【行业标准】 半导体集成电路 JC4067型CMOS16选1模拟开关详细规范

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
SJ 50597/27 - 94
半导体集成电路
JC4067型CMOS16选1
模拟开关详细规范
Semiconductor integrated circuitsDetail specification for type JC4067of CMOS single 16-channel analog switches1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
JC4067型CMOS16选1
模拟开关详细规范
Seniconductor integrated circuilsDetall specirieatlon for type JC4067of CMOs single 16-channel analog switches1范围
1.1主题内容　
SI 5059772794
本规范规定了半导体集成电路JC4067型CMOS16选1模拟开关（以下简称器件）的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购1.3分类
本规范给出的器件按器件型号，器件等级和封装形式分类。1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597(微电路总规范>第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
器作型号
JC4067
1.3.1.2器件等级
器件型号
CMCS16选1模拟开关
器件等级应为GJB597第3.4条所规定的B级和本规范规定的B级。1.3.1.3 封装形式
封装形式应按GB/T 7092-93(半导体巢成电路外形尺寸>的规定。封装形式如下：
外形代号
N24S3（离瓷双列封装）
F24X2（陶瓷瘤平封装）
H24X2 (陶熔封扇平封装）
J24X3（弱瓷熔封双列封装）
中华人民共和国电子工业部
1994-09-30发布
1994-12-01实施
-rKAONKAca-
1.4 绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
电源电压
输入电压
输入电流(每个输入端）
存温度范围
引线耐焊接温度(10g)
1.5推荐工作条件
握荐工作条件如下：
电源电压
丁.作环境温度
2引用文件
CB 3431.1 - 82
GB 3431.2 - 86
GB 3439 - 82
GB 3834 - 83
GB 4590 - 84
GB 4728. 12 - 8S
GB/T 7092 - 93
CJB 548 - 88
GJB 597 - 88
GJB 1649 -93
3要求
3.1详细要求
SJ 50597/27—94
半导体集成电路文字符号电参数文字符号半导体集成电路文字符号引出端功能符号半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理半导体集成电踏CMOS电路测试方法的基本原理半导体集成电路机械和气候试验方法电气图用图形符号二进制逻辑单元半导体集成电路外形尺寸。
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放电控制大纲
各项要求应按GJB597和本规范的规定。V
本规范规定的B，级器件仅在产品保证规定的筛选、鉴定和质量一致性检验的某些项和要求不同于 B 级器件。
3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应符合 GJB 597 和本规范的规定。2
SJ 50597/2794
3.2.1逻辑符号,逻辑图和引出端排列逻辑符号，逻辑图和引出端排列应符含图1的规定。逻辑符号和逻辑图符合GB4728.12的规定。引出端排列为俯视图。逻辑符号
(1/0满
引出端排列
(1/0),2
KI/O),
(o)。
.231/0
(/o）
16(1/0)
TTKAONKAca
逻辑图
SJ50597/27—94
5141512110
图1逻辑符号、逻辑图和引出端排列M0/1
rKAONiKAca
SJ 50597/27--94
注：①F、H、J型树狭的引出增排刻同D型射装。3.2.2功能表
功能表如下：
导通通道
× 一任意态。
L—低电平：
注:(D H 高电平;
3.2.3电路图
制造厂在鉴定前应将电路图提交给鉴定机构，并由整定机构存档备查。3.2.4封装形式
封装形式应按本规范第1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定3.4电特性
电特性应符合本规范表的规定。3.5电试验要求
器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组。各个分组的电测试按本规范表3的规定。
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表1电特性
(诺无其它规定，Vss=0V)
输入正指位电压
Vix Yss开路,输出端开路,I z= 1mA输入负摘位电压
电源电流
输出高电平电压
输出电平电压
输人高电平电压
输入低电乎电
规花值
YmF-= -55d Ta-25℃
TA-125℃ 单位
最小最大最小鼠大最小
VixYs接地，输出开路，I=-1mA开路Fpo
In =0V, VH=15V
YiL - 0V, Vih = 15V
输人高电平电流H
输人低电平电流I
人试验电压
导通电阻
轴入、输出、反C
情电客
双向开关截止
传掏延追时间
Vin= 15V, ViL=0V
Von=4.5V, To ≤1μA
Vor=9V, IIo/ ≤μA
Vor= 13.3V, lIol≤luA
VaL-0.5V,l1olVa.= IV, Ifo S1μA
VoL - I.SV,IalVih- 15V
C, = 100pF, R2 = 1.5ka(见本规范4.5.3弄）
f-1MH,
Rt = 200kn.
Ci = S0pF,
tr.t,-10ms
f=200kHz
（见本规范图2）
1/0--0/1
INH,A--1/0
1/00/l
INH,A-I/0
1/0-+0/1
INF. A-+1/0
1/00/1
INH, A-+I/0
中间（老化前）
电测试
中间（老花后）
电测试
最终电测试
A组电测试
C组终点电测试
C 组检验增加的电测
试分组
D组蜂点电漫试
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表2电试验要求
B级器作
分细(见表3)
A2, A3, A7, A9
A1, A2, A3, A4,
A7,A9,AI0,A11
A1, A2, A3
A1,A2, A3
注: 1)该分组要求 FPDA 计算(4. 2 条)。变化景被限
分组(见表3)
A2,A3,A7, A9
A1, A2、A3, A4,
A7, A9
'A1, A2, A3
A1,A2, A3
变化量极限
2)老化和专命试验要求 4变化量测试。4变化量极限按本规范第4.5.2第的规定。表 3 电测试
用标准
GR3834
(若无其它娩定,V-0V。I =25
Y.接地, Vs开路。被测摘入 Iik = 1mA,非被测输人开路,鞠出开路。
Vrn开路, Vss接地。 被测摘人 Ix =一 LmA,非被测输人并路,输出开路。
Vo=15V, Vu=0V, Vx- 15V,输出开路。Vru=[SV,被测输人 ViL =(V,愉出开路;所有其它非被测端开路，被测输出IoH=0。Vrp = 15V,被测轴人 VeH = 15V,糖出开路;所有其它非被测蹦开路，被测物出 IoL=D。规范值
VrpSV,被测输出Vor=4.3V,非鼓测输入按功能衰|3.5进行预置。
Vo=10V,被测输出om=9V,非被测辅按功能表进行预量。
Vuu - 15V,被测摘出 Von = 13. 5V, 非被测输人按功能 11表进行预置。
-TrKAONiKAca-
GE 3834
SI 50597/27--94
续表3
(若无其它规定, Vα=DV。Ta=23Ym= 5V, 被测糖出 VoL = 0.SV, 事被测输入按功骼表2.2
进行预望。
Vro=10V,被测输出Yo1V,靠被测输入按功能在进行预置。
Vro = 15V,被测输出 Vor= 1.5V,非核测输人按功能表进行预量。
Vr=15V. 输入端逐一测 Vih=15V,其它输人端接地。VLo = 1SV, 输入端遥-测 ViL= (V,其它摘入增 15VVno = 5V, Vss= {V
Vrm = 10V, Vs= 0V
Vro\ 15V, V- 0V
规范值
TA = 125C,除 Yik+, i ik- 不测外,所有参致条件间 A1 分组,规范僵按表 1.TA= -55,除 Vin+, V(k-不测外,所有参数条件同 A1分组,规范值按衰 1C
Vop=0V,{=1MHz，分别测每个输入端Vs之间的电容，功能测试,按功能表, (见本规范 3. 2.2 条)PLH
R,200kn,C,=50pF
Fri gg= 10ne
f=200kHz
（见本燃范图2）
Vm= 5V
Yeo=10V
Vm=10V
T -125C,参数、条件同 A9 分组。 规范值接表 1A10
A11T半~55C，参数、条件向A9分组。规范值按表1注：1)引用标推为GB3439-82第2.1条。JNH, A-I/0
Vo-a/1
INH,A--I/O
Vo-o/1
/0-+0/1
A, INH-+/0免费标准bzxz.net
V0-0/1
A, INH+VO
2)对 25芒条件下测 I H、I儿,制造厂可选择分别测每个输入蜡,或所有输入圳并接测量。测试线路
Yra-5V
测试波形
SJ50597/27--94
图2开关时间测试路和波形图
注：@R,=200ka,CL=50±SpF(包括探头及夹具电容）。②脉种发生器具有下列特性：
脉种幅度; V。- Vrp± 1%
占空比：9=50%
脉究;t==1.0±0. 1j2g;
上升、下降时同；4,=t,=[0=2.0g;额率:f=0.2~1MHz。
3.6标志
器件标志应按GJB59第3.6条的规定。3.6.1总剂量辐射强度标志
总剂量辐射强度等级标志应按 GJB 597第3.6.2.6条和本规范第4.5.5条的规定。3.6.2标志的正确性
所有器件在标上器件编号后，应经受表2规定的最终电测试，也可以经受特殊设计经认可的电测试，以验证器件编号标志的正确性。3.7微电路组的划分
本规范所涉及器件应为第39微电路组(见GJB597附录)。4质量保证规定
4.1抽样和检验
若无其它规定,抽样和检验程序应按 GJB 597 和 GJB 548方法 5005的规定。4.2筛选
在鉴定检验和质量-致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5005和本规范表4的规定进行筛选。
-TrKAONKAa-
SJ50597/27-94
表4筛选
若无其它规定,表中引用的试验方法系指GJB548的试验方法。条件和要求
筛选项目
内部目检
【封装前）
魏定性烘焙
(不要求终点测试）
温度糖环
恒定加速度
中间(老化前)电测试
静态老化
劲态老化
中间(老化后)电测试
充许不合格产品率
(PDA)及其计算
最终电测试
细检据
粗检据
外部目检
鉴定或质量一致性检验
的试剪样品抽取
日级器件
试验条件 B
试验策件C
(150,24h)
批验条件 C
试验条件 E,
Y方向
本规施 A1 分组
试验录件A
【125t.160h)
试验条性 D 或 E
(125t,160h)
本规范 A1 分组
和表 104 极限
5%,本规范 A1
分组。当不合
格品率不超过
20%时，可重新
提交老化。但只
充允许一次
本规范 A2、A3、
A7.A9 分组
试验条件！
A1 或 A2
CI或 C2
5005第3.3条
B级器件
试验条件日
试验条件 C
(150℃,24h)
试验条件 C
试验条件D
本规范 A1 分组
试险条件 A
(125℃.160)
试脸条件 D或 E
(125c,160h)
本规范 A1 分组
和表104极限
10%,本现范
A1分咀。当不
合格品率不超
过20%时，可量
新提交老化，但
只充许一次
本规范 A2.A3、
A7,A9分组
试验条件：
A1或 A2
Cl1 或 c2
第3.5条
可用方法 1011 试验条件
A替代。
试验后进行目检，引缆期
落、外充破凝、封数脱游
为失效。
测试并别除 A1 分组不会
格品,并记录要求(4)测
试的 Inp,aL、Iou的值。
来用本规范图 3、图 4 线
可选取静态动态老
化的其中一种方式。
用老化失效数（包括超过
A1 分组规范值和 A 被限
值的器件)除以提交老化
的合格器件数即为 PAD。
不大于规定的 PAD 时则
该批应接收。
本项筛选后,著器件的非
线论覆最返工，则应再进
行A1分组测试。
在发货前按批进行。
SJ 50597/27 -94
图3静态老化试验线路
挂：①静态老化[,所有摘人端接0V,即开关S置”1”。沙静态老化:所有输人端接 ro,即开关S置“2\。V/2
除 Vm和 Yss端外,每个引出端应通过一个2kn一47kn 的电阻相连接,由于工作,受热和老化,选用电随的实测值应不超过其标称值的生20%?出端并关s。可以暨“[\或\2”。$ Vm- 15V - 18V, Vss - 0V.
YIKAONTKAca
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