与GB 17743的要求相对应，本标准在使用基准灯具的基础上，详细描述了Ⅰ类荧光灯具用电子镇流器的无线电骚扰特性的独立测量方法。本标准覆盖了使用G5或G13灯头的双端荧光灯和2G7、2G11、G24q、GX24q灯头的单端荧光灯用电子镇流器。 GB/T 22148-2008 单端和双端荧光灯用电子镇

本标准规定了嵌入式超短波跳频抗干扰模块(以下简称跳频模块)硬件电路的基本配置和功能、软件功能函数的技术要求、对外接口和通信协议的基本定义和要求。本标准适用于超短波跳频电台中跳频抗干扰模块的研制与开发。 SJ 20944-2005 嵌入式超短波跳频抗干扰模块通用要求 SJ20944-2005

本标准规定了针状无源干扰信号滤波器抑制特性的测试方法。本标准适用于单个针状信号滤波器抑制特性的测试。 SJ 20943-2005 针状无源干扰信号滤波器抑制特性的测试方法 SJ20943-2005

本部分规定了用微型磁场探头以非接触的电流测量方式来测量集成电路(IC)的管脚的射频电流的方法。本方法可以在150kHz～1GHz频率范围内测量由IC产生的射频电流。本部分适用于单个IC的测量或者用于标准测试板上的IC芯片组的描述和比较。 YD/T 1690.6-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术

本部分规定了通过1Ω阻抗的探头对集成电路传导电磁骚扰(EME)进行直接射频(RF)电流测量和使用150Ω耦合网络进行射频电压测量的方法。本部分适用于工作频率范围在150kHz～1GHz的电信设备内部的集成电路。 YD/T 1690.4-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法(150kH

本部分规定了在电信设备内部表面附近的近场电尝磁场或电磁场分量的评估方法。本部分适用于工作频率范围在10MHz～1GHz的电信设备内部的集成电路。 YD/T 1690.3-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法(150kHz～1GHz)第3部分:辐射发射测量 外表扫描方法 YD/T169

本部分规定了在电信设备内部通过TEM小室和宽带TEM小室方法进行辐射发射测量的方法。本部分适用于工作频率范围在150kHz～1GHz的电信设备内部的集成电路。 YD/T 1690.2-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法(150kHz～1GHz)第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽

本部分规定了测量电信设备内部集成电路的传导和辐射电磁骚扰的通用信息以及定义，同时也规定了测量条件 测试设备和配置以及测试程序和测试报告的内容。本部分适用于工作频率范围在150kHz～1GHz的电信设备内部的集成电路。 YD/T 1690.1-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法(15

GB/T 17626的本部分规定了电气、电子设备在0Hz~150kHz频率范围内，对于共模传导骚扰抗扰度的试验要求和方法，目的是建立电气、电子设备经受共模传导骚扰测试的通用和可重复性准则，适用于设备的电源端口、控制/信号端口和通信端口。 GB/T 17626.16-2007 电磁兼容 试验和测量技术

本标准规定了移动通信直放机(包括辅助射频放大器)的电磁兼容性要求及测量方法，包括测量项目、电磁骚扰限值、抗扰度试验等级、性能判据和测量方法等内容。 GB/T 20549-2006 移动通信直放机电磁兼容技术指标和测试方法 GB/T20549-2006