【电子行业标准(SJ)】钨的光谱分析方法

本网站发布时间： 1986-01-21 16:00:00

SJ2656-1986
现行
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基本信息

标准号：
SJ 2656-1986
标准名称：
钨的光谱分析方法
标准类别：
电子行业标准(SJ)
英文名称：
Method for defermination of Tungsten by spectrometry
标准状态：
现行
发布日期：
1986-01-21
实施日期：
1986-10-01
出版语种：
简体中文
下载格式：
.rar.pdf
下载大小：

标准分类号

中标分类号：
综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理

关联标准

替代情况：
SJ/Z 1319-1978
采标情况：
JIS H1401-79 ГОСТ 14315-74 NEQ

出版信息

出版社：
电子工业出版社
页数：
7页
标准价格：
12.0 元
出版日期：
1986-09-01

其他信息

复审日期：
2017-05-12
起草人：
藏明堂、王淑敏
起草单位：
电子工业部744厂
归口单位：
电子工业部标准化研究所
发布部门：
中华人民共和国电子工业部
相关标签：
光谱分析方法

标准简介/下载

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标准简介：

标准下载解压密码：www.bzxz.net

本标准适用于电子器件、电光源用钨材(粉、坏、杆、丝、带)、三氧化钨(不含添加剂)、钨酸及仲钨酸铵中硅、铝、铁、钙、钴、镍、锰、铅、锡、钼、钛、锑、镉、砷、铜、铬等元素的测定。 SJ 2656-1986 钨的光谱分析方法 SJ2656-1986
本标准适用于电子器件、电光源用钨材（粉、坏、杆、丝、带）、三氧化钨（不含添加剂）、钨酸及仲钨酸铵中硅、铝、铁、钙、钴、镍、锰、铅、锡、钼、钛、锑、镉、砷、铜、铬等元素的测定。

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