- 您的位置:
- 标准下载网 >>
- 标准分类 >>
- 电子行业标准(SJ) >>
- SJ 2098-1982 CS41型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

【电子行业标准(SJ)】 CS41型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
本网站 发布时间:
2024-07-13 20:38:24
- SJ2098-1982
- 现行
标准号:
SJ 2098-1982
标准名称:
CS41型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1982-05-15 -
实施日期:
1982-12-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
151.37 KB

部分标准内容:
中华人民共和国电子工业部部标准CS41型N沟道结型场效应
小功率半导体开关三极管
SJ2098-82
1本标准适用于CS41型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管。该产品主要用于电子设备的开关电路中。
2该产品除应符合本标准的规定外,还应符合SJ614--73《半导体三极管总技术条件》的规定3产品的外形结构和尺寸应符合陶瓷环氧封装外型结构和尺寸(见附录A)图的规定。引出线排列顺序为 S、D、G。
4技术要求和试验方法
4.1产品的电参数应符合参数规范表的规定.电参数的测试方法应符合SJ1949~1973一81《场效应半导体管测试方法》及SJ209282《CS35型N沟道结型场效应小功率半导体开关三级管》附录A的规定。4.2各项环境试验后,按顾序测试下列电参数:漏源通态电阻rps(。;
截止漏电流Ip(atn):
栅源截止电压Vcs(011)
截止栅电流IGss;
栅源击穿电压V(BR)GSS。
测试结果:rDs(o)、Ip(ofn)、Ves(ot)的相对变化均不得超过士30%,Iess、V(BR>ess应符合规范值。
4.3短期寿命试验条件
电压:VGs=-10V,VDs=0:
b.温度:125℃;
时间:240小时。
4.4高温贴存试验条件
温度:125℃。
4.5短期寿命试验和高温贮存试验后考核标准为:rps。)、Ip(。1)、Vas(。t的相对变化均不得超过±30%为含格。
4.6本标准参数规范的仲裁条件为:a.环境温度25±1℃:
b.相对湿度:48%~52%:
c.气压:860~1060mbar
5各生产单位应在产品说明书中提供下列特性曲线:a,rps(on)-
b.Tpston)
-l,曲线:
-T。曲线:
T。曲线:
d. Vestoft)
一T.曲线:
e.I,\-VDs曲线
6各生产单位应在产品说明书中提供本单位工艺筛选的项目和条件,中华人民共和国电子工业部1982-05-15发布1
1982-12-01实施
SJ2098—82
A8--(40)S94
0=(0)SPA*A0I-SAAbzxz.net
ZHWI=/
AOT--6DA*O=SAA
8-=524
AOT=SAA
SsS8e)4
SJ2098—82
附录A
陶瓷环氧封装外型结构和尺寸图(补充件)
s中D中
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
小功率半导体开关三极管
SJ2098-82
1本标准适用于CS41型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管。该产品主要用于电子设备的开关电路中。
2该产品除应符合本标准的规定外,还应符合SJ614--73《半导体三极管总技术条件》的规定3产品的外形结构和尺寸应符合陶瓷环氧封装外型结构和尺寸(见附录A)图的规定。引出线排列顺序为 S、D、G。
4技术要求和试验方法
4.1产品的电参数应符合参数规范表的规定.电参数的测试方法应符合SJ1949~1973一81《场效应半导体管测试方法》及SJ209282《CS35型N沟道结型场效应小功率半导体开关三级管》附录A的规定。4.2各项环境试验后,按顾序测试下列电参数:漏源通态电阻rps(。;
截止漏电流Ip(atn):
栅源截止电压Vcs(011)
截止栅电流IGss;
栅源击穿电压V(BR)GSS。
测试结果:rDs(o)、Ip(ofn)、Ves(ot)的相对变化均不得超过士30%,Iess、V(BR>ess应符合规范值。
4.3短期寿命试验条件
电压:VGs=-10V,VDs=0:
b.温度:125℃;
时间:240小时。
4.4高温贴存试验条件
温度:125℃。
4.5短期寿命试验和高温贮存试验后考核标准为:rps。)、Ip(。1)、Vas(。t的相对变化均不得超过±30%为含格。
4.6本标准参数规范的仲裁条件为:a.环境温度25±1℃:
b.相对湿度:48%~52%:
c.气压:860~1060mbar
5各生产单位应在产品说明书中提供下列特性曲线:a,rps(on)-
b.Tpston)
-l,曲线:
-T。曲线:
T。曲线:
d. Vestoft)
一T.曲线:
e.I,\-VDs曲线
6各生产单位应在产品说明书中提供本单位工艺筛选的项目和条件,中华人民共和国电子工业部1982-05-15发布1
1982-12-01实施
SJ2098—82
A8--(40)S94
0=(0)SPA*A0I-SAAbzxz.net
ZHWI=/
AOT--6DA*O=SAA
8-=524
AOT=SAA
SsS8e)4
SJ2098—82
附录A
陶瓷环氧封装外型结构和尺寸图(补充件)
s中D中
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。

标准图片预览:



- 热门标准
- 电子行业标准(SJ)标准计划
- SJ/T11403-2009 通信用激光二极管模块可靠性评定方法
- SJ/T11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
- SJ2242-1982 散热器强制风冷热阻测试方法
- SJ/T11400-2009 半导体光电子器件 小功率半导体发光二极管空白详细规范
- SJ/T11401-2009 半导体发光二极管产品系列型谱
- SJ/T11396-2009 氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片
- SJ/T11397-2009 半导体发光二极管用萤光粉
- SJ20965-2006 光电器件用氧化铍陶瓷载体规范
- SJ/T11410-2009 九针点阵式打印机芯通用规范
- SJ/T11407.1-2009 数字接口内容保护系统技术规范 第1部分:系统结构
- SJ/T11395-2009 半导体照明术语
- SJ/T11398-2009 功率半导体发光二极管芯片技术规范
- SJ/T11402-2009 光纤通信用半导体激光器芯片技术规范
- SJ/T10631-1995 工艺文件的编号
- SJ51919/5-2002 JGL30-2.5-01型舰用两芯多模光缆连接器详细规范
请牢记:“bzxz.net”即是“标准下载”四个汉字汉语拼音首字母与国际顶级域名“.net”的组合。 ©2009 标准下载网 www.bzxz.net 本站邮件:[email protected]
网站备案号:湘ICP备2023016450号-1
网站备案号:湘ICP备2023016450号-1