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  • GB/T 13179-2008 硅(锂)X射线探测器系统

    GB/T 13179-2008 硅(锂)X射线探测器系统

    本标准参照了IEC 60759:1983《半导体X 射线能谱仪标准测试程序》。本标准代替GB/T 13179-1991《硅(锂)X 射线探测器系统》。本标准规定了硅(锂)X射线探测器系统的产品分类、技术要求、试验方法和检测规则等。本标准适用于带有液氮贮存容器的室内用硅(锂)X射线探测器系统,但不适用

    2024-12-26 类别:国家标准(GB)
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  • GB/T 13178-2008 金硅面垒型探测器

    GB/T 13178-2008 金硅面垒型探测器}

    本标准参考了IEC 60333:1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 测试程序》。本标准代替GB/T 13178-1991《金硅面垒型探测器》。本标准规定了部分耗尽金硅面垒型探测器(简称探测器)的产品分类、技术要求、测试方法、检验规则等。本标准适用于部分耗尽金硅面垒型探测器(不包括位置灵敏探测器)

    2008-07-02 类别:国家标准(GB)
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