【国家标准(GB)】 金硅面垒型探测器

本标准参考了IEC 60333：1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 测试程序》。本标准代替GB/T 13178-1991《金硅面垒型探测器》。本标准规定了部分耗尽金硅面垒型探测器(简称探测器)的产品分类、技术要求、测试方法、检验规则等。本标准适用于部分耗尽金硅面垒型探测器(不包括位置灵敏探测器)。锂漂移金硅面垒型探测器也可参照执行。本标准保留GB/T 13178-1991的大部分内容，对其的主要修改如下：——增加前言；——引用新的规范性文件；——产品的外形及结构尺寸仅保留A型，删去原标准的B型和C型；——部分耗尽金硅面垒型探测器的分类仅保留最小耗尽层深度为300μm一类，而主要性能增加“允许最大噪声”。 GB/T 13178-2008 金硅面垒型探测器 GB/T13178-2008