【电子行业标准(SJ)】 军用毫米波微波管陶瓷金属化膜层规范

中华人民共和国电子行业军用标准FL5971
军用毫米波
SJ20859-2002
微波管陶瓷金属化膜层规范
Semiconductor photoelectric assembly Detail specificationfor miniature duplex photoelectric localizer for type CBGS 23012002-12-12发布
2003-05-01实施
中华人民共和国信息产业部批准1范围
1. 1 主题内容
中华人民共和国电子行业军用标准军用毫米波微波管金属化膜层规范Specification for ceramic metallization laver formilitary millimeter-wave microwave tubcssJ 20859—2002
本规范规定了军用毫米波微波管金属化膜的要求质量保证规定、交货准备等。1.2适用范围
本规范适用于军用毫米波微波管金属化膜层以下简称膜层2引用文件
GJB507--88氮化硼化学分析方法GB/T5593—1996电荐元器佳结构陶瓷材料GB/T241381.压电陶瓷材料体积密度测铁方法GB/T55943--85电军充器件结构陶瓷材性能测试方法平均线腾胀系数设试方法GB/T9534—887熹米波频段固体电介质材料电特性测定方法滋锥宽腔法GB/T9S3D8R电子瓷名询术语
3要求
3.1合格鉴定
按本规范提交的产品应是经整定会格或定型批推的产精3.2材料
膜层所用主要材料为MBMn，其杂质成分和主要技术性能应符合表1教定。3.3尺寸、外观
3.3.1膜层厚度公差为0.025mm~0035.mm3.3.2膜层表面应平整、均勺，无结颜色一致和不代载。3.3.3其它要求
对膜层形状尺寸、公差和性能等有特殊要求谢，应在合冏（见6.2）中规定。4质保证规定
4.1检验责任
除合同或订单中另有规定外，承制方应负责完成本规范规定的所有检验。必要时，订购方或上级鉴定机构有权对本规范所述的任一检验项目进行检查。中华人民共和国信息产业部2002-12~12发布-iKAoNiKAca-
2003-05-01实施
4.1.合格责任
SJ20859—-2002
所有产品必须符合本规范第3章和第5章的所有要求。本规范中规定的检验应成为承制方整个检验体系或质量大纲的一个组成部分。若合同中包括本规范未规定的检验要求，承制方还应保证所提交验收的产品符合合同要求。质量一致性抽样不允许提交明知有缺陷的产品，也不能要求订购方接受有缺陷的产品。
TiO2杂质含量
体积密度
平均线膨胀系数
(25～500)℃
介电常数
介质损耗角正切镜
30 GHz
，为参考指标。
4.2检验分类
本规范规定的检验分为：
a．鉴定检验：
b质量一致性检验。
4.3环境条件
除另有规定外，各项检验均应在下列环境条件下进行。温度：15℃～35℃；
相对湿度：20%～80%；
大气气压：86kPa～106kpa。
4.4鉴定检验
(6.5~7.5) X10G
(8~16) ×10-4
鉴定检验应在产品正式投产前进行。当原材料或生产工艺发生重大变化时，也应进行签定检验。鉴定检验还用于验证签定合格资格的保持。4.4.1检验样品
进行材料性能签定检验的样品应与产品样品同种原料、同炉次，在同一工艺条件下制成。TiO2化学分析的试样，按GJB507规定，密度和线膨胀系数的试样按GB/T5593规定，介电常数和介质损耗角正切值的试样，按GB/T9534规定。4.4.2检验项目
鉴定检验的项目、检验顺序、受试样品数及允许不合格品数按表2的规定进行。验项
TiO2杂质含量
体积密度
平均线膨胀系数
介电常数
介质损耗角正切值
4.4.3不合格判定
SJ 20859-2002
要求草条号
鉴定检验
试验方法章条号
受试样品数
充许不合格品数
若试样通过表2规定的各项检查或试验，灿鉴定检验合格。若有一项或一项以上检查或试验超过规定的允许不合格品数，则判鉴定检验不登格4.4.4鉴定合格资格的保持，
为了保持鉴定合格资格，承制对每隔12个月向含格鉴定单位提交表2规定的各项检验的报告。4.5质量一致性检验
4.5.1逐批检验
逐批检验应按表3的规定进行
表3逐批检验
检验项目
4.5.1.1检验
樱求章条号
试验方法章条号
爱试样品数
充允许不合格品数
一个检验批应在基本相同条件下车相同材料彻我手在同时间内提交检验的所有产品纽成。
4.5.1.2不合格
如果一个检验批被拒假，承制方可以将该批返工（或将不合格品射除，纠定缺陷后重新进行检验，重新交付的检验批应与迈常批芬开，并应清楚地标明“重新检批4.5.2周期检验
周期检验应按表4的规定进行每年进行欢赛者受试样品通过表4中各项检查或试验则周期检验合格。若其中有一项或一项以上检查或试验超过表4的规定要求，则周期检验为不合格。iiKAoNniKAca
检验项
TiO2杂质含量
体积密度
平均线膨胀系数
分电常数
介质损耗角正切值
包装检验
娶求章号
SJ 20859-—2002
试验方法章案号
受试样品数
充许不合格品数
用目测法进行本规范第5章规定的包装和标志要求检验，任一运输包装箱不符合第5章的要求时应拒收。
4.7检验方法
4.7.1Ti02杂质含量
按GJB507方法测定。
4.7.2体积密度
按GB/T2413规定的方法测定，
4.7.3平均线膨胀系数
按GB/T5594.3规定的方法测定。4.7.4介电常数
按GB/T9534规定的方法测定。
4.7.5介质损耗角正切值
按GB/T9534规定的方法测定。
4.7.6尺寸
用干分表、游标卡尺、光学投影仪或其它能够保证测量准确度的任何测量仪器和工具进行测量。4.7.7外观
用目测和20倍立体显微镜观察。5交货准备
5.1包装
膜层应先镀镍，然后进行内包装，再用填充料将内包装紧固在外包装箱内，最后完成外包装。为保证在运输、搬运过程中完好无损，可根据包装的膜层的结构、大小等素，在下列材料中选用内、外包装材料和填充料。
a.内包装材料：纸、纸盒、塑料盒等：b．外包装材料：木箱、塑料箱等；填充料：纸屑、泡沫塑料碎条等。c
5.2标志
在包装箱或产品标签上应有下列标志：a.承制方名称及商标；
b．产品名称、规格、数量：
制造日期以及批号：
d．小心轻放、怕湿等标志。
5.3运输与购存
SJ 20859-2002
已镀镍的膜层可用任何运输工具进行运输。运输过程中应避免剧烈震动、碰撞、直接雨淋或受到腐蚀。已镀镍的膜层应放于干燥、无污染、无腐蚀性气体的库房内贮存。6说明事项
6.1预定用途
本规范所规定的膜层预定用于毫米波真空微波电子管。6.2订货文件内容
合同或订货单中应载明下列内案：a。本规范的名称和编号：
b，产品名称：
c.产品图；
d．数量：
e，特殊试验要求和补充说明（馨要对)。6.3定义
GB/9530中的术语适用丁本规范。6.4操作注意事项wwW.bzxz.Net
因膜层易于氧化，因而在制避后应尽快锻一层、然后再进行使朋，运输，或是存附加说明：
本规范由信息产业部电算图好岗究本规范由信息产业部电子第研窕所国替七七六厂起章。本规范主要起草人：高桥。
计划项目代号：B05010
HiiKAoNiKAca
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