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【电子行业标准(SJ)】 铌酸锂集成光学波导调制器测试方法
本网站 发布时间:
2024-10-20 18:06:51
- SJ20869-2003
- 现行
标准号:
SJ 20869-2003
标准名称:
铌酸锂集成光学波导调制器测试方法
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
2003-12-15 -
实施日期:
2004-03-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
2.82 MB

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标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
本标准规定了铌酸锂集成光学波导调制器的测试方法。本标准适用于铌酸锂集成光学波导调制器(以下简称“调制器”)的光电参数测试。其他材料制成的集成光学波导调制器也可参照执行。 SJ 20869-2003 铌酸锂集成光学波导调制器测试方法 SJ20869-2003

部分标准内容:
中华人民共和国电子行业军用标准FL6030
SJ20869—2003
酸锂集成光学波导调制器
测试方法
Measuring methods for LiNbO integrated optical guided-wave modulators2003-12-15发布
2004-03-01实施
中华人民共和国信息产业部批准前言
引用文件…
3术语和定义
4一般要求
5详细要求
方法1001
方法1002
方法1003
方法1004
方法1005
方法1006
方法1007
方法1008
插入损耗
分束比·
尾纤偏振串音
半波电压·
残余强度调制
背向光反射
调制消光比
SJ20869—2003
SJ20869-2003
本标准虫信息产业部电子第四研究所归口。言
本标准起草单位:中国电子科技集团公司第四十四研究所。本标准土要起草人:李刚毅、沈映欣、郭萍。1范围
锯酸锂集成光学波导调制器测试方法本标准规定了酸锂集成光学波导调制器的测试方法。SJ20869—2003
本标准适用于锯酸锂集成光学波导调制器(以下简称“调制器\)的光电参数测试。其他材料制成的集成光学波导调制器也可参照执行。2引用文件
下列文件中的有关条款通过引用而成为本标准的条款。凡注日期或版次的引用文件,其后的任何修改单(不包括勘误的内容)或修订版本都不适用于本标准,但提倡使用本标准的各方探讨使用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件,其最新版本适用于本标准。电工电子产品环境试验第1部分:总则GB/T2421—1999
3术语和定义!
下列术语和定义适用于本标准。3.1插入损耗insertionloss
调制器给系统带来的光损耗,即调制器插入系统后,调制器的输入光功率与最大输出光功率的比值。3.2分束比splitratio
调制器各分支输出光功率分别相对于总输出光功率的相对值的比。3.3尾纤偏振串音polarizationcrosstaik调制器的保偏尾纤非工作轴向偏振输出的光功率与工作轴向偏振输出的光功率的比值。3.4半波电压half-wavevoltage
在规定的调制信号下,对于强度调制器半波电压为输出光功率从最大到最小的外加电压。对于相位调制器半波电压为输出光相位移动元时所需的外加电压。3.5带宽bandwidth
当光调制度降低到最大光调制度的50%时所对应的频率范围。3.6残余强度调制(相位调制器的)residualintensitymodulation(inphasemodulators)相位调制器工作时伴随的光强度调制。在规定调制信号下,强度调制的峰-峰值与平均光强值的比值。
3.7背向光反射backreflection
调制器返回入射点的反射光功率与入射光功率的比值。3.8调制消光比extinctionratio(on/off)强度调制器经电调制后,输出能达到的最大光强与最小光强的比值。4一般要求
4.1测试条件
4.1.1通则
除另有规定外,调制器光电参数的测试应按本标准规定的测试条件进行。4.1.2标准大气条件
SJ20869—2003
除另有规定外,应符合GB/T2421一1999中5.3的规定。4.1.3仲裁标准大气条件
除另有规定外,应符合GB/T2421一1999中5.2的规定。4.1.4环境条件
a)应无影响测试准确度的机械振动和电磁干扰;b)除另有规定外,调制器全部光电参数的测试均应在热平衡环境条件下进行;c)测试系统应良好接地。
4.2测试系统及测试仪器
4.2.1通则
测试用仪器的准确度应符合测试规定要求,按有关操作规程进行测试。4.2.2光源
测试中使用的光源应满足测试要求。4.2.3电压源
测试中使用的电压源的电压在给定值的范围内误差为士3%。4.2.4检偏器
测试中使用的检偏器可用格兰棱镜等,其偏振消光比应大于50dB,光的透过率应满足测试要求。4.2.5光纤耦合器
测试中使用的光纤耦合器的耦合比应满足测试要求。4.2.6网络分析仪
测试中使用的网络分析仪应满足测试要求。4.2.7无应力透镜
测试中使用的无应力透镜的内应力及退偏效应满足测试要求。4.2.8光功率测量仪器
光功率测量仪器可用光功率计等,应具有被测调制器相适应的波长范围。响应度、带宽、响应度线性等满足测试要求。
5详细要求
本测试方法分为:
方法1001
方法1002
方法1003
方法1004
方法1005
方法1006
方法1007
方法1008
插入损耗:
分束比:
尾纤偏振串音;
半波电压;
带宽;
残余强度调制;
背向光反射:
调制消光比。
在规定条件下,测试调制器的插入损耗。测试框图
测试框图见图1。
光源:
-被测调制器;
方法1001
插入损耗
直流稳压源(相位调制器可不接直流稳压源);PD光功率计:
FC光纤。
图1插入损耗测试框图
3测试步骤
3.1按图1连接测试系统。
SJ20869—2003
3.2开启光源,对于相位调制器调节光偏振状态,对于强度调制器调节直流偏置工作点,使光功率计的读数为最大值Pomax(若为分束器,Pomax为各分支波导输出的总的光功率),然后从被测调制器输入尾纤的A点处剪断,用光功率计测出输入光功率Pi,根据公式(1)计算出插入损耗Li。Li=10lg
式中:
L—插入损耗,dB。
规定条件
除另有规定外,应在详细规范中规定下列细节:a)工作模式:
工作波长;
环境温度。
SJ20869--2003
在规定条件下,测试调制器的分束比。2测试框图
测试框图见图2。
S-光源:
LB—被测调制器;
PD光功率计;
FC—光纤。
方法1002
分束比
图2分束比测试框图
3测试步骤
3.1按图2连接测试系统。
3.2开启光源S,用光功率计分别测出被测调制器输出尾纤的光功率值Po1、Po2Pon,根据公式(2)计算出分束比D。
Poi + Po2 +...+ Pon
4规定条件
Pol +Poa +..+ Pon
除另有规定外,应在详细规范中规定下列细节:a)
工作波长;
工作模式;
环境温度。
Poi+Po2+...Pon
方法1003
尾纤偏振串音
在规定条件下,测试调制器的尾纤偏振串音。2测试框图
测试框图见图3。
光源;
被测调制器:
-光功率计:
检偏器:
无应力透镜;
一光纤!
3测试步骤
3.1按图3连接测试系统。
图3、尾纤偏振串音测试框图
3.2转动检偏器,-使光功率计的读数为最大值P。Pamin,根据公式(3)计算出尾纤偏振串音Kp。PD
SJ20869—2003
使光功率计的读数为最小值
然后旋转检偏器,
Kp=10lg(Pomin/P
式中;
尾纤偏振串音,dB。
注意事项
光路严格准直,光纤端面保持垂直、5·规定条件
除另有规定外,在详细规范中应规定如下细节:a)工作波长;
环境温度;
工作模式。免费标准下载网bzxz
SJ20869--2003
在规定条件下,测试调制器的半波电压。2测试框图
方法1004
半波电压
强度调制器半波电压测试框图见图4a);相位调制器半波电压测试框图见图4b);b)
Y波导相位调制器测试框图见图4c)或图4d)。③
图4a)
图4b)
强度调制器的半波电压测试框图LBB
相位调制器的半波电压测试框图LB
图4c)Y波导相位调制器的半波电压测试框图(方法一)S
光纤线圈
图4d)、Y波导相位调制器的半波电压测试框图(方法二)光源;
LB—-—被测调制器:
一辅助调制器:
一直流稳压源(或超低频信号发生器);GI
DC、DC1、DC2-
一信号发生器;
-2×2光纤耦合器或3dB耦合器;OE-
一光电转换器(可采用光功率计等);os
3测试步骤
一示波器:
光功率计:
光纤。
图4半波电压测试框图
3.1强度调制器的半波电压测试步骤3.1.1按图4a)连接测试系统。
SJ20869—2003
3.1.2调节直流稳压源的电压,使光功率计的读数从最大变到最小,从直流稳压源上读出对应的电压值,两者之差即为半波电压V.。3.2相位调制器的半波电压测试步骤3.2.1按图4b)连接。测试步骤同3.1.2。3.3Y波导相位调制器半波电压测试步骤3.3.1Y波导相位调制器半波电压测试(方法一)按图4c)连接测试框图。测试步骤同3.1.2。3.3.2Y波导相位调制器半波电压测试(方法二)3.3.3按图4d)连接测试系统。
3.3.4给被测调制器施加一定频率的方波信号,调节方波信号电压,当示波器上方波幅度到最大时的电压幅度为半波电压。
注意事项
形成光干涉仪两臂光程差必须在相干长度之内。在Y波导相位调制器半波电压测试方法二中,为了便于测试,光纤线圈不能太短。7
SJ20869--2003
规定条件
除另有规定外,在详细规范中应规定如下细节:a)
工作波长;
工作模式;
环境温度。
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
SJ20869—2003
酸锂集成光学波导调制器
测试方法
Measuring methods for LiNbO integrated optical guided-wave modulators2003-12-15发布
2004-03-01实施
中华人民共和国信息产业部批准前言
引用文件…
3术语和定义
4一般要求
5详细要求
方法1001
方法1002
方法1003
方法1004
方法1005
方法1006
方法1007
方法1008
插入损耗
分束比·
尾纤偏振串音
半波电压·
残余强度调制
背向光反射
调制消光比
SJ20869—2003
SJ20869-2003
本标准虫信息产业部电子第四研究所归口。言
本标准起草单位:中国电子科技集团公司第四十四研究所。本标准土要起草人:李刚毅、沈映欣、郭萍。1范围
锯酸锂集成光学波导调制器测试方法本标准规定了酸锂集成光学波导调制器的测试方法。SJ20869—2003
本标准适用于锯酸锂集成光学波导调制器(以下简称“调制器\)的光电参数测试。其他材料制成的集成光学波导调制器也可参照执行。2引用文件
下列文件中的有关条款通过引用而成为本标准的条款。凡注日期或版次的引用文件,其后的任何修改单(不包括勘误的内容)或修订版本都不适用于本标准,但提倡使用本标准的各方探讨使用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件,其最新版本适用于本标准。电工电子产品环境试验第1部分:总则GB/T2421—1999
3术语和定义!
下列术语和定义适用于本标准。3.1插入损耗insertionloss
调制器给系统带来的光损耗,即调制器插入系统后,调制器的输入光功率与最大输出光功率的比值。3.2分束比splitratio
调制器各分支输出光功率分别相对于总输出光功率的相对值的比。3.3尾纤偏振串音polarizationcrosstaik调制器的保偏尾纤非工作轴向偏振输出的光功率与工作轴向偏振输出的光功率的比值。3.4半波电压half-wavevoltage
在规定的调制信号下,对于强度调制器半波电压为输出光功率从最大到最小的外加电压。对于相位调制器半波电压为输出光相位移动元时所需的外加电压。3.5带宽bandwidth
当光调制度降低到最大光调制度的50%时所对应的频率范围。3.6残余强度调制(相位调制器的)residualintensitymodulation(inphasemodulators)相位调制器工作时伴随的光强度调制。在规定调制信号下,强度调制的峰-峰值与平均光强值的比值。
3.7背向光反射backreflection
调制器返回入射点的反射光功率与入射光功率的比值。3.8调制消光比extinctionratio(on/off)强度调制器经电调制后,输出能达到的最大光强与最小光强的比值。4一般要求
4.1测试条件
4.1.1通则
除另有规定外,调制器光电参数的测试应按本标准规定的测试条件进行。4.1.2标准大气条件
SJ20869—2003
除另有规定外,应符合GB/T2421一1999中5.3的规定。4.1.3仲裁标准大气条件
除另有规定外,应符合GB/T2421一1999中5.2的规定。4.1.4环境条件
a)应无影响测试准确度的机械振动和电磁干扰;b)除另有规定外,调制器全部光电参数的测试均应在热平衡环境条件下进行;c)测试系统应良好接地。
4.2测试系统及测试仪器
4.2.1通则
测试用仪器的准确度应符合测试规定要求,按有关操作规程进行测试。4.2.2光源
测试中使用的光源应满足测试要求。4.2.3电压源
测试中使用的电压源的电压在给定值的范围内误差为士3%。4.2.4检偏器
测试中使用的检偏器可用格兰棱镜等,其偏振消光比应大于50dB,光的透过率应满足测试要求。4.2.5光纤耦合器
测试中使用的光纤耦合器的耦合比应满足测试要求。4.2.6网络分析仪
测试中使用的网络分析仪应满足测试要求。4.2.7无应力透镜
测试中使用的无应力透镜的内应力及退偏效应满足测试要求。4.2.8光功率测量仪器
光功率测量仪器可用光功率计等,应具有被测调制器相适应的波长范围。响应度、带宽、响应度线性等满足测试要求。
5详细要求
本测试方法分为:
方法1001
方法1002
方法1003
方法1004
方法1005
方法1006
方法1007
方法1008
插入损耗:
分束比:
尾纤偏振串音;
半波电压;
带宽;
残余强度调制;
背向光反射:
调制消光比。
在规定条件下,测试调制器的插入损耗。测试框图
测试框图见图1。
光源:
-被测调制器;
方法1001
插入损耗
直流稳压源(相位调制器可不接直流稳压源);PD光功率计:
FC光纤。
图1插入损耗测试框图
3测试步骤
3.1按图1连接测试系统。
SJ20869—2003
3.2开启光源,对于相位调制器调节光偏振状态,对于强度调制器调节直流偏置工作点,使光功率计的读数为最大值Pomax(若为分束器,Pomax为各分支波导输出的总的光功率),然后从被测调制器输入尾纤的A点处剪断,用光功率计测出输入光功率Pi,根据公式(1)计算出插入损耗Li。Li=10lg
式中:
L—插入损耗,dB。
规定条件
除另有规定外,应在详细规范中规定下列细节:a)工作模式:
工作波长;
环境温度。
SJ20869--2003
在规定条件下,测试调制器的分束比。2测试框图
测试框图见图2。
S-光源:
LB—被测调制器;
PD光功率计;
FC—光纤。
方法1002
分束比
图2分束比测试框图
3测试步骤
3.1按图2连接测试系统。
3.2开启光源S,用光功率计分别测出被测调制器输出尾纤的光功率值Po1、Po2Pon,根据公式(2)计算出分束比D。
Poi + Po2 +...+ Pon
4规定条件
Pol +Poa +..+ Pon
除另有规定外,应在详细规范中规定下列细节:a)
工作波长;
工作模式;
环境温度。
Poi+Po2+...Pon
方法1003
尾纤偏振串音
在规定条件下,测试调制器的尾纤偏振串音。2测试框图
测试框图见图3。
光源;
被测调制器:
-光功率计:
检偏器:
无应力透镜;
一光纤!
3测试步骤
3.1按图3连接测试系统。
图3、尾纤偏振串音测试框图
3.2转动检偏器,-使光功率计的读数为最大值P。Pamin,根据公式(3)计算出尾纤偏振串音Kp。PD
SJ20869—2003
使光功率计的读数为最小值
然后旋转检偏器,
Kp=10lg(Pomin/P
式中;
尾纤偏振串音,dB。
注意事项
光路严格准直,光纤端面保持垂直、5·规定条件
除另有规定外,在详细规范中应规定如下细节:a)工作波长;
环境温度;
工作模式。免费标准下载网bzxz
SJ20869--2003
在规定条件下,测试调制器的半波电压。2测试框图
方法1004
半波电压
强度调制器半波电压测试框图见图4a);相位调制器半波电压测试框图见图4b);b)
Y波导相位调制器测试框图见图4c)或图4d)。③
图4a)
图4b)
强度调制器的半波电压测试框图LBB
相位调制器的半波电压测试框图LB
图4c)Y波导相位调制器的半波电压测试框图(方法一)S
光纤线圈
图4d)、Y波导相位调制器的半波电压测试框图(方法二)光源;
LB—-—被测调制器:
一辅助调制器:
一直流稳压源(或超低频信号发生器);GI
DC、DC1、DC2-
一信号发生器;
-2×2光纤耦合器或3dB耦合器;OE-
一光电转换器(可采用光功率计等);os
3测试步骤
一示波器:
光功率计:
光纤。
图4半波电压测试框图
3.1强度调制器的半波电压测试步骤3.1.1按图4a)连接测试系统。
SJ20869—2003
3.1.2调节直流稳压源的电压,使光功率计的读数从最大变到最小,从直流稳压源上读出对应的电压值,两者之差即为半波电压V.。3.2相位调制器的半波电压测试步骤3.2.1按图4b)连接。测试步骤同3.1.2。3.3Y波导相位调制器半波电压测试步骤3.3.1Y波导相位调制器半波电压测试(方法一)按图4c)连接测试框图。测试步骤同3.1.2。3.3.2Y波导相位调制器半波电压测试(方法二)3.3.3按图4d)连接测试系统。
3.3.4给被测调制器施加一定频率的方波信号,调节方波信号电压,当示波器上方波幅度到最大时的电压幅度为半波电压。
注意事项
形成光干涉仪两臂光程差必须在相干长度之内。在Y波导相位调制器半波电压测试方法二中,为了便于测试,光纤线圈不能太短。7
SJ20869--2003
规定条件
除另有规定外,在详细规范中应规定如下细节:a)
工作波长;
工作模式;
环境温度。
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