【国家标准(GB)】 电子器件详细规范 半导体集成电路CE10109型ECL双4.5输入或/或非门(可供认证用)

中华人民共和国国家标准
电子元器件详细规范
半导体集成电路CE10109型
ECL双4.5输入或/或非门
DetailspecificationforelectroniccomponentSemiconductor integrated circuit -CE 10109ECLDual4.5inputOR/NOR
(可供认证用)
UDC621.38.049
GB7202-87
降为SJ/T10845-96
本规范规定了半导体集成电路CE10109型ECL双4.5输人或/或非门鉴定和质量评定的全部内本规范是按照GB5965一86《半导体集成电路双极型门空白详细规范》制订的，并符合GB4589
一84《半导体集成电路总规范》的要求。中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。国家标准局1987-01-23批准
1987-10-01试行
国家标准局
评定器件质量的依据：
GB 7202-87
GB4589.184《半导体集成电路
总规范》
GB7202-87
CE10109型双4.5输人或/或非门详细规范订货资料：见本规范第7章
机械说明
外形依据：GB7092-86《半导体集成电路外形尺寸》
外形图：见本规范第10.1条
引出端排列：
标志：按GB4589—84第2.5条和本规范第6章
2简要说明
ECL集成门电路
半导体材料：硅
封装：空封
逻辑符号、逻辑图和功能表：
见本规范第11章
品种：
环境温度
封装形式
白陶瓷直插（D）
黑陶瓷直插（J）
3质量评定类别
30~+85℃
CE10109ED
CE10109EJ
ⅢA，ⅢB，ⅢC，ⅢD，ⅢE
按本规范鉴定合格的器件，其制造单位的有关资料，可在合格产品一览表中查到。2
极限值（绝对最大额定值）
GB7202--87
若无其他规定，适用于全工作温度范围。参数
条款号
工作环境温度
贮存温度
电源电压
5电工作条件和电特性
电特性的检验要求见本规范第8章。5.1电工作条件
条款号
电源电压
输人高电平电压
输人低电平电压
输入高阈值电平电压
输人低阈值电平电压
5.2电特性
-30℃
条款号
特性和条件(注)
输出高电平电压
Vee'= -5.2V,
VIH=最大，
输出接RL=50Q至
输出低电平电压
Vee = - 5.2V,
ViH=最大，
输出接RL=50至
输出高國值电平电压
VEE = -5.2V,
VIHT=最小，
VILT=最大，
输出接RL=50Q至
输出低阈值电平电压
Vee = - 5.2V,
VIHT=最小，
VIL.T=最大，
输出接RL=502至
输人高电电流
VFE= -5.2V,
Wn-最大
输人低电平电流
VeF = -5.2V,
VIL=最小
GB7202--87
规范值
单位试验
条款号
特性和条件 (注)
电源电流
VeE = - 5.2V
传输延迟时间
Vcc = 2 V,
Vee = - 3.2 V,
Vh=1.11V,
f=10MHz,
q=50%，
t,=2ns,
tf=2ns,
VREF = 50% · Vm
输出转换时间
同5.2.8款，
VreFH = 80%VoHs
VreFl = 20% Vom
GB720287
注：测试条件的最小或最大，按本规范第5.1条。6标志
器件上标志的标法示例如图1。
a.CE10109EJ
CE10109EJ
引出端
识别标志
制造单位商标
检验批
识别代码
质量评定类别
规范值
b.CE10109ED
若受器件尺寸限制时，允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。7订货资料
若无其他规定，订购器件至少需要下列资料：5
单位试验
GB720287
准确的型号：
详细规范的国家编号，
质量评定类别。
试验条件和检验要求
根据采用的质量评定类别，按GB4589一84第3.6.2款表6和表7的规定。抽样要求：
A组检验的抽样要求
检查水半（IL）
B组、C组和D组检验的抽样要求
B4，C4
GB7202—87
A组—逐批
所有试验均为非破坏性的（见GB4589一84第3.6.6款）。条件
检验或试验
A1分组
外部目检
A2分组
功能验证
A3分组
静态特性
A4a分组
最高工作温度下的静态
特性（特性：同A3分
A4b分组
最低工作温度下的静态
特性（特性：同A3分
A5分组
动态特性
检验或试验
B1分组
引用文件
GB4589-84
第5.1.1款
GB 344182*
GB3441-82
GB3441—82
GB3441—82
引用文件
GB4589—84
第5.2条，附录C
若无其他规定，T=25℃
（见GB4589—84第4章）
按本规范第5.2.1款和5.2.2款，本规范第11.2条
按本规范第5.2.1款至5.2.7款，本规范第10.2条
TA按本规范第4.1款最大值，
条件：同A3分组
TA按本规范第4.1款最小值，
条件：同A3分组
按本规范第5.2.8款和5.2.9款，本规范第10.3条
一逐批
若无其他规定，TA=25℃
（见GB4589—84第4章）
GB3441--82《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》7
检验要求规范值
同本规范第5.2.1款
和5.2.2款
同本规范第5.2.1款
至5.2.7款
同A3分组
同A3分组
同本规范5.2.8款
和5.2.9款
检验要求规范值
同本规范第1章
检验或试验
B4分组
可焊性
B5分组
温度快速变化：
两箱法
随后进行：
B8分组
电耐久性（168h)
试验后测量：
（同A2和A3分组）
CRRL分组
引用文件
GB459084*
第2.5条
GB4590-84
第3.1条
GB4590—84
第3.12条和
GB4590—84
第4.7条
GB7202-87
若无其他规定，TA=25℃
（见GB4589—84第4章）
按方法b（槽焊法）
温度按本规范第4.1款
按规定
平均功耗为：leE×VEE，TA按本规范4.1款最大值，VEE=-5.2V，
同A2和A3分组，在96h内测完
就B4、B5和B8提供计数检查结果C组
一周期
标有（D）的试验为破坏性的（见GB4589一84第3.6.6款）。条
检验或试验
C1分组
C2b分组
最高和最低工作温度下
的动态特性（特性：间
A5分组）
引用文件
GB4589—84
第5.2条，附录C
GB3441—82
若无其他规定，TA=25℃
（见GB4589—84第4章）
TA按本规范第4.1款，
条件：同A5分组
GB4590一84《半导体集成电路机械和气候试验方法》。检验要求规范值
浸润良好
同A2和A3分组
检验要求规范值
同本规范第1章
同A5分组
检验或试验
C3分组
引线强度：
弯曲（D）
C4分组
耐焊接热（D）
试验后测量：
（同A2和A3分组）
C6分组
恒定加速度
试验后测量：
（同A2和A3分组）
C8分组
电耐久性（1000h）
试验后测量：
（同A2和A3分组）
C9分组
高温贮存(D）
试验后测量：
（同A2和A3分组）
C11分组
标志耐久性
CRRL分组
鉴定批准
引用文件
GB459084
第2.2条
GB4590—84
第2.4条
GB4590—84
第2.10条
GB4590—84
第4.7条
GB4590—84
第3.3条
GB4590—84
第4.3条
GB7202-87
若无其他规定，TA=25C
（见GB4589—84第4章）
按规定
按方法A（260C槽焊）
同A2和A3分组
按规定
同A2和43分组
同B8分组
同A2和A：3·分组，在96h内测完1000h，温度按本规范第4.2款最大值同A2和A3分组
按规定
就C4、C6、C8和C9提供计数检查结果鉴定批准后立即进行，以后每年进行一次。9
检验要求规范值
无损伤
同A2和A3分组
同A2和A3分组
同A2和A3分组
同A2和A3分组
检验或试验
D8分组
电耐久性（3000h）
10附加资料
10.1详细外形图
D、J型如图2。
尺寸符号
GB7202--87
引用文件
GB4590-84第4.7条，
GB4589-84第3.6.1.5项
若无其他规定，T=25℃
（见GB4589—84第4章）
同B8分组
检验要求
规范值
静态特性的测量
GB3441--82第2.1条
GB3441-—82第2.3条
GB3441—82第2.2条
GB3441--82第2.4条
GB3441-82第2.5条
GB3441--82第2.6条
GB3441—82第2.7条
10.3动态特性的测量
10.3.1基本测试线路
按GB3441—82图12。
10.3.2负载线路
负载线路如图3。
GB7202--87
测试方法
-个输入端接VIH，其他输人
测或输出端（））：
端开路
测或非输出端（Y）：所有输人端开路测或输出端（Y）：所有输人端开路测或非输出端（Y）：·一个输人端接VIH，其他输人端开路
测或输出端（Y）：一个输入端接VIHT，其他输入端开路
测或非输出端（Y）：-个输人端接VILT，其他输人端开路
测或输出端（Y）：--个输人端接VT，其他输入端开路
测或非输出端（Y）：-个输入端接V1HT，其他输入端开路
非被测输入端开路
非被测输入端开路
所有输人端开路
测试点
被测输出端
非被测输出端Www.bzxZ.net
500同轴电缆
示波器
输入信号到示波器的同轴电缆与输出端到示波器的同轴电缆长度必需相等。10.4电耐久性试验线路
电耐久性试验线路如图4。
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