本标准目的是保证光纤/光缆与纤维光学器件连接能承受正常使用中可能遇到的拉力。样品刚性夹持在壳体的固定装置上，并对光纤/光缆施加拉力。潜在的失效模式如下(但不限于)：a)光缆护套损坏;b)光纤断裂或损坏;c)光缆夹失效;d)光缆拉脱;e)光连续性丧失;f)光传输特性降低;g)光缆/端接件相对于器件位移

本标准适用于带有连接器和(或)面板安装用整套连接器的纤维光学器件。本程序目的是保证整套连接器在正常使用期间承受住将会遇到的剪切力。这一剪切力可能被施加于整套连接器上、器件的壳体上或其他规定的部分。 GB/T 18310.3-2001 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-3部分：试验

本标准目的是对光纤光缆连接器或其他互连器件经受一系列连续接合和分离循环后的效应进行评定。被试器件(DUT)经受一系列连续接合和分离循环。若具有多于一个的锁紧机构，在进行每一接合和分离循环时应将其他所有锁紧机构适当锁紧。典型的失效模式如下(但不限于):a)部件损坏或过度磨损;b)失去适用的接合和分离能

本部分为GB/T18310的第1部分，目的是评定现场使用期间可能遇到的振动在主要频率范围和振动幅值条件下对纤维光学器件的影响。现场使用遇到的多数振动不属于简谐振动，但基于这一类型的振动试验已很好地证明了模拟实验的现场使用。 GB/T 18310.1-2002 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测

GB/T18309系列标准规定了一系列环境试验程序和测量程序，并给出了某些场合为评定纤维光学互连器件和无源器件在预期工作条件下工作的能力而设定的优先严酷等级。GB/T18309系列标准除应用于这一范围外，还可用于需要的其他领域。本标准的目的是对环境试验程序和测量程序提供统一性和再现性，而这些程序对起

半导体光发射器件半导体光敏器件半导体图像器件光耦合器。 GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范(可供认证用) GB/T12565-1990

本标准规定了光纤机械式固定接头在几种使用条件下插入损耗的测试方法。所规定的光纤接头被设计用于单信道和多信道，或混合信道，或者两者兼有的网络结构。根据这种测试，对光纤接头插入损耗进行计算。可用于质量评定。本标准适用于光纤机械式固定接头插入损耗的测试。 GB/T 14137-1993 光纤机械式固定接头

本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法 GB/T15651.3-2003

本部分等同采用IEC60747-5-2：1997《半导体分立器件和集成电器第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性》。 GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性 GB/T15651.2-2003