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【电子行业标准(SJ)】 3CD551、3CD552、3CD651型PNP硅外延平面低频大功率三极管
本网站 发布时间:
2024-07-13 19:00:25
- SJ2378-1983
- 现行
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标准号:
SJ 2378-1983
标准名称:
3CD551、3CD552、3CD651型PNP硅外延平面低频大功率三极管
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1983-08-19 -
实施日期:
1984-03-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
191.65 KB

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标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
SJ 2378-1983 3CD551、3CD552、3CD651型PNP硅外延平面低频大功率三极管 SJ2378-1983

部分标准内容:
中华人民共和国电子工业部部标准3CD551型、3CD552型、3CD651型PNP硅外延平面低频大功率三极管SJ2378—83
1本标准适用于耗散功率为7.5W的3CD551型、3CD552型、3CD651型PNP硅外延平面工艺的低频大功率三极管(以下简称三极管)。三极管除应符合本标准规定外,还应符合SJ614--73《半导体三极管总技术条件》的规定。2本标准采用的参数符号一般符合SJ1400一78《半导体器件参数符号》的规定,并补充如下符号:VcEo(sus)——集电极一发射极(基极开路时)的维持电压;VCER(sus)
一集电极一发射极(基极一发射极接电阻时)的维持电压。3三极管的外形结构和尺寸应符合SJ139一78《半导体三极管外形尺寸》的规定。4三极管的参数应符合本标准8.1和8.2条的要求。其测量方法应符合SJ300~314一72《半导体三极管测试方法》的规定。本标准参数规范表中的电参数除注明外,均以管壳温度Tc为25℃时为准。5环境试验后,三极管的集电极一基极电压VcBO、集电极一发射极电压VcEO、发射极一基极电压VEBO应符合本标准8.1条的规定。其中VcB0、VcEo不许降档,电流放大系数hFE的相对变化应不超过±35%。
6功率试验和高温贮存试验后,三极管应符合本标准8.1和8.2条的规定。集电极一基极电压VcBo、集电极一发射极电压VcEO、发射极一基极电压VEBo应符合要求,其中VcBO、VcEo不许降档,反向电流IcEo不超过规范值的2倍,饱和压降VcE(aat)不超过规范值的1.2倍,电流放大系数hFE的相对变化应不超过±35%。
7生产单位在产品目录(或说明书)中提供以下特性曲线:a.安全工作区(包括直流、脉冲宽度tw为1s、100ms、10ms、1ms等)曲线:b.
热循环特性曲线:
PcM—Tc的关系曲线;
d.hFE一Tc的关系曲线(Tc为-55、25、100℃时);e.IB一VBE的关系曲线
f.Ic一VcE的关系曲线(Tc为25℃时);g.Ic—VBE的关系曲线。
83CD551型、3CD552型、3CD651型PNP硅外延平面低频大功率三极管参数规范见表1、表2。8.1三极管的最大极限值见表1。中华人民共和国电子工业部1983-08-19发布1984-03-01实施
PcM(Tc=25℃)
SJ2378—83
150(金属封装),125(塑料封装)-55~+150(金属封装),-40~+125(塑料封装)注:IcM为hFE=5时的集电极直流电流。8.2三极管的电特性见表2。
计量单位
(Te=100C)
VcEO4n
(Te=-55C)
Veguan
VaEtsa
(f。=10MHz)
1a=15或直流
Rune(金属对装)
Ruasje(塑料封装)
试验条件
测试条件
Vee=0.9Vceo
Te=75℃(金属封装)
Tc=75℃(塑料封装)
Vee=-10V
Ic=-0.45A
Veg=-10V
15~3025~50,
40~80,70~140,120240,
Veg=-20V
Vcg=-20V
注:①B档以上的器件第一个测试点的Vce选在Pca线与Ps/a线的交点处,Vcg×Is/B>Pem。②B档以上的器件第二个测试点的Vce>0.9VcE0,此点不应发生二次击穿。-0.5
Ic=-0.23A
3CD551
F-1型
钢底座、
3CD552
F-1型
铁底座、
3CD651
S-6型下载标准就来标准下载网
塑料封装
2878—83
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
1本标准适用于耗散功率为7.5W的3CD551型、3CD552型、3CD651型PNP硅外延平面工艺的低频大功率三极管(以下简称三极管)。三极管除应符合本标准规定外,还应符合SJ614--73《半导体三极管总技术条件》的规定。2本标准采用的参数符号一般符合SJ1400一78《半导体器件参数符号》的规定,并补充如下符号:VcEo(sus)——集电极一发射极(基极开路时)的维持电压;VCER(sus)
一集电极一发射极(基极一发射极接电阻时)的维持电压。3三极管的外形结构和尺寸应符合SJ139一78《半导体三极管外形尺寸》的规定。4三极管的参数应符合本标准8.1和8.2条的要求。其测量方法应符合SJ300~314一72《半导体三极管测试方法》的规定。本标准参数规范表中的电参数除注明外,均以管壳温度Tc为25℃时为准。5环境试验后,三极管的集电极一基极电压VcBO、集电极一发射极电压VcEO、发射极一基极电压VEBO应符合本标准8.1条的规定。其中VcB0、VcEo不许降档,电流放大系数hFE的相对变化应不超过±35%。
6功率试验和高温贮存试验后,三极管应符合本标准8.1和8.2条的规定。集电极一基极电压VcBo、集电极一发射极电压VcEO、发射极一基极电压VEBo应符合要求,其中VcBO、VcEo不许降档,反向电流IcEo不超过规范值的2倍,饱和压降VcE(aat)不超过规范值的1.2倍,电流放大系数hFE的相对变化应不超过±35%。
7生产单位在产品目录(或说明书)中提供以下特性曲线:a.安全工作区(包括直流、脉冲宽度tw为1s、100ms、10ms、1ms等)曲线:b.
热循环特性曲线:
PcM—Tc的关系曲线;
d.hFE一Tc的关系曲线(Tc为-55、25、100℃时);e.IB一VBE的关系曲线
f.Ic一VcE的关系曲线(Tc为25℃时);g.Ic—VBE的关系曲线。
83CD551型、3CD552型、3CD651型PNP硅外延平面低频大功率三极管参数规范见表1、表2。8.1三极管的最大极限值见表1。中华人民共和国电子工业部1983-08-19发布1984-03-01实施
PcM(Tc=25℃)
SJ2378—83
150(金属封装),125(塑料封装)-55~+150(金属封装),-40~+125(塑料封装)注:IcM为hFE=5时的集电极直流电流。8.2三极管的电特性见表2。
计量单位
(Te=100C)
VcEO4n
(Te=-55C)
Veguan
VaEtsa
(f。=10MHz)
1a=15或直流
Rune(金属对装)
Ruasje(塑料封装)
试验条件
测试条件
Vee=0.9Vceo
Te=75℃(金属封装)
Tc=75℃(塑料封装)
Vee=-10V
Ic=-0.45A
Veg=-10V
15~3025~50,
40~80,70~140,120240,
Veg=-20V
Vcg=-20V
注:①B档以上的器件第一个测试点的Vce选在Pca线与Ps/a线的交点处,Vcg×Is/B>Pem。②B档以上的器件第二个测试点的Vce>0.9VcE0,此点不应发生二次击穿。-0.5
Ic=-0.23A
3CD551
F-1型
钢底座、
3CD552
F-1型
铁底座、
3CD651
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塑料封装
2878—83
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