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【电子行业标准(SJ)】 CS41型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

本网站 发布时间: 2024-07-13 20:38:24
  • SJ2098-1982
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    SJ 2098-1982

  • 标准名称:

    CS41型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

  • 标准类别:

    电子行业标准(SJ)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1982-05-15
  • 实施日期:

    1982-12-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    151.37 KB

标准分类号

关联标准

  • 采标情况:

    MIL-S-19500 NEQ

出版信息

  • 页数:

    2页
  • 标准价格:

    8.0 元

其他信息

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SJ 2098-1982 CS41型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ2098-1982

标准内容标准内容

部分标准内容:

中华人民共和国电子工业部部标准CS41型N沟道结型场效应
小功率半导体开关三极管
SJ2098-82
1本标准适用于CS41型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管。该产品主要用于电子设备的开关电路中。
2该产品除应符合本标准的规定外,还应符合SJ614--73《半导体三极管总技术条件》的规定3产品的外形结构和尺寸应符合陶瓷环氧封装外型结构和尺寸(见附录A)图的规定。引出线排列顺序为 S、D、G。
4技术要求和试验方法
4.1产品的电参数应符合参数规范表的规定.电参数的测试方法应符合SJ1949~1973一81《场效应半导体管测试方法》及SJ209282《CS35型N沟道结型场效应小功率半导体开关三级管》附录A的规定。4.2各项环境试验后,按顾序测试下列电参数:漏源通态电阻rps(。;
截止漏电流Ip(atn):
栅源截止电压Vcs(011)
截止栅电流IGss;
栅源击穿电压V(BR)GSS。
测试结果:rDs(o)、Ip(ofn)、Ves(ot)的相对变化均不得超过士30%,Iess、V(BR>ess应符合规范值。
4.3短期寿命试验条件
电压:VGs=-10V,VDs=0:
b.温度:125℃;
时间:240小时。
4.4高温贴存试验条件
温度:125℃。
4.5短期寿命试验和高温贮存试验后考核标准为:rps。)、Ip(。1)、Vas(。t的相对变化均不得超过±30%为含格。
4.6本标准参数规范的仲裁条件为:a.环境温度25±1℃:
b.相对湿度:48%~52%:
c.气压:860~1060mbar
5各生产单位应在产品说明书中提供下列特性曲线:a,rps(on)-
b.Tpston)
-l,曲线:
-T。曲线:
T。曲线:
d. Vestoft)
一T.曲线:
e.I,\-VDs曲线
6各生产单位应在产品说明书中提供本单位工艺筛选的项目和条件,中华人民共和国电子工业部1982-05-15发布1
1982-12-01实施
SJ2098—82
A8--(40)S94
0=(0)SPA*A0I-SAAbzxz.net
ZHWI=/
AOT--6DA*O=SAA
8-=524
AOT=SAA
SsS8e)4
SJ2098—82
附录A
陶瓷环氧封装外型结构和尺寸图(补充件)
s中D中
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