【电子行业标准(SJ)】 真空硅铝合金中硅、铁、镁、铜的发射光谱分析方法

中华人民共和国机械电子工业部部标准SJ3198-89
真空硅铝合金分析方法
1989-02-10发布
1989-03-01实施
中华人民共和国机械电子工业部发布
中华人民共和国机械电子工业部部标准真空硅铝合金中硅、铁、镁、
铜的发射光谱分析方法
1主题内容与适用范圈
SJ3198-89
1.1主题内容
本标准规定了固体三标准试样的摄谱分析所用的材料、试剂、仪器、设备、标样和试样的制备、感光板的处理和精度要求。1.1适用范翻
本标准适用于真空硅铝合金中硅、铁、镁、铜元素的测定。2方法提要
本标准采用固体三标准试样法（即工作曲线最少是三个标准样品）。标样和试样应是金属棒状。由于铝是低熔点金属，分析中选用了稳定好、准确度高的高压火花发生器为分析光源，样品激发后摄谱，感光板经暗室处理、测光、以分析线对与比较线对的黑度△S或△P和标准样品中被分析元素含量的对数1ogc绘制工作曲线，求出样品中杂质含量。
3材料与试剂
a，固体标样一套（见附录A），b。石墨电极：（直经Φ6mm）光谱纯C。感光板、天津紫外I型，
d.脱脂棉，
无水乙醇，
显影液和定影液（按说明书配用）。仪器与设备
中型石英摄谱仪或大型摄谱仪，b.
高压火花发生器
C，电子交流稳压器（5KVA）
d。测微光度计：
e.映谱仪，
中华人民共和国机械电子工业部1989-02-10批准1989-03-01实施
f，架盘天平（分度值0.1g）3
9.钳工台，
细纹锉刀，
钢刷子，
j。毛刷，
k，秒表。
5标样和试样的制备
SJ3198-89
标样成试样加工成直径Φ7mm，长L50~60mm的锋状，用细纹锉刀将两个端面锉平，并与棒垂直。表面条纹应均匀一致、无划痕、污物和氧化层，最后去掉毛边和棱角。硅铝标样含显见附录A。
6分析步骤
选择摄谱条件
摄谱仪，Q一24中型石英摄谱仪，三透镜照明系统，5mm，
遮光板高
狭缝宽度20μm，
准直镜2.5，
相对孔镜1：15，
光源HF0—2火花发生器
稳压器614C电子交流稳压器，
电感0.3mH，
电压档4
量程2；
预燃时间25S，
爆光时间25S；
极距2.2mml
感光板，天津紫外I型
每个样品平行摄谱3次。
6.2感光板处理
感光板在米吐尔海得路显影液中显影3min，显影湿度18～20℃，定影至透明，水洗、干燥。
6.3测光与数据处理
感光板在测微光度针上测量分析线对的黑度，以△S一logC或△P一logC绘到工作曲线，在选择的摄谱条件下，使被测元素的谱线黑度和背景的黑度均处于正常黑度范2—
SJ8198--89
围，由工作曲线上查出被分析样品中杂质的百分含量。方法精度
分析线对波长、测定范围和方法精度（变异系数）见下表。表www.bzxz.net
分析元紫
分析线对m
内标线（nm）
测定范围（%）
0.05-1.65
0.0491.06
0.034—0.13
0.0022--0.058
变异系数
SJ3198-89
附录A
硅铝合金标样含量
（补充件）
因目前没有完全适合硅铝合金光谱分析的固体标样，因此需根据实际情况采用纯铝标样和选取一个满足硅技术条件的样品组成一套标样。标样含量见表A。表A
附加说明：
本标准由机械电子工业部电子标准化研究所提出。本标准由七四四厂负贵起草。
本标准主要起草人，藏明堂。
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