本部分适用于半导体压力传感器，它等同采用IEC 60747-14-3:2001《半导体器件 第14-3部分：半导体传感器--压力传感器》。本部分规定了测量绝压、表压和差压的半导体传感器的要求。 GB/T 20522-2006 半导体器件 第14-3部分：半导体传感器-压力传感器 GB/T20522-

本部分适用于半导体传感器，它等同采用IEC 60747-14-1:2000《半导体器件 第14-1部分：半导体传感器－总则和分类》，本部分描述了有关传感器规范的基本条款，这些条款适用于由半导体材料制造的传感器也适用于由其他材料(例如绝缘或铁电材料)所制造的传感器。 GB/T 20521-2006 半

本规范规定了3DA506型硅微波脉冲功率晶体管的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。 SJ 50033/157-2002 半导体分立器件 3DA506型硅微波脉冲功率晶体管详细规范 SJ50033/157-2002

SJ 1400-1978 半导体器件参数符号 SJ1400-1978

本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定器件和材料避免电击穿失效的能力，而这种失效是由于气压减小时，空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1000V的器件。本项试验适用于所有的空封半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。本项低气压试验方法和IEC60

本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件 机械和气候试验方法》第Ⅰ篇总则。本部分适用于半导体器件(分立器件和集成电路)并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。 GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则 GB/T4937.1-2006

本部分适用于下列液晶和固态显示模块：——静态/字段型液晶显示模块；——无源矩阵单色液晶显示模块；——无源矩阵彩色液晶显示模块；——有液矩阵单色液晶显示模块；——有源矩阵彩色液晶显示模块；它给出了评定液晶显示模块所需的质量评定程序、检验要求、筛选序列、抽样要求、试验和测试方法的细节。 GB/T 189

GB/T 18910的本部分为液晶和固态显示器件的总规范，规定了ＩＥＣＱ体系质量评定的通用程序，并给出了电光特性测试方法的通用要求，给出了机械、环境和耐久性试验方法。 GB/T 18910.1-2002 液晶和固态显示器件 第1部分: 总规范 GB/T18910.1-2002

本规范适用于除光电子器件之外的半导体分立器件。 GB/T 12560-1999 半导体器件 分立器件分规范 GB/T12560-1999

内容详见本标准。 GB/T 17573-1998 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则 GB/T17573-1998