【国家标准(GB)】 产品几何技术规范（GPS） 表面结构 轮廓法 图形参数

ICS17.040.10
中华人民共和国国家标准
GB/T18618—2009/IS012085:1996代替GB/T18618—2002
产品几何技术规范（GPS）
表面结构
轮廓法
图形参数
Geometrical Product Specifications (GPS)-Surface texture:Profile method-Motif parameters
(ISO12085:1996,IDT）
2009-11-15发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、数码防伪
中国国家标准化管理委员会
2010-09-01实施
GB/T18618—2009/IS012085:1996前言
1范围
规范性引用文件
3术语和定义
3.1基本术语
3.2参数定义
图形法的理论准确操作集
图形的常用界限值
深度识别
通过图形的合并识别粗糙度图形和波纹度图形4.5
参数计算的步骤
5参数的测量条件
关于在原始轮廊上横向移动的约定·5.2
推荐测量条件·…
轮廊量化步距.
评定规则
5.5用于复合加工表面的图形法分析，5.6图样上的注法.…
附录A（规范性附录）图形合并的计算方法附录B（资料性附录）
图形参数与表面功能的关系
附录C（资料性附录）
在GPS矩阵模型中的位置
参考文献
本标准等同采用ISO12085：1996《产品几何技术规范（GPS）文版）。
本标准等同翻译ISO12085：1996。为了方便使用，本标准做了如下编辑性修改：“本国际标准”一词改为“本标准”；删除国际标准的前言和引言。
GB/T18618—2009/ISO12085:1996表面结构
本标准代替GB/T18618--2002《产品几何量技术规范(GPS)本标准与GB/T18618—2002的主要差异为：增加了附录C，与国际标准保持了一致。轮廊法
图形参数》（英
表面结构
轮廓法
图形参数》。
本标的附录A为规范性附录，附录B和附录C为资料性附录。本标准由全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会提出并归口。本标准起草单位：中机生产力促进中心、哈尔滨量具刃具集团有限责任公司、中国计量科学研究院。本标准主要起草人：王欣玲、郎岩梅、高思田、陈秀娟。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：-GB/T18618—2002。
1范围
GB/T18618—2009/IS012085:1996产品几何技术规范（GPS)
表面结构轮廓法
图形参数
本标准规定了用于图形法的术语、定义和表面结构参数。本标准对相应的完整规范操作集和测量条件作了说明。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T131产品几何技术规范（GPS）技术产品文件中表面结构的表示法（ISO1302:2002，IDT）GB/T3505产品几何技术规范（GPS）(ISO4287:1997,IDT)
GB/T6062产品几何技术规范（GPS）(ISO 3274:1996,IDT)
GB/T10610产品几何技术规范（GPS）(ISO4288:1996,IDT)
3术语和定义
下列术语和定义适用于本标准。3.1基本术语
表面轮廓surfaceprofile
表面结构轮廊法术语、定义及表面结构参数表面结构
表面结构
轮廊法接触（触针)式仪器的标称特性轮廓法
一个指定平面与实际表面相交所得的轮廊（见GB/T3505）。3.1.2
原始轮廊primaryprofile
通过入s轮廊滤波器后的总轮廊（见GB/T6062)。3.1.3
轮廓单峰localpeakofprofile
两相邻轮廊最低点之间的轮廓部分(见图1)。评定表面结构的规则和方法
轮席单峰
图1轮廓单峰
GB/T18618-2009/IS012085:19963.1.4
轮廊单谷localvalleyofprofile两相邻轮廊最高点之间的轮廊部分（见图2)。3.1.5
图形motif
轮席单谷
图2轮廓单谷
不一定相邻的两个轮廊单峰的最高点之间的原始轮廊部分。用以下参量来描述图形的特征（见图3和图5)：
图形的长度AR；或AW：，在平行于轮廊的总方向上测得；两个深度H，和Hj+1或HW，和HWi+1，在垂直于原始轮廊的总方向上测得；图形的T型特征，两个深度中的最小深度。1+
T=min[H,,Hj+]
T=Hj+1
粗糙度图形roughnessmotif
图3粗糙度图形
用有界限值A的完整的规范操作集提取的图形。注：依照此定义，一个粗糙度图形的长度AR；应小于或等于A(见图3)。2
GB/T18618—2009/ISO12085:1996原始轮廓的上包络线（波纹度轮廓）upperenvelopelineoftheprimaryprofile（wavinessprofile）经过对轮峰的常规识别后，连接原始轮魔各个峰的最高点的折线（见图4）。上包络线
波纹度图形wavinessmotif
上包络线
用有界限值B的完整的规范操作集从上包络线上提取的图形（见图5）。上包络线
T=min[HW,,HWi+]
T=HWj+1
图5波纹度图形
3.2参数定义
粗糙度图形的平均间距AR
meanspacingofroughnessmotifs,AR在评定长度内，各粗糙度图形长度AR；的算术平均值（见图6），即AR =
式中：n
-粗糙度图形的数量（与AR；的数量相等）。图6
粗糙度参数
GB/T18618-—2009/IS012085:19963.2.2
粗糙度图形的平均深度Rmeandepthofroughnessmotifs，R在评定长度内，各粗糙度图形深度H，的算术平均值（见图6)，即1H
式中：
H,值的数量。
注：H；值的数量是AR；值数量的两倍(m=2n)。3.2.3
轮廊微观不平度的最大深度R，maximumdepthofprofileirregularity，R在评定长度内，图形深度H，的最大值，例如图6:R,=H3。3.2.4
波纹度图形的平均间距AWmeanspacingofwavinessmotifs，AW在评定长度内，各波纹度图形长度AW，的算术平均值（见图7）。即1AW
一波纹度图形的数量（与AW：的数量相等）。式中：n
波纹度图形的平均深度Wmeandepthofwavinessmotifs，W在评定长度内，各波纹度图形深度HW，的算术平均值（见图7)。即1HW
式中：mHW，值的数量。
注：HW，值的数量是AW，值数量的两倍（m=2n)。AW
500μm
波纹度的最大深度W
图7波纹度参数
maximumdepthofwaviness,W,
在评定长度内，深度HW；的最大值（见图7)。上包络线
波纹度的总深度Wtetotaldepthofwaviness,WGB/T18618—2009/IS012085:1996在与原始轮廊总方向垂直的方向上，原始轮廊上包络线的最高点与最低点之间的距离（见图7）。4图形法的理论准确操作集
4.1概述
本节描述图形的识别条件(长度和深度识别)并给出计算粗糙度和波纹度参数的程序。4.2图形的常用界限值
图8中界限值A、B的推荐值参见第5章内容。0<间距≤A
A<间距≤B
a）粗糙度图形
4.3深度识别
图8图形的常用界限值
深度识别适合于评定表面粗糙度的原始轮廓。4.3.1基于最小深度的识别
b）波纹度图形
将原始轮廊分成宽度为A/2的单元，并计算出每个长方形的高度。深度大于这些矩形平均高度的5%的单峰可被计人（见图9)。
保留的单峰
剔除的单峰
基于最小深度识别
矩形的高度
GB/T18618—2009/IS01208519962基于最大深度的识别
对于深度为H，的粗糙度图形，计算H，（H，的平均值）和H（标准偏差），若存在任何深度值大于H=H,+1.65g的单峰或单谷，则使其深度等于H(见图10)。注：假如H；呈高斯分布，这个条件所处理的峰和谷的数量约占5%。这种识别避免了孤立的高单峰对包络线的干扰。
基于最大深度的鉴定
通过图形的合并识别粗糙度图形和波纹度图形4.4
在图11中，R指粗糙度，W指波纹度。识别方法采用以下4个条件（与图11有关）：6
无合并
P,>P2 和 P3
LLAWi+t
(AR; + ARi+I )> A(对R)
(AW,+AW+t)>B(对w)
TH/+1和H/+2>60%T(对R)
HWJ+1和HWi+2>60%T(对w)
测试是否还有另一个图形
检测图形i+1和i+2
检查图形i和i+1
条件【免费标准bzxz.net
任一个峰≤任意
一个相邻峰
条件Ⅱ
图形长度
(AR,+ AR+I)≤ A(对R)
(AW,+ AW+I)≤B(对W)
条件Ⅲ
两个图形的
T特性的扩展
条件IV
任一深度≤所检查
图形的7特性的60%
结束合并过程
图形的合并
GB/T18618—2009/ISO12085:1996可能的合并
P,≤P2或Ps
A或用
(AR,+ARI+1)≤A(对R)
(AW,+AWi+1)≤B(对w)
T≥T,和T2
Hj+1或H/+2≤60%T（对R）
HW/+或HWj+2≤60%T(对w）
合并两个图形
检测图形i+2和i+3
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