【电子行业标准(SJ)】 半导体集成电路Jμ8254型可编程定时计数器详细规范

中华人民共和国电子行业军用标准SJ20073-92
半导体集成电路
Ju8254型可编程定时计数器
详细规范
1992-11-19发布
1993-05-01实施
中华人民共和国机械电子工业部发布1范围
1.1主题内容·
1.2适用范围
1.3分类
引用文件
3要求
详细要求·
3.2设计、结构和外形尺寸
引线材料和涂覆
电特性
电试验要求…
3.6标患·
3.7微电路组的期分
4质量保证规定
抽样和检验·
4.2筛选…
4.3鉴定检验
4.4质量~致性检验
4.5检验方法
5交货准备
5.1包装要求
6说明事项
6.1、关了测试失量的·般规定
订货资料
6.3功能说明、符号和定义
替代性
IKAONKAa-
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
Ju8254型可编程定时计数器详细规范1范围
1.1正题内容
SJ20073—92
本规范规定了长导体集成也路J8254型可编程定时计数器（以下简称器件）的详细要求。
1.2适雁范围
本规范适用下器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范对微电路按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件来分类。1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
器作型号
Ju8254
1.3.t.2器们等级
件名称
可编程定时计数器
器件等级为G.IB597第3.4条规定的B级利本规范规定的B1级。本规范中长对B1级另加说明的条款应理解为与B级相同。1.3.1.3封装形武
封装形式如下：
甘装形式1
D24L3（24引线陶瓷效列封装）
C28P3（陶瓷无引线片式载体封装）：1）按GB70922导体集废电路外形尺寸》。1.3.2绝对联人额定值
绝对最人额宽值如下：
中华人民共和国机械电子工业部1992-11-19发布1993-05-01实施
任一可出端相对于Ys端电压
贮行温度范用
引线耐焊接温度（5s）
结温（Ts=125 °℃C)
1.3.3推荐工作条件
推荐［作条件姐下：
电源也压
输入高电平电压
输入低也平地压
工作频率
外壳工作温度间
时钟上升时间
时钝下降时间
引用文件
s# 20073--92
GB3431.1—82半导体集成电路文字符号电参数文字符号GB3431.2—86平导体集成电路文字符号引出端功能符号GB4590--84半导体集成电路机械和气候试验方法GB7092—93半导体集成电路外形尺寸GJB548--88微电子器件试验方法租程序GJB597—88微电路总规范
GJB/Z105电子产品防静电放电控制手册3要求
3.1详细婴求
各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应符合GJB597利本规范的规定。3.2.1引出端批列
引出端排列应符合图1的规定：引出端排列为翁视图，2
HTTKAONKAca-
SJ 20073---92
E3EGATE2
比就载体封装引出学排列
OCT010
Vss口
双列封装出端排列
图1引出端排列
3.2.2功能框图
功能框图应符合图2的规定。
数据总线
缓冲器
控制字
寄存器
图2功能框图
3.2.3功能说明、符号和定义
计数器
计数器
计数器
功能说明、符号和定义，应符合本规范6.3条的规定。3.2.4封装形式
封装形式应符合本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆，应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4电特性
SJ20073—92
电特性应符合表1的规定，者无其它规定，适合十全工作温度范围3.5电试验要求
各级器件的电试验要求，应为表2所规定的有关分组，各分组的电测试按表3的规定。
3.6标志
标患应按GJB597第3.6条的规定。微电路组的划分
本规范所涉及的器件为第107微也路组（见GJB597附录E）。表丨电特性
序号！）
输入低也评电压
输入高电平电国
输出低电严电压
输出高电平电
输入负载电流
输出三态漏电流
(仅0-~D7)
电源电流
翰入电容
输入/输出电容
RDI前地址建立
Isu AV-RL)
RD前的Cstsu(CSL-RI)
RDT后地址保持
RD脉宽
数延退时
（从RDI开始）
Th(RJ-AV)
L(RL-DV)
条件2）
IoL = 2.0 mA
Fon = -400 μA
=Vm到ov
Yo=Vop到0.45V
fep-1 MH2, Te-25 °C.
Te=25 °C, Vp-0 V, 未
测试炭接Vs5
Yor=0.8 V
规范值
TTKAONKAa-
序号1）
数据延迟时间
（从地址有效开
RD个到数据出
读命令恢复时间
WR!前的地址
建立时间
WR前的CS建
立时间
WRT后地址保
持时间
WR脉宽
WR个前数据建
立时间
WRI后数据保
持时间
写命令恢复时间
时钟周期
时钟高电平脉宽
时钟低电平脉宽
时钟上升时间
时钟下降吋间
门高电平脉宽
门低电半脉宽
门建立时间（到
CPf后门保持时
输出延迟时间
（从CP+开始）
输出延迟时间bzxZ.net
（从GATE+开
farAv-DV)
LRH-DZ)
treeTRH)
tsurAV-WL)
su(CSL-WL)
(WH-A)
(wrwL)
tsu(DV-WH)
th(WH-DV)
TreerWH
fwrcH)
W(GATEH)
AWIGATELL
Isu(GATEH-CH)
Tau(GATEL-CH)
f(CH-GATEL)
t(CH-GATEH)
fa(CL-Uv)
d(GATEL-OV)
SJ 20073—92
续表1
条件2）
VoH-2.0 V
注：1）本表中的参数的序号时序图中参数的编号是一致的;2)若无其它规定，Kuv=5±0.5 V，I=-55～125\C,Yss=0 V规范殖
试验要求
中司（老化前）电试（方法
最终电测试1
（方法5004）
A组试验要求2）
（方法5005）
B 组 V2Ae 试验
C组终点电测试
（法5005）
C组检验增加的分组
D组登点电试
（方法5005）
SJ20073—92
表 2 FE 试验要求
分，纽（见戈3）
B级器件
A1, A2, A3, A7: A8, A9, A10,All
A1，A7
BI级器件
A1, A2,A3, A7,A9
A1, A2, A3, A4, A7. A8. A9,
, Al. A2, A3, A4, A7. A0
A10,Al1
免本规范4.5.3条
A2,A3,A8
不要求
A2, A8 (仅125 °C)
注：1）A1、A7分纠要求PDA计算（见本规范4.2条）。2）A4分组（（、G）仅用于鉴定（见本规范4.4.1条）。表3A组电测试
fot =2.U mA
foH =-400 μA
V=Vpn到0V
Yo = Vop 到 0.45 V
除7,=125°℃外，参微、条件、规范值均间A1分组。除 Tr--55C外，参数、条件、规范均间 A1分组。8
Jcp=1 MHz, Vr-0 V
见本规范4.5.3条
A2A8（仅125cC)
A10，A11
A2. A8 (仅 125 °C)
舰范值
Vpr=0V，未測试端接Vss
按6.2条规定，T-=-25°℃，在VpD=5.5V和VDD-4.5V下分别进行动能测试。除T=-55°℃和125°C外，均同A7分组。10
FgAV-KLL
tsu(CSL-RL.)
ThRH-AV)
fdiRL-UV)
Vomr=2.0 V
Vot=0.8 V
TTKAONKAa-
trAV-D
a(RH-D2)
LreerRH
(surA-WL)
seiCSL-W
thOWH-A)
fsuDV-WH)
freerWH
FW(GATEH)
W(GATEL)
IsuGATEH-CH)
a(GATEL-CH)
h(CH-GATEL)
ThCK-GATEH)
arcl-ov)
fa(GATEL-OV)
SJ20073-92
续表3
VoL=0.8 V
除Tc-125C外，参数、条件、规范值均同A9分组。除 Tc--55 °C外，参数、条件、规范值均同 A9 分组规范值
SJ 20073—92
注：@RI职合适的限流电阻，R2-1.5k@, CI-100 pF+20%:
③VzAP=400 V，在器件输入端上测得t①脉冲转换时闻（tr1H）≤50πs（10%～90%)。图3高电压（YzAr）试验电路
接被测器件
TYKAOIKAca-
SJ20073—92
老化开始宵位：
老化和寿命试验线路图
测试店
图5交流测试输入/输出波形图
C=150pF1)
图6交流测试负载电路
注：1）CL包括夹具电容。
数费总缺
图7写周期时序阁图
数据总线
RD、WR
4质量保证规定
4.1扯样和检验
SJ 20073—92
图8读周期时序图
图9恢复时序阁
图10时与门时序图
光其它规定，抽样租检验程序应按GJB597利GJB548方法5005的规定4.2筛选
在鉴定和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和表5的规定进行筛选。
TTKAONKAa-
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