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【国家标准(GB)】 硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法

本网站 发布时间: 2024-08-10 16:11:01
  • GB/T4061-1983
  • 现行

基本信息

标准分类号

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出版信息

  • 页数:

    2页
  • 标准价格:

    8.0 元

其他信息

  • 首发日期:

    1983-12-20
  • 复审日期:

    2004-10-14
  • 起草单位:

    峨嵋半导体材料厂
  • 归口单位:

    全国半导体材料和设备标准化技术委员会
  • 发布部门:

    国家标准局
  • 主管部门:

    国家标准化管理委员会
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标准简介:

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本标准适用于三氯氢硅及四氯化硅氢还原在细硅芯上沉积硅多晶所生长出来的硅多晶棒。 GB/T 4061-1983 硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法 GB/T4061-1983

标准内容标准内容

部分标准内容:

中华人民共和国国家标准
硅多品断面夹层化学腐蚀检验方法Polyaystalline sllcon-Exn miadtiahmethad assesement nf aridwirhex antrst-section by cheinical tomusiueDE
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检验方法
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