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【电子行业标准(SJ)】 电子器件详细规范 PIN40A、PIN40B和PIN40C型硅微带PIN开关二极管

本网站 发布时间: 2024-07-04 22:47:00
  • SJ/T10062-1991
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    SJ/T 10062-1991

  • 标准名称:

    电子器件详细规范 PIN40A、PIN40B和PIN40C型硅微带PIN开关二极管

  • 标准类别:

    电子行业标准(SJ)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1991-04-08
  • 实施日期:

    1991-07-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    155.12 KB

标准分类号

  • 中标分类号:

    能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理

关联标准

出版信息

  • 页数:

    9页
  • 标准价格:

    14.0 元

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SJ/T 10062-1991 电子器件详细规范 PIN40A、PIN40B和PIN40C型硅微带PIN开关二极管 SJ/T10062-1991

标准内容标准内容

部分标准内容:

中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 10062~10063—91
电子元器件详细规范
PIN40A、PIN40B 和 PIN4OC 型
硅微带PIN开关二极管
PIN62A、PIN62B、PIN62C 和
PIN62D型硅PIN开关二极管
1991-04-08发布
1991-07-01实施
中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子无器件详细规范
PIN4APIN4B 和 PINAC 型
硅微带PIN开关二极管
Dcnil speeifieation for clceronic conponentsMicrastric silicon switeliag FiN diodesFurtypesPENMQA.PIN40B and PIN4OCSJ/T10062:91
本标准适州于P1N40型硅限带PIN开类二圾宽,它是搭照GB12562&PIN二极管空白详纸限范标准制订的等合心4589.[半导体器件分立器件和集或电路总提范1和GH12560半导体端件分立器件分规范3的■莞婴求,中华人民共和国机械电子工业部1991-4-0批准1991-07-01实旅
中华人共利国机校电子工业部
S.1/T 10062 :91
评定器件质量的限据:(H4549.14中分体需件分立.%件和案成电总规港和1256车件路件分器件电PINSA,PINA和YIN4X型挂微带EIN开美二极管详组池打员料、肌本起范第了章,
1机微说明
外形图
尺寸单位:nim
跨说明
N级管
半导然村料建
s:/T10662-91
划装欧学-环乳(三空:
亚问大绝井美、感持、电我减源制等质量评定类别
考效据
L.8pFPIN A)
≤U. EF(PIN 4)
6. pr(PIN 4UC)
极限信绝对量大额定值
SJ/T10062--91
险非刃右规定,这出板限值在整个工作温度范用内道用,文
数名你
工作境品,更
贮行讼庭
最高有效(率效的)坊货
5电特性(对检验要求见本规范的第8章》杀艾好
6标志
特性条性
(元总说控的第4单)
民向世流
院均电流
+--20V.mb-1xT:
正判电E
总电容bzxz.net
Ve=100V,=1MLis
向恢发时同
Ir—2:LA,Ik—2DUnA
正向改分月租
Ir-1nA,F-1DkH
申联数1
封装电案1
值不效险
最小假
最小值
果大位
母人值
6.1每个器件均放在有参整卡的小包装袋内,季数卡上应有下到资料:6.1.1完整的器件型号,
6.1.2与外形图相应的嵌性识别符号(一针)。6.1.3质量评定类别标汇(应放准型号后如1N4041),6.1.1检验批职别代剂.
6.2包装箱上的标志
SJ/T 1006291
6.2、1益基参数下上的器件型号、类别标记和检腔批代号。6.2.2标上“伯源“等字样,
6.2.3制造广商。
7订货资料
订货单上应有下列内
7.1准确的型号。
7.2订货数量。
7.3本规范编号
了.4对器件的其它要求。
日试验件和检验要求
8.1在本章中,除非见有规定引用的条文号对应于GB4589.1的条文号,测试方法引自GBS570微做微二极管测试方法,日.2器好物A组、B组检验批的时间可以为一个片。试验条件和抢验要求见下表,
全部试照部非磁坏性的(3. 6.6)险险
A1分姐
外部些验
2分姐
个工作部件
A2u分题
A3分组
引用标溢
(见总规范的乘4章】
CB 6579.5.2
C 6570.5. 3. 1
GB 6370,5.2
GE6370,8.2
GB 6373,6. 3. 1
GE 659.5.3
GB 6573,5.5
V-200V
Ip-104mA
r,-2aav
V=100Vf=1MIr
PIN40A
PIN40B
PIM4CC
fr=:00mA
F-10kHs
最小位最大位
极性期例
SJ/:1DD62—91
标(D)的试验是破坏性的(3.6.5)引用标准
检致或试验
(见总其随的弟)
B1分组
B4 分组
可焊性
eS 分组
退度变化
随之以
交变超热(13)
是后酬试,
同A26分理
B分组
电射久性
最后阴试:
CRRL分组
GB 4937,2. 2. 111
Gu493.3.1
GB 2423, 4\
本规10.2
GD 0570 6.2
tH 5570 s.4
受试端数,2
7 =-35C T=125℃
f,=1min f--2~3min
请环内整:5次
严整世:55℃
降盟价段扣对证股
皮在试验后的4以副旁所
有规正物参效
按点2分组
吋间16alh
Vu=200V
I-100:A f-1DkHz
时取积取分组的赋性经料
生11GB49371半导体分立器件机盘和气能减股方.批
教小道避大宜
拨CB 49374
2.2.1进行检验
同A2分组
2]GB2123.4电E电于产品基本随试验烘程试监1:交变证热式监方法》单位E
SJ/T 1COG2.-91
标注(D>的试验提弦坏性的(3.G.G)性验空试验
1分组
C2b分阻
C3分组
拉力(13)
C4分组
耐织通热(D)
后测试:
C7分组
交变况热D)
最后测试
同A分组
CB 分
比耐乳
后谢试,
同3分距
C9 分组
高证购存(D)
最品测试:
CRL分组
引协雅
T'sm=-25T:
1见起规范的前1章
08 6579.5.2
CB 4937.2.1.1
G427722.2
G 6570.G.2
CHRETD.R.3
本规他13.2
GH 4937 3.2
7tmb:-_00℃
试端:2
设询时间:10士15
依惠时同:50mia
严格元,55T:.6d
应在式验后的41内测完
所有提定的参效
同A25分组
Vp-U0VJru=50mA
4同:000l1
按照分纸
g-150T:
时间:000l1
按88分组
C3,C1,C和C9的属性质料:8试的的后的量效率极
取小值景大低
同3守组
同B分组
单LTPD
9D钥一
一鉴定抵难试验(不要求)
:10附加资料
10.1特性曲载
,产.关系线见图1
L.F—V差系归线(见图2)
.m—V关系邮线(见图3)
d,P.-T关系曲(见图)
S/T10062—91
图1证同微分电阻与止向中流关系曲线ir()
SJ10062—91
射频电组与电关系拍线
cu=0. 8pF
函3总电容与反向电压关系曲线
10.2业耐久性试验方法
SJ/T10062—91
图4功耗降线
器件应在程态交流条件下工作、环境温度为离担,无敏热器,附加说明,
本标准用国营九七O厂负责起草
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