【YD通讯标准】 并行传输有源光缆光模块 第1部分: 4X10Gbit/s AOC

ICS33.180.01
中华人民共和国通信行业标准
YD/T2796.1-2015
并行传输有源光缆光模块
第1部分：4×10Gbit/sAOC
Parallelactiveoptical cabletransceiverPart1:4×10Gbit/sAOC
2015-04-30发布
2015-07-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布前
1范围
2规范性引用文件
3缩略语、术语和定义
3.1缩略语
3.2术语和定义…
4技术要求
4.1分类
4.2传输光缆特性.
4.3原理图及电接口技术要求.
4.4外壳外形尺寸
4.5电路板引脚尺寸和引脚定义
4.6工作条件…
4.7环保符合性
5测试方法·
5.1测试环境要求·
5.2接收端输出差分幅度、比特差错率和眼图测试6可靠性试验
6.1测试环境要求
6.2可靠性试验要求
6.3不合格判据
6.4电磁兼容·
6.5静电放电防护要求...
7检验规则
检验分类·
出厂检验
7.3型式检验-
8标志、包装、运输和储存。
包装·
8.3运输
8.4储存
附录A（资料性附录）外壳外形尺寸附录B（规范性附录）
电路板引脚尺寸和引脚定义·
###电：
YD/T2796.1-2015
YD/T2796.1-2015
YD/T2796《并行传输有源光缆光模块》计划分为以下两个部分一第1部分：4X10Gbit/sAOC：
一第2部分：12×10Gbit/sCXP。本部分为YD/T2796《并行传输有源光缆光模块》的第1部分。本部分按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。本部分在编制过程中主要参考了IEEE802.3-2012《IEEE以太网标准》和SFF-8436-2009《铜缆和光缆的小型封装插拔模块QSFP+规范》。请注意：本文件的某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由中国通信标准化协会提出并归口。本部分起草单位：武汉邮电科学研究院、中兴通讯股份有限公司、深圳新飞通光电子技术有限公司、工业和信息化部电信研究院、武汉华工正源光子技术有限公司。本部分主要起草人：张德玲、曹芳、赵先明、武成宾、陈悦、赵文玉、刘王来。I
TiiKAoNiKAca
1范围
并行传输有源光缆光模块
第1部分：4x10Gbit/sAOC
YD/T2796.1-2015
本部分规定了4×10Gbit/s并行传输有源光缆光模块（以下简称为4×10Gbit/sAOC）的术语和定义、技术要求、测试方法、可靠性试验、检验规则、标志、包装、运输和储存要求。本部分适用于4X10Gbit/sAOC，其他类型模块也可参照执行。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改本）适用于本文件。GB/T2828.1-2012
GB9254-200
GB/T17626.3-2006
SJ/T11363-2006
SJ/T11364-2006
SJ/T11365-2006
IEC6100-4-2
Compatibility
(EMC)-Part 4-2
SFF-8436-2009
MIL-STD-202G:2002
MIL-STD-883H:2010
Telcordia
GR-468-CORE:2004
3缩略语、术语和定义
计数抽样检查程序第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划
信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法电磁兼容试验和测量技术第3部分：射频电磁场辐射抗扰度试验电子信息产品中有毒有害物质的限量要求电子信息产品污染控制标识要求电子信息产品中有毒有害物质的检测方法2008电磁兼容第4-2部分：试验和测量技术-静电放电抗扰度试验(Electromagnetic
Testing and measurement techniques-Electrostatic discharge immunity test)铜缆和光缆的小型封装插拔模块QSFP+规范（SpecificationsforQSFP+copper and optical modules)
电子和电气元件试验方法标准（Testmethodstandardelectronicandelectricalcomponent parts)
微电子器件试验方法标准（Testmethodsstandardmicrocircuits）用于通信设备的光电器件通用可靠性保证要求（Genericreliabilityassurancerequirements for optoelectronic devices used in telecommunications equipment)下列缩略语、术语和定义适用于本文件。3.1缩略语
Active Optical Cable
AcceptanceQualityLimit
Current Mode Logic
有源光缆
接收质量限
电流型逻辑
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PIN-PD
OpticalMode
\P-type'-Intrinsic-'N-type'Photo DiodePseudo-Random Bit Sequence
Quad Small Form Factor PluggableVertical Cavity Surface Emitting Laser2术语和定义
并行传输ParallelTransmission光模式
P型-本征-N型光电二极管
伪随机码序列
四通道小型可插拔
垂直腔面发射激光器
数据以成组方式在多个并行的信道上同时传输的数据传输方式3.2.2
有源光缆ActiveOpticalCable
两端连接有光模块的光缆。
4技术要求
4.1分类
4.1.1按光纤类型分类
按照光纤类型可分为：
OM2型：
OM3型：
OM4型。
4.1.2按照光缆的长度分类
按照光缆的长度可分为：
—10m。
-20m；
30m；
-50m；
-150m。
注：传输距离也可根据客户要求进行定制。4.2传输光缆特性
4.2.1传输光缆性能参数
传输光缆性能参数见表1。
HiikAoNiKAca
传输波长
最小光缆芯数
光纤芯径
光纤包层直径
光纤类型
有效模带宽
全模式带宽
最大传输距离
最大光纤损耗系数
4.3原理图及电接口技术要求
14×10Gbit/sAOC的原理
4×10Gbit/sAOC的原理见图1。
TX1+TX4+
TX1-TX4-
RX1+RX4+
RX1*RX4-
放大器
激光器
探测器
表1传输光缆性能参数
规范值
探测器
激光器
旅大器
驱动器
（TP2
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MHz·km
RX1+RX4+
LRX1-RX4-
+TX1+TX4+
TX1-~TX4-
说明：Tx代表发射端，Rx代表接收端：SCL代表时钟逻辑端口，SDA代表数据逻辑端口：TP代表测试点的位置。图14×10Gbit/sAOC原理
发送端的输入要求
发送端输入TP1点电气参数见表2。2发送端输入电气参数
电平类型
数据速率
时钟精度
差分输入峰值幅度
上升/下降时间（20%-80%）
总抖动
差分输入阻抗
最小值
规范值
最大值
“20%～80%相对于逻辑1和逻辑0：其指标为推荐指标，不做强制要求。b应用于无限带宽时，速率设置为10Gbit/s发送端输入TP1点眼图应符合图2要求。单位
Gbit/s
iiikAoNiKAca
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-350mV
图2输入TP1点的眼图模板
4.3.34.3.3接收端电气特性
接收端TP2点输出电气参数见表3。表3接收端输出电气参数
差分输出峰值幅度
差分输出阻抗
误码率·
最小值
测试速率10.3125Gbit/s,测试码型PRBS231-1规范值
最大值
接收端TP2点输出眼图模板应符合图3的要求。425mV
-150mV
4.4外壳外形尺寸
图3TP2点输出眼图模板
4X10Gbit/sAOC外壳外形尺寸参见附录A。4.5电路板引脚尺寸和引脚定义
4X×10Gbit/sAOC电路板引脚尺寸和引脚定义应符合附录B要求。4.6工作条件
4.6.14.6.1极限工作条件
4×10Gbit/sAOC的极限工作条件见表4。4
iiKAoNiKAca
参数名称
储存温度
相对湿度
供电电压
模块功耗“
指光缆一端的模块功耗。
4.6.2推荐工作条件
表4极限工作条件
最小值
4X10Gbit/sAOC的推荐工作条件见表5。表5推荐工作条件
参数名称
工作温度
供电电压
单通道传输速率
4.7环保符合性
最小值
最大值
最大值
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4×10Gbit/sAOC的组成单元应符合SJ/T11363-2006中表1的规定，有毒有害物质的限量要求按SJ/T11365-2006规定检测，应符合SJ/T11363-2006中表2的要求。5测试方法
5.1测试环境要求
除非另有规定，4X10Gbit/sAOC的所有测试应在下列标准大气条件的环境中进行：温度：15℃~35℃；
相对湿度：45%~75%：
一大气压力：86kPa～106kPa。
注：若另有规定，应在试验报告上表明测试环境条件。5.2接收端输出差分幅度、比特差错率和眼图测试4X10Gbit/sAOC的输出差分幅度，比特差错率和眼图测试配置框图如图4所示。发射
测试板1
测试板2
模块发射端
模块接收端
待测AOC光模块
图4输出差分幅度、比特差错率和眼图测试配重框图5
TiiKANniKAca
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测试步骤如下：
1）如图4连接好测试配置：若单端连接，则另一端需要匹配50Q电阻。推荐使用四通道误码仪和示波器。测试过程应采取静电放电防护措施。2）开启电源，设置误码仪速率为10.3125G，设置码型为31阶PRBS非归零码：3）调出示波器眼图模板，将模块测试得到的眼图与示波器调出的眼图进行比对并保存眼图；4）在3）测试合格的情况下，调出示波器幅度测试功能，记录测试得到的眼图的输出幅度：5）调出误码仪比特差错率测试功能，测试时间要求≥100s，记录测试结果：6）两端模块互换位置，测试另一端的输出差分幅度、比特差错率和眼图，测试步骤同上3）、4）、5)。6可靠性试验
6.1测试环境要求
测试环境要求同5.1。
6.2可靠性试验要求
可靠性试验要求见表6。
表6可靠性试验要求
试验项目
机械冲击
变频振动
光缆侧向拉力
光缆拉力
高温储存
低温储存
温度循环
恒定湿热
高温寿命
引用标准
MIL-STD-883H:2010
方法2002.5
MIL-STD-883H:2010
方法2007.3
GR-468-CORE:2004
3.3.1.3.2
GR-468-CORE:2004
3.3.1.3.3
GR-468-CORE:2004
GR-468-CORE:2004
试验条件
加速度500g，脉冲持续时间1.0ms，5次/轴向试验条件A频率：20Hz~2000Hz.加速度：20g扫频速率：4min/循环，循环次数：4循环/轴向，方向X、Y、Z
涂覆层和紧套光纤：拉力2.5N，90°，离光纤保护套22cm到28cm
松套或增强性光纤：拉力5N，90°，离光纤保护套22cm到28cm
涂覆层和紧套光纤：拉力5N，保持时间1min松套或增强性光纤：拉力10N，保持时间1minTsg85℃f=2000h
Tstg=-40℃ t=72h
MIL-STD-883H:2010
循环温度一40℃～+85℃，高温、低温转换时方法1010.8
间≤1min，高低温持续时间为15min，循环次数：500次
MIL-STD-202G：2002
温度85℃，相对湿度85%，=1000h方法103B
GR-468-CORE:2004
Top=70℃，正常工作条件，t=2000h抽样方案
HiiKAoNiKAca
试验项目
ESD个值d
ESD抗扰度
引用标准
MIL-STD-883H:2010
方法3015.8
IEC6100-4-2:2008
LTPD一批允许不合格品率。
bSS一最少样品数。
C一允许失效数。
表6（续）
人体放电模型，
试验条件
正负各三个脉冲，>1500V
等级4，空气放电：±15kV：
接触放电：±8kV，各10次放电
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抽样方案
d注意在ESD极限测试中，所有样品须测试到其失效为止。“0”（失效数）表示测试ESD极限值小于最小容许值的器件数6.3不合格判据
6.3.1各项试验不合格判据（ESD抗扰度试验除外）试验完成后，4X10Gbit/sAOC出现下列任意一种情况即判定为不合格：a）外壳破裂或有裂纹：
b）模块内部的元器件发生脱落：c）在相同测试条件下，试验后，参数不满足4.3.3的技术指标要求。6.3.2ESD抗扰度不合格判据
4X10Gbit/sAOC出现下列任意一种情况即判定为不合格：a）出现暂时性误码，并且恢复时间超过1sb）出现永久性误码，无论重新开机是否恢复：c）光模块损坏。
6.4电磁兼容
6.4.1电磁兼容试验分类
电磁兼容试验分为两类：
射频电磁场辐射发射试验：
一射频电磁场辐射抗扰度试验。6.4.2射频电磁场辐射发射试验6.4.2.1概述射频电磁场发射试验按GB9254-2008中B级信息技术设备要求进行，包括1GHz以下辐射发射限值试验和1GHz以上辐射发射限值试验。6.4.2.11GHz以下辐射发射限值发射试验1GHz以下辐射发射限值和试验合格判据如下：a）1GHz以下辐射发射限值见表7。表7B级信息技术设备在测量距离3m处的1GHz以下辐射发射限值频率范围·
30~230
230~1000
准峰值限值下载标准就来标准下载网
(dBμV/m）
■在过渡频率处(230MHz)，应采取较低的限制。当出现环境干扰时，可以采取附加措施7
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b）试验台格判据：辐射强度小于准峰值限值。6.4.2.31GHz以上辐射发射限值发射试验1GHz以上辐射发射限值和试验合格判据如下：a）1GHz以上辐射发射限值见表8。表8B级信息技术设备在测量距离3m处的1GHz以上辐射发射限值频率范围”
(GHz）
在过渡频率处(3GHz)，应采取较低的限制b）试验合格判据：辐射强度不应超过平均值、峰值。6.4.3射频电磁场辐射抗扰度试验射频电磁场辐射抗扰度试验要求和试验合格判据如下：平均值
(dBμV/m）
(dBμV/m）
a）射频电磁场辐射抗扰度应符合GB/T17626.3-2006试验等级2的要求，其试验频率、电场强度和幅度调制要求见表9。
表9射频电磁场辐射抗扰度试验要求名称
频率范围
试验场强
幅度调制
80MHz~1000MHz
80%幅度调制(1kHz正弦波）
b）试验合格判据：在每次样品独立试验期间，其比特误码数应为零。6.5静电放电防护要求
4X10Gbit/sAOC在组装、传递、包装时，应采取静电放电防护措施，以防静电对产品的损伤。7检验规则
7.1检验分类
产品检验分为出厂检验和型式检验。7.2出厂检验
4X10Gbit/sAOC产品出厂检验分为常规检验与抽样检验。7.2.1常规检验
4X10Gbit/sAOC常规检验应百分之百进行，检验项目如下：a）外观检验：表面无明显划痕，无各种污点，产品标识清晰牢固。b）性能检测：按第5章测试方法对比特差错率进行测试，其结果应符合4.3.3的规定。7.2.27.2.2抽样检验
从批量生产中生产的同批或若干批产品中，按GB/T2828.1-2012规定抽样，取一般检查水平IⅡI，接收质量限（AQL）和检验项目及方法如下：a）外观检验：
·AQL取1.5;
：检验方法：目测，表面无明显划痕，无各种污点，产品标识清晰牢固。8
b）外形尺寸检验：
·AQL取1.5；
·检验方法：用满足精度要求的量度工具测量，应符合产品技术条件规定。c）性能检测：
·AQL取0.4;
·检验方法：按第5章测试方法对参数进行测试，其结果应符合4.3.3的规定。7.3型式检验
7.3.1型式检验条件
4X10Gbit/sAOC有下列情况之一时，应进行型式检验：一新产品定型或已定型产品转场时：一正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时：一产品停产12个月后，恢复生产时：一出厂检验结果与鉴定时的型式检验有较大差别时；—正常生产24个月后：
一国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。7.3.2型式检验程序
YD/T2796.1-2015
在进行型式检验前，对样品的电特性进行测试，并记录测试结果，然后按表6进行可靠性试验，试验后对样品的电特性进行测试。
7.3.3检验批的构成
提交检验的批，可由一个生产批构成，或由符合下述条件的几个生产批构成：这些生产批是在相同材料、工艺、设备等条件下制造出来的：一若干个生产批构成一个检验批的时间不超过1个月。7.3.4样品的使用规则
在不影响检验和试验结果的条件下，一组样品可用于其他分组的检验和试验。凡经受了型式检验的样品，一律不能作为合格品交付使用。7.3.5产品不合格的判定
各项试验完成后，不合格的判定按6.3条规定执行。若其中任何一项试验不符合要求时，则判该批不合格。
7.3.6不合格批的重新提交
当提交型式检验的任一检验批不符合表4中规定的任一分组要求时，应根据不合格原因，采取纠正措施后，对不合格的检验分组重新提交检验。重新检验应采用加严抽样方案。若重新检验仍有失效，则该批拒收。如通过检验，判为合格。但重新检验不得超过2次，并应清楚标明为重新检验批。8标志、包装、运输和储存
8.1标志
8.1.1标志的内容
每个产品应标明产品型号、规格、编号、批的识别代码等标志。8.1.2绿色标志要求
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