本标准参考了IEC 60333:1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 测试程序》。本标准代替GB/T 13178-1991《金硅面垒型探测器》。本标准规定了部分耗尽金硅面垒型探测器(简称探测器)的产品分类、技术要求、测试方法、检验规则等。本标准适用于部分耗尽金硅面垒型探测器(不包括位置灵敏探测器)
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