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【YD通讯标准】 光纤模拟传输用光发射组件技术条件

本网站 发布时间: 2024-12-09 12:17:43
  • YD/T1247-2002
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    YD/T 1247-2002

  • 标准名称:

    光纤模拟传输用光发射组件技术条件

  • 标准类别:

    通信行业标准(YD)

  • 标准状态:

    现行
  • 出版语种:

    简体中文
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标准简介:

YD/T 1247-2002.Technical condition of optical transmitter module for optical fiber analog transmission.
1范围
YD/T 1247规定了光纤模拟传输用光发射组件的技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、贮存和运输要求等。
YD/T 1247适用于以半导体激光器为光源的光纤模拟传输用光发射组件(以下简称“组件”),其它相似器件也可参照执行。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
CB/T 2423.1电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法(idt IEC 60068-2-1: 1990)
GB/T 2423.2电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法(idt IEC 60068-2-2: 1974)
CB/T 2423.3电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法(idt IEC 68-2-3: 1984)
GB/T 2423.4电工电子产品基本环境试验规程试验Db:交变湿热试验方法(idt IEC 68-2-30: 1985)
GB/T 2423.5电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击(idt IEC 68-2-27: 1987)
GB/T 2423.10电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc和导则:振动(正弦) (idt IEC68-2- 6:1982)
GB 2423.22电工电子产品基本环境试验规程试验N:温度变化试验方法(eqv IEC 68-2-14-1984)

标准内容标准内容

部分标准内容:

中华人民共和国通信行业标准
YD/T1247—2002
光纤模拟传输用光发射组件技术条件Technical condition of optical transmitter modulefor optical fiber analog transmission2002-12-10发布
2002-12-10实施
中华人民共和国信息产业部发布1
2规范性引用文件
术语和定义
4技术要求
测试方法
6机械和环境性能试验
检验规则
8标志、包装、运榨和贮存
YKANKA
YD/T1247—2002
本示注是有关光纤提拟传输用组件的系列标准之·。该系列标准有:1.YD/1183一2002或光纤拟传输用光按收组件技术系件:2、/T1247一2002光纤模拟传掩用光发组件技术象件争,Y0/T1247—2002
本标准的内容与GB/T15651—95半导体券件分立器件和案成电路第5部分光电子器件>,YT/T70293PIN/TTT光接收组件制试方法3,YD/T701—03半导体激光二极普组件测试力法3,GY/I[43一2000有线电视系统调轴缴光发送机和接收机入网技术系件和测量力法》本保持一效。本标准由信息产业部电信研究院提出并归口:太标准越草单地:深圳飞通光心股份有限公司孙坏美
牛标准主要起草人:本音苏:下历韩余山
光纤模拟传输用光发射组件技术条件YD/T 1247—2002
本标推规定广光纤模拟输用北发组件的技术要求、洲试方达,规则,标志包装、贮存和运随要求等:
本标准适用于以半导体能光器为光源的州纤模拟传输用光发射组件(以下简球“组件\),其它料似器件也可参照执行
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而录为木标准的系教。凡是往口期的弓用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版不适用丁本标准,然而,获报据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的展新本,凡是不注月患的册文性,其最新版本适用于本标准。GN/T 2423.1
GB/T 2423.2
GE/T2423.3
CB/T 2423.4
GB/T 2423.5
GB/T 2423.10
GB242328
GB2423.29
GB 2828
GB/T 156S1
CJB5484
GYT J43
YD/T701
YD/TJ02
3术语和定义
电T电子产品基本坏环境试验规程试验A:低温试验法(id正60x68-2-1:1990))电工电子产品.本环境试验规程试验B:高温试验方法(i姚EC60068-22:1974)电.T电子产品基本环境试验规程试验心a:机定湿热试验方法(IEC68-2-3:14)电工心了产品基木环境试验规程试验Db:必变湿热试验方法(证T:68-2-30:I985)电T电子产品坏晚试骏第2部分:成验方法试验Ea和导则:冲击(id正C682-27:19871
电工电了产品环境试验第2部分:试险法试验F和导测:振动(正弦)(证6R2-6: 1982
电工电子产品.减本环境尺验规程试验N:温度变化试验方达(eqvEC68-2-141984)电工电子产品基本环境试验规型试验T:锅焊试验方法电工电了产高环境试验第2部分:试酸方偿武验【1:引山端及整体安装件强度(idt[E心 68-2-21:1992)
逐批检查叶数抽样程序及轴样表(.适用示逆绞批的粉查!半导体器件分立器和集成电路第5部分:光电于器件(1idl正C747-5-1992】微电子器件成验方达和程序
有缆电想系统调幅激光发送机和接收机人网技术象件和谢盘方估半导体意光二极管组件划试力法PIN/FFT光捷收E仆谢成方送
G月/T15651、YD/T701、YT/T702确立的以.支下列术语和定义适月于本标准:3.1光费射组件oplicalLransmittermodule在一个相对紫资的结构中含半导体激光器、输出有光控和/或温控功整的产品1为光发射组件,3.2二失真【C$O】Compo6lteSecandQrder图像截波电平与围绕在特定标求附近雌焦拍组台二阶差把产物平均电平的峰之比,单位c,9.3三阶失真(CTB]CampogileTripleBeat图恢载波电平卡用能在国像载被频率或特或率附近群集的组合三阶差拍产物平与电平峰值之比:单信dBe
UYY KANI KA8
YD/T 1247-2002
3.4频的平坦度Frequencyreepondflatness在规定的频率范制内,最大啦底值和最小毫应值相对两者平均响应悄的正负候差,单位。3.6相对强度噪声Rolativeintensitynaise邀光器谐振胜内载流子与光子相互作用的随机起优,外部光这及白脉冲等影响,进成单出光波巾存在者固有的量了味声。这种量子噪声一般用相对强度渠声来度量,计算公式划了:RN- (AW) (RxGx4Fx()
式中:
一晚声内率
一一极管微粒喉声与收大器噗产之和的操声淤率Rt—负我电附.
G—增益
4一等数噪声带克
xm—光心一极管的光流
4技术要求
4.1分类
距件按下列规定分类:
封装形式:带密行的DIP型,同轴型、辅形:指控式的Ⅲ型、同轴型。中心婆长;1310m,1550mm
4.2量大赖定极限位
组件的效大题定控限值见表1
要1吸乘值
多数名
最太反向电压
最人流正向院
带氨冷器
不带致玲器
行祖质
定纤中师
强冷器商
监规光电二投管
最人电压
最大止向电肃
8)少25m
4.3主要光电特性
组件主要光电持比见表2.
最心道
最大位
您教名称
商北二报昔
隔值电瓦
输出光边率
峰危发虾波长
报乐光带定
过模抑制比
二阶史百
三阶未真
相对噪声双度
获噪比
暗电湾
热敏电组
示踪浸差
测试方法
测色环境要求
测民方
YD/T 701 中3.3
YD/T 701 3.2
表2主要光电特性
德试条产
CWfCSO、CTU懒足换定计
YI 7U1 3.1G
YD/T 791 中 3.13
GB/T 15651 中 4.12
YI/T 702中A22
YTT 0I 4 :3.15
fe = Le
i cw ir=l
4,a 131 nm f.- 1.
期率40862 MHz
=多网版伤学调市原3.7%
,= 131m
=1,多网达:信羽能度3.7%
=多频法信能库3.7%
x, = 1310 mm
5-1#多频法信耳制度2.750
A, =1550uml
CSO、CTR情见现定
P=,F,规定位
最凝印最高环境减度
纠件的性能测试应在规定的正常大气条件下进行。度:15%~35它
相对短度:45%-75%
大气力:86~106kPa
5.2剩试收器
最心校
YD/T 1247—2002
景大估
测成所用的议器仪表成在有效校准期内,其精度应高于所测率数摘幸的个级。
5.3光电性能测试
组件的光电性能测试应符合B/F15651、YTD/T701和YD/702及下列现定5.3.1频响平坦座
u)日的
在定条件下,测试组件的频率响应平坦。YYKNIKAa
YD/T 1247-2002
)测试图
测试图风限1
e测达步照
1)按图1接人被刻组件:
测光在能程
图1频响平坦应谢试柜图
市光费收机
2)实动创试需统,在两降分折仅上出感响曲我的最高点和战低点差值的一半即为组的频响平。
d)规定条件
环境温度:T=259℃
信号源频率范团:40-862MHz
接收光功:-1dBm
5.3.2三阶、三阶失真
a)月的
在规定条件下,测试组件传送模秘信号时的二价,一阶失真。b)测试框图
测试框图见图2。
海阵信
0)型试步架
潜性担件
标准光
按收机
图 2先直测试框图
1)按断2接人被测组件,启动测试系统肢器
频增分析
2)矩阵恒号发牛发射规定路数的PL-幅相同(静券范国在1以内的信丹:3)跨波器选择微个(划5个)频率典型值,经过滤波后的电信号送人频谱分析中:4)在顺谱分析仪上读山(/N符合规定值时,数十频率点对应的二阶,三阶失真值,取最差的发真值:
5)读出此时对应的输出光功收,即为组性的量大输山光功率,(1)规定策性
境温度:T±=29%
信丹谢制出:3.7号
率溯试点:接GYT143附录B的规定。)注意事项
为保配划试的准确度,在整个题率范国也,必须选择4个以上不间的顺率点。4
6机树和环境性髋试验
6.1试验环境要求
试验环境要求同5.1.
6.2机械和环境性能试验
机热利坏境性能试孕项日见表3、试
试玲题目
机械冲击
变就康动
热冲洋0
可得性“
此阻存
退使坏
恒定醒费
交使源鸡!
电改电
明用标准
表机械和环埋性阅试验
成监条伴
胎:半,万:XY、2,X、Y2Z
冲次数:向5*
带热电效冷据:速度5(K>B,脉白特续时间 1.0 2me不可热电致冷然;加池度:L500k,脉冲持续时间:052423.19瓶车:20-2000Hz,加述度:20%,扫款迷率:试验 F:
GI2423.22
试验 Ne
GE2423.28
试验 T'a
CR2423.29
鼠验 La,
GI/T 2423.2
试整B
试境人
G:R2423.22
GB 2423.3
试验 5n
GB 3423.4
试验b
GJB5481
法075
!4V循环,错环次整:4环/轴间,间X,Y、z-100%℃0C-100%,据环次效,10*本卖求蒸产老化
势起纤轴向无击施在放寸10Y,3达,5/衣T,=65',定功率条下=2Kh
不1.作,F,=40℃=2000 b
不1.作,湿—40-85,筛环[00次,高低的难持片同,30min,试整Na;换时2.-3min,达验b温度变化连率可选择(110.2)/min,(3±06)它/n (5-1) 'c/min
不工,Y..=65t,HH=85
=1000h
不作,最湿医40,.降允许租
提度不低于85%。
至少50
注:)ITP一批允许不台样品率,签,最少样品数,C一在许关效数,b)这适用于气客性讨装。
)不要求参效测试,可用争效不合格的产品进行.d)准性记啦,
e)如工节过程中使用了环氧例脂,做此乳试登:印任选悼试些项目。
UYYKANIKAa
YD/T12472002
YD/T 1247—2002
了检验规则
7.1检验分类
组件分为出厂检验和型式检除,7.2出厂检验
出厂检验分对常规按验和抽样持验,7.2.1常规检验
常矩验应可分之百进行,检验项日加下:的)外观
其测,表面无明显剑粮,无各种污点,产品标识消晰车固。1)光电性能检测
接表2的要求进行检测:符合表2要求。o)高温电老化
工作温率T=6S,最人T作电流,时间至少24h。恢效:在正常大气条件下恢享1万后细试:尖效判据:阀值心流相对初始值变化大于5%,品许输出光功率相对初始值变化大10%,暗电滴相对初始值变化大于[%,
6)温度焰环
非工作状态,极限温度-40℃~85℃,循环次数:20次,高、低温维持吋间:30min,试验Na(图1:转换时向2-3mim:试险Nh(1):溢度变化遮率可送择(1+0.3)/mm,(3±0.6)T/min或(5±1)/mim恢复:在正常大气条件下恢发后通试,尖效判据;阅值电流、居纤轴出光坊半,暗电壶等不符合表2要求。$
用中:7一供报
一链持时间
4一泛换时间,
第一~低环
因1a试验a:规定转换时间的温度话环函7.2.2抽样检验
第一个衔达
第三个循球
图1b试验ND:双定温克变化随率的运魔情环团从批量生产中生产的同批或若十批产品,接GB2828规定,垃一股检套水平Ⅱ,合持质品水(AOL)和检冷研日规定下
)外烧:日测,表面无明显划退,各郭污点,产品标认清晰半回。AQL取1.0。)外形尺寸:用满正精度要求的早度工且测量,应符合产战技术条件规定。AOL取.0,6
YD/T 1247—2002
c)光电性能检刚:核YD/T70I、YT/T702、GR/T156S1和本标准5.3的规宗进行格酬,衡销果符合表2要求。AQI.取0.4
7.3型式检验bzxZ.net
7.3.1组件有下列情况之时,应进行型式检验,检盟日见表2和丧3.a)产品定型时:
b)正式牛产总、如结构、材料、工芝有较大改变,可能询产品准能吋:\)产品长期俘产后、恢复生产时:)出厂检验结果与鉴定时的型式检验有较大差别时:e)利家质盘监哲机构声出进行型式检验要求时。7.3.2型式检险的油性案见表3.
7.3.3凡经要了型式检验的样品,“-伴不能作为合格品交寸使用。7.3.4各频试验完成层,在相同测试案件下,冬填参数应满是表2要求,苦其中们何一攻试验个符个要来时,财判该此不合将。
7.3.5对不合格分维的产品,应找出不合格原因,确认不是闪没斗原因造成的,并采取相关措施确认能防止再次发生类似关效的,允许对该纠新进行格临但只充许一次。7.3.它在不影响检验新试验结果的条件下,一组样品可用于其他分纠的检冷式验,7.3.7据交检整的批,可出一个生产批构成,或虫将合下述条件的几个生产批构成:一这些生产批品在相网材料、工艺、设备等条件下制造出来的;一若下个兰产批构成一个检验批的时间不超过1个刀,8标志、包装、运懿和贮存
8.1标志
每个组件应打印上极性,产品塑号、规格、编号等标志,灯果产品体积小,可送拆打印的标志。8.2包装
产品应有义好的包装,及挣电措施,避免在运输过型中受到坏。包衰盒上应标有严品名称、型号和便咨、生产厂家、生产上期、防静电标识、产品执标连号、激光防护标志等。8.3运输
包装好第产品间用带州的交通工只运输,运输中避免雨。当活直接淋落,烈H爆酒和烈捷击:8.4贮存
产品应息存在境祖度为-20C-70℃,机对避度不大于80资几无离蚀牛气,滤的仓库业。存期超过一年的产品,出库前,按4.3的观定进行光电特性源试,测试合格方可出库。YYKAONIKA
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