【国家标准(GB)】 半导电电缆纸

ICS85.060
中华人民共和国国家标准
GB/T7971--2007
代葬 GB 7971—1987
半导电电缆纸
Semiconducting electric cable paper2007-12-05 发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2008-09-01实施
本标准是对GB7971-1987《半导电电缆纸的修订，本标准自实施之日起,代替GB 7971一1987，本标准与GB7971—1987相比主要变化如下：增加了1BLZ—170型单色半导电电缆纸的技术要求；-·—-取消了B等品。
本标准的附录 A、附录B和附录 C均为规范性附录。本标准虫中国轻工业联合会提出。本标准山全国造纸工业标准化技术委员会(SAC/TC 141)归口。本标准起草单位：渐江省特种纸与纸制品质量检验中心、上海电缆！有限公司。本标准主尝起草人：李大方、丁敏本标准所代替标准的历版本发布情况为：GB 79?1—1987.
本标准出全国造纸工业标准化发术委员会（SAC/TCi41)负责解释。GR/T 7971—2007
1范固
半导电电缆纸
GB/T 7971--2007
本标准规定厂半导电电缆纸的分类、要求、试验方法，检验规则.标志、包装.运输和贮存等，本标准适用于纸筑缘电力电缆屏散用的半导电电缆纸？规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款，凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准，GB/T450纸和纸板试样的采取(GB/T4502002,egv1SO186：1994)GB/T 451. 1 纸和纸板尺寸及偏斜度的测定GF/T 451.3纸和纸板厚度的测定(GB/T 451.32002.idtISO 534:988)GB/T453纸和纸板抗张强度的测定（恒速加荷法）（GB/T453--2002，idtISO1.24-1:1992）GB/T455纸和纸板撕裂度的定（GB/T4552002.cqvISO19741990）CB/T458纸和纸板透气度的测定（肖伯尔法）（GH/T458-2002.cqVISO5636-2:1984)2纸和纸板水分的测定（GB/T162-2003,IS0287:1985,MOD)GB/I462
纸、纸板租纸浆残余物（灰分）的测定（900C）（GB/T7422003，1SO2144：1997GB/T 742
GB/T2828.1计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限（AQI.)检索的逐批检验抽样计划(GB/T 2828. 1-2003,ISO 2859 1:1999,ID'I)GB/T20342纸张的包装和标志
C15/E-0739
纸，纸板和纸浆试样处理和试验的标准大气条作GB/T10739-2002,eqVIS0187：1990)
GB/T12914纸和纸板抗张强度的测定（恒速拉伸法）（GB/T12914-1991，e4V[SO1924-21985)
3分类
3、1半导电电缆纸分为单色和双色两种，单色半导电电缆纸的型号用1BL7.表示，双色半导电电缆纸的型号用2BLZ表示，
3.2半导电电缆纸为卷简纸，卷筒宽度为540mm，卷简直径为650mm~750mm，或符合合同规定。4要求
4.1半导电电缆纸的技术要求应符合表1规定，或符合合同规定。4.2半导电电缆纸的原料为100%本色硫酸盐本浆。4.3半导电电缆纸的纤维组织应均匀，纸面应平整，不应有硬质块、褶子、皱纹、条痕及目谢可见的孔眼和导电杂质。
4.4卷简半导电电缆纸的宽度尺寸偏差应不超过士3mm。4.5卷筒半导电电缆纸端面应平整，两端面松紧应一致，4.6每筒半导电电缆纸接头应不超过3个，接头处应有明显标志，搭接宽度应不超过40mm，所用胶GB/T 7971—2007
粘剂应适量，不应粘上纸的另一层，指标名称
抗张强度
伸长率
后向撕裂度
透气度
体积电阻率（p）
半导体层表面电组率
(p.J(20℃~2C)
交货水分
炭黑洗涤后定性
5试验方法
5.1试样的采取按GB/T450进行。单位
μm/tPa·s)
(mlim:n)
5.2试样处里和试验大气条件按GB/T1C739进行。5.3序度和紧度按GB/T451.3测定，1 BLZ-120
1 BL2 170
170±5. 5
0. 90~-1. 05
1×105
5. 5 ~8. 0
5. 4抗张强度接 GB/T 12914或 GB/T 453测定，仲裁时按 GBT 12914测定5.5伸长率按GB/T12914或GB,T453测定，仲时要GB/T12314测定。5.6横向断裂度按GB/T455测定。透气度按GB/T458测定。
5. 8 体积电阻率按阴录 A测定。5.9半导体层表面电阻率按附录B测定：5.10
灰分按GB/T742测定，
交货水分按GB/T462测定
炭墨洗涤稳定排按附录C测定。
外观质量以目测进行评定，
5.14尺寸偏差按GB/T451.1测定。检验规则
6. 1 以一次交货量为 -我,但应不多于5 t。2 BLZ-12U
120 ±6. 0
0. 90--1. 05
6.2生产方应保证生产的半导电电缆纸符合本标准规定，每卷(筒)纸应附一份产品质量检验合格证。6.3诈数抽样检验差序按G3/T2828.1规定进行,见表2。荐本单位为卷（简）。接收质量限（AQL)：厚度、抗张强度、横向斯裂度、体积电阻牵，半导体层表面电阻率AQL=4.0，紧度、伸长率、避气度、灰2
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分、交货水分、炭黑洗涤稳定性、外观质量、尺寸偏差AQL一6.5，抽样方案采用正常检验二次抽样方案，检查水平为特殊检查水平S-2。表2
抽样方案
件或卷
151500
样品证
正常检验二次抽样方案特殊检查水平 S-2AQL=4.0
6.4可接收性的确定第一次检验的样品数量应等于该方案给出的第一样本量：如果第样本中发现的不合格品数小于或等子第一接收数，应认为该批是可接收的如果第一样木中发现的不合格品数大于或等丁第一拒收数，应认为该批是不可接收的。如果第一样本中发现的不合格品数介于第一接收数与第一拒收数之间,应检验由方案给出样本量的第二样本并累计在第一样本和第二样本中发现的不合格品数。如果不会格品累计数小于或等于第二接收数，则判定该批是可接收的；如果不合格品累计数大于或等于第二拒收数;剿判定该批是不可接收的。6.5需力有权按本标准或合同规定检验该产品的质量，著对产品质量有异议应在到货后三个月内（或按合同规定通翘供方共同取样复检，如不符合标准规定，则判为批不可接收，曲供放负责处理如符合本标准规定则判为批可接收，由需方负资处理。7标志、包装.运输和贮存
7.1半导电电缆纸的标志和包装按GB/T10342进行，或按合同进行。7.2半导电电缆暂运输时，应使用能防雨、防曝晒和洁净的运输工具，不应与腐蚀件物质混装。7.3半导电电缆纸在摄送过程中应轻拿轻放。7.4半导电电缆纸应案善探管，不应与地面直接接触，应防止雨、需、地面湿气及其他有害物质的影响。7.5由于保管利和运输不符合本标准的规定，导致半导电电缆纸发生质变或损失的，应由造成损失的资任方负责。
7.6半导电电缆纸的保质期为5年。3
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A. 1 试样的制备
附录A
（规范性附录）
体积电阻率的翻定
A.1.1试样的采取按G3/T150进行。A.1.2将1/100r\试样在60℃恒温箱中干燥4h后，放在盛有硝酸钠饱和落液的玻璃容器中.在GB/T[0739 规定的大气条性下温避处理 4 h 以上、以消除滞后效应及平衡纸中的水分。A.2仅器
A.2.1单色半序电电缆纸体积电阻的测定采绝缘电阻测试仪，其原理如图A.1所示。R
试样的绝缘电阻：
无关，
直流屯源；
准电阻：
分流器：
检流计。
单色半导电电缆纸体积电阻的诚验电极为三电被系统，电极出黄铜制成，电极表面应抛光·具体尺寸如图A.2所示（图中脂括号者表示测量表面电阻，不带括号者表示测景体积电阻）。1(1)
微电极；
保护电极；
高压电被：
试样：
板试样厚度
长板微电极直径：
平板保护电内径：
平板高压电校式径：
微发电极与保护电板间晾宽度。图A.2
4.2.3测量时在电极上施机98.07kPa压刀，A.3试验步骤
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A,3.1检查电路接线无误后,绝缘电阻测试仪的使月说明书,将仪器调整到标准测量位置上,将高压极拉入地线，测量救拉人屏般，保护极拉入线路插扣。A, 3. 2 取预先经过处理的试样 10 层(总厚度约 1. 2 mm),如图 A. 2 所示置于测量级与高压极之间将分流器放在标准测量位置上，闭合开关使氙样短路：4. 3. 3用开关K闭合直流电源,调节分流器,使检流计的偏格处于最人值,1 1nit1 后记下分流倍率;及偏转格数a1。
A.3.4断开开关K，接人被测试样，按A.3.2和A.3.3方法进行测试，记下分流借数s及偏转格数a.
A.3.5当重复试验时:被测试样应先短路放电·其时间不少于 2 min，4.3.6取另组试岸10层（总厚度约1.2mm），按上述方法避行测定。A.4结果的计算
A. 4. 1 试样的体积电阳 R。按式(A, 1)计算R.-R. ein
武中：
R—试样电阻,单位为欧姆(n);
R。一—-标准电阻,单位为欧姗(2);α:、α2——标谁电阻及被测试样的偏转格数：ni.z
标准电阻及被测试样的分流倍数(1/10000～1/1)。A.4.2试样的体积电阻率(p)按式(A,2)计算：R.S
式中：
一试样体积电虚的电率，单位为欧姆·厘米（2·cm）：S测量电极面积，单位为平方厘米(cm\）；8一试样总厚度，单位为厘米（cm），(A.1)
4, 4. 3一组试样平行测定结果应不超过其平均值士10死,月两次符合上述误差要求的润定结果,取平均值作为试样的测定结果。
A.4.4为避免试样在测试过程中受潮,敌测试时间应不超过 3 Iin。5
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3.1试样的制备
（规范性附录）
半导层衰面电阻率的测定
B.1.1试样的采按GH/T450避行
B.1.2将！/100rm试拌布50℃恒温篇中于燥411后，放在盛有硝酸饱和溶液的玻璃容器中，在GB/T10739规定的大气条件下温湿处理4h以上.以消踪带后效应及平衡纸中的水分。B.2仪器bzxz.net
B.2.1双色半导电电继纸的表面电阻的测定采用单静电桥,其原理如图B.1所示。Rh
鼠样的绝绿电阻；
桥臂电阻；
直流屯源；
检流计。
B.2.2双色半导电电缆纸表面电附的试验电极为一电极系统.见图A.2，B.2.3测量时在电极上施加 98. 1 kPa 压力,B.3试验步骤
将仅器的X.接高压极,X,接测量极。B.3.1
B.3.2将-张试样放在保护极上（这里保护极只作一平板用，不作电极系统之-）再放上高乐极和测鼠极。
B.3.3估计被测电阻范围，在比率臂上选择适当的比率范围。B.3.4调节比率臂，直至按钮按下时检流计不懈转为止，记下这时的读数R，，R.及R.，并按式（B.1)计算试样的绝缘电阻R
B,3.5用另一张试样进行重复测试。B.3.6为避免试样在测试过程中受潮.测诚时间应不超过3min。B.4结果的计算
试样的绝缘电阻(R)按式(B.)计算：8.4.1
B.4.2试样的半导体层表面电阻率(p.)按式(B.2)计算2元(+
a——试样半导体层表面电阻率，单位为欧姆·厘米(s·cm)；R—高压极内半径，单位为厘米(cm)：r--·测量极半径，单位为厘米（cin）；G一高压极和测量极间的间隙，单位为厘米(cin）若按电极示意图上尺寸代人上述公式则公式简化为：P,=42.4R。。B.4.3为避免试样在测试过程中受潮，故测试时间应不超过3Iin。附录
（规范性附录）
炭黑洗涤稳定性的测定
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-( B. 2 )
在两个穿量300 ml 的烧瓶内注人150mL合或电缆疝（十.烷基莱）。其巾个烧瓶放人五张15mm×180mm的试样。将烧瓶置于120℃的恒温器内8h.然后月测两个烧瓶的透明性。若两个烧瓶的透明性基木致,判为格;反之、则判为不会格。
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