【机械行业标准(JB)】 承压设备无损检测 第2部分 射线检测

中华人民共和国行业标准
JB/T 4730.22005
代替JB4730—1994部分
承压设备无损检测
第2部分：射线检测
Nondestructive testing of pressure equipments-Part 2: Radiographic testing2005-07-26发布
2005-1t-01实施
国家发展和改革委员会发布
规范性引用文件，
一般要求
4其体要张·
5承床设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级，（丞不设备管了及儿力管道炼化焊环问对接焊接接头射线检测质最分级7射线检测报告：
附录A（资料性附录）
附录B【资料性附录】
附录C（资料性附录）
附录D（资料性附录）
附录B（规范性附录）
附录P（现范性附录）
附录G（规范性附录）
附录Ⅱ（规范性附录）
业射线胶片系统的特性指标
黑度计（北学密度计）期校验方法典型透照方式示意图.
环向对接焊接接头透照欲数确定方法焦点尺于计算方法·
专用像质计伪型式和规格
搭接标记的摆放位置
对比试块的式和规格
JB/T 4730.2—2005
..·38
JB/T 4730.2—2005
JBT4730.1~4730.6—2005《承压设备无损检测）分为六个部分第1部分：通用要求；
—-第2部分：射线检测；
3：第3部分：超声检测；
--—·第4部分：磁粉检测；
—第5部分：渗透检测：
—第6部分：涡流检测，
本部分为JB/T4730.1~4730.6一2005的第2部分：射线检测。本部分主要根据国内多年的研究成果和应用经验，参考欧洲EN标准、ASME《钢炉乐力容器规范》第V卷，JIS标准，以及行业反馈意见进行修订。本部分与JB4730—1994相比主要变化如下：对射线照相技不等级的指标真新划定，增加了不同情说下选择射线照相技术等级的规定。1.
对不同透照厚度、不间透照方式射线底片的像质计灵敏度要求进行了修订，灵敬度有所提断。2.
增加了T业射线胶片系统分类的内容，将胶片分为T1、T2、T3、T4四类：增加附录A（资料3.
性附录）。对胶片系统的特性指标提了要求。4.
在附录D（资料性附录）中增加了根据不K值要求，确定相应环问剂接焊接接头透照改数的图表。
对原标准规定的不同射线源适川的底片熙度范调进行了修订，底片熙度范阖行所提商。对小径管环向对接焊接接头的透照布置和透照次数的内容进行了修订。增加了Se75射线源用的规定。
增加了噪光当线的内。
对观片灯亮的有关婴求进行了修改。9.
10.对钢、铜及铜合金、铝及铅合金、钛及钛合金不同摩度允许的最高臂电用图进行了修订。11.增加黑度计（光学密度计）内容，在附录B（资料性附录）中对熙度计的定划校验方法作了明确规定
12．增加了锦及镍合金、钢及铜合金制承压设备对接焊接接头射线检测质鼠分级内穿：13.增加了钢、镍，及铜合金、铅及铝合金、钛及钛合金制承压设备管及压力管道环向对接煤接接头的射线检测质虽分级内容。本部分的附录E、附录H、附录G和附录H为规范性附录，附录A、附录B、附录C和附录D为资料性附录。
本部分由国锅炉压力容器标准化技术委员会（SAC/TC262）山，本部分内全国锅炉压力容标准化技术委员会（SAC/TC262）I口。本部分主要起草人：强天鹏、袁榕、郑世才、李伟、陈文虎、衔衍、何泽云，22
一范围
承压设备无损检测
第2部分：射线检测
JB/T4730.2—2005
JB/T4730的本部分规定了承压设备金厨芯料受压元件的熔化焊对接接头的X射线和射线检测技术和质量分级要求。
不部分适用于承压设备受压元件的制造，安装、在用检测中对接焊接接头的射线检测。用于制作焊接接头的金属材料包括碳素钢，低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金、钛及钛合金、镍及镍合金。，和部分规定的射线检测技术分为-级：A级—…低灵敏度技术：AB级—-中灵嫩技术；B级高敏度技术，
承压设备的有关支承件和结构件的对接炉接接头的射线检测，也可参照使用。2规范性引用文件
下列文中的款，通过JB4730的本部分的引前成为本部分的条款。凡是汇日期的引用文件，其随后所行的修改单（不包括期误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是谷可使用这些文件的墩新版本。凡是不注期的用文件，其最新版本适用于本部分GB 11533—1989
GB 16357---1996
GB 18165--2001
GB 18871—2002
标准对数视力表
1.业X射线探伤放射卫生防护标确丁业Y射线探伤放射卫生防护要求电离辐射防护与辆射源安全基本标群GB/T 19384.1~-2003
无损测业射线服相胶片第「部分：「业射线胶片系统的分类GB/T19384.2一2003无损检测T业射线照相胶片第2部分：川参考值方法控制胶片处理HB7684—2000
JB/T4730.1
JB/T7902—1999
JB/T 7903—1999
3一般要求
射线照相用线型像质计
承乐设备无损检测第1部分：通用要求线型像质计
工业射线照相底片观片灯
射线检测的一般要求除应符分IB/T4730.1的有关规定外，还应符合下列规症。3. 1射线检测人员
3.1.1从事射线检测的人员土岗前应进行辑射安全知识的培训，J取得成射工作人员证。3.1.2射线检测人员未经矫正或经矫正的近(距）视力和远（距)视力应不低于5.0（小数记录值为1.0)测试方法应符合GB门533的规定。从事评片的人员应再年检查-次视力。3.2射线胶片
3.2.1胶片系统按照GB/T19384.1一2003分为四类，即T1，T2、T3利T4类，T1为最高类别、T4为最低类别。胶片系统的特性指标见附录A（资料性附录）。胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数，胶片处埋方法、设备和化学药剂可按照GB/T19384.2-2003的规定，用胶片制造23
JB/T 4730.2---2005
商提供的预先曝光胶片测试片进行测试和控制。3.2.2A级和AB级射线检测技术应采用T3类或更高类别的胶片，H级射线检测技术应采用T2类或更高类别的胶片。胶片的本底炭雾度应不大于0.3。3.2.3采用射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时，应采用T2类或更高光别的胶片3.3观片灯
3. 3. 1观片灯的卡要性能应符合 JB/T 7903的有关规定,3. 3.2观片灯的最大亮度应能满评片的要求。3.4黑度计（光学密度计）
3.4.1黑度计可测的最人黑度应不小于4.5，测量值的误差应不超过±0.05。3.4.2黑度计至少每6个门校验次。校验方法可参照附录B（资料性附录）的规定进行，3.5增感屏
射线检测一-般应使用金属增感屏或不用增感屏。增感屏的选用应符合表「的舰定表1增感屏的材料和厚度
射线游
X身线（≤Ikv）
X射线
(>100kV -- 150ky )
x射线
(>150kV ~ 250kV )
X射线
(>250k~ 500k )
X射线
(IMcV..4McV)
X射线
( >4Mev - 12Mey )
X射线（>12MeV）
钢或铜
铅【A缀，AB级】
钢或铜
铅【A级AB级】
铜、铜钮
铅（A级AB级）
厚度，mm
不或多0.03
0.02 ~ 0.15
0.02 ~ 0.2
A 线 002 -- 0.2
AB级、B级
A级 0.02 -- 0.2
AB级、B级
0. 1 ~ 0.2'
0.25 ~ 0.7
0.5 - 2.0
0.25 - 0.7
0.5 ~ 2.0
0.5 ~ 1.0
钢或铜
度，mm
u.02 ~ 0. 15
0,02 - (0.2
A经 0.02 .- 0.2
AB级：B级
0.1 ~ 0.2
A级 0.02 - 0.2
AB级、B级
0.1 ~ 0.2
0.25 ~ 0.7
铅（A级、AB缀）
讷或滴
铅（A级，AB级）
钢、钢
铅（A级，AB级）
本H府屏
0.5 -.2.0
0.25 ~ 0.7
0.5 ~ 2.0
0.5 ~ 1.0
1）如果AB级、B级伙用前屏小于或等下U.U3mm厚的真空包装胶片，应在1.件和胶片之问加0.07mm~0.t5mm厚的附妞销屏免费标准bzxz.net
3.6像质计
3.6.1底片影像质量来用线型像质计测定。线型像质计的型号和规格应符合JB/T7902的规处，JB/124
7902中未包含的丝径、线号等内容，应符合HB7684的有关规定。JB/T 4730.2—2005
3.6.2像质计的材料、材料代号和不同材料的像质计适用的工件材料范围应符合表2的规定，表2不同材料的像质计适用的材料范围像质计材料代号
像质计材料
适用材料范用
碳锅或奥氏体不锈钢
磁钢、低合金钢、不锈钢
3.7表面要求和射线检测时机
镍一饹合命
镍、锦合金
业纯铁
钛、钛含金
工业纯铝
铝、铝合金
3号纯铜
铜、铜合金
3.7.1在射线检测之前、对接焊接接头的表面应经外观检测并合格。表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对表面作适当修整，3.7.2除非男有规定，射线检测应在焊届进行。对有延巡裂纹倾向的材料，全少应在焊接完放24h后进射线检测。
3.8射线检测技术等级选择
3.8.1射线检测技术等级选择应符合制造、安装，在用等有关标准及设计图样规定。承压设备对接焊接接头的制造、安装，作用时的射线检测，般应采用A日级射线检测技术进行捡测。对重要设备、结构、特殊材料和特殊煤接「艺制作的对接煤接接头、可采用B级技术进行检测。3.8.2山构、环境条件、射线设备等方而限制，检测的某些条件不能满足AB级（或B级）射线测技术的要求时，经检测方技术负资人批催，在采取有效补偿措施（例如选用更商类别的股片）的前提下，若底片的像质计跟缴度达到了AB级（或B级）射线检测技本的规定、则可认为按AB级（或B级射线检测技术进行了检测。
9.8.3低长设备在川检测中，山-结构、环境、射线设备等方而限制，检测的某些条作不能满足AB级封线检测技未的婴求时，经榜测方技术负责人批准，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）质川采州A级技术进行身线检测、们同时采用其他无摄检测方法选行补充检测。3.9辐射防护
3.9.1政射生防护应符合GB18871、GB6357利GB18465的有关规定。3.9.2现场进行X射线检测时，成要GB16357的规定划定控制区和管理区，设置警告标志，检测1作人员成佩带个人剂融计并携带剂求报警仪，3.9.3现场进行射线检测时，成按GR18465的规定划定控制区和临督以、设置告标志，检测作业时，更绕控制这边界测定暂射水。检测作人负应伺带个人剂量计，并携带剂报警仪4具体要求
4.1透照布置
4.1.1透照万式
应根据1件特点和技术条件的要求选择适官的透照方式，在可以实施的情况下应选用单壁透照方式，在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透燕方式。典型的透照方式参见附录C（资料性附录）4.1.2透照方问
透照时射线束中心般应垂直指向透照这中心，需要时也叫选用有利丁发现缺陷的方向透照4.1.3-次透照长度
次透照长度应以透照厚度比K进行控制。不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符合表3的规定，整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照附录D（资料性附求）的回线图确定，
JB/T4730.2—2005
射线检测技术级别
纵向煤接接议
环向炼接接头
表3充许的透照厚度比K
A级，AB级
K$1,01
1）对1CJmmD。≤40Umm的外向对接烊接接头（包括曲率相同的曲面焊接接头）、A级、AB级允许采用K≤1.2。
4.1.4小径管环向对接炽接接头的透照布置小径管采用双壁双影透照布置，当同时满足下列两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成像：a）T（壁厚）≤8mm
b）（焊缝宽度）≤D.4。
椭圆成像时、应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大问距）在1倍焊缝宽度左右。不满处上述案件或挪圆成像布困难时可采用垂直透照方式重叠成像。4.1.5小径管环向对接接头的透照次数小径宽环向对接焊接接头100%检测的透照次数：采倾斜透照椭圆成像时，当T/D≤0.12时，相晰90°透照2次。折T/D>0.12时，相隔120°或60°透照3次。重直透照重叠成像时，一般应相隔120或60°透照3次。
由于结构原闪不能进行多次透照时、可采用極圆成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照次不能实现焊缝金长的100%检测、此时应采取不效措施扩大缺陷可检出范图，作保证底片评定范用内黑度租！灵敏度满足要求，
4. 2 射线能量
4.2.1×射线照相应尽罐选用较低的管电压。在采用较高替电压时，应保证适当的哦光量，图1规定了不同材料，不同透厚度充许采用的最商X射线管电压。0
5678910
避照呼度，mm
注：1—铜及销合金；2一钢：3-及钛合金：4—锐及绍合金。20
3040506070100
图！不同透照厚度充许的X射线最高透照管电压26
JB/T4730.2—2005
对截面厚度变化大的承压设备，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用超过图1规定的×射线管电压，但对钢，铜及铜合金材料、管电压增量不应超过50kV：对钛及钛合金材料，管电压增量不应超过40kV：对铝及铝合命材料，管电压增量不应超过30kV。4.2.2射线源和高能×射线适用的透照厚度范围应符合表4的规定。采用源在内中心透照方式，在保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，允许射绒最小透照厚度取表4下限值的1/2。
采用其他透照方式，在来取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，经合同各方尚意，A级、AB级技术的Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm，Sc-75源的最小透照厚度可降至5mm。表4射线源和能量1MeY以上X射线设备的逻照厚度范围（钢、不锈钢、镍合金等）射线源
1r-192
X射线(IMeV~4Mev)
X射线（>4MeV-[2MeV）
X射线（>12Mey）
4.3射线源至工件表面的最小距离A级，AB级
210-40
≥20 ~ 100
240 ~200
2 30 ~ 200
透照厚度w，rmI
≥14 ~ 40
360 - 150
≥ 50 ~ 180
≥100
4.a.1所选用的射线源至.1.件表而的肥离，应满足下述要求：-A级射线检测技术：了=7.5d·h2-AB级射线检测技术：了≥10d-b-B级射线检测技术：f=15d-b22
图2左A级和B级射线检测技术确定的诺模图，图3是AB级射线检测技术确定的诺模图，有效焦点尺寸d按附录E【规范性附录）的规定计算，27
JB/T4730.2—2005
+++++++!
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图2A级和B级射线检测技术确定焦点至工件表面距离的诺模图28
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图3AB级射线检测技术确定焦点至工件表面距离的诺模图JB/T 4730.2—2005
4.3.2采用源在内心透照方代周向曦光时，只要得到的底片质量符合4.11.2和4.11.3的要求，了值可以减小，值减小低利应超过规定值的50%4.3.3采用源在内单壁透照方式时，只要得到的底片质册符合4.11.2和4.11.3的要求，十值可以减小但减小值不应超过规定值的20%.4.4曙光量
4.4.1X射线照相，\焦Hi为700mm时，曝光量的推荐值为：A级和AB级射线检测技术不小于15mAmin；B级扇线检测技术不小20mA·min。当焦距改变时可按平方反比定律对睡光最的推荐值避行染算。
4.4.2采用射线源透照时，总的腰光时间应不少于输送源往返所需时问的10倍。4.5曝光曲线
4.5.1对何台在用射线设备均应作出经常检测材料的曝光曲线，依据曝光曲线确定光参数。4.5.2制作曝光妞线所采用的胶片，增感屏，焦距、射绒能量等条件以及底片应达到的灵敏度、黑度等参数均应符合本部分的规定。
4.5.3对使用中的爆光曲线，链年至少应校验一次。射线设备史换重要部件或经较大修理后应及时对曝光线进行校验或重新制作。
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4.6无用射线和散射线屏蔽
4.6.1应采用金属增感屏、铅板、滤波板，准直器等适当措施，屏蔽散射线和无用射线，限制照射场范围
4.6.2对初次制定的检测工艺，或使用中检测工艺的条件、环境发生改变时，应进行背散射防护检查。检查背散射防护的方法是：在暗盒背面贴附“B”铅字标记，一般“B”铅字的高度为13mm、厚度为1.6mm，按检谢工艺的规定进行透照和暗室处理。若在底片上出现黑度低」周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护不够，应增大背散射防护铅板的厚度，若底片上不出现“B”字影像或山现照度高于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护符合要求。4.7像质计的使用
4.7.1像质计一般应放置在工件源侧表面焊接接义的-端（在被检区长度的1/4左位置），金履丝应横跨焊缝，细纽丝暨丁外侧。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。
4.7.2像质计放置原则
a）单壁透照规定像质计放在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照规定像质计可放置在源侧，“也可放置在胶片侧。b）单壁透照中，如果像质订无法放置在源侧，充许放贷在胶片侧。c）单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进行对比试验，对比试验方法是在射源侧和胶片侧各放个像计，用与工件相同的条件透照。测定引像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异，以此修正应识别像质计丝号，以保证实标透照的底片灵敏度符合要求。d）像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位诞放置铅字“F”作为标记，“-”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片1。且应在检测报告中注明，4.7.3原则上每张底片上都应有像质计的影像。一次曝光完成多张胶片相时，使用的像质计数允许减少但应符合以下要求：
a）环形刘接焊接接头采月源置于中心周问曝光时，至少在阅周上等间隔地放置3个像质计b）球罐对接焊接接头采用源置于球心的全景曝光时，全少在北极区、赤道区、南极区附近的焊缝上沿纬度等间隔地各放置3个像质计，在南、北极的极板拼缝上各放暨1-个像质计。c）一次曝光连续排列的多张腔片时，至少在第…张、中间一-张和最后-一张胶片处备放置个像质计。
4.7.4小径管可选用通用线想像质计或附录户【规范性附求）规定的专用（等径金属丝）像质计，金丝横跨煜缝放倒
4.7.5如底片黑度均匀部位（般是邻近焊缝的母材金属区）能够清晰地看到长度不小-于10mm的连续金属丝影像时，则认为该丝悬可识别的。专川像质计室少应能识别似根金属丝，4.B标记
4.8.1透照部位的标记由识别标记和定位标记组成。标记一般中适当尺寸的铅（或其仙适官的重金属）制数字、拼音字母和符号等构成4.8.2识别标记-一般包括：产品编号，对接爆接接义编号、部位编号和透照月期，返修后的透照还应有返修标记：扩大检测比例的透照应有扩大检测标记。4.8.3定位标记一般包括中心标记和搭接标记，中心标记指示透照部位区段的中心位置和分段编号的方向，一般用十字箭头“书”表示。搭接标记是连续检测时的透照分段标记，可用符号“十”或其他能显示搭接情况的方法表示。
4.8.4标记一般应放置在距焊缝边缘至少5mm以外的部位，措搭接标记放置的部位还应符合附录G（规范性附录）的规定。所有标记的影像不应重叠，且不应干扰有效评定范断内的影像。30
4. 9胶片处理
4.9.1可采用白动冲洗或手工冲洗方式处理，推采用白动冲洗方式处理。4.9.2胶片处理一般应按胶片使用说明书的规定进行。4.10评片要求
JB/T 4730. 2--2005
4.10.1评片一般应在专用的评片室内进行。评片室应整洁，安静，温度违宜，光线应暗且柔和。4.10.2评片人员在评片前应经一定的暗适应时间。从阴光下选人评片的嗒适应时一般为5min~10min：从般的室内进入评片的暗适应时间应不少于30s4.10.3评片时，底片评定范围内的充度应符合下列规定：a）当底片评起范用内的熙度D2.5时，透过底片评延范用内的亮度应不低于30cdm。当底用说定范圈内的照度D>2.5时，透过底片评定范围内的毫度应不低于10cdm。b)
4.10.4底片评定范围的宽度般为焊經本身及炽缝两侧5mm宽的风域4. 11 底片质量
4.11.1底片上，定位和识别标记影像应配示完整、位置正确：4.11.2底片评定范用内的熙度D应符合下列规定：A级：15≤D≤40
AB级:2.0≤D≤4.0;
B级：2.3≤D≤4.0%
用X射线透小科们或其他假而厚度变化大的1件时，AB级最低照度充许降全1.5：B级最低黑度可降至2.0g
采用多胶片方法时，单片规察的熙度应符合以上要求，双片叠加观察仅限下A级，叠加观察时，单片的黑度应不低可1.3。
对评定范制内的熙度D≥4.0的底片，如有计量检处报告证明所引观片灯行底片评定范用内的充度能够满是4.10.3的要求，充许进行评，4.11.3底片的像质灵嫩
单睦透照，像质计筐」源侧时应符个表5的规适：双睦双影透照，像质计置了源侧时应符合表6的规定；双接单影或双够双影透照、像质计置厂胶片侧时应符合表7的规定。4.11.4底片评众范内不成存扰缺陷影像识别的水迹，划疼、斑纹等伪缺渐影像。表5像质计灵敏度值
识别约号
(丝径，mm）
18 (0.063)
17(0)H))
16 (0.100)
15 (0.125 )
14(0.160)
13 ((.2))
12 ( 0.25 )
[1 ( 0.32
> 2.0 ~ 3.5
> 3.5 - 5.0
>～10
>10 ~ 15
-单壁透照、像质计置于源侧
公称谭度（）范肃，nm
>2.0 ~ 3.5
> 3.5 ~ 5.0
>7~ 10
10 ~15
> 15 ~25
>2.5 ~4.0
>B~ 12
12 ~ 20
>20 30
> 30 35
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