【电子行业标准(SJ)】 半导体集成电路 ＪＨ００９、ＪＨ２０１０型ＨＴＬ与非门详细规范

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
SJ50597.3-94
半导体集成电路JH009、JH2010
型HTL与非门详细规范
Detail spcification for types JH009 and JH2010HTL NAND gate of semiconductor integerated circuits1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JH009.JH2010
型HTL 与非门详细规范
Detail speclficatlon for types JH009 and JH2010HTL NAND gale of semiconductor integrated circuits1范围
1.1主题内容
SJ 50597.394
本规范规定了半导体集成电路JH009、JH2010型HTL与非门（以下简称器件）的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产利采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。1.3.1器件编号
器件编号应按 GJB597(微电路总规范>第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
器件型号
JH2010
1.3.1.2器件等级
器件名称
双4输入与非驱述器(CC,可扩展）四2输入与非门
器件等级应为 GJB597第 3.4条所规定的 B级和本规范所规定的B1级。1.3.1.3 封装形式
封装形式按GB7092(半导体集成电路外形尺寸》的规定如下：中华人民共和国电子工业部199409-30发布1994-12-01实施
-rKAONKAca-
1.3.2绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
电源电压
髓入电压
输人电流
出电演
贮存蕴度
JH2010
JH2010
引线耐焊接瘟度(10g）
1.3.3推荐工作条件
推荐工作条件如下：
电源电压
摘人高电平电压
输人低电平电压
摘出截止态电流
轮出高电平电流
输出低电平电流
工作环境温度
2引用文件
GB 3431.1—82
GB 3431.2—86
JH2010
JH2010
$1 50597.3 - 94
D14S3(陶瓷双列封装）
F14X2(陶瓷扇平封装）
H14X2(陶瓷熔封平封装）
J14S3(萄瓷熔封强死封装）
半导停集成电路文字符号
电参数文字符号
半导体集成电路文字符号引出端功能符号单
GB 3440—82
GB 4590—84
GB 4728.12-85
GB 7092
GJB 548—88
GJB 597—88
GJB 1649--93
3要求
3.1详细要求
SJ 50597.394
半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理半导体集成电路机械和气候试验方法电气图用图形符号二进制逻辑单元半导体集成电路外形尺寸
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放电控制大纲
各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸按 GJB 597 和本规范的规定。3.2.1逻辑图、逻辑符号和引出端排列逻辑图、逻辑符号和引出端排列应符合GB4728.12（电气图用图形符号二进制逻辑单元>和本规范图1的规定。引出端排列为俯视图。JH009逻辑图
IEx te
c（10
JH2010逻辑图
3.2.2功能表
功能表如下：
6）2Y
逻辑符号
逻辑符号
引出排列
引出端排列
图1逻辑图、逻辑符号和引出端排列口4
-TrKAONKAca-
-高电平,L-
3.2.3电原理图
SU.50597.3-94
低电平,X-任意态
制造广在鉴定前应将电原理图提交给鉴定机构，各制造厂的电原理图应由整定机构存档备查。
3.2.4封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂摄
引线材料和涂覆应按GIB S97第3.5.6条的规定。3.4电特性
电待性应符合本规范表1的规定。表 1-1JH009 的电特性
输出截止态电压
输出低电平电压
输山低电平电压
(扩展）
输人高电平电流
输人低电平电流
YxoFF)
(若无其他规定，-55t≤≤125c)Ve- = 13.SV; Vi. - 1.5VI
I = loxors 100yA
Vcc=13.5V,Vi9V; lou=48mA
Vee - 13.5V; Vmr - 9.7V ;
Ip = 48mA
Vee - 15V: V = 16.5V
Vec=16.5V;Vr =1.5V
规莊值
轴出高电平时电
郸出低电平时电Icc
源电流
输出由高电平到
低电平传输延返rHL
输出由低电平到
商电平传输延返PLR
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续表1-1JH009的电特性
【若无其他规定，-55℃≤T,≤125C)Vec = 16.5V
Ver = 16.5V
Vec - 15V:
R. = 1.$rn:
C. = 100pF :
f = 500kHz i
t,≤ 15nss
注:1)完整的测试案件列于表 3。tf5ns
表 1-2JH2010的电特性
艳出高电平电压
输出低电平电压
输入高电平电流
输入低电乎电流
输出短路电灌2
输出高电平时电
源电流
输出低电平时电|Ica
源电流
输出由高电平到
低电平传输延迟
输出由低电平到
高电平传延迟
（若无其他规定，-55≤125）
Ver = 13.5V; Vr = 6.5V 1
Iot = - 0. 5mA
Vec = 13.5V : Vm = 9V ; JoL = 14mAVece = 15V; Vrn = 16.5V
Vee = 16.5V: Vh - 1.5V
Vec - 16.5V
Vee = 16.5V
Vec - 16.5V
Vec = I5V;
R, = 1.Skn :
C, = 00pF ;= 50nkHz #
,≤ 15nss≤ 15ng
注;1)完整的测试条件列于表 3。2)每次只能短路一个轮出端。
3.5电试验要求
规范值
各级器件的电试验要求，应为本规范表2所规定的有关分组。各个分组的电测试按本规范表3的规定，
-TrKAONTKAa-
中间(老化前)电测试
中闫(老化后)电烫试
最些电测试
A组检验电测试
C组终点电测试
C组检验增加的电测试
口组终点电测试
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表 2电试验要求
B级器件
A2, A3,A7, A9
AI,A2,A3,A7,A9,A10
A1,A2,A3
不要求
A1,A2, A3
注：1)该分组要求PDA计算(见4.2条)。表 3-1 JH009 的电测试
PCHCIFE
引用标性
GR 3440
（若无其他规定，TA=25C）
Vcc=13.5V,输人端接Vz=1.5V.
被测输出端注「。—100A。
Vu: = 13.5V,被测輪人端接 ViH = 9V,核测输出端注人1ol=48mA。
B级器件
A2, A3.A7.A9
A1, A2, A2, A7. A9
AI,A2,A3
A10,A1E
A1, A2, A3
规范值
Vcc=13.5V.被测扩展端接Vx9.7V，其余输入菊开路，被测输出端注入Iat=48mAVc = 15V,被测输入端接 Vur = 16.5V,其危物入端接地,输出圳并路。
Vuc = 16.5V,被测输入端接 VL - 1.5V,其他轴入端开路，输出端开路。Vcc = 16.5V输入端接地,出删开路。Vc =16.5V输入端开路,输出端开路。TA = 125T 下测试,参数、条件,规范值要求同 A1 分组,T。 = -55℃ 下测试、参数、条件、规范值要求同 At 分组。Var-15V,按功能表进行测试。免费标准bzxz.net
Vcc = 15V, V. = 15V, VE = 7.5V. = 500kHz9 = 50%, F, ≤ 15ns, 1,≤ 15ns, RL = 1. 5k0,C,=100pF。（测A.E.C.D→Y。见本规范图 2)最大
引州标陷
GB3440
SJ 50597.394
续表3-1JH009的电测试
（若无其他规定，，25℃）
TA = 125C,
其他测试条件司 A9 分组,
TA - - 55C 下开关测试,参数、条件、规范值要求同 A9 分组。规范
注;1)测试 JH009 各参数时(除 VαtoFP,外).也可采用在其输出管巢电极与电源之间接入一个 R=10kl自阻的方法进行测量。
表3-2TH2010的电测试
引用标准
GB 3440
（若无其他规定，T=25）
Vce=13.5V被领输人端按Vm=6.5V.其余输入端开路,被划门输出 Icr =-0.5mA 。Vec = 13.5V,被測输入端接 ViH = 9V,被测输出常注人 1oL 一 14mA 。Vcc=15V.被溯输入端接Vmr=16.5V，其他输入端接非,输出端开路
Vcc =16.5V,被測输入端接 Vz =1.5V,其他输入端开路，输出端开路。Yes=16.5V，输入端接地，输出端接地。Vuc=16.5V输入端接地，输出端开路。Vcc.=16.5V输入端开路。输山端开路。TA125℃下测试，参数、条件、规范值要求同A1分组。TA--55℃下测试,参数、条件、规落值要求同AI分组。Vcc=15V,按动能衰进行测试
Vu: - IsV. Vm. - 15V. VArr - 75V,f = 500kHz,q = 50%,t, ≤ 15ns, t, ≤2 t5ns, RL = 1.5k0,CL =100，（测A.B.-Y。见去规范图2）TA = 125t,
其他测试条件同A9分组。
T.--55℃下开关测试，参数、条作、规范值要求同 A9分组。规范
-TrKAONTKAa-
负载线路图
b。波形图
注：①负载
R.= 1.5km
$J 50597.394
接披测输出
jttpra
图2开关时间测试负载线路和波形图CL=100pF（包括探头和夹具电容）图翁人波形
脉冲幅度: Y, = Vcc ± 1%
占空比：9=50%；
脉宽： ** 1.0 ±0,1μs！
上升、下降：t，=t≤ISms；
顺率：=500kHz。
3.6标志
器件标志应按GJB597第3.6条的规定。4质量保证规走
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外,抽样和检验程序应按GJB597和GIB548方法S005的规定。4.2筛选
在鉴定和质量致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定进18
行筛选。
J50597.394
裴4筛选
著无其他规定，表中引用的方法系指GJB548的试验方法条件和要求
筛选项目
内部目检(封帽
魏定性烘错（不
要求终点电测
温度循环
恒定加速度
中间（老化前）
电测试
中间(老化后）
电测试
允许的不合格
品率（PUA及
其计算
最终电测试
1)细检漏
2)粗检痛
B纸器
试验条件 B
试验条件 CI避度:
150时间24h）
试酸条件 C
试验条作E,
(294×10°m/5)
Y,方间
按方法 1010 的目
检判据
本规范 A1分组
试验条样 D
（摄度：125
时间：160h，
本规范 AI分组
5%。当本规范
A1 分组的不合格
品率不超过 10 %
时可需新提交老
化,但只允许一次
本规茜 AZ、A3、
A7分组
试验条件B
试验条作 C(温度:
150t间=24h）
试验条件 C
2001 ,试验条件 D,
【196×10°m/2）
Y1方间
按方法1010的目
检判据
本规范 A 分组
试验条件D
露度:125c
时间：160h）
本规范 A1 分组
10%。当本规范
AI 分组的不合格
品率不超过 20 %
时可重新提交老
化,但只允许一次
本规范 A2、A3.
A7、A9分组
可用方法1011试验条件A15
饮循环)替代。
可在“密封\筛后进行。
引线断著、外充破裂、封盖脱
落为失效
可由触造厂决定是否进行本
筛选。
采用本规范图 3或与其等效
的线路。
对所有批。用老化失效数除
以投人老化的该检验拱总的
器件数,即为该批的不合格品
率 PDA 值。不大于规定的
PDA时，则该批应接收。
本项筛选后，若引线操覆改变
或返.T.,则应再进行A1分组
[或 A2,A7 分组)测试。
-TrKAONTKAa-
筛选项目
外部目检
监定或质剪
致性检验的试
验样品抽取
JG2010
SJ 50597.3-94
续表4筛选
条件和要求
B级器种
第3.1条
第3.5茶
注: Ycc = t5V
R = 1.5kn ± 5%
Bi级器件
第3.1条
第3.5条
图3老化和稳态寿命试验线路
D,—二极管(为 3DK3B,将 B、C极短接)。③输入方波信号：
.颈率：f=25kHz~100kHz：
b．占空比：9= 50%：
c、 上升,下降: t,tr< lμs ;
d. 幅度: Vm = Vcc = 1% 。
—10-
可在发货前接批进行。
4.3鉴定检验
SJ 50597.3- 94
鉴定检验应按GJB597第4.4条的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范 A、B、C和 D组检验(克 4,4,1 ~4,4. 4 条)的规定。4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按 GIB 597第 4.5 条和本规范的规定。 所进行的检验应征合 GJR 548方法5005和本规范A,B、C和D组检验(见4.4.1～4.4.4条）的规定。4.4.1 A 组检验
A组检验应按本规范表5的规定，有关检验组对A组的电测试要求，按本规范表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用同一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组测试可按任意顺序逆行。合格判定数【C)最大为2。表 5A组检验
A1 分组
25℃下静态测试
A2 分组
125C下静态测试
A3 分组
-55亡下静态测试
A7 分组
25C下功能测试
A9分组
25℃下开关测试
A10分组
125芒下开关试
A11分组
-55亡下开关测试
4.4.2 B组检险
B组检验应按本规范表6的规定。B级器件
B级器件
不要求
BI～B5分组可用同检验批中电性能不合格的器件作为样本。rrKAoNiKAca-
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