【有色金属行业标准(YS)】 铜及铜合金平均晶粒度测定方法

ICS 77. 040. 99
中华人民共和国有色金属行业标准YS/T347—2004
代替YS/T347—1994
铜及铜合金
平均晶粒度测定方法
Copper and copper alloys-Estimation of average grain size2004-06-17发布
国家发展和改革委员会
2004-11-01实施
本标准是对YS/T347---1994单相铜台金晶粒度测定法的修订。本标准非等效采用了闲际标难：1S>2624：1990利美国标准ASTME112：1996。与前版相比，主要有以下修订汀：对标准名称进行了修改。
增加了品粒度“级”的表述方汰，以便和其他材料的晶粒度表述取得一致性。用“公称直径”作为晶粒平均直径的值，与国际标准统，比较法审增加了部分品粒级新的菌片.使分级更细，本标雅代替YS/T347—1994。
本标准的附录A为规范性附录：
本标准出全国有色金展标准化技术委员会提山并归口。本标雅出洛阳响加工集团有限责任公司负责起卓，本标难主要起草人：张智强、董幅、路俊攀，梅恒尺、张敬华、王庭芳：本标难用全国有色金属标准化技术委员会负资解释。本标推所代替称推的历秋版本发布情况为：YB 797 1971:
—YS/T347—1994
YS/T 347—2004
1范围
铜及铜合金平均晶粒度测定方法YS/T 347—2004
本标推规定了而比较法,面积法和载距法测定铜及铜合金晶粒度的其体方法，带测量可以用比较法。当行异议时，以截距法性裁方法，本标准适用于测是单相或以单和为主的铜及铜合金退火状态的品粒2引用标准
下列文件中的条款遵过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注月期的引用义件，其随后所有的修改单（不包括撕误的内容）或修订版均不适用丁本标准然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准.YS/T449铜及铜合金铸造和加工制品显微组织检验方法3定义及符号
晶粒度grainsiz
是基体晶粒大小的量度。铜及铜合金晶粒度通常采用\公称直径（.）\来表示“晶粒平均直径\3.2
晶粒级别指数Ggrain degree class index numher在100倍放大倍率下，645.16mm面积所包含的品粒数n与G有如下关系，见式（1）：n = 26-
注：C值在表3中查出。
字母符号
本标滩来用的学母符号汇总见表1。表1
晶粒级别指数
名称及说明
测量面积为(i43.3inu产时所位含的晶粒数测量面积为 5 e0 m 时所包含的晶粒数测基圆内品粒数
被圆切割的品粒数
中位面积内的品粒效
所有测量线段的总长度
敢太倍率
所有测量线段上的总凝点效
品粒平归颜距
平均直径
佛里特直径
平均品粒面面积
YS/T 347-2004
4试样
4.1试样应直接从交货状态的产品.:截取。取样部和取样数量应按相关产品标准的有关规定进行。4.2试样取样尺小推荐如下：
板带材;取15 nX15 tl正方形样:管棒材轴向取1ur1m～i5 1t长圆环样或圆片样。4.3试样制备方法按照YS/1449规定进行：5最粒度测定方法
5.1比较法
5.1.1比较法是通过被测试样的图像与标准图对比来测定试样晶粒度5.1.2比较法测革方法：试样制好后，在放人100倍的倍率下，通过金相显微镜投影图像或拍出有代表性视场的显微照片，与相应的标推评级图片附录A真接比较，选出与试样图像最接近的标准图片，作为试样的晶粒度，报晶粒度值。通常脸选择一个以上视场进行比按。5.1.3不具备投影或照像功能的显微镜，可以育接通过目镜观察，对照标准评级图，找出最接近的标准图片，报出试样品粒度。
5.1.4当试样晶粒接超过标准评级图片所色活的范周珂，可采用成像放大倍率M，在此放大倍率下的品粒图像与标准改大倍率（100义)的标准评级图片进行比较，找出最接近的图片后，按表2查对，报出实际品粒度。
表 2在各种放大倍率下观测的试样真实晶粒度与标准图之间的对应关系成像敢大倍率
x(标准)
成像放大倍革
X标准）
5.2面积法
成像标准图相比时的品粒度/TLEL0. 02n
成像和标准图相比时的晶粒度/mm0.075
5.2.1面积法是通过统计给楚面积内的晶粒数来测定试样晶粒度。0.035
5.2.2面积法测基方法：在显微说汇玻璃1.或照片上划--个直径79.8um的测量圆，面积近似为5000t11，选择适当效大倍率M，使该圆内至少包含有50个晶粒，计算测量圆覆盖的品粒数n，，见式(2),(3) :
当为偶数时：
为奇数：
ng-n+n./2
+(ne r 1)/2
测量为5000mm时所包含的品粒数一圆内晶粒数：
被圆切割的晶粒数。
由式(4)计算出单位面积内的品粒数：A
M-测量用放大倍率
单位面积内的品粒数：
一測量圆内的晶粒数。
=0.000 2 M\-
晶粒度级别指数G的计算按武（5）：5.2.3
G =-2. 954 2 . 3, 321 9lgna
报据单位面积内的晶粒数摄或者显粒度级别指数（，查表2可得晶粒平均自径。5.3截距法
YS/T347—2004
5.3.1截距法是通过统计一定长度的一条或几系线段上所截的晶粒个数，计算出品粒平均裁距来测定晶粒度的大小。
5.3.2截即法测显方法：在晶粒图像上，任画出-·条或儿条定长度的线段作为测量线段，选择适当的放大倍率，以保证至少有50个品粒被线段截过。统计出测量线段上截过的晶界总截点数N。计算截点时，测量线段的终点不是截点的不计算；终点正好接触到晶界时，应计1/2戴点，测量线与晶界相切时，应计1个截点；测量线段明显与三品界的汇合点重合时，应计1.5个截点。李品界不计算在内。为了获得准确的平均值,应选择3-5个视场进行测量。5.3.3计算品粒均截距S,采用式（6）：S-L/(M.N
式中：
品粒平均截距，单位为毫米（tutn）；L所有测垦线段的总长度，单位为毫米（mm）所用放大倍率；
N一—所有测量线段,上的总截点数。根据计算出的品粒平均截距，查表2可得出晶粒平均直径或者其他晶粒度指标。5.3.4品粒度级别指数G的计算按式(7)：G --- 3,287 7 +6. 643 91g(M . N/L)式中:M.N、L同 5. 3.3.
6晶粒魔的表述
6，1使用任何一种测量方法，最终应以品粒平均直径来表述晶粒度。需要时可根据表3查出机应的其他数值。
6.2使用比较法可直接得出品粒平均直径；使用截距法时可近似来用ct.=1.13S算出晶粒平均直径：使用面积法测量时：以，=（1/n)126.3当试样存在着品粒不均现象，止优势晶粒所占面积比例不大于视场面积的90为时，则应筛选出两种优势品粒，按5.1、5.2、5.3规定测量出两种晶粒的平均直径及所占百分比，报出两种品粒的平均直径及所比例作为最终晶粒度结果：如0.025mm40%和0.045tmm60%。否则，只报出优势晶粒的晶粒度。
YS/T347-2004
品粒度级例
指数疗
表3任意取向的均匀，等轴晶粒度关系表品粒截面平均直径
晶粒平均直轻
“弗特\直径
H: t:-a/S19-(ra/A)**gr-1/n.d.-(a))*.晶粒度报告
报般应包括以下几条：
会金牌号、规格、批号、热处埋状态。使用仪器的型号及编号，
c）环境状况。
d）检测结果。
检测人员与中核人员签字。
所采用的标准号。
晶粒平均裁肥
平均晶粒戳面面积！单位面积晶粒数ati
mm*x--
个/mm
12500o
品粒平均直径0.180mm
(75X0.250 mm)
晶粒平均直径0.130mt
(75X0. 180 mm)
附录A
(规范性附录）
标准晶粒度图片(100 ×）免费标准bzxz.net
YS/T 347-—2004
晶粒平均直径0.150mm
(75×0,200 mm)
晶粒平均直径0.110mm
(75×0.150mm)
YS/T 347—2004
晶粒平均直径0.090mm
(75x0.120 mm)
晶粒平均直轻0.065mm
(75x0.085 mm)
晶粒平均直径 0. 075 mm
(75×0.100 mm)
晶粒平均直径 ,055 Tntri
(75× 0. 073 mm)
晶粒平均直径0.050m
(75×0.070mm)
晶粒平均直径0.040mm
(75X0.050 mm)
YS/T347—2004
晶粒平购直径0.0451I
(75×0.060 mm)
晶粒平均直径.035mm
(75×0. 015 mm)
YS/T 347—2004
晶粒平均直径 0. 030 mm
(75 X0. 055 ram)
品粒半均直径0.02）mm
575×2.025 mm)
晶粒平均直径0.C25mm
(75x0.0R0mm)
粒平均直径0.01sm
(73x0.020 mm)
品粒平均直径0.(10 mT
(75×0.015mm)
YS/T347—2004
晶粒平均自径 D. 0C8 T
(75x0.010mm)
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