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- GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法
标准号:
GB/T 5201-1994
标准名称:
带电粒子半导体探测器测试方法
标准类别:
国家标准(GB)
标准状态:
现行-
发布日期:
1994-01-02 -
实施日期:
1995-10-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
替代情况:
GB 5201-1985

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标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
本标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。本标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。全耗尽金硅面垒型探测器的某些性能测试也应参照本标准执行。 GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法 GB/T5201-1994
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