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- SJ/T 10588.16-1994 DB-444型电子玻璃技术数据
标准号:
SJ/T 10588.16-1994
标准名称:
DB-444型电子玻璃技术数据
标准类别:
电子行业标准(SJ)
英文名称:
Technical data of Type DB-444 electronic glass标准状态:
已作废-
发布日期:
1994-08-08 -
实施日期:
1994-12-01 -
作废日期:
2008-01-20 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
62.36 KB
替代情况:
被SJ/T 11369-2007代替

部分标准内容:
中华人民共和国电子行业标准
DB-444型电子玻璃技术数据
Technical data of typeDB-444 electronic glass主想内客与适用范围
本标准规定了DB-444型电子玻璃的化学组成和理化性能指标。本标准适用于彩色显像管玻屏所用玻璃材料。2引用标准
GB9000
GB9622
电子玻璃化学分析标准方法
电子玻璃理化特性试验方法
彩色显像管玻璃物理特性测试方法GB9474.2~.3
GB/T14012
3技术要求
彩色显像管玻璃中氧化铈的分析黑白显像管玻壳总规范
化学组成见表1。
化学组成
重量百分比
60.50±1.0
2.00±0.10
1.10±0.05
0.30±0.05
8.20±0.15
8.85±0.15
7.60±0.15
7.70±0.15
2.50±0.10
0.45±0.05
0.35±0.05
中华人民共和国电子工业部1994-08-08批准SJ/T10588.16-94
检验方法
GB9000.11
GB9000.10
GB9000.15
GB9000.14
1994-12-01实施
化学组成
SJ/T10588.16-94
续表1
重量百分比
注:1)Fe;O,作为杂质控制,不计入百分组成。3.2理化性能指标见表2。bZxz.net
指标名称
0~300℃范围内的平均线热膨胀系数。密度
软化点
退火点
应变点
光透射比(T5(%)
350℃时的体积电阻率lgp
X射线吸收系数(0.06nm.20.6KeV色品坐标(中心值)
检验方法
GB9000.12
GB9000.14
(98.2±0.7)×10-1
2.785±0.005
706±3
521±5
477±5
检验方法
GB9622.821
GB/T14012
第4.5.4条
注:2)其中第4.5和第4.6条合并,按如下规定进行:测量从起点,在300℃保温10min,开始测量,继续升高炉温度,每升高10℃进行次测量,直到390℃结束测量。附加说明:
本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准由四四零零厂、电子工业部标准化研究所负责起草。本标推主要起草人:李广会、段梓发、刘承钧、白义祥、2
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
DB-444型电子玻璃技术数据
Technical data of typeDB-444 electronic glass主想内客与适用范围
本标准规定了DB-444型电子玻璃的化学组成和理化性能指标。本标准适用于彩色显像管玻屏所用玻璃材料。2引用标准
GB9000
GB9622
电子玻璃化学分析标准方法
电子玻璃理化特性试验方法
彩色显像管玻璃物理特性测试方法GB9474.2~.3
GB/T14012
3技术要求
彩色显像管玻璃中氧化铈的分析黑白显像管玻壳总规范
化学组成见表1。
化学组成
重量百分比
60.50±1.0
2.00±0.10
1.10±0.05
0.30±0.05
8.20±0.15
8.85±0.15
7.60±0.15
7.70±0.15
2.50±0.10
0.45±0.05
0.35±0.05
中华人民共和国电子工业部1994-08-08批准SJ/T10588.16-94
检验方法
GB9000.11
GB9000.10
GB9000.15
GB9000.14
1994-12-01实施
化学组成
SJ/T10588.16-94
续表1
重量百分比
注:1)Fe;O,作为杂质控制,不计入百分组成。3.2理化性能指标见表2。bZxz.net
指标名称
0~300℃范围内的平均线热膨胀系数。密度
软化点
退火点
应变点
光透射比(T5(%)
350℃时的体积电阻率lgp
X射线吸收系数(0.06nm.20.6KeV色品坐标(中心值)
检验方法
GB9000.12
GB9000.14
(98.2±0.7)×10-1
2.785±0.005
706±3
521±5
477±5
检验方法
GB9622.821
GB/T14012
第4.5.4条
注:2)其中第4.5和第4.6条合并,按如下规定进行:测量从起点,在300℃保温10min,开始测量,继续升高炉温度,每升高10℃进行次测量,直到390℃结束测量。附加说明:
本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准由四四零零厂、电子工业部标准化研究所负责起草。本标推主要起草人:李广会、段梓发、刘承钧、白义祥、2
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