【机械行业标准(JB)】 金相显微镜

ICS37.020
中华人民共和国机械行业标
JB/T10077—1999
金相显微镜
Metallurgicalmicroscope
1999-05-14发布
1999-07-01实施
JB/T10077-1999
本标准是在ZBN33002.1—88《金相显微镜系列》和ZBN33002.288《金相显微镜技术条件》的基础上修订的。本次修订时，依据GB/T1.3一1996《产品标准编写导则》的要求进行编写。鉴于在1996年相继颁布了一系列关于显微镜的基本参数和有关接口，以及显微镜物镜、目镜等基础标准，使金相显微镜整机技术要求的提出有了较充分的依据。因此在本次修订时凡能够引用基础标准之处则尽量予以引用。考虑到虽然基础部件的技术要求较多，但是当这些部件组成了整机后，其中部分技术要求将在整机技术要求中得到反映，所以，在本标准中有时只引用基础标准中部分条文。由于本标准是通用技术标准，其内容涉及普通型、实验室型及研究用型三个档次的金相显微镜，而不同型式的参数不尽相同，因此把产品的分类归并入技术要求章中编写似有不妥。本标准在修订时把原ZBN33002.1--88金相显微镜系列》改为“分类及基本参数”，作为本标准的第3章，原第3章\技术要求”改为第4幸。
考虑到金相显微镜在变换物镜时不一定都采用物镜转换器这一机构，因此本标准在修订时对是否需要物镜转换器及转换器的规格不再作具体规定。另外，对于双目观察系统，影响光轴（出射光束)平行度的因素较多。为了有利于指标的控制，在标准中增加了左右系统视场中心位置偏差的条文，其他部分条文稍有调整。
标推第5章“检验规则”在本次修订时作了较大的修改，列为第6章，主要是对本标准各技术要求的不合格类别作了分类，并对不同的不合格类别提出了不同的AQL及RQL值，力求更正确地应用CB/T2828和GB/T2829标准。
原标准的第4章“试验方法\在修订后的标准中为第5章。本标准自1999年7月1日起实施。本标准自实施之日起，同时代替ZBN33002.1--88和ZBN33002.288。本标准由全国光学和光学仪器标准化技术委员会提出并归口。本标准起草单位：上海光学仪器研究所、江南光电（集团）股份有限公司。本标准主要起草人：胡钰、黄卫佳、余扬飞。本标准1962年首次发布，1988年第1次修订。1范围
中华人民共和国机械行业标准
金相显微镜
. Metallurgical microscope
JB/T100771999
代替ZBN33002--88
本标准规定了金相显微镜的分类、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则及抽样、标志、包装及运输贮存。
本标准适用于常温下在可见辐射范围内观察金属显微组织的金相显微镜。2引用标准
下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T2609-1996显微镜，物镜
GB/T2828一1987逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查）GB/T28291987周期检查计数抽样程序及抽样表（适用于生产过程稳定性的检查）GB/T92461996显微镜目镜
仪器仪表包装通用技术条件
GB/T15464—1995
JB5517—1991光学仪器电器防护基本安全要求JB/T7398.1—1994
显徽镜物镜和目镜的标志
JB/T 7398.2—1994bzxz.net
JB/T 7398.3—1994
JB/T 7398.51994
JB/T 7398.71994
JB/T8230.51999
JB/T8230.61999
显微镜光学连接尺寸
显微镜物镜螺纹
显微镜支架和基座
显微镜物镜转换器
显徽镜目镜和镜简的配合尺寸
显微镜放大率
仪器仪表运输、运输贮存基本环境条件及试验方法JB/T932919994
3分类及基本参数
3.1金相显微镜按使用对象和结构复杂程度分为普通金相显微镜、实验室金相显微镜和研究用金相显微镜。
3.2各类金相显微镜的规格及基本参数应符合表1的规定。3.3目镜定位面与初次成像平面之间的距离符合B/7398.2的规定。3.4显微镜物镜的像距为无穷远的光学系统，其镜简透镜焦距的选择应符合JB/T7398.2的规定。3.5，双目系统两出魔距离可调节，左右两出髓之间的距离最小不大于55mm，最大不小于75mm。3.6显微镜物镜和目镜的标志应符合JB/T7398.1的规定。3.7采用螺纹连接的显微镜物镜螺纹尺寸应符合JB/T7398.3的规定。3.8显微镜目镜与镜管的配合尺寸应符合JB/T8230.5的规定。国家机械工业局1999-0514发布
1999-07-01实施
目镜类别
放大率
载物台
微动机构
必备件
选购件
酱通金相显微镜
明场(摄影)
消色差
半平场消色差
单目或双目
可作纵、横方向移动
微调范围不小于1.8mm，
分度值0.002mm
10×分划目镜，0.01mm
测微尺，摄影装置
注：括号内为选购件功能。
4技术要求
JB/T100771999
实验室金相显微镜
明场、暗场、偏光、摄影、投影式
（微分干涉）、（自动曦光）、（电视）平场消色差
50,100,200,400,500,800,1000
6cm×8.25cm
研究用金相显微镜
明场、暗场、偏光、摄影、投影、相衬、微分干涉、自动噪光
(显微硬度)、(电视）、(图像自动分析）平场消色差、平场半复消色差或平场复消色差
25,50,100,200,400,500,800,1000,160012cm×16.5cm
纵、横方向移动范均不小于10mm纵、横方向移动范厨均不小于15mm微调范围不小于2mm，分度值0.002mm10×分划目镜，0.01mm测微尺，晶度板
10×分划目镜，0.01mm测微尺，晶粒度板，135摄影装置
微分干涉装置，自动光装暨，电视」显微硬度装驾，电视装置，图像自动分装置，135摄影装置，低倍摄影装置析装置，低倍摄影装暨4.1显微镜和各类物镜应按GB/T2609要求校正好相应的像差。2显微镜物镜数值孔径的极限差应符合GB/T2609一1996中4.4的规定。4.2
4.3显微镜成像应清晰，其清晰范围应符合GB/T2609一1996中4.2的规定。4.4具有物镜转换器的，转换器定位应准确、稳定，其最大定位误差应符合JB/T7398.7的规定。4.5利用物镜转换器更换物镜时，第一次像面中心不应越出视场。使用物镜转换器更换物镜时，由10×物镜对试样调焦清晰后，顺序转换至其他放大率物镜，其最大4.61
调焦量不大于表2的规定：
昱微镜类别
苷通金相显微镜
实验室和研究用金相显微镜
由10倍至4倍
由10倍换用10倍以上的干燥系物镜± 0.06
由干燥系高倍物镜至液浸系物镜± 0.03
4.7载物台是回转型的，旋转载物台时，显微镜第一次像的中心最大偏移不大于0.2mm。4.8用载物台使试样在5mm×5mm范围内作纵、横方向移动时，用40倍物镜观察，试样的像应在规定范围内调焦清晰：
a）普通金相显微镜：0.01mm；
b）实验室和研究用金相显微镜：0.008mmo4.9视场内像的清晰区域应无一边清晰一边模糊现象。4.10使用微调焦机构时，用10倍物镜观察；在景深范围内像面中心位移：2
普及金相显微镜不大于0.1mm;
JB/T100771999
实验室金相显徽镜及研究用金相显微镜不大于0.05mm。4.11微动调焦机构的空回应符合JB/T7398.5的规定。4.12显微镜放大率准确度
4.12.1物镜放大率准确度应符合JB/T8230.6的规定。4.12.2目镜放大率准确度应符合JB/T8230.6的规定。4.13双目镜简左右两系统处于零视度时，两目镜简端面高低差不大于1.5mm。4.14双目观察时，左右两系统的放大率差：目镜视场角不超过509时，不大于2%；目镜视场角大于50°时，不大于1.5%。4.15在双眼脑距为55mm~75mm范围内左右视场中心相对偏差：上下：0.2mm；
左右外侧：0.2mm；
内侧：0.4mm。
4.16双目镜筒的光轴应平行，在瞳距为55mm~75mm范图内任意位置其平行度为：两光轴在水平面上的发散度：60°；两光轴在水平面上的会聚度：30°；两光轴在垂直面上的发散度：30″。4.17双目观察时，左右两系统像面的图形方位差不大于40。4.18双目观察时，左右两系统光谱色应基本一致，其明暗差不大于18%。4.19十字分划目镜的十字线中心应与目镜外圆轴线重合，其偏差为0.1mm。4.20载物台中间位置加2kg重物时，调焦机构不应有下滑现象。4.21光阐应基本圆整、对称，调节轻巧舒适。4.22调节孔径光阑时，像的亮度应均匀连续地变化。4.23显微镜视场光闻的中心应能方便地调整到目镜视场中心。4.24显微镜在正交偏光时视场应呈黑暗。在使用数值孔径较大的物镜时，视场允许呈灰色，但当视场力阑和孔径光缩小仍应呈黑暗。
4.25暗视场照明应均匀，载物台上不放试样时视场应呈黑暗；观察试样时视场内像的明暗黑白应与目视场观察时相反。
4.26显微镜观察时，视场内不应有明显的反射光斑出现。4.27显微镜摄影系统成像应良好，不应有影响摄影质盘的杂光、漫射光和漏光。以目视观察中心为准，摄影及投影相对其中心的偏移不大于幅面对角线长度(或直径)的5%。4.28
显微镜光学系统中不允许有可见的毛边、缺口、气泡、灰尘和其他疵病。4.30
显微镜各移动与转动部分在使用时均应舒适，不得有过紧、过松的现象。显微镜上所有的字、线和标记等均应明显、清晰。4.31
4.32表面质盘应符合下列要求：a）漆面不应有脱落和显著的颜色不均；b）电镀表面不应有脱皮和斑点；c）零件表面不应有毛刺、锐边和显著的划痕；d）外表面各接合处齐整，不应有粗不平。4.33电器部分应符合JB5517的规定要求。4.34显微镜在运输包装条件下应符合JB/T9329的要求，其中高温+55℃，低温-40℃，自由跌落高速250mm，交变湿热试验相对湿度选用95%。3
5试验方法
5.1各类物镜像差校正(4.1)
按GB/T2609规定的试验方法进行。5.2物镜数值孔径偏差（4.2)
5.2.1试验工具
阿贝数值孔径计(附针孔)；
专用显微镜架；
JB/T10077-1999
专用望远镜（镜管外径Φ23.2mm）；c
对中望远镜。
.5.2.2试验程序
阿贝数值孔径计置于专用显微镜架的载物台上，被检物镜安装在显微镜管上（对于不用螺纹连接的物镜须借助过渡接头），然后用10×目镜（对于像距为无穷远的物镜用望远镜）搏人目镜管对数值孔径计上的狭缝进行调焦，待获得清晰的狭缝像后取出目镜（或望远镜），然后再在目镜管上插入针孔或对中望远镜(用于40倍以上的被检物镜)观察物镜出瞳进行测量。5.3显微镜成像清晰范围（4.3）5.3.1试验工具
a）100线/mm，300线/mm，600线/mm的网格光概；b)
金相试样。
5.3.2试验程序
各种规格的物镜所使用的试验工具按表3规定。5.3.2.1
物镜数值孔径
试验工具规格
100线/mm
300线/mm
600线/mm
金相试样
5.3.2.2用被试验物镜及10×自镜对网格光或金相试样进行调焦，使成像清晰，当视场中心像最清晰时，测得目镜视场内的成像清晰范围。5.4物镜转换器定位误差（4.4)
5.4.1试验工具
a）10×十字分划目镜，视场数为14mm，十字分划中心与目镜外圆机械轴的同轴度不大于d0.02mm;
b）分划值为0.01mm的分划尺，其任意两分划线间的极限偏差为±0.005mml5.4.2试验程序
在被检显微镜的转换器上装40倍物镜，目镜筒内放10×十宇目镜，对置于载物台上0.01mm分划尺调焦清晰，使分划尺上某一分划与目镜中十字分划中心重合，然后转动物镜转换器向左、右多次定位（不少于三次），观察0.01mm分划尺像的偏移，以最大偏移值作为检定值，转换器各螺孔应分别试验。5.5转换物镜时第一次像面中心偏移（4.5条）5.5.1试验工具
a）10×十字分划目镜[同5.4.1.a)1;b）十字分划板。
5.5.2试验程序
用10×十字分划目镜和各放大率物镜在被检显微镜上按本标准要求进行检验。5.6转换物镜后调焦量（4.6)
5.6.1试验工具
a）金相试样；
b）千分表。
5.6.2试验程序
JB/T10077-—1999
在被检显微镜上，先用10×目镜和10倍物镜对置于载物台上的金相试样调焦清晰，然后转换至相邻放大率的物镜，再以此物镜对试样调焦清晰。以于分表最大变化确定其调焦量。5.7载物台旋转中心偏移(4.7）
5.7.1试验工具
同4.5。
5.7.2试验程序
在被检显微镜上用10×十字分划目镜和10倍物镜对置于载物台上的十字分划板调焦清晰，在转动载物台的同时移动十字分划板，使十字线中心的像趋向于最小的圆，以最小圆的直径作为检定值。5.8载物台作5mm×5mm范围移动时调焦量（4.8）5.8.1试验工具
a）数值孔径为0.65的40倍物镜；b】千分表[同5.6.1b)J；
c）金相试样。
5.8.2试验程序
在被检显微镜上用.40倍物镜和10×目镜，按本标准要求在载物台可移动范围的任意位置上进行试验，以最大调焦量作为检定值。5.9视场内像的清晰区域与视场同心（4.9）5.9.1试验工具
金相试样。
5.9.2试验方法
按要求目视检验。
5.10微调焦机构的偏摆（4.10）5.10.1试验工具
a）十字分划板；
b）10×十字分划目镜。
5.10.2试验程序
在显微镜载物台上置十字分划板，用十字分划目镜及10倍物镜对分划板进行调焦，使分划板成像清晰，并使分划板十字线像与目镜分划板十字线重合，转动微调焦手轮，在目镜分划板上测得分划板十字线像在景深范围内的最大偏摆即为测定值。5.11微动调焦机构空回（4.11）5.11.1试验工具
千分表[同5.6.16]]】
5.11.2试验程序
将千分表测量头接触在载物台上，正反方向旋转微动手轮，以最大空回值作为检定值。注：起始及末尾一圆可不作要求。5.12显微镜放大率准确度（4.12）5.12.1物镜放大率准确度（4.12.1）5.12.1.1试验工具
a）测微目镜；
b）分划值为0.01mm的分划尺；
c）专用显徽镜架。
5.12.1.2试验程序
JB/T10077-1999
5.12.1.2.1对于机械简长为160mm的物镜，将被检验物镜装在专用显微镜架上，调整时应使物平面（分划尺所在平面）至测微目镜分划板平面之间的距离为195mm，然后对分划尺进行调焦，使分划尺成像清晰，按测微目镜的使用及读数方法进行测量，测得对物镜名义放大率的相对误差即为测定值。5.12.1.2.2对于机械筒长为无穷远的显微镜物镜，所使用的专用显微镜架的镜简透镜的焦距应与被测显微镜镜简透镜焦距相同，测微目镜的分划板应位于镜简透镜的像方焦面上，将被检物镜安装在专用显微镜架上，然后按5.12.1.2.1同样方法进行测量与计算。当在某种特定的试验场合，不具备符合规定要求的专用显微镜架时，亦可用带分划尺且可调视度的目镜直接在产品上测量。后一种方法，不适宜用于工厂内部的产品检验。
5.12.2显微镜目镜放大率准确度（4.13)5.12.2.1试验工具
焦距仪，其准确度不低于1/100。5.12.2.2试验程序
按焦距仪的使用方法先测出被检目镜的焦距，然后按公式(1)计算出目镜放大率。Moc=
式中：Moc-目镜放大率；
f\——目镜焦距，m;
250——明视距离，mm。
当目镜的放大率计算出以后，其对名义放大率的相对误差即为测定值。5.13零视度时两目镜筒端面高低差（4.13）5.13.1试验工具
a）视度计；
b）刀口尺；
c）分划值为0.5mm的直尺。
5.13.2试验程序
+··(1)
在被检显微镜上放10×成对目镜，用视度计分别确定两目镜的零视度位置，然后将刀口尺置于目镜简端面上，用直尺测量其高低差。试验应在距55mm，65mm和75mm三个位置上进行，以最大值作为检定值。
5.14双目系统两目镜放大率相对差（4.14）5.14.1试验工具
焦距仪，准确度不低于1/100。
5.14.2试验程序
用焦距仪分别测量出两目镜焦距后求得放大率。放大率相对差=M s-M c %
式中：Moci—放大率大的数值；Moc2—
一放大率小的数值。
5.15左右视场中心相对偏差（4.15）5.15.1试验工具
同5.5.1。
5.15.2试验程序
在显徽镜载物台上置十字分划板，用10倍或10倍以下物镜和十字分划目镜对十字分划板调焦，先使左简目视场内十字分划板像与目镜分划板十字中心重合，然后观察右简目镜视场内十字分划板像中心6
的位置，测出其偏差。
5.16双目简镜光轴平行度（4.16)5.16.1试验工具
JB/T100771999
a）专用双简望远镜，两光轴的平行度应为本标准技术要求的1/5~1/10；b）十字分划板。
5.16.2试验程序
将双简望远镜置于被检显微镜之后，试验时用10倍或10倍以下物镜对置于载物台上的十字分划板调焦。以一个镜简为基准，使十字分划板像中心与望远镜中十字分划板中心相重合，从另一个镜简即可测得两光轴的平行度(试验时应转动目镜)。5.17双目左、右两系统像面的图形方位差（4.17）5.17.1试验工具
冏5.16.1。
5.17.2试验程序
将双筒望远镜置于被检显微镜之后，试验时用10倍或10倍以下物镜对置于载物台上的十字分划板调焦。以一个镜简为基准，使十字分划板像中心与望远镜中十字分划板刻线相重合，从另一镜简测得两系统像面图形方位差。
5.18双目左、右两系统像的光谱色及明暗差（4.18）5.18.1试验工具
照度计。
5.18.2试验程序
5.18.2.1双目系统像面光谱色用目视检验。5.18.2.2用照度计分别对左右两系统像光束强度进行测逻，得E：，E2，然后按公式（3）计算出测定值。
左右系统明暗差 =ELE2 %
式中：E，照度大的数值；
一照度小的数值。
5.19十字分划目镜的十字线中心偏差（4.19)5.19.1试验工具
十字分划板。
5.19.2试验程序
（3）
在显微镜上用10倍物镜和被检十字分划目镜对置于载物台上的十字分划板调焦清晰，并使十字分划板像中心与目镜分划板十字中心重合，然后旋转十字分划吕镜，以两十字线中心的最大偏移作为检定值。
5.20载物台加2kg重物时的稳定性（4.20）5.20.1试验工具
a）金相试样；
2kg重的码或金属块。
5.20.2试验程序
把金相试样和2kg重物放置在被检显微镜的载物台中间部位，用40倍物镜对试样调焦清晰。静置5min后再次观察时，试样的像仍应清晰。5.21暗视场(4.25)
5.21.1试验工具
二氧化硅夹杂物试样。
5.21.2试验程序
JB/T10077—1999
在被检显微镜上按本标准要求观察检验。5.22摄影(4.27)
试验工具和试验程序：拍摄400×的显微组织照片检验。5.23摄影中心偏移(4.28）
5.23.1试验工具
a】十字分划板[同5.5.1b月；
b】10×十字分划目镜[同5.4.1a)];c）分划值为0.5mm的直尺。
5.23.2试验程序
在被检显微镜上用10倍物镜对置于载物台上的十字分划板调焦，使十字分划像中心与分划镜中十字线中心重合，然后转换到摄影承影屏或投影屏上，用直尺测量十字分划像中心的偏移。5.24电器要求（4.33）
试验工具和试验程序按JB5517的规定进行。5.25环境模拟试验(4.34)
试验工具与试验程序：按JB/T9329规定试验后，各技术要求仍应符合本标准的规定。6检验规则和抽样
6.1检验分类
产品的检验分为出厂检验和型式检验。6.2出厂检验（即交货检验）
6.2.1出厂检验的样品数根据GB/T2828中一般检查水平I，正常检查一次抽样方案确定。通常从正常检查开始，根据检验结果，随时执行GB/T2828规定的转移规则。6.2.2出厂检验的检验样本应在供货方提交的检验批中随机抽取。6.2.3出厂检验不包括4.34内容。6.2.4提交检验的批中，除4.33电气安全部分不允许出现不合格品外，对A类不合格品，B类不合格品及C类不合格品的合格质量水平AQL值见表4。表4
品类别
不合格品
6.2.5抽检合格的批直接接受，但所发现的不合格品应予别除或更换。6.3型式检验
6.3.1型式检验应对标准中规定的技术要求全部进行检验，型式检验的样品应从检验合格的产品批中随机描取。
6.3.2型式检验的抽样采用GB/T2829中的一次抽样方案，各类不合格以项目计，除4.33不允许不合格外，各类不合格的判别水平DL,不合格质量水平RQL和抽样方案应符合表5的规定。表5
不合格类别
抽样方案（n！A。，R.)
31 (1,2)
31 (2,3)
31 (4,5)
JB/T10077-1999
6.3.3型式检验的受试样品在按JB/T9329的要求进行环境条件试验后，各项技术要求仍应符合标准的规定。
型式检验的周期一般为一年，在两次型式检验的周期内发生下列情况之一时，也应进行型式检6.3.4
产品的结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时；出厂检验结果与上次型式检验结果有较大差异时；b）
c）·产品停产一年以上再恢复生产时。6.3.5经过型式检验后的样品，不经过整理不得作为合格品出厂。6.4检验项目的分类
本标准所有各项目的不合格分类按表6的规定。表6
不合格分类
4.4.4.5.4.6,4.7.4.8.4.15,4.16,4.20,4.22,4.24,4.25,4.26,4.27,4.29,4.30,4.324.2,4.9,4.10,4.11.4.12,4.13.4.14,4.17,4.18,4.19,4.21.4.23,4.28,4.31注：4.33电气安全防护要求不充许出现不合格，不适用CB/T2828和GB/T2829标准，7标志、包装、运输、贮存
7.1产品应有下列标志
制造厂名或商标；
b）产品名称；
c）产品型号；
d)制造日期(或编号)。
7.2产品包装应符合GB/15464的规定。7.3运输
金相显微镜应由有遮蔽的运输工具运送。7.4贮存
金相显微镜应贮存在有遮蔽的场所，周围无酸性气体、碱、有机溶剂及其他有害物质。
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。