本标准规定了用瞬态电容技术中的深能级瞬态谱(DLTS)法测量半导体材料中深能级的测试方法。本标准适用于测量硅、砷化稼等半导体材料中杂质、缺陷在半导体禁带中产生的深能级。由此法可得到深能级的激活能、浓度、指数前因子A等参数。本标准适用于产生指数形式电容瞬态有关的深能级。 SJ/T 10482-1994

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本标准规定了SYKV75-7、SYKY-75-7型电缆分配系统用纵孔聚乙烯绝缘同轴电缆的技术要求、试验方法、质量评定规则和标志、包装、运输及贮存。本标准适用于闭路电视、共用天线电视系统作分支线和用户线以及其它电子装置用纵孔聚乙烯绝缘同轴电缆。 SJ/T 10302.2-1992 ＳＹＫＶ－７５－７、

本标准规定了SYKV-75-5型电缆分配系统用纵孔聚乙烯绝缘同轴电缆的技术要求、试验方法、质量评定规则和标志、包装、运输及贮存。本标准适用于闭路电视、共用天线电视系统作分支线和用户线以及其它电子装置用纵孔聚乙烯绝缘同轴电缆。 SJ/T 10302.1-1992 ＳＹＫＶ－７５－５型电缆分配系统用纵孔

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