【国家标准(GB)】 辐射防护仪器α、β和α／β(β能量大于60keV)污染测量仪与监测仪

ICS13.280
GB/T19001-2008目录
中华人民共和国国家标准
GB/T5202—2008/IEC60325:2002代替GB/T5202—1985
辐射防护仪器
α、β和
α/β(β能量大于60 keV）
污染测量仪与监测仪
Radiation protection instrumentation-Alpha,beta andalpha/beta(beta energy>60 keV)contamination meters and monitors(IEC 60325:2002,IDT)
2008-01-22发布
数码防伪
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2008-09-01实施
规范性引用文件
术语和定义
仪器分类
一般特性
探测装置
易于去污
报警阈
仪器指示值
有效测量范围
机械冲击
电子设备的调整和维护附件
般试验方法
统计涨落
8电气特性
统计涨落
响应时间
响应时间与统计涨落之间的关系报警阈漂移
（便携式仪器的）预热时间试验分辨时间…
过载保护。
工作坪(仅对于探测装置）：
阈值（仅对于探测装置）：
辐射特性
概述·
仪器效率.
探测器表面的响应变化
相对固有误差
表面发射率响应随辐射能量的变化，对其他电离辐射的响应
GB/T5202—2008/IEC60325:200210
GB/T5202-2008/IEC60325:2002
9.7本底计数率
10环境影响
环境温度
相对湿度
10.3电源
电磁兼容性
12文件
合格证书
参考条件和标准试验条件
表2桂
标准试验条件下进行的试验
改变影响量的试验
表3可
GB/T5202—2008/IEC60325：2002本标准等同采用IEC60325:2002《辐射防护仪器α、β和α/β(β能量>60keV)污染测量仪和监测仪》（英文版）。
为了便于使用，本标准对IEC60325：2002做了下列编辑性修改：删除国际标准的前言；
在“2规范性引用文件”中用采用国际标准的我国标准代替对应的国际标准，以GB/T4960.6代替IEC60050（393）：1996和IEC60050（394)：1995，删去了在正文中未出现的标准；一删去10.3.1和10.3.1.1.1中有关交流电源不符合国情的内容；一一按照汉语习惯对一些编排格式进行了修改（例如：注的后面加“，”、一些列项说明的后面将“。”改为“；”；
一用小数点符号“.”代替国际标准中的小数点符号“，”；一由于6.8已规定“机械冲击”的内容，故删去“11.2机械冲击”，同时删去“11.1概述”；—表3\β辐射”一栏中的3.7MBq”与9.6.3的第2段\370kBq”不符，改为370kBq；一表3“预热时间（便携式仪器）”一栏中的最后一行“8.7.2”与标准正文不符（正文中的8.7.2是过载保护的试验方法)改为“8.5.2”；—一表3“电源”一栏将频率中的“+1Hz-3Hz\改为“47Hz51Hz”，与标准正文10.3.1.1.3的表述一致；
一表3\辐射发射”一栏中的1V/m”与10.4.6.1的“0.1V/m\不符，改为0.1V/m。本标准代替GB/T5202—1985《a、β和α-β表面污染测量仪与监测仪》。本标准与GB/T5202—1985相比主要变化如下：a）标准名称改为《辐射防护仪器α、β和α/β(β能量大于60keV)污染测量仪与监测仪》；b）增加了“仪器分类”一章；
在“环境影响”一章中增加了“电磁兼容性”的内容，包括对“静电放电”、“射频电磁场”、“由脉冲c)
群和射频感应的传导骚扰”、“浪涌”、“电压暂降和短时中断”和“辐射发射”的要求和试验方法。本标准由中国核工业集团公司提出。本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会归口。本标准起草单位：深圳市计量质量检测研究院、中核集团西安核仪器厂。本标准主要起草人：李名兆、沈忠义、周迎春、梁平。本标准于1985年7月首次发布。
1范围
GB/T5202-2008/IEC60325:2002
辐射防护仪器α、β和
α/β(β能量大于60keV)
污染测量仪与监测仪
本标准适用于直接测量或直接探测发射α和/或β核素的表面污染测量仪和监测仪，其至少包括：探测装置（包括计数管、闪烁探测器或半导体探测器等），它可以固定连接或由软电缆连接，或者组成一单独的装置；
测量装置。
一些测量仪和监测仪由探测装置和测量装置组成，在能将探测装置与仪器分开的情况下，可单独使用探测装置。为了满足本标准，要求所有包括探测装置和测量装置的仪器符合本标准要求，或探测装置和测量装置分别符合本标准相关部分要求。注：对于后一种使用方式经证明符合本标准的要求，但是不能就此推断其他特殊仪器的组合配置也符合标准。后一种使用方式，允许用户使用不同制造厂生产的装置进行组合配置。本标准适用于：
——α表面污染测量仪；
——α表面污染监测仪；
——β表面污染测量仪；
——β表面污染监测仪；
α/β表面污染测量仪；
—α/β表面污染监测仪。
后两种设备能够同时确定α和β污染，并分别显示测量结果：α(β，α/β)表面污染测量仪：包括一个或多个辐射探测器和相关装置或基本功能单元。在检查表面污染时，用来测量α(β、α/β)表面发射率；—α(β，α/β)表面污染监测仪。本标准也适用于那些有特殊用途的仪器和为测量特殊性质表面而设计的仪器。但标准的某些要求需根据这些仪器的特殊要求进行修改或补充。如果一个仪器能实现多种功能，则仪器需满足这些不同功能的所有要求。如果仪器以一种功能为主，兼有其他功能，则仪器需满足主要功能的所有要求，并尽可能满足其他功能的要求。本标准不适用于测量或探测最大能量小于60keVβ粒子的辐射监测仪或测量仪。本标准的目的是规定标准要求和给出一些适用方法的实例，还规定了一般特性、一般试验条件和方法、辐射特性、电气安全、环境特性以及α、β及α/β污染测量仪和监测仪的合格证书。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB156—2007标准电压（IEC60038：2002，MOD）GB/T2423.5一1995电工电子产品环境试验第二部分：试验方法(idtIEC60068-2-27:1987)
GB/T4960.6—1996核科学技术术语核仪器仪表
试验Ea和导则：冲击
GB/T5202—2008/IEC60325：2002GB/T12128-—1989
用于校准表面污染监测仪的参考源β发射体和α发射体（ISO8769：1986，NEQ
GB/T16511-1996
电气和电子测量设备随机文件(idtIEC61187：1993）电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验（IEC61000-4-2：2001，GB/T17626.2—2006
GB/T17626.32006
试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验（IEC61000-4-3：电磁兼容
2002,IDT
GB/T17626.4—1998
61000-4-4:1995)
GB/T17626.5—1999
GB/T17626.6—1998
61000-4-6:1996)
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电快速瞬变脉冲群抗扰度试验（idtIEC试验和测量技术
试验和测量技术
试验和测量技术
GB/T17626.11—1999
9电磁兼容
试验和测量技术
验（idtIEC61000-4-11：1994）浪涌（冲击）抗扰度试验（idtIEC61000-4-5：射频场感应的传导骚扰抗扰度（idtIEC电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试EJ/T1204.1一2006电离辐射测量探测限和判断阅的确定第1部分：忽略样品处理影响的计数测量（ISO11929-1：2000，IDT）ISO7503（所有部分）表面污染评价3术语和定义
GB/T4960.6—1996确立的以及下列术语和定义适用于本标准。3.1
有效测量范围effectiverangeofmeasurement满足本标准要求的测量仪或监测仪的被测量数值范围。3.2
源的表面发射率surfaceemissionrateofasourceq/2元
单位时间内从源的前表面发射高于某一能量的给定类型的粒子数。3.3
源效率sourceefficiency
单位时间内从源的前表面或其窗口发射高于某一能量的给定类型的粒子数（表面发射率）与单位时间内从源(对于薄源)或其饱和层厚度(对于强源)内产生或释放的同一类型粒子数之比。3.4
高效率源highefficiencysource粒子能量大于5.9keV（包括反散射粒子）、效率大于25%的源（这一定义适用于最大能量大于150keV的β发射体）。
小面积源smallareasource
活性表面积最大线性尺寸不超过1cm的源。3.6
表面发射率响应
surfaceemissionrateresponse
仪器效率instrumentefficiency2
GB/T5202—2008/IEC60325：2002在制造厂规定的条件（探测器灵敏面积、源的活性面积和源与探测器之间的距离）下，配置在仪器上的探测器表面发射率响应(效率)是探测到的粒子数(例如经本底修正的单位时间内的计数)与在相同时间间隔内由辐射源前表面发射的同一类型粒子数之比(表面发射率的约定真值）。3.7
（测量装置的）响应时间responsetime(ofameasuringassembly）从被测量发生阶跃变化后到输出信号的变化第一次达到最终值的某一给定百分数（通常为90%）时所需的时间。
注：对于积分测量装置，响应时间是指示值一阶导数或斜率平衡值的90%。3.8
sensitivearea of thedetector探测器的灵敏面积
由制造厂规定的探测器面积，对小面积源的探测效率超过最大效率的50%。3.9
总等效厚度totalequivalentthickness指从污染表面正常发射的（α或β)粒子达到探测器灵敏体积所需穿过的厚度，通常以单位面积的质量表示。
注：厚度包括空气中的距离加上探测器窗的厚度，有时还包括为防止污染探测器窗而设置的保护屏厚度。3.10
指示值误差
indicationerror
在测量点上，一个量的指示值M与该量的约定真值M.之差，以M;一M,表示。3.11
响应response
监测仪或测量仪的指示值与其约定真值之比：3.12
指示值相对误差
relativeerrorof indication
以百分数表示的被测量指示值误差与该量的约定真值之比：I = M=M×100%
相对固有误差relativeintrinsicerror在规定的参考条件下，受到规定的参考辐射照射时，仪器指示值的相对误差。3.14
变异系数coefficientofvariationV
一组n次测量值(z:)的标准偏差(s)与其算术平均值()之比(V)，关系式如下：V-=
单位面积表面发射率的探测限detectionlimitofthesurfaceemissionrateperunitarea单位面积表面发射率按照EJ/T1204.1给出的方法导出。3
GB/T5202-2008/IEC60325:2002
注：如果有计数率和适当的计数时间，应使用简化的公式计算探测下限计数率。在时间已经预选、本底计数率已知的情况下，使用以下简化的公式：VR（云+云）
R, = (ki-+ki-p) N
式中：
探测下限的净计数率；
一本底计数率；
本底计数的预选时间；www.bzxz.net
测量的预选时间；
k1-—第一类误差风险正态分布的分位数；k1-\—-第二类误差风险正态分布的分位数。例如，α=β=0.05,(kl)=(k1)=1.6451+
R。=(1.645+1.645)
对特定核素的表面发射率探测极限变为：R
Saulide) A
式中：
Saulde)
-表面发射率响应（见3.6)；
A探测装置的灵敏面积。
单位面积的表面发射率应以s-1·cm-2为单位表示。3.16
conventionallytruevalueof aquantity量的约定真值
一个量的最佳估计值。
注：此值通常由一个次级或初级标准确定或溯源，或由一台经次级或初级标准校准的参考仪器来确定。3.17
detectionassembly
探测装置
至少包括探测器的装置。
measurementassembly
测量装置
显示被测污染水平的装置。
α、β或α/β表面污染监测仪alpha，betaoralpha/betasurfacecontaminationmeter包括一个或多个辐射探测器和相关部件或基本功能单元的仪器，在检查表面污染时用于分别测量α(β、α/β)表面发射率。
α、β或α/β表面污染监测仪alpha，betaoralpha/betasurfacecontaminationmonitor具备给出易于察觉的报警方式(通常为可视和/或可听）的α(β、α/β)活度测量仪，在检查表面污染时指示单位表面积的表面发射率超过了可调整的预定值。4单位
在本标准中，使用国际单位制(SI)单位及其倍数和分数单位。也可以使用以下非国际单位制单位：时间：年（a)、天（d)、小时(h）、分钟（min）能量：电子伏(eV)(leV=1.602×10-19J)注：辐射量和剂量测定的定义在GB/T4960.6—1996中给出。4
5仪器分类
按照其状态，仪器可分为：
探测装置；
测量装置；
-体的污染测量仪或监测仪。
GB/T5202—2008/IEC60325:2002按照其使用方式，测量装置和一体的污染测量仪或监测仪可分为：—移动式仪器；
一便携式仪器。
按照其使用的电源类型，测量装置和一体的污染测量仪或监测仪可分为：使用交流电源的仪器；
使用原电池或二次电池的仪器。按照辐射的类型，探测装置和一体的污染测量仪或监测仪可分为：广α污染测量仪或监测仪；
—β污染测量仪或监测仪；
——α/β污染测量仪或监测仪。6一般特性
探测装置
探测装置的设计应使探测器的灵敏面积距检测表面的距离小于5mm（α探测器）和小于10mm（β探测器）。
如果探测器的灵敏面积表面装有保护网格，由制造厂规定网格的标称透过率。保护网格的厚度应尽量将所有角度人射的屏蔽降到最低（以避免准直效应）。应规定探测装置的总面积和灵敏面积。如果探测器要求使用计数气体，制造厂应说明气体的类型和所需流量。当将仪器效率储存在存储器中时，应使用多个合适的测量装置进行检查，以保证各种因子不受测量装置的影响。
6.2易于去污
仪器的结构应使其易于去污。例如，建议仪器采用光滑无孔、没有裂缝的外表面。至少在使用测量装置的情况下，还可以选择将装置放在较薄且柔性的机套中，这样既使用方便又容易去污，并且机套配备透明的部分，便于仪器读数。6.3密封
对于室外使用的仪器，制造厂应说明所采取的防潮措施。6.4报警阀
本条仅适用于监测仪。
监测仪应有含一个或多个报警阈值的必备电路。报警阈值的数目由制造厂和用户协商确定。报警阈值应按可调整范围的百分数给出或按显示的单位给出。设计的每一个报警阅允许通过测试信号、放射源或者信号输入电路方便地进行操作确认。应规定可调整范围，报警阅值在这一范围内的任意一点都可作调整。通过任何方法在超过范围限值以外设定报警阅均不会报警。如果设有静噪功能，当报警条件终止时，应能自动复位至静噪状态。操作者应不易进人报警阈值的调整（例如，需操作钥匙开关或保护密码）。对于移动式和固定式仪器，至少有一组由触发单元控制的电触点用于外部报警，在正常工作条件下电触点随时可用。对于便携式仪器，是否配备报警输出电触点，由用户和制造厂协商确定。5
GB/T5202-2008/IEC60325:2002
6.5仪器指示值
6.5.1污染测量仪
除了可见的计数率指示以外，还应提供带有静音功能的计数率声响指示。在噪声水平较高的场合使用时应配置耳机。
具有数字显示的仪器应能检查显示的所有位数均正确。应防止校准控制旋钮进行未经授权的调整。6.5.2监测仪
除了上述提到的计数率声响指示以外，在污染超过某一预置值时，仪器应给出声响指示或灯光指示。虽然声响指示可以由产生计数率声响指示的相同变换器产生，但两者应有明显差别。6.5.3以活度表示的指示值
当指示值以活度或单位面积活度表示时，为了使该指示值有效，应明确指明能量范围或核素。当指示值可能以活度或单位面积活度表示时，假定表面发射率与活度之比为0.5，实际上由于反散射的原因或更多是由于参考源和样品之间的自吸收不同，这一比值并不一定总是0.5。一个切实可行的解决办法是使用一个参考源代表被监测的污染表面（近似于自吸收和反散射）。如果这种方法不可行，假设的对所测表面类型的响应与对参考源响应之比应符合ISO7503并由制造厂规定。6.6有效测量范围
对于线性刻度的仪器，有效测量范围应是每一量程的10%100%。对于对数刻度的仪器，有效测量范围应是最低有效十进位位的1/3到满刻度。对于数字显示的仪器，有效测量范围应是从第二个最低有效数字开始到满刻度。制造厂应说明每一量程的有效测量范围。对于多量程仪器，相邻量程的有效测量范围之间应有重。
对于数字及指数显示（例如，、y×10±a）的仪器，尾数应至少有两位数字（例如，1.0～9.9），并且制造厂应规定有效测量范围（例如，1.0×10-2s-1～9.9×10-*s-1）。为了符合本标准，使用这种显示方式的仪器应满足数字刻度仪器的要求。最灵敏量程的最大读数所对应的计数率至少为1s1。在这种情况下，对小于4s-的计数率，可能不满足有关统计涨落（见8.1)和响应时间（见8.2）的要求，具有积分功能的仪器有利于低计数率的测量。6.7显示
仪器的指示值应以单位时间计数表示，或在被监测表面发射率与单位时间的计数之间建立关系并满足本标准要求的情况下，指示值可以使用活度或单位面积活度表示。6.8机械冲击
便携式仪器应能承受来自各个方向的机械冲击而不损坏，峰值加速度为300m·s-2，时间间隔为18ms，冲击波形为半正弦波（见GB/T2423.5一1995）。6.9电子设备的调整和维护附件
除了必要的说明书和维修手册以外，所有仪器还应配备有足够多的易于接近的检验点，以便调整和确定故障的位置，同时在必要时还要有维修附件（如印刷电路扩充板、跨接引线）和专用维修工具。应有防止未经授权进人仪器调整功能的措施。7一般试验方法
7.1试验
7.1.1质量鉴定试验
为了证明设计的充分性，同时证明设备在正常状态、运行条件和预计运行事件下均能满足制造厂和用户商定的技术要求，在该设备有代表性的样本上进行的试验。注：为了验证满足说明书的要求应进行质量鉴定试验。质量鉴定试验分为型式试验和例行试验。6
7.1.1.1型式试验
在产品有代表性的一个或多个样本上进行的符合性试验。7.1.1.2常规试验
GB/T5202—2008/IEC60325：2002在制造过程中或完工后对每台仪器进行的试验，以确定其是否符合某种准则。7.1.2验收试验
为了向客户证明仪器满足其说明书规定要求的合同试验。7.2概述
除了在9.2.2和9.3.2中规定的试验为常规试验以外，下述条款列举的所有试验均为型式试验。然而，经制造厂与用户协商，这些试验可作为验收试验。除非另有规定，在仪器的有效测量范围内，应满足相应试验的要求。
7.2.1基本原则
7.2.1.1标准试验条件
标准试验条件见表1。本标准规定的试验可按是否在标准试验条件下进行分类。7.2.1.2标准试验条件下进行的试验在标准试验条件下进行的试验见表2，表2给出了试验特性、要求（指示值的允许变化范围）和规定试验方法的相应条款号。
7.2.1.3随影响量变化进行的试验这些试验用于确定影响量变化所带来的影响，表3给出了每个影响量的变化范围和随之发生的仪器指示值变化限值。
为了检验表3中任一影响量变化的影响，所有其他的影响量应保持在表1给出的标准试验条件的限值以内，除非在有关的试验中另有说明。为了简化每个主要影响量单独变化的试验，只需进行有关固有误差的常规试验。只有当规定的常规试验不足以给出具有代表性的指示值时，才需试验仪器的其他方面性能随影响量的变化。
7.2.2指示值随影响量变化的允许限值分别取每一个影响量，而其他影响量均保持在表1给出的范围内，确定仪器正常工作范围，在该范围内指示值变化应保持在制造厂说明的限值以内。除非制造厂与用户协商确定，制造厂给出的限值不应超过表3中规定的数值。应确定与参考条件中有关数值的变化。这些试验用于抽样检验，选择的抽样样品数量由制造厂和用户协商确定。7.2.3参考核素
7.2.3.1α发射体
参考核素为241Am或239Pu。
7.2.3.2β发射体
除了用于测量能量小于200keVβ粒子的探测装置以外，参考核素为35Cl或204T1。制造厂应说明使用的核素。
如果探测装置用于测量最大能量小于200keV的β粒子，参考核素为\C。7.3本底
应使用一种合适的方法(可能包括计算）从观测到的信号中扣除仪器指示的本底。如果仪器能够通过扣除本底计数率得到净计数率，那么制造厂应明确说明使用的方法及其不确定度。
7.4统计涨落
对于任何使用辐射的试验，如果单独由辐射随机性引起的统计涨落在其允许的指示值变化中占有显著份额，那么为了验证该项试验是否满足要求，就应取足够多的读数，以保证能够有足够的精密度估7
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