集成电路测试方法与封装接口相关标准及适用范围介绍 - 标准下载网

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GB 7092-1986 半导体集成电路外形尺寸

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半导体集成电路外形尺寸

1999-01-01 类别：国家标准(GB)
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GB/T 17554.3-2006 识别卡测试方法第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备

识别卡测试方法第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备

2024-07-12 类别：国家标准(GB)
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GB/T 16649.3-2006 识别卡带触点的集成电路卡第3部分:电信号和传输协议

识别卡带触点的集成电路卡第3部分:电信号和传输协议

2024-07-12 类别：国家标准(GB)
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GB/T 16649.1-2006 识别卡带触点的集成电路卡第1部分:物理特性

识别卡带触点的集成电路卡第1部分:物理特性

2024-07-12 类别：国家标准(GB)
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QJ 1529-1988 半导体集成电路滤波器系列品种及技术条件

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半导体集成电路滤波器系列品种及技术条件

1988-04-25 类别：航天工业行业标准(QJ)
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QJ 1527-1988 半导体集成电路脉冲宽度调制电路测试方法

QJ 1527-1988 半导体集成电路脉冲宽度调制电路测试方法}

半导体集成电路脉冲宽度调制电路测试方法

1988-04-17 类别：航天工业行业标准(QJ)
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QJ 1526-1988 半导体集成电路运算放大器特殊参数测试方法

QJ 1526-1988 半导体集成电路运算放大器特殊参数测试方法}

半导体集成电路运算放大器特殊参数测试方法

1988-04-25 类别：航天工业行业标准(QJ)
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QJ 1525-1988 半导体集成电路模/数转换器和数/模转换器测试方法

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1988-04-17 类别：航天工业行业标准(QJ)
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JJG (电子) 04021-1989 BJ3110型MOS集成电路测试仪(试行)

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BJ3110型MOS集成电路测试仪(试行)

1999-01-01 类别：国家计量标准(JJ)
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JJG (电子) 04010-1987 BJ2961型晶体管集成电路动态参数测试仪(试行)

JJG (电子) 04010-1987 BJ2961型晶体管集成电路动态参数测试仪(试行)}

BJ2961型晶体管集成电路动态参数测试仪(试行)

1999-01-01 类别：国家计量标准(JJ)
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