【国家标准(GB)】 交流牵引线路用棒形瓷绝缘子

GB11030—2000
本标准是等效采用IE心383-1:1993（第四版）标称电压高于1000V的架空线路绝缘子第--部分,交流系统用瓷或璃绝缘子元件定义、试验方法和验收准则》制定的。按 IFC 383-1,本标准主要增加了抽样试验中抽取三倍试品数量的重复试验程序和等效的电气、机械型式试验条件的内容。
本标推与原行标JB/T8180—1995(由GB11030—1989降为JB/T8180-1995,其内容不变）相比,在产品分类方面取消了上帽管径为 50 mm 类的产品,增加了爬电距离为 1 500 mm 类和弯曲强度为8 kN类的产品,将爬电距离为 850mm类的产品作为过髋型产品列入本标准的附录R中,在特性方面将人工污秒耐受电压由29kV提高到31.5kV本标准自实施之日起，同时代替JB/T81B0—1995。本标准的附录A是标准的附录,附录B是提示的附录。本标准由国家机械工业局提出。本标准由全国绝缘子标准化技术委员会归口。本标准由西安电瓷研究所负责起草。本标准主要起草人：丁京玲、梅成。本标准委托西安电瓷研究所负责解释。W. 各美标准行业资料免费下载1范围
中华人民共和国国家标准
交流牵引线路用棒形瓷绝缘子
Rod porcelaln insulators for a. c, system tractlon linesGB 11030—2000
eqvIEC383-1.1994
本标准规定了交流牵引线路用棒形瓷绝缘子（以下饰称绝续子)的分类与命名，技术要求，检验规则与试验方法，包装、标志,运输与贮存。本标准适用于污秒地区交流工频单相25kV牵引绒路绝缘和固定导线用的绝缘子。绝缘子安装地点环境温度应在—40℃~+40℃之间，海拔不超过1000m。注： 海拔超过 1 000 m 时按 GB 311. 1 判定其适用性。本标准不适用于对绝缘件和金属附件有严重腐蚀的环境下使用的绝缘于。2引用标准
下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB 311.1—1997高压输变电设备的绝缘配合(neq IEC 71-1:1993)GB772—1987高压绝缘子瓷件技术条件（neqIEC233:1974)GB/T 775. 1—1987绝缘子试验方法第 1 部分：--般试验方法GB/T 775.2—1987绝缘子试验方法第2部分：电气试验方法绝缘子试验方法第3部分：机械试验方法GB/T775.3—1987
GB/T 2900. 8-1995
电工术语绝缘子(egvIEC 471)
GB/T4585.2—1991交流系统用高压绝缘子人工污秘试验方法固体层法(idtIEC 507:1975）
JB/T3384—1999高压绝缘子抽样方案JB/T4307—1986绝缘子胶装用水泥胶台剂技术条件9绝缘子金附件热镀锌层通用技术条件JB/T 8177-1999
9超声波探测瓷件内部缺陷
JB/T 9674-—1999
JB/T 9673—1999
绝缘子产品包装
3定义
本标准所用术语的定义均按GB/T 2900.8的规定，4分类与命名
4.1绝缘子按安装方式分为悬挂,定位和腕臂支撑式三种。隧道用悬挂、定位式，区间,站场用腕臀支撑式。
4. 2 绝缘子的主要尺寸与特性分别符合图 1~图 4 和表 1 的规定。国质量技术监警局 2000-01 -03 批准2000-03-01实施
W.客类标准行业资料免费下载图1
GB11030—2000
各美标准行业资料免费下载序
绝缘子
QE1-25A
QX1-25
QE2-25A
4QX2-25
5QEE-25A
QX3-25
7|QB1-25/4D
BQB2-25/4D
QB3-25/4D
10|QB2-25/8D
11QBZ1-25/4D
12|QBZ2-25/4D
13[QBZ3-25/4D
14QBZ2-25/8D
GH 11030—2000
表1绝缘子主要尺寸与特性
主要尺寸,mm
600|430|14521
690|510|145 21
最小公称雷电全泌
工额证耐
鹏电距离冲击耐受
（主绝缘）
绝橡)
690510155|21
660410165
760490
780520200
760490185
740|410170
62219030—
B50490185
21/9030
B70|520|200bzxZ.net
B50490185
4.3绝缴子型号及符号含义
型号表示方法：
OOOOAE
1000/120
1200/145
1500/14c
1200/145
连接型式
(峰值)
受电压
人工污罗耐
妥电压，ky
不小于
面定弯曲额定拉伸
酸坏负前酸坏负荷
k有效值）盐瘤mg/em
不小于
不小于
特征数字（标称电压kV/弯曲负荷N)能距级别
结构特征（包括单、双重绝缘子和上半导体釉）使用所
-产品名称
符号含义：
Q—交流牵引线路用棒形瓷绝缘子；X———道悬挂
隧定位
区间、站场腕臂支撑；
双重绝缘（单绝缘不表示）
S-上半导体轴;
WGB11030—2000
A—下附件安装为双孔(单孔不表示);D上附件安装为管径
1、2.3——分别代表爬距为 1 000 mtm.1 200 mm 和 1 500 mm 的产品。5技术要求
5.1绝续于应按本标准及规定程序批准的图样制造。5.2绝缘子瓷件外观质量应符合 GB 772的规定。绝缘子瓷件外露表面应均勾地上一层瓷釉,釉色由供需双方商定。
5.3绝缘子主要尺寸的偏差为，
H:±20mm;
di.da.二.gmm
a:±l mm;
6:±0.smm.
对未注偏差的所有尺寸(包括爬电距离)为：当E≤300mm时,±(0.04E+1.5)mm当E>300mm时，士（0.025E+6.0）mmlE为被检查的尺寸,单位 mm.
5.4绝续子形位公差应符合如下规定：拍】绝子瓷件轴战直线度应不超过其长度的1%；b）悬挂、定位用绝缘子上，下金属附件安装面应在同一平面内，其平行度不超过5mmc）绝续子上、下金属附件的同轴度应不超过3 mm。5.5半导体釉绝缘子釉层电阻值应特合工厂产品图样中所做的规定。半导体釉层外观质量及其电阻的测量方法接附录A的规定
5.6绝缘子瓷件的剖面应是均质的，经孔隙性试验后不应有任何渗透现象。孔隙性试验的压力应不小于20 MPa，压力与时间的乘积应不小于180MPa·h。5.7绝缘子瓷件在胶装前应逐只进行超声波探伤检查，瓷件内部不应有超声波能发现的缺陷（如生烧、氧化、并裂和气孔夹层等）。
5. 8 绝缘子应使用相当于 JB/T 4307 规定的 I 类水泥胶合剂进行胶装,瓷件端面与金属附件之间应垫以缓冲衬垫，瓷件及金属附件与水泥接触面应均匀地涂一层缓冲层，外露水泥表面应平整无裂纹，其乎面度应不大丁3tmm，外露砂层高度不大于10mm5.9绝缘子金属附件表面应全部热链锌，其锌层质量应符合JB/T8177的规定。5.10“绝缘子应耐受三次温度循环试验而不损坏，试验温差为70K。5. 11对于忌挂、定位式绝缘子应能耐受 1 min 拉伸负荷试验而不损坏,其试验负荷为额定拉伸破坏负荷的60%；对于腕臂支撑式绝嫁子应耐受10：弯曲负荷试验，其试验负荷为额定弯曲破坏负荷的60%。
6检验规则与试验方法
6.1绝缘子应由制造厂质量检查部门检验，并保证出厂的绝缘子符合本标推的要求。6.2绝缘子应按批进行检验，同批绝缘子的制造工艺及型号应完全相同，每批数盘N应不超过1200只。当绝缘子多于1200只时，应将其均分成数量为500～1200只绝缘子数批，分别进行试验和考核。6.3绝缘子的检验分为逐个试验、抽样试验和型式试验，其试验方法按本标准的规定。6.3.1逐个试验：绝缘子应按表2规定遥个进行检验，如发现有不符合表2中规定的任何一项要求时，W.则此绝缘子不台格。
试验名称
外观检查
连接尺寸检查
瓷件超声被检探伤查
机械负荷试验
半导体猫层电阻测量
GB 11030—2000
表 2绝缘子逐个试验项目
试验恢据
本标准 5. 2,5. 5#5. 8,5. 9
本标准 4. 2
本标准 5. 7
本标准 5. 11
本标准 5. 5
试验方法
GB/T775.1,本标难附录A
GB/T 775.1
JB/T 9674
GB/T 775. 3
本标准附录 A
6. 3. 2抽样试验:抽样试验应在逐个试验合格后的绝缘子中按表 3 规定试品数量随机抽取试品,并按表 3 的程序进行试验。
表3绝缘子抽样试验项目
批量 N
试验名称
尽寸检查
锌层试验
温度循环试验
拉伸避坏
负荷域验
弯曲破坏
负荷试验
孔照性试验
试验依据
本标准 4. 215. 3,5. 4; 5. 8
本标准 5. 9
本标准 5. 10
本标准 4.2
本标准4.2
本标准 5.6
注：括号内数量仅适用于腕骨支摧式鲶录子N150
150N≤500500N≤1200
样本容量，只
试验方法
GB/T 775. 1
JB/T 8177
CB/T 755. 1
GB/T 775. 3
GB/T 775. 3 和
本标准6.4
GB/T 775. 1
抽样试验项目中的拉伸、奇曲破坏负荷试验采用计量二次抽样方案；锌层试验按JB/T8177的规定，其余项目采用计件二次抽样方案。接收质量水平(AQL)均为2.5%，判定按JB/T3384的规定，在第一轮试验时,如表3仅有--只(第 1,3、6 项)或仅有一项(第 2、4,5项)被判为重复试验时,试验应继续做完。对第 1,3、6 项所缺试品应重新随机抽取一只进行补试;在继续第一次试验时,除第 1 项外,如在第3.6项中又有一只不合格，或在第2.4.5项中又鼓判为重复试验时，则该批地缴子不合格，但若仅第1项不合格，则仅对第1项进行加倍数量的重复试验，如重复试验仍不合格，则允许逐只精选。如果在第一轮试验时，仅有一项（第2、4、5项）不合格或计量抽样方案被判为拒收时，则该批绝缘子不合格。
在首轮全部试验做完后，如总计仅有一只试品不合格或仅有一项被判为重复试验时，则按以下三种情况进行加倍数量的量复试验：）如若仅表3中第3、6项中任何一项不合格，仅对不合格项单独进行加倍数量的重复试验，如重复试验不合格，则该批绝缘子不合格。b）如若仅表3中4、5项按照JB/T3384被判为重复试验时，则应按该项加倍数量进行重复试验，重复试验时，应先进行温度循环试验。但如果在第一轮试验时纯属金属附件强不合格，则可不进行温度循环试验，如重复试验不合格，则该批绝篆子不合格。c）如若仅表3中第2项在第一轮试验被判为重复试验时，应单独进行加倍数量的重复试验，其试验按JB/TB177的规定，如重复试验不合格，则该批绝缘子不合格。GB 11030—2000
如果能够清楚地识别出产品不合格的原因，制造厂可以在该批绝缘子中别除具有这种缺陷的所有绝缘子(如一批绝缘子已分成较小批量，如果小批量中有一个绝缘子不合格，则应扩大到其他小批量)。然后精选后的各批或部分绝缘子可重新提交试验。此时抽取试品的数量是第一次抽取试品数量的三借，在进行重复试验时，如有任何一个绝缘子不合格,则认为整批（包括已分成所有的小批)绝缘子不合格。
6.3.3型式试验：新产品试制定型或正常生产的产品修改结构，改变原材料配方及工艺方法时，必须按型式试验的全部项目或根据改变的性质涉及的型式试验项目进行试验。其中机械破坏负荷试验采用计量一次抽样方案，尺寸检查、半导体釉层电阻测、温度循环试验和孔隙性试验采用计件一次抽样方案，接收质量水平(AQt,)均为 2. 5%,判定均按JB/T 3384相应的规定。锌层试验按 JB/T 8177的规定，釉阻测量按本标准附录 A 的规定。型式试验应在逐个试验合格后，按表4规定进行。若某种绝缘子已进行过型式试验，并提供了有效的型式试验报告，则与其相比，能满足下述条性a或(和)b)的绝缘子，即可认为其电气或(和)机械性能不低于该种绝缘子,可不必再进行相应项目的型式试验。但对供需双方另有协议的绝缘子除外。a）电气上等效的绝缘子是在同一工厂制造的,具有相同材料,采用相同工艺，且具有下列特征：公称杆体直径相同或略小；
-公称牟间距相同,差异在士5%之内：伞伸出相同，差异在士5%之内！一卒形相同，
-公称电殖距离相同，差异在士5%之内。b）机械上等效的绝缘子是同一工厂制进的,采用相同工艺，且具有下列特征：公称杆体直径相同：
强度等级相同或较小；
一绝缘件与金履附件之间连接结构及尺寸相同；一公称电班距离相同或较小。
表 4绝缘子型式试验目
试验名称
「尺寸检奎
锌层试验
半导体轴层电阻测量
雷电全波冲击
耐受电压试验
工额湿耐受电,压试验
人工污秒耐翌
电压试验
温度循环试验
拉伸破坏负萄试验
弯曲破坏负荷试验
孔隙性试验
试验依据
本标准4.25.3;5.4,5.8
本标准 5. 9
本标推 5. 5
本标准4.2
本标 4. 2
本标准 4. 2
本标准 5. 10
本标准4.2
本标准4.2
本标准5.6
迁：括号内的效量为磨臂支撑式录子。试品数量，只
经项7试后
经项7试后
经项B或项9试后
试验方法
GB/T 775. 1
JB/T 8177
本标准附录 A
GB/T 775.2
GB/T 775.2
GB/T 4585. 2
GB/T 775.1
GB/T 775. 3
和本标准 6. 5
GB/T 775. 3
和本标准6.4
GB/T 775.1
GF 11030—-2000
6.4套曲破坏负荷试验：试验时将上帽孔套在试验夹具的芯择上，并用U形卡箍压板固定，然后在下帽单耳孔内穿销钉，用钢丝绳套在销钉上施加弯曲负荷，加负荷方向应与上帽缺口的朝向相反，负荷方向应与试品的轴线垂直且和试品抽线在同一平面内,如图5所示,试验程序按 GB/T 775.3的规定P+
受力方向
固定架
6.5拉伸破坏负荷英验：将脑臂支撑式绝续子铁帽插孔套在相应直径的芯择上，芯榜应加工有适当尺寸的孔，紧固好U形卡箍（凸压板的销钉应插在芯棒孔内）。然后在下铁糟单耳上配合适当的试验夹具，沿绝缘子轴线方向施加拉伸负荷，试验程序按GB/T775.3的规定。7包装、标志、运输与贮存
7.1绝续子的包装推荐采用JB/T9673的规定，在包装体上应标明：a）制造厂名称；
b）绝缘子名称，型号；
c）绝缘子数量，
d)包装体总重量,
e）“小心轻放”、“瓷件”等字样或指示标记。7.2绝缘子瓷件上应按图样规定的部位清楚而牢固地标出制造厂商标和制造年份。7.3绝续子的包装必须保证在正常运输中，不至因包装不良而使绝缘子摄坏。7.4绝缘子应储存在通风良好、干燥的仓库或场地上，不宜放在潮显或有腐蚀气体的附近，以防止附件镀锌层被腐蚀。
7.5送交的每批绝缘子应附有加盖制造厂检验部门印章的产品检验合格证。W.GB11030—2000
附录A
（标准的附录）
半导体釉外观质量及其电阻的副盘方法本附录规定了半导体轴绝绿子的半导体轴层外现质及其电阻的测量方法。A1绝缘子瓷件全部上半导体种，其表面快轴总面积不超过1.5cm单个缺陷面积不超过0.5cm2，当釉层电阻值合格时，半导体釉瓷件允许有轻微的色调不均，其余应符合GB772的规定。A2半导体釉层电阻的测量-~般可用2 500 V播表或晶体管兆欧表测量。测量时周围环境温度应在十10℃～十40℃之间，相对湿度不超过B5%，被测试品表面应于燥，且不允许有导电性的物质存在。测量引线应与绝缘子瓷件两端靠近金风附件的主体部位的釉面接触良好，所测电阻值按下式进行校正。Rz R./K
式中：R20——校正到标准状态(t=20℃)时的电阻值,Mn；R,在温度tC时测量的电阻值,M2;K——温度校正系数,由制造厂提供。实测后的校正值应符合工厂产品图样中的规定值范围。附录B
（提示的附录）
过型绝缘子的主要尺寸和特性
过渡型绝续子的主要尺寸见表B1,特性见表B2。表 B1
绝综子类型
髓道悬持、
定位用
绝境子类型
隧道总挂、
定位用
电全波
神击耐受
电压(峰值）
不小于
过渡型绝缘子的主要尺寸
主要尺寸
过渡型绝缘子特性
工业退耐蛋
电压（有效值）
不小于
人工污移
耐受电压
不小于
盐密 mg /cma
额定弯曲
破坏负荷
最小公称
昶电距离
额定拉伸
敲坏负荷
W
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