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【电子行业标准(SJ)】 电容器用铝金属化聚酯薄膜规范
本网站 发布时间:
2024-07-05 06:31:56
- SJ20149-1992
- 现行
标准号:
SJ 20149-1992
标准名称:
电容器用铝金属化聚酯薄膜规范
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1992-11-19 -
实施日期:
1993-05-01 出版语种:
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标准简介:
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本规范规定了电容器用铝金属化聚酯薄膜的分类、术语和有留边的电容器用铝金属化聚酯薄膜的技木要求及检测方法。本规范适用于军用电容器用铝金属化聚酿薄膜,其他电容器用铝金属函聚酿薄膜也可参考使用. SJ 20149-1992 电容器用铝金属化聚酯薄膜规范 SJ20149-1992

部分标准内容:
中华人民共和国电子行业军用标准FL9360www.bzxz.net
SJ20149-92
电容器用铝金属化聚酯薄膜
和聚丙烯薄膜规范
SpecificationforAluminium-Metallizedpolyester film and polypropylene film for capacitors1992-11-19发布
中国电子工业总公司
1993-05-01实施
中华人民共和国电子行业军用标准电容器用铝金属化聚酯薄膜规范Specification fro Aluminium-Metallizedpolyester film for capacitors1.1主题内容
SJ20149-92
本规范规定了电容器用铝金属化聚酯薄膜的分类、术语和有留边的电容器用铝金属化聚酯薄膜的技术要求及检测方法。1.2适用范围
本规范适用于军用电容器用铝金属化聚酯薄膜,其他电容器用铝金属化聚酯薄膜也可参考使用。
1.3分类
1.3.1产品类型
MPETA-
单面铝金唇化聚酯薄膜,见图1~图3。PZ
MPETAD-双面铅金展化聚脂薄膜,见图4和图5。图4
一边缘加厚金属层的单面铝金属化聚酯薄膜,见图6。MPETAH-
代号中:
M表示金属化:
PET表示聚酯薄膜;
中国电子工业总公司1992-11-19发布图3
1993-05-01实施
A表示镀层金厨为铝
D表示双面金属化:
H表示边缘加厚金属层。
1.3.2留边类型
SJ20149-92
1.3.2.1有留边产品的分类及留边字符代号S—留边在膜的侧,见图1、图4及图6。T—留边在膜的两侧,见图2。
M一留边在膜的中间,见图3。
1.3.2.2无留边的产品不加留边字符代号,见图5。1.3.3规格尺寸
金属化薄膜的规格尺寸用三节阿拉伯数字表示,第一节数字表示金属化膜的厚度(um),第二节数字表示金届化膜的宽度(mm),第三节数字表示金唇化膜的留边量(mm),各节数字间分别用连接号(一)和乘号(X)相连接。1.3.4型号命名
产品型号由产品类型、留边类型和规格尺寸等三部分组成。规格尺寸
留边类型
产品类型
1.3.5型号示例
例1:MPETAS6-8X2
厚度6um,宽度8mm,留边量为2mm,留边在膜一侧的单面铝金属化聚酯薄膜,例2.MPETAHS6-10X1.5
厚度6um,宽度10mm,留边量为1.5mm,留边在膜一侧的单面边缘加厚金属化层的铝金属化聚酯薄膜。
例3:MPETAD6-35
厚度6um,宽度35mm,无留边的双面铝金属化聚酯薄膜。1.4术语及符号
1.4.1基膜basicfilm
用于制造金属化薄膜的基材为基膜,本规范的基膜为聚酯薄膜。1.4.2留边margin
在金属化薄膜的边缘或中间未蒸镀金属层的空白绝缘带(条)称留边,其宽度称为留边量:单位为mm。
1.4.3镀层厚度coatingthickhess金属化薄膜的金属层厚度,称为镀层厚度。通常采用方块电阻(或称方阻)表示,单位符号2
为“a/□\。
引用文件
GB191-88
GB6673—86
GB8644—88
GJB179-—86
SJ1147—77
JB1496—74
JB1499—74
3技术要求
3.1外观
包装储运图示标志
SJ20149-92
塑料薄膜与片材长度和宽度的测定重熔用精铝锭
逐批检查计数抽样程序及抽样表电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电系数试验方法有机薄膜收缩率试验方法
有机薄膜抗张强度,仲长率试验方法3.1.1铝金属化聚酯薄膜应紧密地缠绕在光滑的管芯上,膜卷端面应整齐,不允许有分层、破裂等现象,膜卷内不应有粘结现象,接头处应有明显标记。3.1.2铝金属化聚酯薄膜应表面平整,镀层致密,色泽光亮,不允许有皱折、裂纹、机械损伤及肉眼可见的杂质、污垢等物。
3.1.3铝金属化镀层应牢固,无脱落现象。3.2铝金属化聚酯薄膜应消除静电。3.3膜卷应符合表1要求。
卷芯内径
膜卷外径
膜卷端面跳动1(见图7)(膜卷外径为150)膜卷端面凸出或凹进B(见图8)(膜卷外径为150)膜卷翘边A(见图9)
膜层位移C
(见图10)
膜宽≤35
膜宽>35
膜卷膜面跳动S(见图11)(膜卷外径为180)接头
膜卷紧度
≥$120
接头应牢固,并应有明显标记;接头厚度不应超过0.10,
短膜长度不小于500ms
接头数不得超过2个
膜卷端面应能承受P(N)=1.5
(N/mm)×膜宽(mm)的重力而
不发生松动
3.4薄膜尺寸
3.4.1薄膜宽度
SJ20149-92
薄膜宽度应根据电容器的实际使用情况由供需双方协商。3.4.2薄膜宽度的允许偏差应符合表2要求。表2
薄膜宽度
35.0~75.0
3.4.3薄膜留边量及允许偏差应符合表3要求。图9
允许偏差
留边盘
SJ20149—92
3.4.4薄膜厚度及允许偏差应符合表4要求。表4
标称厚度,μm
充允许偏差
薄膜物理机械性能及电性能应符合表5的要求。表5
标称厚度
注:?
3.6材料
拉伸强度
(纵)
≥108
≥130
断裂伸长
(纵)
介电强度
≥220
≥270
热收缩率
(纵)
(横)
允许偏差
平均偏差
镀层方阻
除表5规定外,特殊要求由供需双方协商。1.5±0.5
对于边缘加厚的金属化薄膜,其方阻值由供需双方协商。3.6.1基膜材料应能满足本规范的使用要求。3.6.2蒸镀用铝材应使用符合GB8644中规定的精铝锭。4质量保证规定
4.1检验责任
≥6×10
损耗角
正切值
(1kHz)
介电系数
除合同或订单中另有规定外,供方应负责完成本规范规定的所有检验。必要时,需方或级鉴定机构有权对本规范所述的任一检验项目进行检查。4.2合格责任
产品必须符合本规范第3章的所有要求。本规范中所规定的检验应成为供方整个检验体系的一个组成部分。若合同中包括本规范未规定的检验要求,供方还应保证所提交验收的产品符合合同要求。质量一致性抽样不允许提交明知有缺陷的产品,也不能要求需方接收有缺陷的产品。
4.3检验条件
SJ2014992
除另有规定外,所有检验应在下列规定的条件下进行:温
1525℃
4.4检验批
相对湿度
45%~75%
86~106kPa
精洁度
100000级
薄膜检验应以膜卷为计数单位,以同一材料、同一工艺、同一规格,一次提交检验的膜卷数,为一检验批。
4.5检验分类
本规范规定的检验分为:
a.鉴定检验;
b。质量一致性检验。
4.5.1鉴定检验
本检验包括3.1.1~3.5条的规定,检验应在国家批准的或供需双方认可的实验室进行。检验分组、检验项目、性能要求的章条号、检验方法的章条号及抽样方案,按表6规定。在连续生产情况下,鉴定检验每6个月进行一次。但当产品设计、主要材料、工艺等有重大更改或生产设备进行大修后,亦应进行鉴定检验。表6
检验项目
静电消除
膜卷要求
镀层牢固度
拉伸强度
断裂伸长率
热收缩率
镀层方阻
介电强度
介电系数
损耗角正切值
4.5.2质量致性检验
性能要求的章条号检验方法的章条号3.1.1和3.1.2
3.4.1~3.4.4
4.6.3~4.6.5
4.6.6和4.6.7
样品数
合格判定数
每批产品应按GJB179的规定进行逐批检验.检验项目、检验方法和性能要求的章条号及抽样方案按表7规定进行。
验项目
膜卷要求
镀层牢固度
镀层方阻
介电强度
4.6检验方法
4.6.1外观检验
SJ20149-92
检验方法的章条号
4.6.3~4.6.5
在自然光或40W日光灯照明下进行目测。4.6.2膜带消除静电的检验
抽样方案
将膜卷水平悬挂,膜带自由下垂的长度应不小于1.5m。2.5
性能要求的章条号
3.1.1和3.1.2
3.4.1~3.4.3
4.6.3卷芯内径、膜卷外径及膜层位移,用精度为0.02mm的游标卡尺进行测定。4.6.4膜卷端面跳动、端面凸出或凹进、翘边和膜面跳动的测定4.6.4.1测量装置如图12所示,在三块相互垂直的平板组成的测量基准面上,安装一个可以自由转动的转轴。该转轴的靠膜圆盘直径为140mm,转轴应与测量底板平行。靠膜圆盘转动后形成的平面应与安装轴的测量基准面平行。转上采用涨胆式装膜结构。装夹膜卷时应避免由于装夹膜卷而带来的偏心、摆动等现象。在底部基板上装有百分表座,该表座装置应保证百分表在平行于三块测量平板的三维空间自山活动,使用分度值为0.01mm的百分表进行测量。
4.6.4.2膜卷端面跳动的测定
SJ20149-92
将百分表头置于膜卷的端面边缘(如图7所示),然后调整百分表零点,将膜卷慢慢移动一圈,读出转动过程中指示的最大值和最小值,其差即为膜卷端面跳动H。4.6.4.3膜卷端面凸出或凹进的测定将百分表头置于膜卷靠近芯环处(如图8所示),然后调整百分表零点,将百分表沿着轴线的垂直方向向下慢慢移动,读出膜卷直径最大处表头所示的增量即为膜卷端面凸出或凹进B。对于在移动百分表过程中因膜层位移形成的台阶面产生的表头指示最大值不计在内。4.6.4.4膜卷翘边的测定
将百分表置于膜面中间(如图9所示),然后调整百分表零点,将百分表向右侧面移动,读出右边缘处数值,再将百分表向左侧面移动,读出左边缘处数值,两次测贵中的最大值即为膜卷翘边A:
4.6.4.5膜卷膜面跳动的测定
将膜卷夹于测量装置转轴上,将百分表测量头置于膜卷膜面中间处(如图11所示),然后调整百分表零点,慢慢转动膜卷一圈,读出转动时表头所示的最大值和最小值,其差即为膜卷膜面跳动S。
4.6.4.6接头质量
将膜卷装在重卷机上进行倒卷,在倒卷过程中,用适当量具及目视进行检查。4.6.5膜卷紧度的测定
将膜卷放在一环形平板上(如图13所示),用一块重力为P(N)的圆形铁块放在芯环上,膜卷不应发生松动和位移。
P(N)=1.5×膜卷宽度(mm)
4.6.6厚度及其偏差的测定
4.6.6.1测量仪器
厚度测量仪(精度为0.02um)的下测量面应是光滑平整的平面,上测量面应是曲率半径为30~50mm的球面,上测量杆的直径不得小于5mm,两个测量面都应抛光,测头对试样施加的负荷应为25~75Pa。
4.6.6.2测试步骤及结果计算
取长度不小于1000mm的试样,从距蜡头20mm处开始,测量10个点,各测量点的算术平均值,即为薄膜的平均厚度,并按式(1)~(3)分别计算平均厚度偏差、厚度上偏差及厚度下偏差。
平均摩度偏差一平均臣度际标称厚度×100%标称厚度
SJ2014992
厚度上偏差=般大促原款度标称厚度×100%标称厚度
厚度下偏差最小厚度致一标称厚度×100%标称厚度
4.6.7薄膜宽度和留边量的测定按GB6673的规定进行。4.6.8镀层牢固度的测定
4.6.8.1试验用品
粘合强度为2~10N/cm的聚酯胶带。4.6.8.2试样
在膜卷上取长度为1000mm,宽度为薄膜宽度的试样。4.6.8.3试验方法及结果
·(2)
·(3)
将试样平放在有橡皮的平面上,然后用聚酯胶带均匀地粘贴在试样的金屑镀层上。粘贴长度不小于50mm,粘贴时用力应均匀,使聚酯胶带与金属镀层完全贴合。然后将胶带平稳地垂直撕下,观金属镀层是否剥离或脱落。4.6.9拉伸强度和断裂伸长率按JB1499的规定进行测定。4.6.10热收缩率按JB1496的规定进行测定。加热温度为150士3℃,加热时间为2h。4.6.11镀层方阻的测定
4.6.11.1测量仪器及电极
a.精密电阻仪;
b.电极:采用黄铜制成,是一个底部平整且光滑的长方体,测量前应经过表面清洁处理,以保证接触电阻接近于零。长方体的长度应大于被测金属化膜的宽度、面且底部应有大于0.1N/cm的重力。
4.6.11.2测试步骤及结果计算
从一卷膜中取长度约1000mm试验片一张,蒸发金属面向上展开,放置在平整的绝缘胶板上,将一对同形状的电极(固定电极租活动电极)压在金属层上面,与膜的长度方向成直角放置,电极间距离为L,。用直流电桥法或其它适当的方法测量两电极问的电阻r1。然后将活动电极向固定电极方向移动,改变后的极间距离为L,用同样方法测得电阻r2。根据测得的电阻值及电极距离以及金属层宽度b,按式(4)计算金展膜方阻re。re(r-r)x
式中,ro、r和r.单位为Q;
6、L和L单位为cm。
试验中L,和L是实际测得的长度值,该值应以在电极同一侧边缘的测量值为准。4.6.12介电强度的测定
4.6.12.1测试设备及电极
a。击穿试验装置应备有交、直流电源,电压测量误差不超过4%b.上电极是直径为20mm的黄铜球电极;c.下电极是直径为50mm的平板电极。4.6.12.2试样
·(4)
SJ20149—92
沿薄膜纵向取样,试样长度不小于1000mm,宽度为薄膜宽度。4.6.12.3试验步骤及结果计算
将试样置于上、下电极之间,有金属镀层的一面与下电极接触,用连续均匀升压的方法对试样施加直流电压,升压速度为100~800V/s,控制平均击穿时间为10~20s,均匀地分别测定30个点以上,并记录各点的击穿电压。同时按4.6.6条测量薄膜的厚度。试样的介电强度按式(5)进行计算。式中:E一一介电强度,V/um;
V.--平均击穿电压,V;
d一一试样平均厚度,μm。
4.6.13介电系数的测定
按SJ1147的规定进行。电极材料为真空蒸发铝电极。4.6.14CR值的测定
4.6.14.1测试设备及仪器
测试用设备及仪器有卷绕机、烘箱、喷金机、直流电源、高阻计及电桥。4.6.14.2试样制备
(5)
用一对膜卷卷绕5只电容器芯子,使电容量控制在0.25~1uF,在150土3℃的温度下热处理3h,然后在两端金及焊接引线。再按图14及图15所示电路进行第一次及第二次电压处理,第一次电压处理如图14所示。直流电额
图14第一次电压处理电路图
C一试样(被测电容器);C一储能电容器(约10,F),R一放电电阻(约10ka);S一开关第一次电压处理时,使开关S按1、2顺序进行闭合,共进行三次充、放电,在C,上施加的电压为50V/μm。
第二次电压处理如图15所示。
直流电源
图15第二次电压处理电路图
C,一试样(被测电容器);R一充电电阻,共值接R(kO)25(kQ)
计算;S开关
Cx(uF)
第二次电压处理比第一次电压处理高50V,连续施加电压5min。4.6.14.3测试步聚及结果计算
SJ20149-92
除下列规定外,供需双方还可根据实际需要另行商定测试条件。测试条件:膜厚<4um
膜厚>4μm
电压10士1V
电压100±5V
在试样上加直流电压,充电时间为1min,用高阻计测量芯子的绝缘电阻,再将同一试样在1000士100Hz条件下,用电桥法测量其电容量,将测得的绝缘电阻值与其电容值相乘,即为该试样的CR值。以5个试样的CR值的算术平均值作为测量结果。若在测试中薄膜出现偶然的绝缘缺陷,测试值产生剧烈的下降,可以除去5个试样中的最低值。
当测试条件中,温度不是20℃时,其测定值还应乘以表8中的换算系数。表8
温度,℃
换算系数
4.6.15损耗角正切的测定
温度,℃
换算系数
温度,
换算系数
将4.6.14条测试CR值的芯子用交流电桥测试1kHz时的损耗角正切值。以5只芯子的算术平均值作为测定结果。
5交货准备
5.1封存和包装
薄膜应卷绕在硬质管芯上,膜卷之问应用泡沫垫片隔开,并成对地放在装有干燥剂的塑料袋中,排除袋内空气,将袋口封牢,然后放置在包装箱内,膜卷与箱体之问应填充缓冲材料,使膜卷不直接与箱体接触,包装箱应用粘胶带封接。5.2运输和贮存
薄膜可用任何交通工具运输,在运输过程中,应小心轻放,防止机械碰撞和日晒、雨淋。薄膜应保存在清洁、干燥的,温度为一10~35℃,和对湿度不大于80%的库房内,并按标记方向放置。放置处应远离火源、暖气和避免阳光直射。贮存期从生产日期起为六个月。超过贮存期的产品,按本规范检验合格后仍可使用。5.3标志
5.3.1包装箱上应标志出下列内容:a.
产品名称、型号;
生产日期;
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SJ20149-92
电容器用铝金属化聚酯薄膜
和聚丙烯薄膜规范
SpecificationforAluminium-Metallizedpolyester film and polypropylene film for capacitors1992-11-19发布
中国电子工业总公司
1993-05-01实施
中华人民共和国电子行业军用标准电容器用铝金属化聚酯薄膜规范Specification fro Aluminium-Metallizedpolyester film for capacitors1.1主题内容
SJ20149-92
本规范规定了电容器用铝金属化聚酯薄膜的分类、术语和有留边的电容器用铝金属化聚酯薄膜的技术要求及检测方法。1.2适用范围
本规范适用于军用电容器用铝金属化聚酯薄膜,其他电容器用铝金属化聚酯薄膜也可参考使用。
1.3分类
1.3.1产品类型
MPETA-
单面铝金唇化聚酯薄膜,见图1~图3。PZ
MPETAD-双面铅金展化聚脂薄膜,见图4和图5。图4
一边缘加厚金属层的单面铝金属化聚酯薄膜,见图6。MPETAH-
代号中:
M表示金属化:
PET表示聚酯薄膜;
中国电子工业总公司1992-11-19发布图3
1993-05-01实施
A表示镀层金厨为铝
D表示双面金属化:
H表示边缘加厚金属层。
1.3.2留边类型
SJ20149-92
1.3.2.1有留边产品的分类及留边字符代号S—留边在膜的侧,见图1、图4及图6。T—留边在膜的两侧,见图2。
M一留边在膜的中间,见图3。
1.3.2.2无留边的产品不加留边字符代号,见图5。1.3.3规格尺寸
金属化薄膜的规格尺寸用三节阿拉伯数字表示,第一节数字表示金属化膜的厚度(um),第二节数字表示金届化膜的宽度(mm),第三节数字表示金唇化膜的留边量(mm),各节数字间分别用连接号(一)和乘号(X)相连接。1.3.4型号命名
产品型号由产品类型、留边类型和规格尺寸等三部分组成。规格尺寸
留边类型
产品类型
1.3.5型号示例
例1:MPETAS6-8X2
厚度6um,宽度8mm,留边量为2mm,留边在膜一侧的单面铝金属化聚酯薄膜,例2.MPETAHS6-10X1.5
厚度6um,宽度10mm,留边量为1.5mm,留边在膜一侧的单面边缘加厚金属化层的铝金属化聚酯薄膜。
例3:MPETAD6-35
厚度6um,宽度35mm,无留边的双面铝金属化聚酯薄膜。1.4术语及符号
1.4.1基膜basicfilm
用于制造金属化薄膜的基材为基膜,本规范的基膜为聚酯薄膜。1.4.2留边margin
在金属化薄膜的边缘或中间未蒸镀金属层的空白绝缘带(条)称留边,其宽度称为留边量:单位为mm。
1.4.3镀层厚度coatingthickhess金属化薄膜的金属层厚度,称为镀层厚度。通常采用方块电阻(或称方阻)表示,单位符号2
为“a/□\。
引用文件
GB191-88
GB6673—86
GB8644—88
GJB179-—86
SJ1147—77
JB1496—74
JB1499—74
3技术要求
3.1外观
包装储运图示标志
SJ20149-92
塑料薄膜与片材长度和宽度的测定重熔用精铝锭
逐批检查计数抽样程序及抽样表电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电系数试验方法有机薄膜收缩率试验方法
有机薄膜抗张强度,仲长率试验方法3.1.1铝金属化聚酯薄膜应紧密地缠绕在光滑的管芯上,膜卷端面应整齐,不允许有分层、破裂等现象,膜卷内不应有粘结现象,接头处应有明显标记。3.1.2铝金属化聚酯薄膜应表面平整,镀层致密,色泽光亮,不允许有皱折、裂纹、机械损伤及肉眼可见的杂质、污垢等物。
3.1.3铝金属化镀层应牢固,无脱落现象。3.2铝金属化聚酯薄膜应消除静电。3.3膜卷应符合表1要求。
卷芯内径
膜卷外径
膜卷端面跳动1(见图7)(膜卷外径为150)膜卷端面凸出或凹进B(见图8)(膜卷外径为150)膜卷翘边A(见图9)
膜层位移C
(见图10)
膜宽≤35
膜宽>35
膜卷膜面跳动S(见图11)(膜卷外径为180)接头
膜卷紧度
≥$120
接头应牢固,并应有明显标记;接头厚度不应超过0.10,
短膜长度不小于500ms
接头数不得超过2个
膜卷端面应能承受P(N)=1.5
(N/mm)×膜宽(mm)的重力而
不发生松动
3.4薄膜尺寸
3.4.1薄膜宽度
SJ20149-92
薄膜宽度应根据电容器的实际使用情况由供需双方协商。3.4.2薄膜宽度的允许偏差应符合表2要求。表2
薄膜宽度
35.0~75.0
3.4.3薄膜留边量及允许偏差应符合表3要求。图9
允许偏差
留边盘
SJ20149—92
3.4.4薄膜厚度及允许偏差应符合表4要求。表4
标称厚度,μm
充允许偏差
薄膜物理机械性能及电性能应符合表5的要求。表5
标称厚度
注:?
3.6材料
拉伸强度
(纵)
≥108
≥130
断裂伸长
(纵)
介电强度
≥220
≥270
热收缩率
(纵)
(横)
允许偏差
平均偏差
镀层方阻
除表5规定外,特殊要求由供需双方协商。1.5±0.5
对于边缘加厚的金属化薄膜,其方阻值由供需双方协商。3.6.1基膜材料应能满足本规范的使用要求。3.6.2蒸镀用铝材应使用符合GB8644中规定的精铝锭。4质量保证规定
4.1检验责任
≥6×10
损耗角
正切值
(1kHz)
介电系数
除合同或订单中另有规定外,供方应负责完成本规范规定的所有检验。必要时,需方或级鉴定机构有权对本规范所述的任一检验项目进行检查。4.2合格责任
产品必须符合本规范第3章的所有要求。本规范中所规定的检验应成为供方整个检验体系的一个组成部分。若合同中包括本规范未规定的检验要求,供方还应保证所提交验收的产品符合合同要求。质量一致性抽样不允许提交明知有缺陷的产品,也不能要求需方接收有缺陷的产品。
4.3检验条件
SJ2014992
除另有规定外,所有检验应在下列规定的条件下进行:温
1525℃
4.4检验批
相对湿度
45%~75%
86~106kPa
精洁度
100000级
薄膜检验应以膜卷为计数单位,以同一材料、同一工艺、同一规格,一次提交检验的膜卷数,为一检验批。
4.5检验分类
本规范规定的检验分为:
a.鉴定检验;
b。质量一致性检验。
4.5.1鉴定检验
本检验包括3.1.1~3.5条的规定,检验应在国家批准的或供需双方认可的实验室进行。检验分组、检验项目、性能要求的章条号、检验方法的章条号及抽样方案,按表6规定。在连续生产情况下,鉴定检验每6个月进行一次。但当产品设计、主要材料、工艺等有重大更改或生产设备进行大修后,亦应进行鉴定检验。表6
检验项目
静电消除
膜卷要求
镀层牢固度
拉伸强度
断裂伸长率
热收缩率
镀层方阻
介电强度
介电系数
损耗角正切值
4.5.2质量致性检验
性能要求的章条号检验方法的章条号3.1.1和3.1.2
3.4.1~3.4.4
4.6.3~4.6.5
4.6.6和4.6.7
样品数
合格判定数
每批产品应按GJB179的规定进行逐批检验.检验项目、检验方法和性能要求的章条号及抽样方案按表7规定进行。
验项目
膜卷要求
镀层牢固度
镀层方阻
介电强度
4.6检验方法
4.6.1外观检验
SJ20149-92
检验方法的章条号
4.6.3~4.6.5
在自然光或40W日光灯照明下进行目测。4.6.2膜带消除静电的检验
抽样方案
将膜卷水平悬挂,膜带自由下垂的长度应不小于1.5m。2.5
性能要求的章条号
3.1.1和3.1.2
3.4.1~3.4.3
4.6.3卷芯内径、膜卷外径及膜层位移,用精度为0.02mm的游标卡尺进行测定。4.6.4膜卷端面跳动、端面凸出或凹进、翘边和膜面跳动的测定4.6.4.1测量装置如图12所示,在三块相互垂直的平板组成的测量基准面上,安装一个可以自由转动的转轴。该转轴的靠膜圆盘直径为140mm,转轴应与测量底板平行。靠膜圆盘转动后形成的平面应与安装轴的测量基准面平行。转上采用涨胆式装膜结构。装夹膜卷时应避免由于装夹膜卷而带来的偏心、摆动等现象。在底部基板上装有百分表座,该表座装置应保证百分表在平行于三块测量平板的三维空间自山活动,使用分度值为0.01mm的百分表进行测量。
4.6.4.2膜卷端面跳动的测定
SJ20149-92
将百分表头置于膜卷的端面边缘(如图7所示),然后调整百分表零点,将膜卷慢慢移动一圈,读出转动过程中指示的最大值和最小值,其差即为膜卷端面跳动H。4.6.4.3膜卷端面凸出或凹进的测定将百分表头置于膜卷靠近芯环处(如图8所示),然后调整百分表零点,将百分表沿着轴线的垂直方向向下慢慢移动,读出膜卷直径最大处表头所示的增量即为膜卷端面凸出或凹进B。对于在移动百分表过程中因膜层位移形成的台阶面产生的表头指示最大值不计在内。4.6.4.4膜卷翘边的测定
将百分表置于膜面中间(如图9所示),然后调整百分表零点,将百分表向右侧面移动,读出右边缘处数值,再将百分表向左侧面移动,读出左边缘处数值,两次测贵中的最大值即为膜卷翘边A:
4.6.4.5膜卷膜面跳动的测定
将膜卷夹于测量装置转轴上,将百分表测量头置于膜卷膜面中间处(如图11所示),然后调整百分表零点,慢慢转动膜卷一圈,读出转动时表头所示的最大值和最小值,其差即为膜卷膜面跳动S。
4.6.4.6接头质量
将膜卷装在重卷机上进行倒卷,在倒卷过程中,用适当量具及目视进行检查。4.6.5膜卷紧度的测定
将膜卷放在一环形平板上(如图13所示),用一块重力为P(N)的圆形铁块放在芯环上,膜卷不应发生松动和位移。
P(N)=1.5×膜卷宽度(mm)
4.6.6厚度及其偏差的测定
4.6.6.1测量仪器
厚度测量仪(精度为0.02um)的下测量面应是光滑平整的平面,上测量面应是曲率半径为30~50mm的球面,上测量杆的直径不得小于5mm,两个测量面都应抛光,测头对试样施加的负荷应为25~75Pa。
4.6.6.2测试步骤及结果计算
取长度不小于1000mm的试样,从距蜡头20mm处开始,测量10个点,各测量点的算术平均值,即为薄膜的平均厚度,并按式(1)~(3)分别计算平均厚度偏差、厚度上偏差及厚度下偏差。
平均摩度偏差一平均臣度际标称厚度×100%标称厚度
SJ2014992
厚度上偏差=般大促原款度标称厚度×100%标称厚度
厚度下偏差最小厚度致一标称厚度×100%标称厚度
4.6.7薄膜宽度和留边量的测定按GB6673的规定进行。4.6.8镀层牢固度的测定
4.6.8.1试验用品
粘合强度为2~10N/cm的聚酯胶带。4.6.8.2试样
在膜卷上取长度为1000mm,宽度为薄膜宽度的试样。4.6.8.3试验方法及结果
·(2)
·(3)
将试样平放在有橡皮的平面上,然后用聚酯胶带均匀地粘贴在试样的金屑镀层上。粘贴长度不小于50mm,粘贴时用力应均匀,使聚酯胶带与金属镀层完全贴合。然后将胶带平稳地垂直撕下,观金属镀层是否剥离或脱落。4.6.9拉伸强度和断裂伸长率按JB1499的规定进行测定。4.6.10热收缩率按JB1496的规定进行测定。加热温度为150士3℃,加热时间为2h。4.6.11镀层方阻的测定
4.6.11.1测量仪器及电极
a.精密电阻仪;
b.电极:采用黄铜制成,是一个底部平整且光滑的长方体,测量前应经过表面清洁处理,以保证接触电阻接近于零。长方体的长度应大于被测金属化膜的宽度、面且底部应有大于0.1N/cm的重力。
4.6.11.2测试步骤及结果计算
从一卷膜中取长度约1000mm试验片一张,蒸发金属面向上展开,放置在平整的绝缘胶板上,将一对同形状的电极(固定电极租活动电极)压在金属层上面,与膜的长度方向成直角放置,电极间距离为L,。用直流电桥法或其它适当的方法测量两电极问的电阻r1。然后将活动电极向固定电极方向移动,改变后的极间距离为L,用同样方法测得电阻r2。根据测得的电阻值及电极距离以及金属层宽度b,按式(4)计算金展膜方阻re。re(r-r)x
式中,ro、r和r.单位为Q;
6、L和L单位为cm。
试验中L,和L是实际测得的长度值,该值应以在电极同一侧边缘的测量值为准。4.6.12介电强度的测定
4.6.12.1测试设备及电极
a。击穿试验装置应备有交、直流电源,电压测量误差不超过4%b.上电极是直径为20mm的黄铜球电极;c.下电极是直径为50mm的平板电极。4.6.12.2试样
·(4)
SJ20149—92
沿薄膜纵向取样,试样长度不小于1000mm,宽度为薄膜宽度。4.6.12.3试验步骤及结果计算
将试样置于上、下电极之间,有金属镀层的一面与下电极接触,用连续均匀升压的方法对试样施加直流电压,升压速度为100~800V/s,控制平均击穿时间为10~20s,均匀地分别测定30个点以上,并记录各点的击穿电压。同时按4.6.6条测量薄膜的厚度。试样的介电强度按式(5)进行计算。式中:E一一介电强度,V/um;
V.--平均击穿电压,V;
d一一试样平均厚度,μm。
4.6.13介电系数的测定
按SJ1147的规定进行。电极材料为真空蒸发铝电极。4.6.14CR值的测定
4.6.14.1测试设备及仪器
测试用设备及仪器有卷绕机、烘箱、喷金机、直流电源、高阻计及电桥。4.6.14.2试样制备
(5)
用一对膜卷卷绕5只电容器芯子,使电容量控制在0.25~1uF,在150土3℃的温度下热处理3h,然后在两端金及焊接引线。再按图14及图15所示电路进行第一次及第二次电压处理,第一次电压处理如图14所示。直流电额
图14第一次电压处理电路图
C一试样(被测电容器);C一储能电容器(约10,F),R一放电电阻(约10ka);S一开关第一次电压处理时,使开关S按1、2顺序进行闭合,共进行三次充、放电,在C,上施加的电压为50V/μm。
第二次电压处理如图15所示。
直流电源
图15第二次电压处理电路图
C,一试样(被测电容器);R一充电电阻,共值接R(kO)25(kQ)
计算;S开关
Cx(uF)
第二次电压处理比第一次电压处理高50V,连续施加电压5min。4.6.14.3测试步聚及结果计算
SJ20149-92
除下列规定外,供需双方还可根据实际需要另行商定测试条件。测试条件:膜厚<4um
膜厚>4μm
电压10士1V
电压100±5V
在试样上加直流电压,充电时间为1min,用高阻计测量芯子的绝缘电阻,再将同一试样在1000士100Hz条件下,用电桥法测量其电容量,将测得的绝缘电阻值与其电容值相乘,即为该试样的CR值。以5个试样的CR值的算术平均值作为测量结果。若在测试中薄膜出现偶然的绝缘缺陷,测试值产生剧烈的下降,可以除去5个试样中的最低值。
当测试条件中,温度不是20℃时,其测定值还应乘以表8中的换算系数。表8
温度,℃
换算系数
4.6.15损耗角正切的测定
温度,℃
换算系数
温度,
换算系数
将4.6.14条测试CR值的芯子用交流电桥测试1kHz时的损耗角正切值。以5只芯子的算术平均值作为测定结果。
5交货准备
5.1封存和包装
薄膜应卷绕在硬质管芯上,膜卷之问应用泡沫垫片隔开,并成对地放在装有干燥剂的塑料袋中,排除袋内空气,将袋口封牢,然后放置在包装箱内,膜卷与箱体之问应填充缓冲材料,使膜卷不直接与箱体接触,包装箱应用粘胶带封接。5.2运输和贮存
薄膜可用任何交通工具运输,在运输过程中,应小心轻放,防止机械碰撞和日晒、雨淋。薄膜应保存在清洁、干燥的,温度为一10~35℃,和对湿度不大于80%的库房内,并按标记方向放置。放置处应远离火源、暖气和避免阳光直射。贮存期从生产日期起为六个月。超过贮存期的产品,按本规范检验合格后仍可使用。5.3标志
5.3.1包装箱上应标志出下列内容:a.
产品名称、型号;
生产日期;
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