【电子行业标准(SJ)】 半导体集成电路 ＪＴ５４ＬＳ８５型ＬＳ－ＴＴＬ四位数值比较器详细规范

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
SJ50597.1-94
半导体集成电路JT54LS85型
LS-TTL四位数值比较器详细规范Detail speclfication for type JT54LS85 LS-TTL 4bit magnitudecomparator of semiconductor integrated circuit1994-09-30发布wwW.bzxz.Net
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JT54LS85型
LS一TTL四位数值比较器详细规范Detail specification for type JT54LS85 LS-TTL4bit magnitudecomparator ef semiconductar Integrated circuit1范围
1.1主题内容
SJ 50597. 1~94
本规范规定了硅单片半导体集成电路JT54LS85型LS-TT1四位数值比较器（以下简称器件>的详细要求。
1.2适用范团
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类，1.3.1器件编号
器件编号应按GJR 597微电路总规范》第3.6.2条的规定。1. 3. 1. 1 器件型号
器件型号如下：
器件型号
JT54LS85
1.3-1.2器件等级
器件名称
四位数值比校器
器件等级应为GJB597第3.4条所规定的B级和本规范规定的B,级。1.3.1.3封装形式
封装形式按GB7092（半导体集成电路外形尺寸的规定。封装形式如下，
C20P3(阿瓷无引线片式载体封装）D15S3（陶瓷双列封装）
F16X2(随瓷扇平封装)
H16X2（肉瓷熔封扇平封装）
J16S3（商瓷熔封双列封装
中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布式
1994-12-01实施
-rKAONKAca-
1.3-2绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
电源电压
输人电压
广存溢度
引线耐焊接温度（10s）
结凝”
SJ 50597. 194
注：1>器件应能经受测试输出短露电流（Ins)时所增加的功耗。2)除按GJB548（微电子器件试验方法和程序方法5004老化筛选条件外，不得超过最大结摄。1.3.3推荐工作条件
推荐工作条件始下：
电源电压
输人高电平电压
输入低电平电压
输出高电平电流
输出低电乎电流
工作环境温度
2引用文件
GB3431.1-82半导体成电路文字符号电参数文字符号GB3431.286半导体集成电路文字符号引出端功能符号GB3439—82
GB4590-84
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理半导体集成电路机械和气候试验方法GB4728.12-85电气图用图形符号二进制逻辑单元GB7092
半导体集成电路外形尺寸
GJ B548 --88
GJB 597--88
GJB1649—93
3要求
3.1详细要求
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放电控制大纫
各项要求应按GJB597和本规范的规定，2
3.2设计、结构和外形尺寸
SJ50597.1-94
设计、结构和外形尺寸按GJB579和本规范的规定。3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。逻辑符号、逻辑图符合GB4728.12的规庭，引出端排列为俯视图。
逻辑符号
引出端排列
(D,F、HJ型)
A- 2L
逻辑图
（C型）
9 u1tfo11
图1逻辑符号、逻辑图和引出够排殊FA=E
rKAoNiKAca
3.2.2功能表
功能表娜下；
SJ 50597. 1-- 94
H--高电平，L—低电平，X任意，注：
3.2.3电原理图
A>BA制造厂在鉴定前应将电原理图提交给鉴定机构。各制造厂的电原理图出鉴定机构存档备查.
3.2.4封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定，3.4电持性
电特性应符合表1的规定。
表1电特性
输出高电平电压
输出低电平电压
输人钳位电压
条件“
《若无其他规定，—55≤TA东125）Ve- t. 5V,foa= — 400itA
Vu--0.7V,Vm=2. 0V
Ver -4. 5V,Iα = 4nA
VL=0.7V.V=-2.0V
Yce=4.5V.x= —18mA
Ta=25r
规范值
输入高电胃电池
最大输人电压下的输入
输入低电平电流
输出短路电癌”
电源电流
输出由低电平到高电平
传输延迟时间
输出由低电平到高电乎
传输延迟时间
输出由高电平到低电平
传输延时间
往：1)完的测试条件列手妻3
2)每次只短路一个擒出端。
3. 5电试验要求
SJ 50597. 1-- 94
续表1
漆件1
(若无其他规定，—55≤Ta系125℃)Vrr.-5. 5V.
Vm=5. 5V,
V,--7. 0V
Vce-5.5V.
Vi- 0. 4V
Voc—5.5V
Vac=5. 5V
CL=15pF±10%
R=20±5%
见本规范图2
CL=15pF±10%
R=2kn±5%
Ver-5. ov
现本规范捆2
AB
其余辖入蜡
AB
其余榆人端
AB
其余输端
A,B+PA>B,
(三级门)
A,B--Fa-a
(三级门)
A(二烫门)
A>B,A=B-→
(二级门)
ArB-FAn
(一缘门)
A,B-Fs
(三级门)
A,B--FA-1
(兰级门》
A(二级门)
A>B,A-R--
（二级门)
A=-B--Fa--
(—级门)
规范值
器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组。各个分组的电测试按表3的规定。5
TTKAONKAca
中闻(老化前)电测试
中间(老化后)电测试
最效电测试
A 组试验要求
C 组终点电测试
C 组检验增加的分组
D 组资点电测试
sJ 50597. 1 94
表 2 电试验要求
B娠器件
A2+A3.A7/A9
A1,A2,A3.AT.A9.A10.A11
A1,A2,A3
不要求
A1,A2,A3
性, 1)该分组要求 PDA计算(见 4. 2 条),表3JT54LS85电测试
引用标准
GB3439
2. 25 条
(若无其糖规定,T±25 )
Vcc -4. 5V,V-2. DV,Vz-0, 7V,I -- 0. 4mA,
Vcc-4. 5V,Va-2. bV,Va-0.7V,
Ior ImA
Vcc 4. 5V,被测摘入增 Ix=—18mAVc-5. 5Y,被测输入端
V,抑 7. 0V,其余输人端 V,严
Vec-5.5Y,被测输入增
V,- Z 7V,其余物人端 V, -
Ver= 5. 5V,被测输人圳
V,- 0. 4V,其余入端 Vi
组(见表3)
B,级骼件
A2.A3+A7A9
A1.A2.A3.AT1A9
A1,A2,A3
A10,A11
Al,A2,A3
规范值
A>B,A其余输入蜡
A>B,A其余输入壤
A>B,A其余输人端
Vcc=5.5V，被测输入端为高电平Vcc=5.5V,A+B辅入端Vj-0V
其余输人埃 V,4. 5V,输出增开略-T,=125 亡,除 Vz不测外,参数,条件,规范值均同 A1 分组。Tx=一55 C,除 V征不测外,参数,条件,规范值均同 A1 分组,Yc =5V,按功能表进行，
引用标难
GB3439
SJ 50597.1-94
续表3
（若无其他规定，T，=25它）
Vee-5. 0V.
Ct=15pF±10%
更本规范图 2
CL=15pF110%
Rr-2kn±5%
见本规范图2
Ta=125C
测试条件同A9分组。
A,B-FBt
(三级门)
A,B-+F:-1
(三级门)
A(二级门)
A>B,A=B,→
(二级门)
A=B+FA-I
(一级门
A,B+F>n:
(三级门)
A,B-Fa-+
(三级门)
A(二级门)
A>B.A=B,-
(二级门)
A-I-FA-I
(一级门)
A,B+FA>E+
(三级门)
A,B-+Fs--
(兰级门)
A(二级门)
A>B.A-B,.-
(二级门）
A-B-FA~n
(一级门)
规范值
-TrKAONiKAca-
引用标准
CB3439
SJ 50597. 1 94
续表3
(将无其钩规定,25)
TA-125C
测试条件同 A9 分组
A,B-FA>E+
(兰级行）
A,B→FA-B
(三级门)
A(二级门)
A>B--Fa<
A-B-Fa（二级门）
(—级们）
T。±一55C，测试条件、参数和规范值同A10分组。a负载线路
测试点rc
注：①输入波形具有下列持性：输入
ehl-++
图2负载线略和波形图
=500ns， t≤15ns;t,≤6ns， f=1MHz1 占空比:@=50%。②二级管型号为2CK76。
规范值
b波形图
3.6标志
SJ 50597.1-- 94
标志应按GJB597第3.6条的规定。3.7微电路组的划分
本规范所涉及的器件应为第11微电路组（见GJB597附录E)。4质量保证规定
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB597和GJB548方法5005的规定。4.2筛选
在鉴定和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定进行筛选。
表4筛选程序
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法录件和要求
筛选项目
内部目
糍定性烘靖
(不要求终点测量)
激度循环
恒定加连度
中间(老化前)电
中间（老化后）电测
B级器件
试验条件 B
试验条件C
（温度：150℃
时间：24h
试验条许心
试验条件F，
Y方询
本规范 A1分组
试验备件D
《度：125r
时：160h）
本规范A1分组
B,级器件
试验条件B
试验条件C
(温度：150℃
时间：24h）
试验条件心
试验条件 D，
Y方向
本规范 A1分组
：1015
试验条件 D
(温度：125℃
时间：1BCh）
本规范 A1分组
可用方法1011试验条件A
可在“密封”筛选后进行，引
线断落、外壳被裂、封益脱
落为失效。
由制造广选择是否进行。
按本规范图 3 线路或等效
-rKAONKAca-
筛选项目
PDA 计算
最然电测试
细检漏
外部已检
鉴定试验或质量一
SJ 50597. 1- 94
缕表 4
条件和要交
B级器件
5%本规范 A1分
组。当不合格品
率不超过10%时
可惠新提父老
化，但只允许一
本规范 A2,A3、
A7、A9分组
致性检验试验样品50053.5条
的选取
B,级器件
1C%,本规范 A1
分翌。当不合格
品单不超过20元
时可重新提交老
化,但只充许一
若老化前未进行中间电参
数试验,那度老化后 A1 分
组检出的失效数也应计人
本规范 A2、A3、
本项筛选后,若改变器件的
A7、A9分组
50053. 5 条
引线涂覆或返T,勋应荨进
行 A1 和 A7 分组试验,
可在发货前按指过行。
图3老化线路和寿命试验线路图
注@Vcc-5Vt R,-1Kn; Fz=100;
②脉冲发生器持性要求;
R3 =270,
G.VH=2. 0-~5. 5V,Vm.=0. 5 ~0. 7V; -100sHz;点空h-d 50% .G2:除于-50kHz 外,其余与 G1相间,1与G 同步。 10
43鉴定检验
SJ 50597. 1-- 94
鉴定捡验应按GTB597中4.4条的规定。所进行的检验应符合CJB548方法5005和本范 A,B、C和D组检验(见4 4. 1~4. 4.4茶)的规定。4-4质量--致性捡验
质量一-致性检验应按GJB597中1.5条的规定。所进行的检验应符合CJB548法5005和在规范A,B,C和D组检验(见4.4.1~4.4.4条)的规定。4.4.1A组检验
A.组捡验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2，各分组的具体也参数测试按本规范表3的规定，各分组的测试可用一个样本进行。音所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%抢验。各分组的测试可按任意顺序进行，合格判定数(C)最大为2。表 5 A组检验
A1分维
25%:下静态糖试
1250下静森源试
A3分筑
-350下静态涎试
A7会组
℃下所能测试
A9分组
25下开关测试
公组[
125Y下开关测试
A1分纪
-55下开关测试
4.4.2B组拉验
B组检验应按本规范表6的规定。B级器件
B1级器件
B1～135分组可用司-一检验批中审性能不合格的器件作为样本。
rrKAoNiKAca-
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。