【国家标准(GB)】 硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法

本网站 发布时间: 1997-01-02 16:00:00
  • GB/T17169-1997
  • 已作废

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 17169-1997

  • 标准名称:

    硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法

  • 标准类别:

    国家标准(GB)

  • 标准状态:

    已作废
  • 发布日期:

    1997-01-02
  • 实施日期:

    1998-08-01
  • 作废日期:

    2005-10-14
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    KB

标准分类号

  • 标准ICS号:

    电气工程>>29.045半导体材料
  • 中标分类号:

    冶金>>金属理化性能试验方法>>H24金相检验方法

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出版信息

  • 出版社:

    中国标准出版社
  • 书号:

    155066.1-14930
  • 页数:

    平装16开, 页数:10, 字数:15千字
  • 标准价格:

    10.0 元
  • 出版日期:

    2004-04-12

其他信息

  • 复审日期:

    2004-10-14
  • 起草单位:

    南开大学,天津市半导体材料厂
  • 归口单位:

    全国半导体材料和设备标准化技术委员会
  • 发布部门:

    国家技术监督局
  • 主管部门:

    国家标准化管理委员会
标准简介标准简介/下载

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标准简介:

本标准规定了半导体硅抛光片和外延片表面常见缺陷的光反射无损检验方法。本标准适用于半导体硅抛光片和外延片表面质量的无损检验。本标准的检验结果与GB/T 6624、GB/T 14142的检验结果一致。 GB/T 17169-1997 硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法 GB/T17169-1997 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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