【国家标准(GB)】 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具

ICS31.140
中华人民共和国国家标准　
GB/T22319.8-2008/IEC60444-8:2003石英晶体元件参数的测量
第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
Measurement of quartzcrystal unitparameters-Part 8:Test fixture for surface mounted quartz crystal units（IEC60444-8:2003,IDT）
2008-08-06发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2009-01-01实施
中华人民共
国家标准
石英晶体元件参数的测量
第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
GB/T22319.8—2008/IEC60444-8:2003*
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开本880×12301/16印张0.5字数9千字2008年11月第一版2008年11月第一次印刷*
书号：155066·1-34683
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GB/T22319.8—2008/IEC60444-8:2003GB/T22319《石英晶体元件参数的测量》分为如下几部分：一第1部分：用元型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法；一第2部分：测量石英晶体元件动态电路的相位偏置法；第3部分：利用有并电容C。补偿的元型网络相位法测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法；
一第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻R.的测量方法及其他导出参数的计算；
一第5部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法；—一第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量；一第7部分：石英晶体元件活力和频率降的测量；一第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具；.一第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量。本部分为GB/T22319的第8部分。本部分等同采用IEC60444-8：2003《石英晶体元件参数的测量第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具》（英文版）。
为便于使用，本部分作了下列编辑性修改：a）删除国际标准的前言；
b）删除国际标准的引言；
c）将本部分的各图集中到正文最后；d）将原文6.1第二段中“50士5%”改为“50×（1±5%)Q”。本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由全国频率控制和选择用压电器件标委会归口。本部分起草单位：中国电子元件行业协会压电晶体分会。本部分主要起草人：章怡、姜连生。I
1范围
GB/T22319.8—2008/IEC60444-8:2003石英晶体元件参数的测量
第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
GB/T22319的本部分规定了能精确测量无引线表面贴装石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻及等效电路参数的测量夹具，测量方法采用IEC60444-4：1988和IEC60444-5：1995规定的零相位技术。使用该测量夹具的等效电路和适用的频率范围见随后条款。此外，本部分也适用于IEC61240：1994中的无引线晶体元件外壳。测量夹具的等效电路和电参数都基于IEC60444-1：1986和IEC60444-4：1988。负载电容范围为10pF或更高。本部分还规定了测量系统和CL片的校准。
本部分适用于能准确测量石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻、并电容C。、动态电容CI和动态电感L的测量夹具，其频率范围为1MHz～150MHz，采用基于IEC60444-5：1995的自动网络分析仪。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T22319的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
IEC60444-1：1986采用网络零相位技术测量石英晶体元件参数第1部分：采用元网络零相位技术测量石英晶体谐振频率和谐振电阻的基本方法IEC60444-2：1980采用元网络零相位技术测量石英晶体元件参数第2部分：用相位偏置法测量石英晶体元件的动态电容
IEC60444-5：1995石英晶体元件参数的测量第5部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
IEC61240：1994压电器件频率控制和选择用表面贴装器件（SMD)外形制图总则3总则
用于测量谐振频率、谐振电阻和等效电路参数的测量夹具和测量方法必须由晶体元件的供应商和用户在合同中规定。对无引线晶体元件要予以特殊考虑。4无引线表面贴装石英晶体元件
4.1外壳
外壳类型无特殊规定时，建议使用IEC61240：1994所示图样。4.2泛音和频率范围
由于测量采用零相位技术，对于泛音无特殊规定。当无负载电容时，频率范围为1MHz～150MHz，有负载电容时，频率范围为1MHz～30MHz。5测量方法和测量夹具的技术要求5.1测量方法的技术要求
测量方法按照IEC60444-5：1995的规定，并采用导纳圆法。1
GB/T22319.8-—2008/IEC60444-8:20035.2测量夹具的技术要求
测量夹具的等效电路和电参数基于IEC60444-1：1986的规定，但本规范中其尺寸和结构与IEC60444-1：1986有差异，以便更适用于无引线晶体元件。测量夹具的等效电路按照IEC60444-1：1986的规定，并于图1和图2示出，但未规定测量端之间（如IEC60444-1：1986图2中的Cl，Cz）的最大分布电容值。图3和图4分别示出测量夹具的3D轴侧图和外形尺寸。
关于所用测量夹具的机械结构不应作规定，但必须保证其电极的机械接触性能达到常规有引线石英晶体元件与测量夹具的测量端子之间的接触性能要求。图4是测量夹具的外形尺寸，该夹具确保其与晶体元件电极的接触，因而能提供高的测量准确度和测量操作的方便性。
为避免测量误差，测量夹具的测量端子应与晶体元件电极形成可靠接触。因此测量夹具的测量端子对晶体元件电极必须至少有1.96N(200gf)的压力。注：如果晶体在使用时接地，其工作频率可能取决于电路中晶体的方位。因此在振荡电路中根据IEC60444-1：1986和IEC60444-5：1995进行负载谐振测量以校正工作频率时，建议在晶体上使用定向标记（如pad1)。6测量系统和CL片的校准
6.1测量系统的校准
对于带有测量系统的测量夹具，在用户使用的频段内，其阻抗的虚部可以忽略。此时用户应使用至少三个可靠的标准阻抗用于校准，即：短路片、开路片和50Q标准电阻。当测量仪器的测量端之间的分布电容不可忽略时，则应进行开路校准。50Q标准电阻的技术要求是：在1MHz～150MHz频段内，阻值为50×（1士5%）Q，且相位为最大0.2°。
6.2CL片的校准
应使用电容表对CL片进行校准，其允许值为士0.002pF。晶体
图1测量夹具的等效电路
负裁电容
图2有负载电容测量夹具的等效电路图3测量夹具的3D立体轴侧图
G适配片、
Ci调整
GB/T22319.8—2008/IEC60444-8:2003图4测量夹具的外形尺寸
晶体元件定位板bzxz.net
短路片
连接板
502电阻
图5测量夹具的结构与配件
晶体元件
GB/T22319.8--2008/IEC60444-8:2003参考文献
［1]MKoyama，YWatanabe，YOomutra.由日本无引线谐振器测量工作组获得的石英晶体测量数据结果.第47频率控制年会论文集，1993年5月：614-619.[2］IEC60444-4：1988采用元网络零相位技术测量石英晶体元件的参数第4部分：30MHz频率内的石英晶体元件负载谐振频率fL、负载谐振电阻R的测量方法及其他导出参数的计算.
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