低频大功率晶体管详细规范
- SJ/T31452-1994 水处理设备完好要求和检查评定方法
- SJ/T10795-1996 通用硬同轴传输线及其法兰连接器详细规范
- SJ20978.3-2007 空中交通管制系统监视数据交换规范第3部分:单雷达气象信息传输
- SJ3062.2-1988 冲裁模通用模架 T形槽固定板
- SL/T809—2021 水利对象基础数据库表结构及标识符
- 行业新闻
请牢记:“bzxz.net”即是“标准下载”四个汉字汉语拼音首字母与国际顶级域名“.net”的组合。 ©2025 标准下载网 www.bzxz.net 本站邮件:wymp4wang@gmail.com