【国家标准(GB)】 电容器用聚丙烯薄膜

中华人民共和国国家标准
电容器用聚丙烯薄膜
Potypropylene film for capacitors1 主题内容与适用范围
GB/T 12802-1996
代替GR12812：91
本标准规定了电容器用双轴定向聚丙烯薄膜的产品分类，技术要求、试验方法，检验规则，标志、包装，运输和忙存。
本标准适用于等规聚内烯树脂熔融挤出，经管膜法或平膜法双轴定向制得的聚丙烯薄膜（以下简称“蒋膜”)。
2引用标准
GB103386塑料密度和柑对密度试验方法GB24110—80透明塑料避光率和雾度试验方法GB2828：87逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查）GB/T13541—92电气用塑料薄膜试验方法GB13542—92电气用塑料薄膜定义及一般要求3产品分类
根据薄膜成型加工方法及用途，将产品按表1要求进行分类，表１产品分类
光面膜
单面粗化膜
双面粗化膜
电处理光面膜
电晕处理粗化膜
注：内侧中晕处理附加字理 A,外侧电晕处理附如字母 B。成型方法
管膜法或型
平膜法成型
管膜法皮型
平膜法成型
管膜法成型
平膜法成型
管膜法威型
平膜法戚型
管膜法成型
平膜法戍型
产品代号举例：MP.A表示平膜法成型，内侧电晕处理，光面膜。国家技术监督局1996-05-20批准第
主要用于膜、纸复合介质电容器主要用于膜、纸复合介质电容器或全膜介质电容器
主要用于全膜介质电容器，也可用干膜,纸复合介质电容器
主要用于金属化膜电容器
主要用于金属化膜,纸复合介质
电容器或全膜介质电穿器
1997-01-01实施
4技术要求
4.1外观
GB/T12802-1996
薄膜应表面光洁，无折皱、裂纹，气泡、颗粒、外来杂质等缺陷.薄膜应紧密卷绕，不应出现脱简现象，并且卷绕均匀一致。
4.2尺寸
4.2.1厚度与厚度允许偏差
4.2.1.1薄膜标称厚度为4.0,5.0,6.0,7.0.8.0,9.0,10.0,12.0,15,0.18.0,20.0,22.0及25.0μm。其他规格由供需双方协商确定。4.2.1.2游膜厚度允许偏差应符合表2规定。表 2厚度允许偏差
标称厚度
4. 0 li. 0
>6.0~-12.0
>12. 0~ 25. t
批平均值
4.2.2宽度与宽度允许偏差
6011+6014
充许谢差,%
6012.6013.6015
批个别值
批平均值
批个别值
薄膜宽度规挤由供需双方协商确定。薄膜宽度允许偏差及膜卷端部串膜高度应符合表3规定。表3宽度允许偏差
50~150
>150～300
4.2.3长度或卷外径及接头数
觉度允许痛差
膜卷端部中膜高度
薄膜长度或卷外径由供需双方协商确定.每卷接头处应有明显标志。当薄膜宽度大于50mm时，每卷接头数及最短长度应符合表4规定。管芯内径推荐为76，152mm。表4接头数及最短长度
标称厚度
12. 0~ 25. 0
4.3性能指标
接头数，个
誉外径250mm及以下
卷外径 25l) nmrm 以 上
薄模物理、机械及介电性能应符合表5～表10的规定5试验方法
5.1取样、预处理条件和试验条件按GB/T13541中第3章有关规定进行。5.2外
外观检查应在白然光或40W口光灯条件下目测利手感，最短长度
拉伸燥度
断裂伸长率
收缩率
介电强度
介质损耗因数
23+2℃
相对介电常数
23±2℃
体积电融率
GB/T12802-1996
表5性能指标
元件法
50点电极法
4B--62 ILz
48~ 62 Hz
电弱点
空隙率
表面粗糙度R
卷统性宽度
150 tam
凝润张力
4. 0~-8.0 μm
>8. 0 μm
注，①密度仗适用卡厚度12.0m及以上的薄膜②表面粗糙度与独度由供需效方协商选定。MPa
指标值
0. 905+0. 005
165175
≥140
见表6
见表7
≥1.0×10
≤3.0X10-1
2. 2± 0. 2
见表8
见表9
见表10
0. 25 ~ 0. 65
表6直流介电强度（元件法）
标称度
2≥270
6011.6014
21个结果中允许有1个低于规定值40
≥100
6012,6013,6015
21个结果中允许有1个低于规定值40
标称厚度
标称厚度
4.0,5.0.6.0.7.0
8. 0,9. 0,30. 0
18.0,20. 0
22.0,25,0
GB/T12802—1996
续表6
G011.6014
21 个结渠充许有1 个低于规定值200
表7直流介电强度（50点电法）
6011.6014
平均道
标称厚度pun
标称厚度，um
>12.0~25.0
标称厚度μm
>15. 0~- 25. 0
5.3厚度
平均值
按GB/T13541中第4.1条进行
最低值
表8电弱点
表９空隙率
表10度
平均值
6012.6013.6015
21 个结果中允许有 1 个低上规定值180
f012.6013.6015
平均悔
指标值，个/m
最高值
晟低值
最低值
最低位
5.3.1每批薄膜独取5%～8%的膜卷做为试样，按以下规定对膜卷厚度进行测量。a。6011.6011薄膜按GB/T 13541中第4.1.1条进行。b
6012、6013,6015薄膜按GB/T13541中第4.1.2条进行。5.3.2每批薄膜厚度平均值与允许偏差的计算按以下定进行。5.3.2.1试样巾每个膜卷厚度测试中值的算术平均值即为该批薄膜的厚度平均值，精确到0.1μm。该批薄膜厚度平均偏差百分率按(1)式计算。5. 3. 2. 2
GB/T12802—1996
式中：—批薄膜厚度平均偏差百分率%，批薄膜的厚度平均值m
d--薄膜的标称厚度,m。
5.3.3每批薄膜厚度个别值与允许偏差的计算按以下规定进行。5.3.3. 1将膜卷厚度测试中值从小到大依饮排列,找出的最大值最小值即为批个别值,精确到0.1
5.3.3.2批个别值偏差百分率按(2)、(3)式计算Ad mau
一批个别值上偏差白分率牵,%；式中：dmx
批个别值下偏差亡分率,%；
d批测试中值的最人值,m;
d批测试中值的最小值，um
一薄膜标称厚度,μm。
5.4宽度
按GB/13541第6章有关规定进行。膜卷端部串膜高度用精度0.5mm的直尺或游标下尺测量。5.5长度,卷外径及接头数
5.5.1薄膜长度由自动记米器测定。5.5.2薄膜卷外径用精度0.5mm的直尺或游标卡尺测量。5. 5. 3接头数的判定,由目测记数。5.6密度
按GB1033方法C规定进行，溶剂为甲醇加水或乙醇加水。试样悬浮在液体中部为判断终点。5.7熔点
按GB/T13541第8章规定进行。
5.8拉伸强度与断裂伸长率
按GB/T 13541第11章有关规定进行,拉伸速度为100 mm/min、夹具间距为100士1.0 tml,计算夹具间断裂伸长率。
5.9收缩率
按GB/T 13541第22竞见定进行。烘烯温度120±2Y,烘培时间 10 min。5.10介电强度
5.10.1 元件法介电强度按 GB/T 13511第 18.2条进行,厚度的测量按本标准第5.3.1条有关规定进行。测试21点。将低于指标值的试样打开观察，试样击穿点在最内两层中的击穿值无效，同时补充相同数量的试样逊行測试。报告21个测试值的中值及舍撑：个最低值后的最低值。5.10-250点电极法古流介电强度按以下规定进行。5.10.2.1 试样
取不小于450mm×650mm长方形试样两张，当宽度小于450m时，可取若干张，以保证能做50个击穿点。试样要保持清洁、平整、无折辙、无损伤。5.10-2.2电极
GB/T12802-1996
上电极为直径25mm，倒角半径为2.5mm，高度120mm的黄铜柱形电极，1.作面粗.糙度R，小T1. 25 μm。
在平台上铺张厚约3mm的橡皮，其氏A硬度为60～70度，在橡皮上铺：张退火铅箔作为下电极。
保证电极工作面平整光滑、无伤痕。5.10.2.3击穿装置
高压试验变电器的穿量应保证次级额定电流不小于0.1A。育流电源的电压脉动系数不应超过5%，保护电阻为0.2~0.5Q/V。调压器应能均匀调节电压。过电流继电器应有足够的灵敏度、保证试样击穿时作0.1s内切断电源。动作电流应选择适当值，避免发生击穿后不动作或未击穿而产生误动作。电压测量误差不超过4%。
5.10.2.4试验步骤
任何厚度规格，均采用单层测试。将试样置于下电极上，采用连续升压法，其升压速度为0.2~1.0kV/s。均勾等距离测量50点，读取试样击穿电压值。厚度按木标准的第5.3.1条进行测量。5.10.2.5试验结果
在50点击穿测定值中分别去掉最大值，最小值各5点，计算其余40点的算术平均值并找出最小值，将击穿电压平均值和最小值除以试样厚度，即为该批薄膜介电强度的平均值和最低值.精确到个位。5.10.3介电强度的出广检验及用户的验收试验可采用5.10.2条进行，型式检验及有争议时的仲裁试验采用5.10.1条进行，也可按供需双方签订的商业合同行。5.11体积电阻率
按GB/T13541中第16章规定进行，采用方法1时测量电乐不大于250V，试样数量3个，有争议时采用方法2模型电容器法进行钟裁试验。电化时间2min。5.12介质损耗凶数与相对介电带数按GB/T13541中第17章规定进行，采用方法1时测量电压不大于250V，试样数量3个，有争议时来用方法2模型电容器法仲裁。48～62Hz及1.0kHz任选其进行测试，5.13电弱点
推荐按GB/T13541第19.3或19.1条进行，受试间积至少5tl*或由供需双协商确定，测试电压200V/μm。
5.14空隙率
按GB/T13511第34章有关规定进行，试验结果用平均值表示。5.15浊度
浊度按以下规定进行。亦可按GB2410有关规定进行。5.15.1测试原理
薄膜相化后形成微小凹凸不平的表面受光照射时产生散射和漫反射·凹凸得越多则散射光也就越多，通过测量薄膜受光时人射光和散射光的比例，按公式换算山薄膜表面粗化程度。浊度(%) = 爵× 100
产入射光
5.15.2试样
沿薄膜横向取50～60mm宽薄膜试样条（膜卷的冤度即为试样的长度）5.15.3试验设备
推荐使用NDH 20D型浊度计或性能相似的其他装置。5.15.4试验步骤
在长度方向间隔约100mm均勾测定，将试样粗化面对着光源并靠近受光器位置，读取度值。5. 15. 5试验结果
..comGB/T 128021996
取各试样测量值的节术平均值的平均值为试验结果.同时报告最小值（精确到个位数）5.16表面粗糙度
表面粗糙度按以下规定进行。
5.16.1测试原理
薄膜经粗化后，形成微小的旧凸不的表面、利用仪器的触针或探头)在薄膜表面上移动，从而测出薄膜的平均粗糙度R，。Www.bzxZ.net
5.16.2试验仪器和用品
a、能满足薄膜试样的平均粗糙度测试范围及精度要求的表面粗糙度测试仪器均可使用，仪器误差个大下±10%，
b、肉嗣少许及端部包有脱脂花的棉签。5.16.3试样
从样品上纵、横向各取3块试样，其尺寸以能完全覆盖与仪器配套的测试小平面为准。试样表面必须洁净，无损伤、折皱，
5.16.4试验步骤
用棉签蘸上丙酮清洗仪器的测试平面。将试样放在仪器的测试平面上，试样要完全贴紧平面，无气泡存在。试样的被测面朝向测试触针，读出3块试样纵、横各向6个R，的数值。5.16.5结果的计算与表示
薄膜的表面粗糙度以3个试样的6 个R。的算术平均值表示，单位为微米。5.17卷绕性
按GB/T13511第7.3条方法2进行。5.18湿润张力
按GB/T13541第10章有关规定逃行，6检验规则
以相同材料围·上艺条件连续生产的同，规格成品为一批。管膜法生产每批最多不超过5L。平膜法生产每批最多不超过201。
6.2出厂检验
每批产品均应进行出厂检验。出厂检验项日为本标准第4.1.4.2及4.3条和表5中3、4,5、6,1011.12或13 项。
6. 3.型式检验
型式检验每个片至少逊行次，当薄膜的原材料或工艺条件改变时，亦须做型式检验，型式检验项甘为本标据技术指标的全部项目。6.4取样规定
a.第4.1,4.2.2及4.2.3条逐卷检验。b、第4.2. 1条及表5中11、12项按5%抽取试推后对排个试样逐卷检查。c.表5中1～10及13、14、15各项每批任取一卷进行试验。d.对膜卷宽度为200mm及以1:规格的产品，同出厂批量按分划顺序，每人膜卷在不同行列中任取两个试样。
6.5判断规划
6.5.1平膜法生产的判断规购
试验结果巾江何·项性能不合格时，应在另外两个膜卷上取试样重复试验，若两个试样前合格时，该批薄膜为合格品并剔除不合格膜卷；若仍然有-个试样不合格时，则该批薄膜为不合格品：6.5.2管膜法生产的判断规则
GB/T12802—1996
试验项目中任一项性能不合格时：应在不合格膜卷同一纵向列的其他膜卷中任意取两个试样，重复该项性能的试验。试验结果合格时，剔除不合格膜卷；如再有一个试样不合格时，剔除该纵向列所有的膜卷，同时在同一·人膜卷另两列膜卷各取一个试样再进行试验，若都合格，其他列为合格，荐再有一个不合格，则该大膜卷所分切的膜卷均为不合格品。6.6用户验收试验
使用单位可按本标推规定的全部或部分项日进行验收，抽样数最应为一次进厂薄膜总量的5%，不足100膜卷的抽样数应不少于5卷，判断规则按第6.5条进行。6.7钟裁试验
6.7.1当供需双方对产品质显发生异议时，由供需双方商定复检，复检方法按GB2828一次抛样亦法。其中检查水平采用水半Ⅱ。合格质量水平(AQL)值为：B类不合格品，AQL.值为1.0rC类不合格品：AQL联值为4.06.7.2B类不合格是指单位产品的物理机械放介电性能不符合规定。C类不合格是指单位产品尺寸规格、外观及卷绕性能不符合规定。6.8其他应符合GB13542有关规定。7标志、包装、运输、贮存
7.1膜卷的电处理，粗化面应有明显标志；膜卷内及包装外应分别有合格证及注册商标、标志，其内容应符合GB13542第7.2条规定。7.2 产品白出厂之日起贮存期为一年。7.3其余应符合GB13542有关规定。附加说明：
本标由全国绝缘材料标准化技术委员会提出。本标准山机械工业部桂林电器科学研究所归口。本标润由东方绝缘材料厂、桂林电器科学研究所、桂林电力电容器总厂、广东新会电容薄膜厂等单位联合起草。
本标准主要起肯人：侯明,齐霄萤、翟巍、李兆林、柯庆毅。
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