本标准列出了适用于半导体器件(分立器件和集成电路)的试验方法。使用时可从中进行选择。对于非空腔器件，可以要求补充的试验方法。 GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法 GB/T4937-1995

GB/T 4589.1-1989 半导体器件 分立器件和集成电路总规范(可供认证用) GB/T4589.1-1989

本标准规定了半导体分立器件主要的文字符号。本标准适用于编写半导体分立器件有关标准和有关技术资料。 GB/T 11499-2001 半导体分立器件文字符号 GB/T11499-2001

本标准给出了下列类型和分类型器件的标准：·半导体光发射器件，包括：——发光二极管(LEDs)；——红外发射二级管(IRED)——激光二极管和激光二极管组件——光电子显示器件(在考虑中)。·半导体光电探测器件，包括：——光电二极管；——光电晶体管。·半导体光敏器件，包括：——光敏电阻，光导件；——光敏