【电子行业标准(SJ)】 半导体集成电路 Ｊμ８２２８９型总线仲裁器详细规范

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
SJ 50597.11—94
半导体集成电路
Ju82289型总线仲裁器详细规范
Detail specification for type Ju 82289 busarbiter of semiconductor integrated circuits1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
Ju82289型总线仲裁器详细规范
Detal specificatlon for type Ju82289 bus arhiterof semiconductor iategrated circuits1范围
1.1主题内容
S1 50597. 11—94
本规范规定了半导体集成电踏Jμ82289型总线仲裁器（以下简称器件>的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于馨件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范对微电路按器件型号，器件等级、封装形式.额定值和推荐工作条件来分类。1.3.1器件编号
器件编号应按GJR59?微电路总规范第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
器件型号
JpB2289
1. 3. 1.2器件等级下载标准就来标准下载网
总线仲裁器
器件等级应为GJB597第3.1条规定的B级和本规范规定的B1级。本规范中未对B1级另加说期的系款应理解为与B级相同1. 3. 1. 3 封装形式
封装形式按GB7092半导体巢成电路外形尺寸%的规定。封装形式如下：
1.3.2绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
中华人民共和国电子工业部
1994-09-30发布
封装形式
D20M3(20引线瓷双列封装）
1994-12-01实瓶
TKAONKAca
任一引出端相对于 Vs端电压
贮存温度范围
引线耐焊接温度(:0s)
1.3.3推荐工作条件
推荐工作条件如下：
电源电压
输人高电乎电压
输人低电平电压
工作额率
时钟上升时间
时钟下降时间
2引用文件
时钟输入
其它输人
时输人
其它输人
GB 3431, 2—86
GB 4590---84
GB 7092-
GJB548--88
GIB 597—88
GJB 1649-93
SJ/Z 9015. 2--87
3要求
3.1详细要求
S1 50597. 1194
YrH(CP)
半导体巢成电路文字符号引出端功能符号半导体集成电略机械和气候试验方法半导体集成电路外形尺寸
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放电控制大纲
半导体器件集成电路
第2部分：数字集成电路
各项要求应按GJB597利本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定，3 2. 1 引出端排列
SJ 50597. 11—94
引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。HaTo
SYSBRESE
IST H6
3.2.2功能框图
功能框图符合图2的规定。
SUHOLD
【AZWAYS/CBQLCK
SYSB / RESB-
RESET
3.2.3功能说明、符号和定义
处理器
控制器
50 HCLD
16 i- Lock
15~ALWAYS/HOECX
CLUCK
12 — CERO
1、引出端排列
来总线
图2功能框图
功能说明、符合和定义，应符合本规范6.3条的规定。3.2.4封装形式
封装形式应符合本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆
控制略
TKAONKAca-
SJ 50597. 11--94
引线材料和涂覆，应按CJB597第3.5.6条的规定。3.4电特性
电特性应符合表1的规定，若无其它规定，适合于全工作温度范围，3.5电试验要求
各级器件的电试独要求，应为表2所规定的有关分组，各分组的电测试接表3的规定3.6标志
标志应接GJB597第3.6条的规定。3.7微电路纽的划分
本规范所涉及的器件为第107微电踏组<见GJB597附录E)。表1电特性
若无其它现定，T。=—55~125C,Vp=5V士5%,Vs=DV序\
时螂周期
时钟低电平时间
：时钟高电平时间
讨钟上升，下降时间
RCP摘期
CP低电平/商电平时间
S0/HOT.D,系,M/1D建立时
药/HOI.D,SI、M/IO保持时
READY建立时间
READY保持时间
LOXCK.SYSB/RESB爽立时间
LOCK.SYSB/RESB保持时间
RESET建立时间
RESET保持时间
RESET有效脉宽
JNII建立射间
INIT保持时间
INIT有效脉宽
tsuMy-CL
(CL-MK)
FOURBADYY-CL:
(Ct-ADY)
su(ock-ct)
ISu(S-CL)
th(CL-:ox)
+.(RESETH-CL)
h(CI.- RESETL)
%ISU(NTTL-EL)
在3, 6V
见注 4)
见注 4)
最小」最大
见注2）
见注3
波形趣
序号1：
BUSY建立时间
BPRN建立时间
CERO建立时间
CEQLCK/ALWAYS建立时
Be'RN保持时间
：CBRQ保持时间
CBQLCK/ATWAYS保持时
BCP到BREQ延送时间
BCP到BPRO延迅时何
BPRN到BPRO延迟时间
BCP到BUSY有效延迟时间
BCP到BUSY浮出延这时间
BCP到CERQ有效延退时间
RCP到CBRQ浮出延迟时间
BCP到AEN有效延退时间
CP到AEN无效延迟时间
CP判LLOCK延退时间
RESET到LLOCK延迟时间
CP到BCP建立时间
输入低电平电压
输人高电平电压
时钟输入低电平电乐
时钟输入高电半电压
SJ 50597. 11--- 94
续表1
SUCGUSTH-ECPLI
FgO(EPPNYML>
tSU(CBRCL-3CP_)
IsUECBQL.CKH-BCPL:
FSU(CIAV-RESETL)
ThBCELERQU
ThBCTL-EBCLOUS
thRESETL-CIAXI
FaCCFL-BREQR)
Id(BCPL -HPSUE,)
4(BCPLEF ROH)
FACEPRNL-NPRGL
aEPRNE-3FKOM
td(EPL-SVSIL)
Ta(BOPL--3V)
FAERCPL-CERAL>
t&BCPL-CERQH
taBCFL-AENH)
faCLANH;
CLOCKE)
+ARESETH-I.OCXR>
+suCi,- BCF)
Ct- G0pF
Ct = 60pF
Ct=6opF
Ct-300pF
见注5）
Ct 300pF
见注5）
C:-150pF
Ci=60pF
Ci. 60pF
见注6)
规范值
皱形图
TTKAONKAca-
序号”
输出舒电平电压
EUSY.CBRQ
BPRO、BREQ.AEN
输出高电平电压
输入溯电流
输出遍电流
电源电流
CP、BCP输入电容
输人电案
输出电容
SJ 50597.1194
续表1
Ix - 32mA
o--400A
0. 45V≤V≤Vo
0VVi0.45V
0.45VsVo≤Vn
f=1MHz
f=1MHz
f=1MHz
注：1)本表中参数的序导与对应时序图中参数的编号是一致的。2)tceap+50.
3) 3t: + 3eb(CILRESETL3
规范值
波形图
4)INIT对于CP和ECP异步。但用于测试时，该规范值要束保证识别待珠的CP和BCP边沿。3)只有当糖出电滤在数盘级上比出漏电流小时，浮出条件才出现。6)在实际应用中，CP和FCP互为异步，但用于测试时，该规范值要求保证识别特殊的CP和BCP边沿
7)CPS为系鏡时钟周期。
表2电试验要求
若无其它规定，表中采用的试验方法系指GJB54B的试验方法试验婴求
中间(老化前)电测试
（方法5001)
最路电测试”
（方法5004）
A 组试验腰求\
（方5005)
B 组 VzAp试验
C组终点电测试
（古5005）
C组检验增加的分组
D组终点电测试
（方法5005）
B级器件
分组(见表3)
B1级器件
Ai,A2,A3,A7,AB,A9,A10,
Al, A2, A3, A4,A7, AB, A9.
AlD,Al1
见本规范4.5.3条
A2,A8(仅 125C)A10
不要求
A2,A8(收 125C)A10
A1,A2,A3,A7,AD
AIA2,A3.A4,A7,A9
更本规范 4. 5. 3 条
A2,A8(仅 125 C)
A10,A1l
A2,A8(仪 125C)
SJ 50597. 11--94
注: 1)A1,A7 分组要求 PDA 计算(见本规范 4. 2条)。2)A4分组仅用于鉴定(见本规范4.4.1条）。表 3 A组电测试
A9 分组
tecCH)
tc(acpl
twaRCPLI
9UESL-)
tsutmy
thert-ean
taeCL-Mx
ISU EREADYY-CLI
Fb(CL-REARYV)
SU(OR-L)
ISu(SYSV-EL)
I(CL, --SYSR
TSU(Rehi-CL)
th(Ct.RESRTL)
FSUtSU(BVSYH-RERt.)
SUCIALBCTL
LSU(CBAQL-BCPL)
EgU(CBQLCWH-PCPL)
ESCJAV-RFAETLS
1. 0~3. 6V
规范值
tcacF+50
见注1
波形器
-TrKAONKAca-
Th(ECPL,-RPRNN)
CPL-CBRQV
fheP-csoLEV
KSETL-C/AI
IdIECPL .BREQFE)
fBCPLBPROL
(BCFAPRTH
fd(PANL--BPROL)
3PANH -.- BPECH)
(ECL-EVSYH)
dBCPL-CBREH)
+(BCFLAENL)
+dc--h.ocka)
IE(RESATH-LECKH)
gUECLBPL
SJ 50597. 11:- 94
续表3
Ct 60pF
C:=6OpF
C=fOpF
Ct.-300pF
CtSCOpF
Ct=1GpF
Ci. 150pF
Cr=60pF
A10分组除Te-125℃外，参数、条作、规范值均同A9分组。A11 分组除 rc一一55 C外,参数,条件,规范值均间 A9 分组,Ya
A1分组
YHieps
Ier.—32mA
BL'SY,CBRO)
JoL-16mA
(BUSY,CBRQ)
iot =5mA
(IOCK)
10-400m
U. 45$ViSVDa
0V≤V0.45V
0.45V规范值
波彩图
A2分组
A3分组
A1分组
A7分组
A8分组
SJ 50597.1194
续表3
rc—125C外、参数、条、规范值均同A1分组、除Tc=55℃外，参数、条件、规范值均同A1分组。42
f=1MHz
f-1MHz
f=IMHz
规范值
按6.1条规定，Te-25℃，在Vmm-4.75V和5.25V下分别进行功能测试。除Tc=125℃稚—55外，均同A7分组。注：1)34c+3tn,-RFETL。
图3高电压(VzaP)试验线路
注：①R1政合适的来流电通R2=1.5k真.②C1-100pF±20%.
③VP400V，在略件输入端上测得①脉冲转换时间tT≤50ms（10%～90%）单
波形图
被测件
-TrKAONKAca-
N, C。 m
G3为G2的8分颜
G4为G2的16分频
G5 为 G2 的 64 分類
G6为G2的 128分類
CP携入
(BCP推人)
SJ 50597. 11--94
图4老化和寿命试验线图
图5交流驱动和测量点(CP 和BCP输入) 10 -
CP输人
(BCP输人)
件其它输人
器件输出，
SJ 50597. 11--94
建立时间
保持时间
延迟时闻
图6交流建立、保持利延退时间测量疑件输出
图了交流测试输出负载
TTKAONTKAca-
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