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- GB/T 4098.5-1983 射频电缆电容稳定性试验方法

【国家标准(GB)】 射频电缆电容稳定性试验方法
本网站 发布时间:
2024-07-13 08:56:56
- GB/T4098.5-1983
- 已作废
标准号:
GB/T 4098.5-1983
标准名称:
射频电缆电容稳定性试验方法
标准类别:
国家标准(GB)
标准状态:
已作废-
实施日期:
1984-12-01 -
作废日期:
2001-06-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
38.61 KB
替代情况:
被GB/T 17737.1-2000代替

部分标准内容:
中华人民共和国国家标准
射频电缆电容稳定性试验方法
Test method of capacltance stabilityfor radio frequency cables
UDC 621.315.2 : 537
.5 : 621.317.3
GB 4098.583
本标准适用于考在柔软和柔软半空汽绝缘射频电缆在温度变化时的电容稳定性。本试验考虑了:(1)于绝缘的塑性流动和外导体的拉伸起的不可逆变化,(2)由丁热膨胀或收缩,以及绝缘电性能的周期性变化所引起的可逆变化。1试样
除另有规定外,试样长度为15米。2试验设备和仪器bzxZ.net
2.1尚温试验箱(室)和低温试验箱(室),应符合GB2423.22一81《电.1电子产品基本环境试验规科!试验N:温度变化试验方法》第3章的规定。2.2测量电容所用的仪器:应符合GB4098.2一83《射频电缆电容和电容不4-衡测量方法》的规。
3试验步骤
3.1在i正常的试验大^气条件下按GB4098.2一83的规定测最试样的电容。3.2把试样卷成直径不小于电缆标称外径30倍的圈束放人试验箱(室)内。3.3放入箱(室)内的试样,按有关标准规定的温度及下列时间要求循环3次,每次循环顺序如下:商温
15~35℃
15 ~ 35 C
4 ~8小时
4~24小时
4~小时
4 ~24小时
暴露在高温或低温叶的间应长至足以使试样达到稳定的温度。4 测量
在每个温度改变终了时都应测鼠试样的电容,试验期间和试验后测得的电容变化均应不超过有关标准的规定值
附加说明,
本标准出中华人民共和国电工业部提出。本标准由电子1业部六九厂等负贵起草。国家标准局1983-12-27发布
1984 12 01实施
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
射频电缆电容稳定性试验方法
Test method of capacltance stabilityfor radio frequency cables
UDC 621.315.2 : 537
.5 : 621.317.3
GB 4098.583
本标准适用于考在柔软和柔软半空汽绝缘射频电缆在温度变化时的电容稳定性。本试验考虑了:(1)于绝缘的塑性流动和外导体的拉伸起的不可逆变化,(2)由丁热膨胀或收缩,以及绝缘电性能的周期性变化所引起的可逆变化。1试样
除另有规定外,试样长度为15米。2试验设备和仪器bzxZ.net
2.1尚温试验箱(室)和低温试验箱(室),应符合GB2423.22一81《电.1电子产品基本环境试验规科!试验N:温度变化试验方法》第3章的规定。2.2测量电容所用的仪器:应符合GB4098.2一83《射频电缆电容和电容不4-衡测量方法》的规。
3试验步骤
3.1在i正常的试验大^气条件下按GB4098.2一83的规定测最试样的电容。3.2把试样卷成直径不小于电缆标称外径30倍的圈束放人试验箱(室)内。3.3放入箱(室)内的试样,按有关标准规定的温度及下列时间要求循环3次,每次循环顺序如下:商温
15~35℃
15 ~ 35 C
4 ~8小时
4~24小时
4~小时
4 ~24小时
暴露在高温或低温叶的间应长至足以使试样达到稳定的温度。4 测量
在每个温度改变终了时都应测鼠试样的电容,试验期间和试验后测得的电容变化均应不超过有关标准的规定值
附加说明,
本标准出中华人民共和国电工业部提出。本标准由电子1业部六九厂等负贵起草。国家标准局1983-12-27发布
1984 12 01实施
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