【国家标准(GB)】 信息技术 自动识别与数据采集技术条码符号印制质量的检验

ICS35.040
中华人民共和国国家标准　
GB/T14258—2003
代替GB/T14258—1993
信息技术
自动识别与数据采集技术
条码符号印制质量的检验
Information technologyAutomatic identification and data capture techniques-Verification of print quality of bar code symbols(ISO/IEC 15416:2000,Information technology—Automatic identificationand data capture techniques--Bar code print quality test specification-Linear symbols,MOD)
2003-11-24发布
中华人民共和国
国家质量监督检验检疫总局
2004-08-01实施
GB/T14258-2003
规范性引用文件
术语和定义
检验条件
4.1环境条件
4.2检测设备
4.3被检样品
5检测项目…
5.1条码符号的质量等级
5.2扫描反射率曲线的评价参数
5.3条码符号标准、应用标准或规范规定对条码符号整体的附加要求6
检测方法
一般要求
6.2扫描测量
6.3扫描反射率曲线的评价参数
7符号等级…
7.1扫描反射率曲线等级的确定
7.2符号等级的确定·
7.3符号等级的表示方法
扫描反射率曲线各单项评价参数的综合….….7.4
附录A（资料性附录）
附录B（资料性附录）
附录C（资料性附录）
附录D（资料性附录）
附录E(资料性附录）
附录F（规范性附录）
附录G（资料性附录）
附录H（资料性附录）
附录「（资料性附录）
附录」（资料性附录）
附录K（资料性附录）
附录I.（资料性附录）
本标准章条标号与ISO/IEC15416：2000章条编号对照本标准与ISO/1EC15416：2000的技术性差异及其原因光波长选择指南·
印刷载体特性·
如何考虑对每一个符号扫描的次数可译码度的计算
过程控制要求
扫描反射率曲线及曲线等级的解释条码符号质量分级实例
符号等级确定流程图
检验报告格式
和传统检验方法的比较
GB/T14258—2003
本标准修改采用ISO/IEC15416：2000《信息技术——自动识别与数据采集技术——条码符号印制质量检验规范——线性符号》（Information technology一Automatic identification and data capturetechniques-Bar codeprint qualitytest specifications—-Linear symbols)。为了增进本标准的科学性和可操作性，本标准在采用ISO/IEC15416时对原标准的内容作了一定的修改。在附录A列出了本标准章条编号与ISO/IEC15416章条缩号的对照一览表，在附录B中给出了主要的技术差异及其原因的一览表，以供参考。本标准代替GB/T14258—1993《条码符号印制质量的检验》，延用GB/T14258—1993的标准名称。本标准与GB/T14258一1993相比主要变化如下；-采用扫描反射率曲线分析法和条码符号质量分级法取代了传统的检测条/空尺寸偏差和条/空反射率的方法，对条码符号的印制质量进行评价；-用“缺陷度”取代了“外观”检测项目；用“最低反射率”、“符号反差”“最小边缘反差”和“调制比”取代了“条/空反射率”和“印刷对比度”检测项目；
用“可译码度”取代了“条/空尺寸偏差”检测项目；取消了“条高”、“数字、字母尺寸”、“校验码”、“放大系数”、“印刷厚度”和“印刷位置”检测项目；增加了“条码符号标准、应用标准或规范对扫描反射率曲线的附加要求”检测项目；增加了“条码符号标准、应用标准或规范规定对条码符号整体的附加要求”检测项目；衣“被检样品”一条中，增加了“被检条码符号的状态应尽可能和被检条码符号的扫描识读状态一致。”的说明。
本标准的附录F为规范性附录，其他附录为资料性附录。本标准由中国物品编码中心提出并归口。本标准起草单位：中国物品编码中心。本标准生要起草人：罗秋科、刘伟、熊立勇、黄燕滨、吴海连、丁炜。本标准于1993年首次发布，这是第一次修订。1范围
信息技术自动识别与数据采集技术条码符号印制质量的检验
本标准规定了一维条码符号印制质量的检验方法。GB/T14258—2003
本标准适用于印制的一维条码符号的质量检验。具体应用领域有专用条码符号检验国家标准时，应按其检验标准进行检验。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T12905条码术语
IS07724-2：1984颜料和上光——色度学——第2部分：颜色测量3术语和定义
GB/T12905中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。3.1
条bar
在扫描反射率曲线(3.16)中，低于整体阐值(3.8)的暗单元。3.2
条反射率barreflectance
在扫描反射率曲线(3.16)中，某一条(3.1)单元内最低的反射率。3.3
可译码度decodability
条码符号与标准译码算法有关的各个单元或单元组合尺寸的可用容差中，未被印制偏差占用的部分与该单元或单元组合尺寸的可用容差之比的最小值。3.4
符号反差
symbolcontrast
扫描反射率曲线(3.16)的最高反射率与最低反射率之差。3.5
边缘反差edgecontrast
相邻单元空(包括空白区)反射率(3.19)与条反射率(3.2)之差。3.6
单元反射率非均匀度elementreflectancenon-uniformity扫描反射率曲线（3.16)上，一个单元（包括空白区内)中的最高峰反射率与最低谷反射率之差。3.7
缺陷度defects
最大单元反射率非均匀度与符号反差的比。1
GB/T14258—2003
整体值globalthreshold
等于最高反射率与最低反射率之和的二分之一的反射率界限值，用于在扫描反射率曲线（3.16)上区分条(3.1)、空(3.18)单元。
光泽度
表面对入射光的镜面反射程度。3.10
检测带inspectionband
测量条码符号的区域，一般为从条码符号高度的10%到90%的区域（见图2)。3.11
measuringaperture
测盘孔径
测量仪器中确定被测条码符号采样区域的有效开口。3.12
调制比modulation
最小边缘反差和符号反差的比。3.13
(n，k)条码符号（n，k）symbology每个符号字符的宽度为n个模块，且每个字符由个条(3.1)、空(3.18)对搭配组成的一类条码符号。
峰peak
扫描反射率曲线(3.16)上反射率相对高的点。其两侧点的反射率比该点的反射率低。3.15
采样区域samplearea
测量仪器视场中被测条码符号的有效区域。3.16
扫描反射率曲线scanreflectanceprofile沿扫描路径(3.17)，反射率随线性距离变化的关系曲线。3.17
扫描路径scanpath
测量仪器视场的中心移过条码符号所经过的路线。3.18
在扫描反射率曲线(3.16)中，高于整体阅值(3.8)的亮单元。3.19
space reflectance
空反射率
在扫描反射率曲线(3.16)中，某一空(3.19)单元内最高的反射率。3.20
两种单元宽度条码符号
号two-widthsymbology
只有窄、宽两种宽度的单元组成字符的条码符号，这两种单元的宽度互相保持一个恒定的比率。2
Fvalley
GB/T14258—2003
扫描反射率曲线(3.16)上反射率相对低的点。其两侧点的反射率比该点的反射率高。3.22
条码符号综合特性
条码符号译码正确性、光学特性和可译码度的总和。3.23
X尺寸
条码符号窄单元的标称尺寸。
Z尺寸
条码符号窄单元实际尺寸的平均值。4检验条件
4.1环境条件
检验室温度20℃土5℃，相对湿度35%～65%。4.2检测设备
4.2.1综合特性测量仪器
综合特性测量仪器应具有测量条码符号反射率、给出扫描反射率曲线的图形或根据对扫描反射率曲线的分析给出条码符号综合特性数据的能力。测量采用单色光。测量光波长、测量孔径和测量光路应分别符合4.2.1.1、4.2.1.2和4.2.1.3的规定。4.2.1.1测量光波长
测量光的峰值波长应在条码应用标准中指定。如果应用标准没有指定，测量光波长应接近于应用中扫描使用的波长。波长的选择方法参见附录C。4.2.1.2测量孔径
测量孔径的标称直径应出应用中被测条码适用的有关标准或规范来指定。如果该适用的标准或规范没有给出测景孔径的直径，应根据表1选择测量孔径。表1测量孔径直径的选择
X尺寸/mm
0.100≤X<0.180
0.180≤X<0.330
0.330≤X<0.635
测量孔径的直径/mm
注1：孔径参考号是接近测量孔径以千分之一英寸为单位的长度数值。参考号
注2：如果在应用中存在一系列的X尺寸，所有的测量应该使用和最小X尺寸相匹配的孔径。注3：如果不知道X尺寸，应该用2尺寸替代。4.2.1.3测量光路
测量光路见图1。人射光路的光轴应与测量表面法线成45°，并处于一个与测量表面垂直，与条码符号的条平行的平面内。反射光采集光路的光轴应与测量表面垂直，反射光的采集应该在一个顶角为15°、中心轴垂直于测量表面且通过测量采样区中心的锥形范围内。3
GB/T14258--2003
一光传感器，
2放大率为1：1时测孔径(距离A=距离B)；3----光栏：
4待测样品；
5——光源。
图1参考光路结构示意图
4.2.1.4反射率基准
反射率值应该以百分比的形式表示。反射率的基准是满足ISO7724标准要求的硫酸钡（BaSO,）标样或氧化镁（MgO)标样，这种标样的反射率被认为是100%。也可以用经过获国家认可的标准实验室校准并出具证书的反射板作为反射率基准。在此校准中，照明光的入射角为45°，接受角度垂直于物品表面，接受光信号为漫反射光。4.3被检样品
在检测时，被检条码符号的状态应尽可能和被检条码符号的扫描识读状态一致。对不能以实物包装形态被检测的实物包装样品，以及标签、标纸、包装材料上的条码符号样品，应进行适当处理，使样品平整、大小适合于检测，且条码符号四周保留足够的尺寸。对于不透明度小于0.85的印刷载体，测量条码符号时应在符号底部衬上反射率小于5%的暗平面。参见附录D。5检测项目
5.1条码符号的质置等级
5.2扫描反射率曲线的评价参数
5.2.1译码正确性
5.2.2最低反射率
5.2.3符号反差
5.2.4最小边缘反差
5.2.5调制比
5.2.6缺陷度
可译码度
5.2.8空白区
5.2.9条码符号标准、应用标准或规范对扫描反射率曲线的附加要求5.3条码符号标准、应用标准或规范规定对条码符号整体的附加要求6检测方法
6.1一般要求
6.1.1检测带
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检测带是穿过条码符号、与条码符号高度方向垂直的区域，该区域的最下边与条码符号的条的底部之间的距离和该区域的最上边与条码符号的条的顶部之间的距离相等，其值取条码字符条高的10%、测量孔径的直径这两个值中的较大者。检测带在宽度方向上应包括条码符号的空白区（见图2）。2
检测带(通常为平均条高的80%)：-条码字符条底部边线以上、条高的90%处；3——条码字符条底部边线以上、条高的10%处；4空白区；
5—扫描路径；
平均条码字符条底部边线。
图2检测带
6.1.2扫描测量次数
考虑到不同条高位置符号性能出现差异的情况，需要在6.1.1所规定的检测带内的不同高度位置上对条码符号进行多次扫描，这些扫描应选取合适的测量孔径和光源，扫过包含空白区在内的整个符号宽度。这些扫描线在检测带高度方向上应基本上保持等距。对每一个符号的最少扫描次数是10、检测带高度除以测量孔径所得的商(取整数部分)这两个数值中的较小者。关于扫描次数请参见附录E。6.2扫描测量
根据本标准，评价条码符号质量的设备应该具备测量和分析印刷载体上条码符号漫反射率变化的能力。测量时采用多个路径进行扫描，扫描路径应该限定在6.1.1中规定的检测带内，并覆盖条码符号宽度方向上包括空白区在内的整个区域。5
GB/T14258—2003
图3为检测时得到的扫描反射率曲线。图中，垂直轴代表反射率，水平轴代表长度方向上的位置。高反射率的区域是空，低反射率的区域是条。在两边的高反射率区域分别是左、右空白区。扫描反射率曲线的重要特征可以通过手工的图形分析或者自动化的数值分析确定。例如，图3中扫描反射率曲线反射率的最高点大约为82%。最低点大约为10%。扫描反射率曲线是扫描条码符号时反射率和线性位置的对应关系图。如果扫描速度不恒定，测量仪器在绘制扫描反射率曲线时应该考虑对速度增加或减少的影响进行补偿。如果图形不是一个连续的模拟曲线，那么测量间隔应该足够小以确保重要的细节不会丢失，并保证测量具有足够的尺寸精度。100
反射率
空白区
第1个边
第1个条
（缺陷）
（第7单元）
(第4边）
6.3扫描反射率曲线的评价参数
线性位置
图3扫描反射率曲线
在6.3.1到6.3.5中描述的扫描反射率曲线参数应根据本标准进行评价。6.3.1单元确定
整体阴值
为了区分条单元和空单元，需要确定一个整体阈值(GT)。整体阅值等于最高反射率与最低反射率之和的二分之一，即：
GT=（Rmsx +Rmin)/2
式中：
Rmax——最高反射率；
Rmin—最低反射率。
·（1）
在整体阅值之上的各区域被认为是空，每一空区域中的最高反射率定义为该空的反射率R，。与此类似，在整体阈值以下的各区域被认定是条，每一条区域中的最低反射率定义为该条的反射率R。6.3.2边缘确定
单元边缘的位置在扫描反射率曲线上相邻单元（包括空白区)空反射率R，与条反射率R，的中间值即（R，十R，）/2的点处。如果在相邻单元间不止-个点满足这-一条件，那么边缘位置和单元宽度就会变得无法确定，该扫描反射率曲线就不会满足6.3.3的要求而导致译码失败。空白区、字符间隔（如果有)作为空对待。
6.3.3译码正确性
GB/T14258—2003
测量得到的扫描反射率曲线，应按6.3.2中规定的单元边缘确定的方法，确定各单元的边缘。用符号规范中的标准译码算法对扫描反射率曲线进行译码。译码正确性是描述对扫描反射率曲线进行译码是否正确的一个指标。6.3.4符号反差
符号反差(SC)是反射率曲线上最高和最低反射率之差。SC = Rmx -Remin
式中：
Rmx最高反射率；
Rmin——最低反射率。
6.3.5最低反射率
（2）
最低反射率(Rm）是指扫描反射率曲线上反射率的最小值。Ri不能大于0.5倍的最高反射率（Rm），这样可以保证Rmi不会太高，特别是在R比较高的情况下，确保空的反射率和条的反射率有足够的差异。
6.3.6最小边缘反差
边缘反差(EC)是相邻单元空(包括空白区)反射率与条反射率之差。EC =R,-Rb
式中：
R,—相邻单元(包括空白区)空的反射率；R—相邻单元条的反射率。
在扫描反射率曲线上，所有边缘反差中的最小值被称为最小边缘反差ECin。6.3.7调制比
调制比(MOD)是最小边缘反差和符号反差的比。MOD=ECmin/SC
式中：
最小边缘反差；
SC——符号反差。
6.3.8缺陷度此内容来自标准下载网
缺陷度(defects)是单元内及空白区中反射率曲线的非均匀度。（3）
（4）
单元反射率曲线的非均勾度(ERN)用一个单元或空白区中最高峰反射率与最低谷反射率的差值表示。如果条单元中无峰或空单元中无谷时，其ERN为0。取所有ERN中的最大值作为该次测量扫描反射率曲线的最大单元反射率不均匀度（ERNmx）。Defects以ERNmx和SC之比来表示：Defects=ERNmx/SC
式中：
ERNx最大单元反射率不均匀度；SC符号反差。
6.3.9可译码度
（5）
条码符号的可译码度是以适用的标准译码算法为基准，衡量其印制精度的一个指标。条码扫描设备在识读可译码度高的符号时应该比识读可译码度低的符号时要更顺利一些。每种条码符号规范中都有符号的标称尺寸的控制规则。标准译码算法通过对单元宽度和其他测量值规定一个或多个的标准阅值，允许印刷和识读过程中出现一定限度的误差。扫描反射率曲线的可译码度反映了印刷过程中未被占用的、为扫描过程留出的容许误差。当计算扫描反射率曲线的可译码度(V)时，必须考虑有关条码符号的标准译码算法所要求的测量值。在以下？
GB/T14258—2003
的段落中，“测量值”这一词可以对应于一个单元的宽度（如39码），也可以指两个或多个相邻单元的组合宽度。如在128条码中，译码时要使用相似边之间的距离。可译码度的值根据以下方面计算：扫描反射率曲线上单元（例如，窄单元或包括多个模块的条十空组含单元）的平均宽度尺寸（用A表示）；
和A为同一类型的测量值的标准阈值（用RT表示)；在靠近标准阈值的方向上偏离于A程度最大的实际测量值（用M表示）。计算V的公式的一般形式如下：
V=I(RT-M)/(RT-A)I
式中：
(RT一M)一在符号印制过程中没有被占去的容许误差；(RT—A)——基于单元平均宽度值的总容诈误差。（6)
图4说明了这一原理，图中阴影部分代表与A同一类型的测量值所分布的区域。所有的测量值都以0为起点。
平均的
单元宽度
偏差最大的
单元宽度
剩余容差
总容差
图4可译码度的测盘原理
标准阈值
附录F给出了用于两种单元宽度条码符号或（n，k)符号的更详细的公式。条码符号标准应制定计算该符号专用的可译码度的方法。注：条宽的增加或减少是否影响条码的可译码度，这取决于具体的条码符号及其标准译码算法。尽管条宽增加量或减少量的测量没有纳人符号的分级过程，但是为了符号制作过程的控制，仍应测量条宽增加抵或减少量（参见附录G)。
6.3.10空白区检测
空白区宽度的最小许可值要在窄单元平均宽度Z计算出来后才能确定。因此，在初始的扫描反射率曲线分析中使用的空白区内的Rx、ERN、R，应该与根据Z新确立的空白区的相应值进行比较，如果不同，则对其所涉及到的扫描反射率曲线分析的有关部分应该重新进行分析。对空白区的质量评价方法(或质量分级方法应参见具体的条码符号标准。7符号等级
在实际应用中，由于条码识读设备的类型不同以及识读条码的环境条件不同，为达到一个可以接受的性能水平，对条码符号质量水平的要求就会有所不同。因此，条码符号的质量要求应由应用标准或规范根据此标准，以符号等级的形式规定，即由应用标准或规范来决定条码符号可以接受的最小的质量等级，参见附录H中H.3的指南。
符号等级化的作用在于它能够就测量条件下符号的质量给出一个相对的尺度。每一个扫描反射率曲线都要经过分析，对于每一个参数，都应给出一个评价等级，等级值可以取从4到0之间的整数。等级值从大到小，表示相应的质量水平从高到低。等级4表示质量最好，等级0表示质量很差。单个扫描9
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