【国家计量标准(JJ)】 光子和高能电子束吸收剂量测定方法

中华人民共和国国家计量技术规范JJG1026—91
光子和高能电子束吸收
剂量测定方法
1991年5月10日批准
1992年1月1日实施
国家技术监督局
光子和高能电子束吸收
剂量测定方法
Atsorbed Dose Determination
inPhotonandElectronBeams
JJG1026--91
本技术规范经国家技术监督局于1991年5月10日批准，并自1992年1月1日起行。
归口单位：
起草单位：
中国计量科学研究院
中国计量科学研究院
本规范技术条文由起草单位负贵解释。本规范主要起草人：
王肖兰
张之彬
（中国计量科学研究院）
（中国计量科学研究院）
辐射质和辐射质的测定方法
在水模体中测量时的参考条件.
电离室的校塞
五水中校准点吸收剂量的测定…六测量水中吸收剂量的不确定度+
附录有关主要名词及符号解释
JJG1026-—91
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光子和高能电子束吸收剂量
测定方法技术规范
本技术规范规定了用电离室对100～300kVX射线、Co-60、Cs-137的射线及1～35MVX射线和5～35MeV电子束进行剂量测定的方法。
一概述
鉴于剂量学理论的发展，常用物理参数的改进，考虑到电离室结构、成分对测量结果的影响，为提高放射治疗剂量测量的准确度，本技术规范对“关于肿瘤放射治疗剂量学的若干规定”中的测量方法和数据做了修改和补充。医用加速器的剂量测量应按本技术规范进行。免费标准下载网bzxz
二辐射质和辐射质的测定方法
1高能电子束
1.1高能电子束的辐射质用模体表面的平均入射能量E。、任一深度z处的平均能量E，及实用射程R，表征。1.2测定方法
1.2.1 E。
对忘。≤15MeV的电子束选用大于12×12cm,对E。>15MeV的电子束选用20×20cm的照射野，SSD=100cm，在标准水模体中测量沿射束轴的百分深度剂量曲线，求出半峰值处有效测量点对应的深度R，0，如图1，侧模体表面的平均入射能量可按下式计算F。=C·Rs0
C= 2.33 MeV/cm (5MeV≤E,≤35 MeV)(1)
亦可在上述测量条件下测出深度电离曲线，从曲线求出R后由表1中查出E。
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(%)治
JJG 1026--91
图1电子束在水模保中的吸收剂量分布D一大剂量，
Dx一致辐射剂最，
R110--最大剂量的深度；Rs0~50%吸收剂量对应的深度Rp-实用射程
电子束在水模体表面的平均能量E。和从吸收剂量或电离曲线测量求出的半值深度的关系E(MeV)
Rp(cm)
Ri(cm)
G102691
E。 (MeV)
、表2
2/R，
Rp(cm)
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在水模体中电子束在深度z处的平均能量E，和在模体表面的平均能量B。的比值
表面平均能最E。
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JJG1026—91
R，定义，深度剂量曲线的最陡下降部分的斜线与韧致辐射剂量外延部分的交点所对应的深度，如图1所示。1.2.3 E.
由表2根据E。、R,查出。
亦可用R。从下式近似计算出水深z处的平均能量E，E,~E.(1-2/R,)
这个近似式用于10MeV以下电子束及2较小时的高能电子束。2高能X射线
2.1辐射质用水深20cm与10cm处吸收剂量的比值D表征。2.2测定方法
如图2，射野为10cm×10cm，SSD=100cm，测量时源皮距保持一定，探测器由水深10cm移至20cm，测量出两点的剂量值。
10cmxi0cm
图2测量加速器X射线辐射质的实验配置JJG1026-—91
3100～300kVX射线
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3.1辐射质用半值层表征。同时注明X射线管管电压和过滤片
3.2半值层的测定
半值层的数据用铝或铜的厚度表示。建议有条件的单位测量第二半值层，用于测量半值层的吸收片材料的纯度应达到99.5%，吸收片厚度均匀，无气孔，裂隙等缺陷。厚度值准确度为士5%，实验装置配置如图3。
图3测定半值层的实验装置
FX管焦班斑，L一过滤片，M一准直器，S附加吸收片，N--探测器，
D,、D2～分别为X管焦点至
附加吸收片和附加吸收片至探测器的距离，D,~D，(一般取50cm)
三在水模体中测量时的参考条件参考条件用一组影响量描述。在这个条件下测量，使用校准因子不需加其他修正。在水模体中用电离室测定吸收剂量规定的参考条件如表3。
辐射束
中能X射线
Cs射线
Co射线
高能X射线
电子束
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TG 1026—-9°
在水模体中使用电离室测定吸收剂量时照射参考条件辐射质
2mmAI<3mmCu
≤E.'MeV<10
10≤F/MeV<20
20≤EMeV<50
4电离室
模体中校准
深度（cm）
Ri或$
电离室有
效测量点
圆柱电离
室中心
电离室的校准
常用治疗距离
常用治疗距离
常用治疗距离
常用治疗题离
常用治疗距离
常用治疗距离
常用治疗距离
常用治疗距离
常用治疗距离
照射野
(cmxcm)
10×10
10×10
10×10
10×10
10×10
10×10
10×10
10×10
测量中能X射线、Y时线、高能X射线和能量E。>5MeV的电子束，可用圆柱形电离室。电离室的体积在0.1～1cm，空腔内径，<7mm，长度<25mm,
电离室在中能X射线（半值层从2mmAl至3mmCu）的能量响应变化应不超过±3%。测量Co-60射线时应加平衡懒，室壁和平衡帽的总厚度在0.4gcm*2~0.6g.cm-2之间。5电离室的校准
所使用的电离室型剂量计必须经计量部门或其授权单位校准。用于测量射线、高能X射线和高能电子束的电离室的校准工作用Co-60射线在自由空气中进行，由检定部门给出电离室的空腔气体校准因子 N，
N.\-Nr.W/e.(1-g)\1.katt.km(3)
式中N，电离室的照射量校准因子，不确定度≤2.5%W/e---在空气中生成每对离子产生基本电荷平均消耗的能量
名一…-次级电子的能量以韧致辐射损失的分数，第7页
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JJG 102B-—91
ooatearioin
8+8-08
119 88 z
188 88
183882
( g)
(e ) s
(des VWd) 1893
eside*ssg?
13*819092
11-29119092
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