【国家标准(GB)】 识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分:物理特性

GB/T 16649.1---1996
本标准等同采用国际标准IS07816-1：1987《识别卡带触点的集成电路卡
第1部分：物理特
性》。
GB/T16649在总标题《识别卡
第1部分：物理特性；
带触点的集成电路卡》下，包括下述部分：第2部分：触点的尺寸和位置；
第3部分：电信号和传输协议。
本标准的附录A是标准的附录。
本标准由中华人民共和国电子部提出。本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准起草单位：电子工业部标准化研究所、中国人民银行、中国工商银行。本标准主要起草人：李韵琴、张一平、仲安妮、王云生、刘钟。66
GB/T 16649.1-1996
ISO前言
ISO（国际标摊化组织）是一个世界范围的国家团体（ISO成员）标准化联盟。通过ISO技术委员会的活动来推进国际标准化的工作。每个对已建立的技术委员会感兴趣的成员体都有权参加这个委员会。与ISO有联系的官方或非官方的各国际组织也参与此项工作。国际标准草案在其ISO理事会接受其为国际标准之前须由技术委员会分发给各成员团体进行表按照ISO规程至少需要75%的成员团体投票赞成。决。
国际标准ISO7816-1由ISO/TC97（信息处理系统）技术委员会制定用户应随时注意所有标准的更新。除非特别说明，在本标准中所示的其它国际标准均为有效。67
中华人民共和国国家标准
识别卡带触点的集成电路卡Www.bzxZ.net
第1部分：物理特性
Identification cards-Integrated circuit(s )cards with contacts-Part 1Physical characteristics0　引
GB/T.16649.1-1996
idtISo7816-1:1987
本标准是描述GB/T14916中定义的识别卡参数及这种卡在国际交换中应用的一系列标准之。1范围
GB/T16649的本部分描述了带触点的集成电路卡的物理特性。它适用于GB/T15120的第1部分至第5部分中描述的包括磁条和凸字的ID-1型卡。本系列标准的本部分适用于带有电触点的物理接口的卡。但是没有定义卡上集成电路的性质、数目和位置。
注：其他类型IC卡的格式或接口的未来发展将会要求对GB/T16649的本部分进行补充，或者导致制定另外的国家标准。
2引用标准
下列标准中所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T14916—94识别卡物理特性（idtISO7810:1985）GB/T15120.1—94识别卡记录技术第1部分：凸印（idtISO7811-1:1985）GB/T15120.2-94识别卡记录技术第2部分：磁条（idtISO7811-2：1985）识别卡记录技术第3部分：ID-1型卡上凸印字符的位置（idtIS）7811GB/T15120.3—94
3:1985)
GB/T15120.4一94识别卡记录技术第4部分：只读磁道的第1磁道和第2磁道的位置（idtISO 7811-4:1985)
GB/T15120.5—94识别卡记录技术第5部分：读写磁道的第3磁道的位置（idtISO7811.5：1985)
GB/T15694.1-1995识别卡发卡者标识第1部分：编号体系（idtISO/IEC7812-1：1994）GB/T15694.2识别卡发卡者标识第2部分：申请和注册程序（idtISO/IEC7812-2：1994）ISO7813:90识别卡金融交易卡
3定义
本标准采用下列定义。
3.1集成电路（IC）integrated circuit(s）国家技术监督局1996-12-17批准68
1997-07-01实施
GB/T16649.1-1996
为执行处理和/或存储功能而设计的电子器件。3.2集成电路卡(IC卡）integrated circuit(s）card（IC card)内部封装-个或多个集成电路的ID-1型卡（如GB/T14916、GB/T15120一94第1～第5部分、GB/T15694和ISO7813中描述的）。3.3触点contact
保持集成电路和外部接口设备间电流连续性的导电元件。4物理特性
符合GB/T14916、GB/T15120-94中第1至第5部分、GB/T15694和ISO7813要求的ID-1型卡插入带触点的集成电路后，应具有以下物理特性。注：本标准后面的附录描述了对部分特性的规范测试方法。4.1总则
GB/T14916中规定的各类识别卡的物理特性适用于IC卡。ISO7813中描述的金融交易卡的全部尺寸要求也应适用于这类卡。
1GB/T14916中规定的卡的厚度适用于带触点及集成电路的无凸印卡。2关于抗化学性（见GB/T14916—94中6.1.4），发卡方应注意这种事实，即污染会导致保存在磁条或集成电路中的信息无效。
4.2附加特性
4.2.1紫外线
超过周围紫外线的防护应是卡制造商的责任。4.2.2X射线
卡的任何一面曦光0.1Gy剂量，相当于70至140kev的中等能量×射线（每年的累积剂量），应不引起卡的失效。
注：这相当于人每年正常接收的0.05Gy剂量的两倍。4.2.3触点的表面断面
所有的触点及其附近的卡的表面之间在水平上的误差应小于0.10mm。GB/T14916-94中6.3.3规定的保护区域应扩大到图中B和C之间的区域（见GB/T14916-94中的图）。4.2.4（卡和触点）的机械强度
卡应能抵抗对其表面及其任何组成成分的损害，并在正常使用、保存和处理过程中保持完好。每个触点表面和触点区域（整个导电表面）在相当于对直径1mm的钢球施加1.5N的工作压力下）不应被破坏。
见附录中第A1章和A2章提供的测试方法。4.2.5（触点的)电阻
卡连接部件的触点电阻可通过测试卡来确定和测量。该测试卡在内部的触点之间短路。在接通50uA至300mA之间的任何直流电流时，任何两触点（两触点串联）之间测得的电阻应小于0.50。
对于-个峰值为10mA、频率为4MHz的交流电流来说，应使通过该阻抗的电压保持低于10mV。4.2.6（磁条和集成电路之间）的电磁干扰如果卡带有磁条，磁条在读、写或擦除后，IC卡不应被损坏、失效或改变。反之，集成电路的读、写也不应引起磁条的失效或其读、写和处理机制的失效。4.2.7电磁场
卡暴露在79500A/m（1000Oe）的磁场中，不应造成集成电路的失效，测试应该在指定值的静磁69
场中进行。
GB/T 16649.1-1996
警告：磁场将会擦去磁条上的内容（如果用磁条）。4.2.8静电
带静电的人在正常使用下，集成电路不应被损坏。在任意触点和地之间，1500V的静电由个100pF的电容器经过1500Q的电阻器放电，卡暴露其中时，其功能不应降低。
见附录中第A3章的测试方法。
4.2.9热耗
卡中集成电路的热耗应不大于2.5W。警告：无论在什么样的环境条件下应当注意卡的表面温度不能超过50℃。70
弯曲特性
A1.1过程
GB/T 16649.1-1996
附录A
（标准的附录）
测试方法
把卡放在机器的两个夹头中间，其中个夹头是可移动和可弯曲的a）长边
挠度(f)：2cm；
-周期：每分钟弯曲30次。
b）短边
度(f)：1cm；
一周期：每分钟弯曲30次。
每弯曲125次，在读、写状态下检验卡的功能。推荐测试持续时间：在四个测试方向，每次至少操作250次。卡的短边或长边
固定点
A1.2认可标准
可变部分
在1000次弯曲后，卡应保持其功能完好，且不应显示出任何破裂。A2扭曲特性
A2.1过程
把卡放在机器中，对其短边进行扭曲，交替变换方向，速率为30次/min，最大偏差15°士1°。每扭曲125次，在适当的读、写状态下检验卡正确的功能。A2.2认可标准
在1000次扭曲后，卡应保持其功能完好，且不应显示出任何破裂。71
A3静电
A3.1过程
GB/T 16649. 1-1996
卡的长边
如图A3所示，一个100pF的电容器经过1500Q的电阻器进行放电；在卡的各触点之间按正常极性放电之后，再按相反极性放电。放电电压：1500V。
1500V-
A3.2认可标准
在测试开始和结束时，检测读、写状态下的集成电路功能，72
GND触点
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