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- GB 9622.9-1988 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法
标准号:
GB 9622.9-1988
标准名称:
电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法
标准类别:
国家标准(GB)
标准状态:
已作废-
实施日期:
1989-02-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
790.51 KB
中标分类号:
电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料
替代情况:
调整为SJ/T 11043-1996

部分标准内容:
中华人民共和国国家标准
电子玻璃高频介质损
耗和介电常数的测试方法
Test method for high frequencydielectric losses and dielectric constant of electronic glass本标准适用于测试电子玻璃的高频介质损耗和介电常数。1方法提要
GB9622.9-88
降为SJ/T11043-96
本标准利用Q表,在高频波段,根据谐振原理,对不接入和接入试样的调谐回路进行两次测量,求得在谐振回路的品质因数和回路电容,通过计算获得介质损耗角的正切值和介电常数。2测试仪器及材料
2.1高频Q表,振荡频率范围:50kHz~50MHz,电容调节范围:40~400pF,Q值测量范围:20~300。2.2游标卡尺。
2.3无水乙醇,分析纯。
2.4低温银膏。
3试样制备
3.1选取无结石、气泡和条纹等缺陷的玻璃圆片,直径为40mm,厚度为3mm,进行退火处理,消除应力。
3.2将试样表面研磨至厚度为2.5士0.5mm。3.3试样用蒸馏水、无水乙醇清洗、烘干,在两平面涂以低温银膏,置于高温炉中,在460~500℃保温10min,缓慢冷却到室温。表面涂覆层应紧密均匀、导电良好。最后用细砂纸磨去边缘的银层,再用无水乙醇清洗干净。
3.4在每个试样两面对称位置焊接导线。4测试步骤
4.1准确测量试样直径和厚度。
4.2接通Q表电源,预热。
4.3根据试样要求的频率,选择Q值最大的电感线圈接在Q表电感线圈接线柱上。并在频段调节盘上选取测试所要求的频率。
4.4调整Q表。
4.5调节回路电容,使之谐振,记录Q表的读数Q1和电容C1。4.6将试样接入Q表接试样的接线柱上,再调节回路电容到谐振,记录Q表的读数Q2和电容C2。5计算
5.1用(1)式计算介质损耗角正切值tgp;中华人民共和国电子工业部1988-03-21批准1Www.bzxZ.net
1989-02-01实施
GB9622.9—88
(QT-Q2)(Ch-Co)
(C,-C2)·Q·Q2
式中:Co一一电感线圈的分布电容,pF,一般可忽略不计;Q一未接入试样时,回路的品质因数,Ci—一未接入试样时,回路的电容,pF;Q2一一接入试样时,回路的品质因数,C2—一接入试样时,回路的电容,pF。5.2
用(2)式计算试样的介电常数e(pF/m)c.o
式中:C—试样的电容量,pF
o—试样的厚度,m;
D——试样的直径,m。
测试结果
本方法允许测定误差,以tgg表示,为0.0002,同一批试样五次平行测定数据之间相差在此范围内时,取平均值作为测试结果。
附加说明:
本标准由电子工业部4401厂、4404厂4400厂、标准化研究所负责起草。本标准主要起草人:沈雁迅、罗声华、白义祥、庞淑琴、刘承钩。2
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
电子玻璃高频介质损
耗和介电常数的测试方法
Test method for high frequencydielectric losses and dielectric constant of electronic glass本标准适用于测试电子玻璃的高频介质损耗和介电常数。1方法提要
GB9622.9-88
降为SJ/T11043-96
本标准利用Q表,在高频波段,根据谐振原理,对不接入和接入试样的调谐回路进行两次测量,求得在谐振回路的品质因数和回路电容,通过计算获得介质损耗角的正切值和介电常数。2测试仪器及材料
2.1高频Q表,振荡频率范围:50kHz~50MHz,电容调节范围:40~400pF,Q值测量范围:20~300。2.2游标卡尺。
2.3无水乙醇,分析纯。
2.4低温银膏。
3试样制备
3.1选取无结石、气泡和条纹等缺陷的玻璃圆片,直径为40mm,厚度为3mm,进行退火处理,消除应力。
3.2将试样表面研磨至厚度为2.5士0.5mm。3.3试样用蒸馏水、无水乙醇清洗、烘干,在两平面涂以低温银膏,置于高温炉中,在460~500℃保温10min,缓慢冷却到室温。表面涂覆层应紧密均匀、导电良好。最后用细砂纸磨去边缘的银层,再用无水乙醇清洗干净。
3.4在每个试样两面对称位置焊接导线。4测试步骤
4.1准确测量试样直径和厚度。
4.2接通Q表电源,预热。
4.3根据试样要求的频率,选择Q值最大的电感线圈接在Q表电感线圈接线柱上。并在频段调节盘上选取测试所要求的频率。
4.4调整Q表。
4.5调节回路电容,使之谐振,记录Q表的读数Q1和电容C1。4.6将试样接入Q表接试样的接线柱上,再调节回路电容到谐振,记录Q表的读数Q2和电容C2。5计算
5.1用(1)式计算介质损耗角正切值tgp;中华人民共和国电子工业部1988-03-21批准1Www.bzxZ.net
1989-02-01实施
GB9622.9—88
(QT-Q2)(Ch-Co)
(C,-C2)·Q·Q2
式中:Co一一电感线圈的分布电容,pF,一般可忽略不计;Q一未接入试样时,回路的品质因数,Ci—一未接入试样时,回路的电容,pF;Q2一一接入试样时,回路的品质因数,C2—一接入试样时,回路的电容,pF。5.2
用(2)式计算试样的介电常数e(pF/m)c.o
式中:C—试样的电容量,pF
o—试样的厚度,m;
D——试样的直径,m。
测试结果
本方法允许测定误差,以tgg表示,为0.0002,同一批试样五次平行测定数据之间相差在此范围内时,取平均值作为测试结果。
附加说明:
本标准由电子工业部4401厂、4404厂4400厂、标准化研究所负责起草。本标准主要起草人:沈雁迅、罗声华、白义祥、庞淑琴、刘承钩。2
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