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标准号:
JB/T 7987-1999
标准名称:
普通磨料 微晶刚玉
标准类别:
机械行业标准(JB)
英文名称:
Ordinary abrasive microcrystalline corundum标准状态:
现行-
发布日期:
1999-05-20 -
实施日期:
2000-01-01 出版语种:
简体中文下载格式:
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部分标准内容:
JB/T 7987-1999
前言
本标准是对 JB/T 7987-95(原 GB 5997-86)(微晶刚玉技术条件)的修订。本标准与 JB/T 7987-95 的技术内容一致,仅接有关规定进行了重新编辑。本标准的附录 A 是标准的随录。本标准自实施之日起代替 JB/T 7987-95。本标准由全国材料标准化技术委员会提出并归口。本标准起草单位:四砂股份有限公司。本标准主要起草人:罗树财、章绝林。
1 范围
本标准规定了微晶刚玉材料的技术要求、试验方法、检验规则和包装。本标准适用于制造工具和研磨材料等用途的微晶刚玉材料。
2 引用标准
下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文,本标准实施时,所示版本约为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。
GB/T 2481.1-1998 固结磨料粒度组成和标记 第1部分:金刚砂
GB/T 3043-1989 化学分析方法
GB/T 4676-1984 普通磨料取样方法
JB/T 6569-1993 普通磨料包装
JB/T 6570-1993 铁合金粒及磁性物含量测定方法
JB/T 7984.3-1995 颗粒密度测定方法
3 技术要求
3.1 化学成分应符合表1的规定。
表1 化学成分要求
| 粒度范围 | Al2O3 (%) | Na2O (%) |
| :--- | :--- | :--- |
| F4~F50 | 94.00~96.50 | 2.20~8.80 |
| F100~F220 | 93.00~96.00 | 2.20~8.80 |
3.2 晶体尺寸:小于或等于 300μm 的晶体个数不少于 80%,最大晶体尺寸不超过 600μm。
3.3 颗粒密度:F46(代表号)不小于 3.90g/cm³。
3.4 粒度组成:应符合 GB/T 2481.1 的规定。
3.5 铁合金粒含量:F30 及以粗各号以不通过 355μm 筛的铁合金粒为零;F36 至 F90 各号以不通过粒度检查时最下层筛号的铁合金粒为零;F100 及以细各号以不通过粒度检查时混合下层筛的铁合金粒为零。
3.6 磁性物含量:F24 至 F220 的磁性物含量不大于 0.30%。
4 试验方法
4.1 化学成分按 GB/T 3043 的规定进行检验。
4.2 晶体尺寸按附录 A 进行检验。
4.3 颗粒密度按 JB/T 7984.3 的规定进行检验。
4.4 粒度组成按 GB/T 2481.1 的规定进行检验。
4.5 铁合金粒及磁性物含量按 JB/T 6570 的规定进行检验。
5 检验规则
5.1 试样的抽取、缩分按照 GB/T 4676 的规定进行。
5.2 每批产品均按技术要求进行检验,所检项目全部符合技术要求时,该批产品为合格。
6 包装
按 JB/T 6569 的规定执行。
附录 A(标准的随录)
微晶刚玉晶体尺寸测定方法
A1 设备与仪器
A1.1 抛光机
A1.2 金相显微镜
放大倍数及刻度值见表 A1。
表 A1
| 显微镜倍数 | 刻度值 (μm/格) |
| :--- | :--- |
| 5×8 | 12 |
| 10×8 | 12 |
A2 样块的选取与镶嵌
A2.1 样块的选取
在待测晶体样块上选取不少于四个代表性的部位,按垂直与平行于晶体生长的两个方向,用金刚石砂轮分别制取截面积约 1.5cm² 的样块,对所取的样块分别编号。
A2.2 样块的镶嵌
将切好的样块放入高约 17mm,内径约 18mm 的塑料管内,然后将熔融的硫磺注入管里,冷却后即成磨片样块。
A3 反光片的制备
A3.1 粗磨
将 F240 和 F360 的灰色碳化硅与水 (1:4) 分别调制成悬浮液,按先粗后细的顺序,用毛刷经常均匀地将悬浮液在粗磨盘(铸铁盘)中央,对切好的样块进行粗磨并用水洗净晾干,然后用规矩尺检查样块,使其平整、无凹坑。
A3.2 細磨
将 F800 和 F1200 的碳化硅与水 (1:5) 分别调制成悬浮液,按先粗后细的顺序对粗磨后的片样块进行细磨,细磨时在细磨盘(铁盘上铺玻璃板)上进行。经细磨的样块表面应达到具有反光能力,附近实物在其表面反射,影像清晰。
A3.3 抛光
将 1μm 的白氧化铝微粉与水 (1:5) 调制成悬浮液,用毛刷经常均匀地撒在抛光盘(铁盘上铺层毛毯)中央,将磨片样块抛光 3~5min,用清水洗净,热风吹干,即成反光片,并保存在干燥器中备用。
A4 晶体尺寸的测定
A4.1 晶体尺寸以晶体的长度值表示,将晶体上量选两点的连线定为长轴,垂直于长轴的最长的短轴尺寸即为宽度。
A4.2 将所制反光片置于金相显微镜载物台上,用低倍 (5×8) 镜头观察貌,选取...
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