【冶金行业标准(YB)】 炉渣 X射线荧光光谱分析方法

ICS 77. 140. 99
中华人民共和国黑色冶金行业标准YB/T 4177-
炉渣X射线荧光光谱分析方法
Determination of chemical composition in slagby X-ray fluorescence spectrometry2008-03-12发布
2008-09-01实施
中华人民共和国国家发展和改革委员会发布
本标准由中国钢铁工业协会提出。前言
本标准由治金工业标准信息研究院归口。本标准主要起节单位：首钢总公司。本标准主要起草人：张健、王利杰、程晓娟、杨志强、刘卫平、张东生。YB/T4177—2008
1范围
炉湾X射线荧光光谱分析方法
YB/T 4177—2008
本标准规定了利用波长色散型X射线荧光光谱仪测定冶金炉渣样品中二氯化硅，一氧化二铅、全铁、氧化钙、氧化镁、氧化锰、五氧化二磷、二氧化钛主要组分的含量。本标准适用于高炉渣、电炉渣、转炉渣样品中主要组分的测定：各组分测定范围见表1表1组分及测定范围
分析组分
注CaO是按TCa折算的结果。
2规范性引用文件
测定范围（质量分数)/%
20～70
0.01～10
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。儿是注口期的引用标准，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修改版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些标准的最新版本。凡是不注日期的引用标准，其最新版本适用于本标准。GB/T6379.2测量方法与结果的准确度（正确度与精密度）第2部分：确定标准测量方法的重复性和再现性的基本方达（GB/T6379.22004：1S(5725—2：1994，IDT）GB/T16597X射线荧光光谱法通则JJG810波长色散X射线炭光光谱仪检定规程3原理
将试样和熔剂（四硼酸锂或偏硼酸锂）按一定比例混合，并加人一定量的硝酸钠或硝酸锂作氢化剂，用熔融炉熔融，熔融前或熔融过程中加入一定量的脱模剂，制作成组分均勺、透明、表面光洁、无瑕疵的硼酸盘玻璃状熔融样片。用×射线荧光光谱仪测量玻璃状熔融样片中待测元素的X射线荧光强度，根据用标准样品制作的校准曲线求出待测试样各元素的含量，并对共存元索影响进行校正。4试剂
除非另有说明，在分析中仅使用确认为分析纯的试剂和蒸馏水，去离子水或相当纯度的水4.1脱模剂.碘化铵(NHI)或溴化铵(NHBr）。注;碘的「依与钛存在谱线秉聋,溴的L。，线与铝存在谱线重叠YB/T4177—2008
4.2无水四硼酸锂（LizB,0），优级纯，在700℃灼烧4h，忙存于干燥器中4.3无水偏礁酸锂(LiBO.），优级纯，在700℃灼烧4h，购存于干燥器中。4.4混合熔剂LizB,O,（4.2)：IiBO（4.3）=4：1，贮存于下燥器中。4.5标准样品，采用认可的国家及行业标准样品，4.6氧化剂，硝酸钠(NaNVO,)或硝酸锂(LiNO)的饱和水溶液。5仪器设备
5.1烘鞘，温度可控制在105℃二5℃，5.2金柑埚（约含铂95%，金5%），平底，直径耐深度视只体情况而定，5.3陶瓷均据，体积在30mL左右，耐1000℃以上高湿。5.4熔融机，电炉高频炉或其他加热设备，能加热到1050℃，并能控制温度波动在土30℃。5.5X射线荧光光谱仪，满足JJG810的规定，5. 6 天平,感量在 0. 1rrg。
5.7马弗炉，能加热到1050℃，并能控制温度波动在30℃。6.试样
6.1若样品中含金扇铁，需磁铁吸出去除，6.2将试样胃于保持温度在105℃士5℃的烘箱（5.1)中烘干2h后，放入干燥器冷却。6.3若试样中含硫量高于0.2%，含碳0.2%以上，需将试样置于陶瓷（5.3)内，在600℃~-800℃马弗炉(5.7)中灼烧1h以上。
7分析步骤
熔融样片的制备
准确称取混合熔剂（4.4)5.000g，加入脱模剂（4.1)0.05g，两者搅拌后置入铂/金璃（5.2)中。称取0.5000g试样于混合熔剂（4.4)上，滴加5滴10滴氧化剂(4.6）于试样上，放置于熔融机（5.4)中，加热至1050℃融化，搅拌，并将气泡赶尽，炼融时间与搅拌力度应保证使熔融物混合均匀。然后取出冷却，使熔融物成型为熔融样片（样品及熔剂等的试剂量，要以能覆盖整个铂/金（5.2)底面的需要量米确定，但要按比例扩大)。
检查样品熔融混合是否均勾，以含量最高组分的偏差来衡量，要求变异系数S,<0.2%。S.
式中：
变异系数；
S,一一试样制备的标准偏差；
R—5个试样测量5次数据的各自平均值之间的变动范围；—5个试样测量5次的变动范用读数的平均值；R-
一5次平均读数的平均值，
7.2标准样品和标准化样品的制备(1)
7.2.1采用国家及行业标准样品或纯物质配制的标样品。标准样品用于绘制校准曲线，系列标准样2
品中各分析元素含量应有适当的梯度。YB/T 41772008
7.2.2标准化样品用于对仪器进行漂移校正，这类样品应有良好的均匀性和稳定性，所选样品应短盖校准曲线的上限和下限。
7.3仪器的准备
7.3.1仪器工作环境
仪器的T作环境应满足GB/T16597的规定。7.3.2仪器工作条件
X射线荧光光谱仪(5.5)在测量之前成按仪器制造商的要求，使工作条件达到最优化。7.4测量条件选择
根据所使用仪器的类型、试样的种类、分析儿案、共存元素及其含量变化范围，选择合适的测量条件。7.4.1分析元索的测量时间取决于待测元素的含量及所要达到的分析精密度，为满见分析需要，-…般为15s~60s。
7.4.2计数率不足要相应降低熔融稀释比例；计数率超过探测器测量极限要加滤光片。7.4.3X光管电压、电流设定在仪器正常工作范围，功率随分析元素类别及其含量确定，但不应超过额定率。
7.4.4使用多个试样盒时，样盒面罩不应对分析结果构成明显的影响，样盒面弹直径一般为25mm~30mm
7.4.5如果可能的话，测量时试样应璇转。7.4.6使用的分析线及推荐使用的分光品休列入表2。表2分析线及推荐使用的分光晶体元素
LiF200
LiF200
人工品体
LiF200
LiF200
AIKal2
Ca Kal3
7.4.7如果使用顺序式×射线荧光光谱仪，分析轻元索（原子序数小于20)选用狸准直器，分析垂元素选用细谁直器
7.4.8测量过程中分光室压力应低于40Pa,并保持恒定。7.5校准曲线的绘制
在选定的工作条件下，用X射线荧光光谱仪测量一系列与试样基体相似和化学成分相近的有证标准样品（CRM)或标准样品（RM），每个样品应至少测量2次。川仪器所配的软件，以标准样品中该元素的含量值和测的X射线荧光强度平均值计算出校准曲线参数、综合吸收校止系数（或系数）和谱线重叠干扰校正系数，分别得到综合吸收校止模式和理论α系数校正模式下的计算公式。u=（al;+c)x(1+dz)-ti≠j)
=(+c）×(1+Eaw）(/)
YB/T 4177—2008
式中：
磁一-有证标准样品（CRM)或标准样品(RM)中分析元素i的参考值，(质量分数）%一综合吸收校正系数；
理论 系数;
一光谱重叠校正系数：
有证标准样品(CRM)或标准样品（RM)中共存元素的参考值.（质量分数）%：I，—分析元素“的X射线荧炭光强度；a,b,
分析元素的校正曲线常数。
7.6标准化
定期进行标准化样品的确认分析，当仪器出现漂移时，通过测量标准化样品的X射线荧光强度对仪器进行漂移校正。按下列公式计算：=αxI+β
β-I,-α×I
式中：
分析元素2的测量强度；
I—分析元素2的校正强度；
\.-高含量标准化样品的测量强度；L——低含量标准化样品的测量强度；I
高含量标准化样品的初始强度；低含量标准化样品的初始强度；漂移校正系数。
7.7未知试样的分析
用X射线荧光光谱仪对米知试样进行强度测量，由校准曲线筑出分析元素的含量，当未知试样的二次分析值之差不超过表3所列重复性r时，取二者平均值为最终分析结果，若超过值，则应按附录A中的流程来处埋。一般情况下，计算结果中分析含量高于1%时，小数点后保留2位数宁；低于1%时保，留2位有效数字。
8结果的处理
8.1精密度
本标准的精密度是在6个实验室共同试验并按GB/T6379.2所确定的结果，见表3，表3重复性与再现性
水平范围/%
重复性r
lg r-1. 2028lg m
1g r= 0. 1931lg m
—1.1013
再现性R
lg R=0. 6373lg m
—0.3305
IgR=0.3216lgm
—0.3300
实验室内标准偏差
lgo. -1. 2028lg m
—5.0373
lgr, -- 0. 193ilg m
实验室问标准偏差叫
Igor. =0. 3876lg m
1guL -0. 3216lg m
水平范围/K
20~~70
重复性+
lgr=0.43531gm
—1.4478
lg r= 0. 7510 kg m
Ig r= 0. 4380 lg m
lg r= 0. 5388lg m
表3续）
再现性R
g R= 0. 46011g m
IgR=1.7046lg m
Ig R=0.0296lg m
-- 0.0244
Ig R=0. 4728lg m
g r= 0. 5485lg m
lg R-0. 1901lg rm
—0. 4702
lg v 0. 2912lg m lg R—0.63731g m—1.7590
注n是分析元素的含量，用质量百分数计，以%表示。实验室内标准偏差
Igo. = 0. 43531g m
—1. 8993
Igp, = 0. 7510 1g m
—2.2613
lgo, =0. 4380 Ig m
—1.8538
lg9, -0. 5388lg 7m2
—1.9563
Igo.0.5485lgm
—1.9592
lgo,=C.29121gm
—2.2105
YB/T 4177—2008
实验室间标准偏差
Igoj.=0.4601gm
1go1.=1.7046lg m
Igo1=0.0296lgm
Igo.0. 1728lg m
Iga:. —0. 19011g m免费标准下载网bzxz
—0. 9217
lgot.=0.63731g m
—0.7822
8.2准确性检查
按照选定的分析条件；用X射线荧光光谱仪测量与试样基体相似和化学成分相近的有证标准样品(CRM)或标准样品（RM)，所得分析元素分析值与认证值或参考值A。之间在统计上应无显著性差异，按下式判断是否存在显著性差异：-As
o+4+VA)
式中：
-有证标准样品（CRM)或标准样品(RM)中待测元素的最终分析结果：GL
共同试验所确定的实验室间的标准偏差；0.——共同试验所确定的实验室内的标准偏差；A，一有证标准样品（CRM)或标准样品（RM)中分析儿素的参考值，（质量分数）%；-CRM或RM的重复测定次数；
V(A)-A.的方差。
对于仅有一个实验室定值的有证标准样品（CRM)或标准样品（RM)，则按下式判断是否存在显著性差异，
Iμe A.1 2A
如果式(8)、式(9)成立，则|p。一A。在统计上无显著差异(95%置信水平）,CRM或RM中待测元素的分析结果通过准确度试验反之有显著性差异，应查找原因，重新校推并确认。YB/T4177—2008
进行X，X2
进行x,
附录A
”（规范性附录）
试样分析值验收流程图
,X2,,之极差或1.3
X=X,X2，X4之巾值
进行X
X132++X
试样分析值验收流程图
Kj+2+X
中华人民共和国黑色金
行业标准
炉渣X射线荧光光谱分析方法
YB/T 4177—2008
冶金工业出版社出版发行
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开本 880X×1230
2008年6月第一次印刷
2008年6月第一版
统—书号：155024·240
定价：15.00元
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