本文件规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。 本文件适用于测定晶粒内不高于1×10 15m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。

本文件描述了五种原子力显微术探针悬臂梁法向弹性常数的测量方法，测量的精度误差为5%~10%。每个方法分别隶属于尺寸法、静态实验法和动态实验法三类方法中的一种。方法的选择取决于分析所要达到的目的，便易性及现有的仪器条件。 本文件不适用于高于5%～10%的测量精度，如要获得高于5%~10%的测量精度，需

本文件提供了采用辉光放电发射光谱法进行深度剖析和体相分析的指南。 本文件仅限于讨论刚性固体样品的分析，不包括粉末、气体或溶液的分析。结合现有和将来特定的标准方法，本文件旨在能够实现仪器的规范管理和测量条件的控制。尽管近年来有不同类型的辉光放电发射光源问世，但目前绝大多数使用直流和射频光源的辉光放电光

本文件描述了常规分析中确认静态二次离子质谱正离子相对强度标的重复性和一致性的方法。 本文件适用于安装有荷电中和电子枪的仪器，不用于校正强度随质量变化的响应函数，校正可由仪器制造厂商或其他机构进行。 本文件提供数据以确认仪器使用时的相对强度一致性，提供可影响一致性的一些仪器参数的设置指南。

本文件描述了测定纳米多孔材料储氢量的静态容量气体吸附的方法。 本文件适用于以物理吸附储氢的碳材料、沸石、金属有机框架材料、多孔有机聚合物等纳米多孔材料储氢量的测定。 其他多孔材料储氢量的测定也可参照使用。

本文件规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱的峰强度测量的分析结果报告中所要求的必要信息，也提供了峰强度测量方法和导出的峰面积不确定度的信息。

本文件描述了表述X射线光电子能谱仪特定性能参数的方法。

本标准规定了化工产品使用说明书（以下简称使用说明书）的基本内容与编写方法。本标准适用于除军事、化工机械与设备类的化工产品外的使用说明书的编写。 GB/T 23956-2009 化工产品使用说明书编写规定 GB/T23956-2009

本标准规定了化学品安全技术说明书(ＳＤＳ)的结构、内容和通用形式。本标准适用于化学品安全技术说明书的编制。本标准既不规定ＳＤＳ的固定格式，也不提供ＳＤＳ的实际样例。 GB/T 16483-2008 化学品安全技术说明书 内容和项目顺序 GB/T16483-2008

本标准代替ＧＢ／Ｔ８３２２—１９８７《分子吸收光谱法术语》。本标准规定了分子吸收光谱法的术语。 本标准适用于分子吸收光谱法。本标准与ＧＢ／Ｔ８３２２—１９８７相比，主要技术差异有：———增加了以下术语：频率(２．５)、氙灯(５．１．２)、卤钨灯(５．１．４)、滤光片(５．２．２)、热电释检测器(５．