【国家标准(GB)】 电气绝缘用薄膜 第3部分：电容器用双轴定向聚丙烯薄膜

ICS 29.035.99
中华人民共和国国家标准
GB/T 13542.3-—2006
代替GB/T12802—1996
电气绝缘用薄膜
第3部分：电容器用
双轴定向聚丙烯薄膜
Film for electrical insulation-Part 3: Biaxially oriented polypropylene films for capacitors(IEC 60674-3-1:1998,MOD)Www.bzxZ.net
2006-07-17 发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2007-01-01实施
GB/T13542电气绝缘用薄膜>分为以下几个部分：第1部分.定义及·般要求
第2部分：试验方法：
第3部分：电容器用双轴定向聚丙烯薄膜，本部分为 CB/T 13542 的第 3 部分GB/T 13542.3—2006
本部分修改采用IEC60674-3-1:1998电气用塑料薄膜第3部分：单项材料规范第1篇：电容髂用双轴是向聚两烯（PP）薄膜（英文）。本部分与IEC60674-3-1:1998的主要差异如下增加了不接触电极法测量lan的计算公式（见附录A)删除了命名中的IEC标准号，并增加了示例说明将表面而电阻率和体积电阻率要求表示分别改为：21.0×101*只和≥1.0×10150冲一将相对电容率要求改为：2.2士0.2，将拉伸强度要求分别从120MPa和90MPa提高到140MPa和120MPa-将表3中的电弱点要求略为提高;表中增了表面粗糙度的要求
厂增加了第6.10 条表面粗糙度；第 5.1条中 1 型优选厚度增加了*3. 0”；表 2、表 3、表5中标称厚度由*4 μm\改为*4μm及以下\-第6.3条施加电气强度由150V/μm提高到200V/μm；增加了表4,空隙率对要求做相应变化;删除空隙率公式中\%\,式中加以注明。本部分代替GB/T12802—1996电容器用聚丙烯薄膜》。本部分与GB/T12802-1996相比主要差异如下按IFC 60674-3-1:1998进行分类与命名；删除浊度、收缩率等性能要求；增加有关吸液性与浸渍剂相容性及浸祯后的e，和tan测试和要求方面的规定。本部分的附录A为规范性附录
本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国绝缘材料标准化技术委员会(CSBTS/TC51)归口。本部分起草单位：西安交通大学、桂林电力电容器总厂，广东佛塑集团股份有限公司、东方绝缘材料股份有限公司、江门润田投资实业有限公司、安徽铜峰电了股份有限公司、江苏南天集团股份有限公司桂林电器科学研究所。
本部分主要起草人：刘英、李兆林，王先锋、廖凯明、赵平、柯庆毅，章晓红、罗松华、冯玲。本部分所代替的历次版本发布情况为：GB/T12802—1996
1范围
电气绝缘用薄膜第3部分：电容器用双轴定向聚丙烯薄膜
GB/T 13542.32006
本部分规定了电容器介质用双轴定向聚丙烯薄膜的要求，该薄膜应具有光消的表面或粗糙的表面；当要求真空金属化时，还应经过电举处理。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T13542的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
1SO534：1988纸和纸板厚度和表观积层密度或表观单层密度的测定IEC60674-1：1980电气用塑料薄膜第1部分：定义和一般要求IEC60674-2：1988电气用塑料薄膜第2部分：试验力法（第1欲修正（2001))1EC61074：1991、用差示扫描最热法测定电气绝缘材料熔融热，熔点及结品热、结晶温度的试验方法
3分类与命名
3,1分类
聚闪烯薄膜按空隙率进行如下分类；1型：具有光滑表面(空隙率<5%，见6.9)的薄膜；1a型：不经电晕处理的薄膜；
1b型：单面预处理以便于金属真空沉积的谢膜：1c型:双面预处理的薄膜；
2型：至少一面具有粗表面（空隙率≥5%，见6.9)的薄膜28 型：不经电晕处理的薄膜：
2h型;单面预处理以便于金属真空沉积的薄膜，2c型：双面预处理的薄膜。
3.2命名
聚丙烯薄膜应按下述方法命名予以识别：PP-型号-厚度(μm)-宽度(mm)-长度(m)例如：PP-1a-6-100-3000
长度：3000m
宽度：100mm
厚度：6μm
不经电晕处的光膜
聚丙烯薄膜
GB/T13542.3—2006
4一般要求
该薄膜应主要由全同立构型聚丙烯均聚物制成并应符合JFC60674-1:1980规定的要求，5尺寸
5. 1 厚度
应按1EC60674-2：1988的3.3规定采用质量密度法测量搏膜厚度，但对于2型材料应分别采用质密度法和由干分尺法测量薄膜序度。有争议时应采用质量密度法测量厚度。千分尺法的早度测量应按1S0534：1988规定进行。薄膜登层试样数量为4个，每个叠层试样由12层薄膜组成。其制备方法如下，从离膜卷的外表面约0.5mm厚处同时切取，并沿薄膜样条的长度方向經绕于语净的样板（推荐尺寸为：250mm×200mm，其中200mm为板的长度方向尺寸）。在测量之前去掉叠层的最外层和最内层（实际测量10层）再进行测量。本部分对厚度没有明确的要求，但在采用质量密度法时优选如下压度(xm）：1.型.3. 04, 0.5.0.6 07 0t8 01012. 0.15. 018 0:20,0 25. 02型:7. 4+9. 0:10. 1,11.0;12, 0,12.7+13. 6;14. 4,15. 2;16.2 及17.8除非另有规定，其平均厚度偏差应符合IEC60674-1：1980的要求。宽度
薄膜宽度应按IEC 60674-2.1988第 5 章要求测量山于在整个电容器行业中薄膜用途的多样化和对其要求不尽相同，因此，在本部分巾对其宽度不作规定。但宽度偏差应符合IEC60674-1:1980中4.2的要求。5.3长度/直径
按供需双方合同规定。
理化性能
薄膜的理化性能见表1。
表 性能
拉伸强度
(任一右向)
断裂伸长率
（任方向）
表面电阻率
体积电阻率
0.91±0.01
165~175
1型：2140
2型：≥120
1型：≥40
2 型:30
试验方法
仅适用于12μm以上的
L：60674-2:1988第4章
海膜，推荐使用的混合液
为：甲醇/乙二醉
IEC 61074:1991
[EC 605742:1988第10
IF:60671-2198第14章
IEC 60674 2第 :5章
JSC法
试样觉度：（15±3）mm
拉伸速度：（100±2）mm
min.以夹持距为基雅.夹持
距为：100上23mm
试验电压：对于厚度
≥10 的(100±10) V,
对于4度≤10m的为
(10±v
介质损耗因数
<48 H2--G2 Hz
或 1 kllz)
相对电容率
(48 Hz~62 Hz
或 kHz)
收缩率
数面粗趟度 Ra
12 μm
表(续）
0.20-~0.60
0.25-D, 65
试验方法
IEC 60674-2:1988第16
最及其第1次修正
(2001)中16.1.4
GB/T 13542.3—2006
不接触电极或蒸发电极，
并按附录 A 计算
IEC60674-2.1988第23对由供需双方商定见6.10
注1：尽管诺如结晶度、定向及全立物/无规立构等对薄膜特性存在着潜在影响,但至今尚未就这些特性参数作出推荐，特别在1EC60674.2,19名名中尚未规定出相应的方法，注 2:对于第 5项、第 6项测试环境条件为:在(23土2) 亡,RH，(50士5)%下处理 24 h,并在该条件下避±。6.2电气强度（直流试验）
应按IEC60674-2:1988中18.2的规定进行，其中卷制电容器的卷绕拉力应为2.5±0.5)N/mrm2，结果以中值表示,且应不小于表2规定的值。衰 2 1 型及 2 型的电气强度(直流试验)标称度
4及以下
10及10.1
>12. 7~25
6.3电气弱点
电气强座（中值）
21 个结果中允许有 1 个低于下列规定值V/μm
电气弱点应按1EC60674-2:1988中第19章的规定测试。施加的电气强度为：200V/μm.被测试样的最小面积为5㎡，所测得的弱点数应不超过表3规定的值GB/T 13542.3—2006
标称厚度
4 及以下
7. 0 及 7. 4
10.0及10.1
6.4长期耐热性
林部分对长期耐热性无要求。
6.5湿润张力
表 31 型和 2 型的电气弱点数
弱点数
对手 1 b 型及 1e 型和 2b 型及 2e 型,应按 1EC 60674-2 ,1988 中第 9 章的规定进行,其表面湿润张力应不小于35mN/m。
6.6吸液性
为了使薄膜在没流后具有满意的结构，可能需要把薄膜吸收的浸剂的亟控制在一定的范围内。若有逆方面要求时，则所使用的测方法，测定时间利温度及允许的吸收范国应由供需双方商定，注：由于当今可得到的没额剂种类繁多并正在广泛应用于电容器中，因此，本部分无法就吸液性规定具体的试验方法或极限值。
与没遗剂的相容性
应根据供循双方商定的方法，测定薄膜与所选用的介质流体的相穿性。例如，可根据薄膜在流体中的溶胀或猝解性，或根据两者间污染特性进行检测。注：由于当今可得到的没读剂种类篇多并正在广泛应用于电容器中.因此、本部分无法就介质流体相容性规定具体的试验方法或拟眼值
漫溃状态下的损耗因数
在电容器行业中所使用的没剂和可供选用的试验方法种类很多.且许多材料及其工艺规程为专利。
因此，对漫避状态下薄膜的损耗因数的测盘方法及其极限值经供需双方商定。注：由于当今可得到的没满剂种类多并正在广泛应用于电容器中，因此，本部分无法就投拍状态下的揭耗因数规定具体的试验方认或极限值。
空隙率
空隙率：由表面粗糙引起的空隙率是以叠层法（子分尺)测得的厚度超过质盘密度法测得的厚度的增量的百分数表示。
空隙率按下式计算：
SF = ±二× 100
式中：
SF-一空隙率.%;
一一翌层法（千分尺）划得的厚度，um质量密度法测得的厚度um。
本部分对空隙率的要求见表 1。标称厚度
6.10表面粗糙度
平均值
9, 0±3. 0
表面粗糙度按以下规定进行。
6.10.1测试原理
表 4空隙率
展高值
GB/T 13542. 3—2006
最低值
薄膜经粗化后，形成微小的凹凸不平的表面，利用仪器的触针（或探头)在薄膜表面上移动、从而测出薄膜的平均粗糙度Ra。
6.10.2试验仪器和用品
能满足薄试样的平均粗糙度测试范围及精度要求的表面粗糙度测试仪器均可使用，仪器误a）
差不大于士10%。
b）丙酮少许及端部包有脱脂棉花的棉签，6.10.3试样
从样品上绒、横向各取三块试样，其尺寸以能完全羧盖与仪器配套的测试小平面为准。试样表面必颂洁净，无损伤、折皱。
6.10.4试验步骤
用棉签蘸上丙酮清洗仪器的测试平面。将试样放在仪器的测试平面上，试样要完全贴紧平面，无气泡存在。试样的被测面朝向测试触针，读出三块试样纵、横向六个Ra 的数值。6. 10. 5结果的计算与表示
薄膜的表面粗糙度以三个试样的六个Ra 的算术平均值表示,单位为微米(μm)。7膜卷特性
7.1可卷绕性
可卷绕性应按 IEC 60674-2:1988中第 6章的规定测量。7. 1. 1 对宽度小于 150 mⅡ 的卷盘,应采用方法 A。偏移/弧形
吲陷(张力 5 MPa)
7. 1. 2 对宽度 150 M功 及以上的卷盘,应采用方法 B。偏移/弧形
凹陷(张力5 MPa)
<10 mm
获得偏移/弧形和凹陷极限所需要的延应不大于0.1%。7.2接头
允许接头（搭接）的场合，其接头的结构应符合IEC60674-1:1980中3.3规定的要求。还应标明断口（未连接上的断头)以便从薄膜端面观察时能清晰可见。连接处两边的偏移均不应超过0.5m切。每卷中的接头(搭接)或断头数,应不超过表5 规定的值。5
GB/T 13542. 3—2006
酶膜标称厚度
每卷内允许的最大接头数(1型和2型）裹5
在宽度>350 mm 的膜着内的接头效，卷芯内径150mm,外径：
>300mm
及以下
膜卷宽度（总宽）
400 mm
>400mm
在宽殷≤350mm的膜卷内的接头数，卷芯内径76mm,外径<250 mm
卷宽度就是从每一端面最外侧测得的膜卷两端面之间的距离（见1EC60674-1：1980中3.2）。按IEC6b674-2:1988中第5章规定测得的薄膜宽度与不包含卷芯的膜卷宽度之间的差应不才于：对薄膜宽度≤150mm，为0.5mm；对薄膜宽度150mm和<300mm.为10mm对薄膜宽度≥300 mm,为2. 0mm。卷芯
优选的卷芯内径为 76 mm和 150 mm。7.5
-面预处理的薄膜应在标签上指明经过预处理的表面。附录A
（规范性附录）
介质损耗因数和相对电容率计算方法CB/T 13542.3-2006
a）若采用不接触电极法测量E，和tans，当采用不改变电桥电容值，只改变电极间间距的测量方法时,其计算公式为
式中：
材料的相对电容率；
试样聋层的厚度，μm;
有无试样时测微计测得的两个电极间间距值之差，m。tang Atang
材料介质损耗因数；
有无试样时测得的两个介质损耗因数值之差；无试样时由微计测得的电极间的间距值，umt.试样叠层厚度μm
有无试样时由测微计测得的两个电极间间距值之差，pm。A.1)
.(A.2)
若采用不接触电极法测量e，和tans，当采用改变电桥电穿，而不改变电极间的间距的测量方b）
式时，其计算公式为：
材料的相对电容率；
有试样时测得的电容值，μF；
C一无试样时测得的电容值，产F；电极之间的间距，m：
试样叠层厚度，um。
tang tandr +e X Atang X
-材料的介质损耗因数；
tangy-
Atang-
有试样时测得的介质损耗因数值：有无试样时测得的两个介质损耗因数值之差；-材料的相对电容率：
-电极之间的间距.um；
试样叠层厚度·um。
c）若采用接触电极法，即蒸发金属电极时，其测试与计算按1EC60674-2：1988规定进行。褐稚17bzw.cn脆熊褐
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